CN108549009B - 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统 - Google Patents
解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108549009B CN108549009B CN201810492541.9A CN201810492541A CN108549009B CN 108549009 B CN108549009 B CN 108549009B CN 201810492541 A CN201810492541 A CN 201810492541A CN 108549009 B CN108549009 B CN 108549009B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- power
- chip
- pull
- signal
- load
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 230000003121 nonmonotonic effect Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本发明公开了解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调的方法，具体如下：在VR芯片的POWERGOOD信号线上拉电源处加载小额电流。还公开了一种解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调的系统，能够准确快速解决VR掉电时序测试中POWERGOOD信号不单调的问题，反映出VR真实工作情况，提高了测试效率，简洁高效。
Description
技术领域
本发明涉及电源测试技术领域，尤其是解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调的方法及系统。
背景技术
服务器主板和其他板卡在开发阶段需要量测VR(Voltage Regulation，中文名称：电源模块)掉电时序，分析掉电时序有无异常。量测的VR掉电时序波形下降前后应该是平滑单调的，不应存在异常上冲,跌落等突变，波形下降过程中也不允许出现不单调的情况。
但是，在实际量测中，会发现一些经上拉电阻连接到上拉电源的POWERGOOD信号掉电时会出现不单调的情况，影响对VR真实工作情况的判断，降低了测试效率。
目前针对VR掉电时序的测试，通常会将VR芯片的VCC、ENABLE、POWERGOOD、VOUT 4个信号通过焊接飞线引出来，然后采用4根单端探棒连接这4组信号。
将示波器设置为信号下降沿触发，关机抓取4路信号波形(关机分两种方式：1、直接断AC 2、正常关机)，观察波形下降过程中是否有不单调或异常突变的情况，以此来判断VR的掉电时序是否正常。
在VR芯片的POWERGOOD信号经上拉电阻连接到上拉电源时，抓取的POWERGOOD信号掉电波形会出现不单调的问题。
发明内容
本发明的目的是提供解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调的方法及系统。
为实现上述目的，本发明采用下述技术方案：
本发明第一发明提供了一种解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调的方法，具体如下：
在VR芯片的POWERGOOD信号线上拉电源处加载小额电流。
结合第一方面，在第一方面第一种可能的实现方式中，所述VR芯片的POWERGOOD信号线上拉电源处加载小额电流步骤之前，还包括：
将VR芯片的VCC、ENABLE、POWERGOOD、VOUT 4个信号通过焊接飞线引出并通过单端探棒与示波器连接。
结合第一方面，在第一方面第二种可能的实现方式中，所述在VR芯片的POWERGOOD信号线上拉电源处加载小额电流，具体包括：
S1、电子负载仪正负极各接一根负载线，正极负载线焊接于POWERGOOD信号上拉电源处，负极负载线与VR芯片所在待测板卡共地；
S2、将待测板卡上电，使用电子负载仪加载0.5A左右电流。
结合第一方面，在第一方面第三种可能的实现方式中所述将待测板卡上电，使用电子负载仪加载0.5A左右电流步骤之后，还包括：
切断待测板卡与电源VCC连接，示波器抓取VR芯片的POWERGOOD信号掉电波形并保存。
本发明第二方面提供了一种解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调系统，其特征是，包括VR芯片，与VR芯片的POWERGOOD信号线依次连接的上拉电阻和上拉电源，与VR芯片的POWERGOOD信号测量点连接的示波器，与上拉电源连接的电流负载单元。
结合第二方面，在第二方面第一种可能的实现方式中所述电流负载单元包括电子负载仪，电子负载仪正负极各接一根负载线，正极负载线焊接于POWERGOOD信号上拉电源处，负极负载线与VR芯片所在待测板卡共地。
本发明的有益效果是，
本发明通过在上拉电源处加载小额电流的方式解决VR掉电时序测试中POWERGOOD信号不单调的问题。能够准确快速解决VR掉电时序测试中POWERGOOD信号不单调的问题，反映出VR真实工作情况，提高了测试效率，简洁高效。
附图说明
图1是本发明系统电路原理图；
图2是本发明改进前出现不单调问题的VR掉电测试波形图；
图3是本发明改进后VR掉电测试波形图；
图4是解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调的方法流程图。
具体实施方式
为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
如图1所示，VR控制芯片引脚POWERGOOD信号通过4.7KΩ的上拉电阻连接到上拉电源，上拉电源电压值为3.3V。
