CN210181588U - 一种芯片电源电路的短路测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片电源电路的短路测试仪,包括测试底座、内存条插座、电源模块和测温装置。所述的内存条插座固设在所述测试底座上,所述的内存条插座内设有与内存条电源电路相连接的电源输入口和电源输出口。所述的电源模块固设在所述测试底座内部,所述的电源输入口和电源输出口分别通过测试电路与所述电源模块电性连接,所述的测温装置设在所述测试底座的侧边。本实用新型提供一种芯片电源电路的短路测试仪,在对内存条的电源电路进行通电后,通过测温装置来测量内存条上芯片的温度来判断该芯片内部的电源电路是否出现短路异常,该测试仪具有操作方便、检测速度快和检测效率高的特点,设备结构紧凑,携带方便。
Description
技术领域
本实用新型属于电子检测技术领域,特别涉及一种芯片电源电路的短路测试仪。
背景技术
内存条是CPU可通过总线寻址,并进行读写操作的电脑部件。内存条是电脑必不可少的组成部分,历史上的电脑主板上有主内存,内存条是主内存的扩展。以后的电脑主板上没有主内存,CPU完全依赖内存条,所有外存上的内容必须通过内存才能发挥作用。
传统的针对芯片电源电路的短路检测通常是将内存条上的芯片进行逐个更换并一一测试,采用上述方法不仅费时费力,而且检测速度慢。所以需要研发一款可以实现对芯片电源电路进行短路快速检测的短路测试仪。
发明内容
针对上述问题,本实用新型的目的在于提供一种芯片电源电路的短路测试仪,解决了传统方法检测速度慢和效率低的问题。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案如下:
一种芯片电源电路的短路测试仪,包括测试底座、内存条插座、电源模块和测温装置。所述的内存条插座固设在所述测试底座上,所述的内存条插座内设有与待测内存条电源电路相连接的电源输入口和电源输出口。所述的电源模块固设在所述测试底座内部,所述的电源输入口和电源输出口分别通过测试电路与所述电源模块电性连接,所述的测温装置设在所述测试底座的侧边。
进一步地,还包括可调电源模组,所述的可调电源模组串联在所述测试电路内并用于对测试电路进行过压保护。
其中,所述的内存条插座和可调电源模组分别固设在所述测试底座的顶部。
进一步地,所述的测温装置包括红外测温枪、支架、滑轨、滑块和若干连接杆,所述滑轨通过若干连接杆固定在所述测试底座的侧边,所述滑块安装在所述滑轨内并可沿着所述滑轨来回滑动,所述支架的底部与所述滑块固定连接,所述的红外测温枪固定在所述支架上,所述红外测温枪的测温探头朝向待测内存条。
本实用新型具有如下有益效果:1、对待测内存条的电源电路进行通电后,通过测温装置来测量内存条上芯片的温度来判断该芯片内部的电源电路是否出现短路异常,检测速度快,效率高;2、测温枪通过支架固定在滑块上,滑块可在滑轨上来回滑动,操作方便,设备结构紧凑,制作成本低,携带方便。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图。
主要组件符号说明:1、测试底座;2、内存条插座;3、电源模块;4、可调电源模组;5、红外测温枪;6、支架;7、滑轨;70、连接杆;8、滑块;9、待测内存条。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式,对本实用新型做进一步说明。
如图1所示,一种芯片电源电路的短路测试仪,包括测试底座1、内存条插座2、电源模块3、可调电源模组4和测温装置。内存条插座2固设在测试底座1顶部中心处,可调电源模组4固设在测试底座1的顶部,电源模块3固设在测试底座1内部。内存条插座2内设有与待测内存条9的电源电路相连接的电源输入口和电源输出口(图中未示出),电源输入口和电源输出口分别通过测试电路与电源模块3电性连接,可调电源模组4串联在测试电路中并用于对测试电路进行过压保护。
测温装置包括红外测温枪5、支架6、滑轨7和滑块8,滑轨7通过若干连接杆70固定在测试底座1的侧边,滑块8安装在滑轨7内并可沿着滑轨7来回滑动,支架6的底部与滑块8固定连接,红外测温枪5固定在支架6上,红外测温枪5的测温探头朝向待测内存条9。
本实用新型的工作原理为:将待测内存条9插入内存条插座2内使得待测内存条9的电源电路与内存条插座2内的电源输入口和电源输出口相连接。电源模块3通过测试电路给待测内存条9的电源电路供电,可调电源模组4可对测试电路进行过压保护。将支架6在滑轨7上来回移动,红外测温枪5的测温探头逐个对准待测内存条9上的各个芯片进行测温。通过红外测温枪5上的温度显示或测温探头在芯片上照射后的颜色变化来判断测试芯片内部是否出现短路,当红外测温枪5显示的温度超过正常值或测温探头在芯片上照射的点变化成红色时,表明该芯片内部出现局部温度升高,即电源电路在该芯片内部的部分出现短路异常。采用上述测试仪可快速测出异常短路的芯片并予以更换。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型,但所属领域的技术人员应该明白,在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内,在形式上和细节上对本实用新型做出各种变化,均为本实用新型的保护范围。
Claims (4)
1.一种芯片电源电路的短路测试仪,其特征在于:包括测试底座、内存条插座、电源模块和测温装置,所述的内存条插座固设在所述测试底座上,所述的内存条插座内设有与待测内存条电源电路相连接的电源输入口和电源输出口,所述的电源模块固设在所述测试底座内部,所述的电源输入口和电源输出口分别通过测试电路与所述电源模块电性连接,所述的测温装置设在所述测试底座的侧边。
2.如权利要求1所述的一种芯片电源电路的短路测试仪,其特征在于:还包括可调电源模组,所述的可调电源模组串联在所述测试电路内并用于对测试电路进行过压保护。
3.如权利要求2所述的一种芯片电源电路的短路测试仪,其特征在于:所述的内存条插座和可调电源模组分别固设在所述测试底座的顶部。
4.如权利要求1所述的一种芯片电源电路的短路测试仪,其特征在于:所述的测温装置包括红外测温枪、支架、滑轨、滑块和若干连接杆,所述滑轨通过若干连接杆固定在所述测试底座的侧边,所述滑块安装在所述滑轨内并可沿着所述滑轨来回滑动,所述支架的底部与所述滑块固定连接,所述的红外测温枪固定在所述支架上,所述红外测温枪的测温探头朝向待测内存条。
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CN201921192447.8U Active CN210181588U (zh) | 2019-07-26 | 2019-07-26 | 一种芯片电源电路的短路测试仪 |
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