CN210572606U - 一种内存条vref电路的短路测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种内存条VREF电路的短路测试仪，包括测试底座、固设在测试底座内部的电源模块、固设在测试底座顶部的内存条插座、用于测量内存条阻值的电阻测量装置以及用于对内存条上芯片的电容进行放电的电容放电器。电源模块与所述电阻测量装置电性连接，内存条插座的内部设有用于与待测内存条VREF电路相连接的输入口和输出口，电阻测量装置的两端分别通过导线与输入口及输出口连接。本实用新型提供一种内存条VREF电路的短路测试仪，将电容放电器依次靠近内存条上每个芯片电容的位置，然后观察电阻测量装置的阻值是否有发生变化，以此来判断内存条VREF电路在该芯片内部的部分是否出现短路异常，操作方便，检测速度快。
Description
技术领域
本实用新型属于电子检测技术领域，特别涉及一种内存条VREF电路的短路测试仪。
背景技术
内存条是CPU可通过总线寻址，并进行读写操作的电脑部件。内存条是电脑必不可少的组成部分，历史上的电脑主板上有主内存，内存条是主内存的扩展。以后的电脑主板上没有主内存，CPU完全依赖内存条，所有外存上的内容必须通过内存才能发挥作用。
内存条内部的VREF电路如果出现短路异常时，一般都是因为内存条上某个芯片内部的某个电容出现击穿所导致的，针对这种电容短路造成的短路异常，传统的方法一般是人工通过万用表依次对每个芯片的不同引脚进行逐个测试，或将内存条上的芯片进行逐个更换并一一测试，上述两种方法不仅费时费力，检测速度慢而且检测结果的可靠性较低。所以需要设计一款能够快速精准地找出引起内存条VREF电路短路的芯片的测试仪，以取代传统的人工测试方法。
发明内容
针对上述问题，本实用新型的目的在于提供一种内存条VREF电路的短路测试仪，解决了传统测试方法测试效率低，检测速度慢的问题。
为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：
一种内存条VREF电路的短路测试仪，包括测试底座、固设在测试底座内部的电源模块、固设在所述测试底座顶部的内存条插座、用于测量内存条阻值的电阻测量装置以及用于对内存条上芯片的电容进行放电的电容放电器。所述的电源模块与所述电阻测量装置电性连接，所述内存条插座的内部设有用于与待测内存条VREF电路相连接的输入口和输出口，所述电阻测量装置的两端分别通过导线与所述输入口及输出口连接。
进一步地，所述的内存条插座包括第一插槽和第二插槽，所述第一插槽的两端分别设有第一输入口和第一输出口，所述第二插槽的两端分别设有第二输入口和第二输出口。所述的电阻测量装置包括第一电阻表和第二电阻表，所述第一电阻表的两端分别通过导线与所述第一输入口和第一输出口连接，所述第二电阻表的两端分别通过导线与所述第二输入口和第二输出口连接。
进一步地，所述的电容放电器为电烙铁，所述的电烙铁外接电源。
本实用新型具有如下有益效果：提供一种内存条VREF电路的短路测试仪，将电容放电器依次靠近内存条上每个芯片电容的位置，然后观察电阻测量装置的阻值是否有发生变化，以此来判断内存条VREF电路在该芯片内部的部分是否出现短路异常，本实用新型操作方便，检测速度快，结构紧凑，携带方便。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图。
图2为测试底座的立体结构示意图。
图3为本实用新型各装置之间的电路连接示意图。
主要组件符号说明：1、测试底座；2、电源模块；3、内存条插座；31、第一插槽；311、第一输入口；312、第一输出口；32、第二插槽；321、第二输入口；322、第二输出口；4、电阻测量装置；41、第一电阻表；42、第二电阻表；5、电烙铁；6、待测内存条。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式，对本实用新型做进一步说明。
如图1-3所示，一种内存条VREF电路的短路测试仪，包括测试底座1、电源模块2、内存条插座3、电阻测量装置4和电容放电器，电容放电器为电烙铁5，电源模块2固设在测试底座1的内部，电源模块2通过内部电路与电阻测量装置4电性连接。内存条插座3固设在测试底座1的顶部中心处，电容放电器5用于对待测内存条6上芯片的电容进行放电。
内存条插座3包括第一插槽31和第二插槽32，第一插槽31的两端分别设有第一输入口311和第一输出口312，第二插槽32的两端分别设有第二输入口321和第二输出口322。电阻测量装置4包括第一电阻表41和第二电阻表42，第一电阻表41的两端分别通过导线与第一输入口311和第一输出口312连接，第二电阻表42的两端分别通过导线与第二输入口321和第二输出口322连接。
本实用新型的工作原理为：将内存条插到内存条插座3上，电源模块2通过内部电路给待第一电阻表41和第二电阻表42供电。通过将电烙铁5通电并将电烙铁5依次靠近待测内存条6在第一插槽31上的每个芯片，如果测量到某一个芯片时，第一电阻表41的阻值出现变化并超过标准值，则判定待测内存条6的VREF电路在该芯片内部的部分出现短路异常，对该芯片予以更换。然后再通过电烙铁5依次靠近待测内存条6在第二插槽32上的每个芯片，如果测量到某一个芯片时，第二电阻表42的阻值出现变化并超过标准值，则判定待测内存条6的VREF电路在该芯片内部的部分出现短路异常。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
Claims (3)
1.一种内存条VREF电路的短路测试仪，其特征在于：包括测试底座、固设在测试底座内部的电源模块、固设在所述测试底座顶部的内存条插座、用于测量内存条阻值的电阻测量装置以及用于对内存条上芯片的电容进行放电的电容放电器，所述的电源模块与所述电阻测量装置电性连接，所述内存条插座的内部设有用于与待测内存条VREF电路相连接的输入口和输出口，所述电阻测量装置的两端分别通过导线与所述输入口及输出口连接。
2.如权利要求1所述的一种内存条VREF电路的短路测试仪，其特征在于：所述的内存条插座包括第一插槽和第二插槽，所述第一插槽的两端分别设有第一输入口和第一输出口，所述第二插槽的两端分别设有第二输入口和第二输出口，所述的电阻测量装置包括第一电阻表和第二电阻表，所述第一电阻表的两端分别通过导线与所述第一输入口和第一输出口连接，所述第二电阻表的两端分别通过导线与所述第二输入口和第二输出口连接。
3.如权利要求1所述的一种内存条VREF电路的短路测试仪，其特征在于：所述的电容放电器为电烙铁，所述的电烙铁外接电源。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201921192449.7U CN210572606U (zh) | 2019-07-26 | 2019-07-26 | 一种内存条vref电路的短路测试仪 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201921192449.7U CN210572606U (zh) | 2019-07-26 | 2019-07-26 | 一种内存条vref电路的短路测试仪 |
Publications (1)
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| CN210572606U true CN210572606U (zh) | 2020-05-19 |
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ID=70659582
Family Applications (1)
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| CN201921192449.7U Active CN210572606U (zh) | 2019-07-26 | 2019-07-26 | 一种内存条vref电路的短路测试仪 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN210572606U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109246923A (zh) * | 2018-10-09 | 2019-01-18 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种pcb板及一种电子设备 |
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2019
- 2019-07-26 CN CN201921192449.7U patent/CN210572606U/zh active Active
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