进行掉电操作时，POWERGOOD信号会随着VR芯片VCC同步掉电，电压逐渐降低，直至VR芯片失去对POWERGOOD信号的控制，POWERGOOD信号处于低电平状态。
但是，由于VCC掉电速度较快，当VR芯片失去对POWERGOOD信号的控制时，上拉电源仍然处于掉电过程中，电压并未降到低电平。此时由于上拉电阻的作用，POWERGOOD信号的电压值与上拉电源的电压值相同，因此POWERGOOD信号的掉电波形会有短暂上升，即波形不是单调下降的，之后再随着上拉电源同步掉电直至掉电完毕。现在方案中出现POWERGOOD信号不单调问题的VR掉电测试波形如图2所示。在圆圈内部可明显看到波形不单调。
为了解决VR掉电时序测试中POWERGOOD信号不单调的问题，采取在上拉电源处加载小额电流的方法，使上拉电源掉电速度加快，使用电子负载仪在3.3V上拉电源处加0.5A负载，其他测试流程无变化，可以发现VR掉电时POWERGOOD信号波形不再出现不单调的情况，POWERGOOD信号掉电时不再出现短暂上升情况，波形单调下降。测试波形如图3所示。
如图4所示，解决VR掉电时序测试中POWERGOOD信号不单调的问题时方法步骤如下：
S1、将VR芯片的VCC、ENABLE、POWERGOOD、VOUT 4个信号通过焊接飞线引出并通过单端探棒与示波器连接；
S2、电子负载仪正负极各接一根负载线，正极负载线焊接于POWERGOOD信号上拉电源处，负极负载线与VR芯片所在待测板卡共地；
S3、将待测板卡上电，使用电子负载仪加载0.5A左右电流；
S4、切断待测板卡与电源VCC连接，示波器抓取VR芯片的POWERGOOD信号掉电波形并保存。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。
Claims (4)
1.解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调的方法，其特征是，具体如下：在VR芯片的POWERGOOD信号线上拉电源处加载小额电流；所述在VR芯片的POWERGOOD信号线上拉电源处加载小额电流，具体包括：
S 1、电子负载仪正负极各接一根负载线，正极负载线焊接于POWERGOOD信号上拉电源处，负极负载线与VR芯片所在待测板卡共地；
S2、将待测板卡上电，使用电子负载仪加载0.5A左右电流。
2.如权利要求1所述的解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调的方法，其特征是，所述VR芯片的POWERGOOD信号线上拉电源处加载小额电流步骤之前，还包括：
将VR芯片的VCC、ENABLE、POWERGOOD、VOUT 4个信号通过焊接飞线引出并通过单端探棒与示波器连接。
3.如权利要求1所述的解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调的方法，其特征是，所述将待测板卡上电，使用电子负载仪加载0.5A左右电流步骤之后，还包括：
切断待测板卡与电源VCC连接，示波器抓取VR芯片的POWERGOOD信号掉电波形并保存。
4.解决VR掉电时序测试POWERGOOD信号不单调系统，其特征是，包括VR芯片，与VR芯片的POWERGOOD信号线依次连接的上拉电阻和上拉电源，与VR芯片的POWERGOOD信号测量点连接的示波器，与上拉电源连接的电流负载单元；
所述电流负载单元包括电子负载仪，电子负载仪正负极各接一根负载线，正极负载线焊接于POWERGOOD信号上拉电源处，负极负载线与VR芯片所在待测板卡共地。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810492541.9A CN108549009B (zh) | 2018-05-22 | 2018-05-22 | 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统 |
| PCT/CN2018/112004 WO2019223230A1 (zh) | 2018-05-22 | 2018-10-26 | 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810492541.9A CN108549009B (zh) | 2018-05-22 | 2018-05-22 | 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN108549009A CN108549009A (zh) | 2018-09-18 |
| CN108549009B true CN108549009B (zh) | 2020-11-27 |
Family
ID=63495368
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201810492541.9A Active CN108549009B (zh) | 2018-05-22 | 2018-05-22 | 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN108549009B (zh) |
| WO (1) | WO2019223230A1 (zh) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108549009B (zh) * | 2018-05-22 | 2020-11-27 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统 |
| CN109188242B (zh) * | 2018-08-29 | 2021-08-31 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种时序测试方法、装置及vr芯片 |
| CN109726056B (zh) * | 2018-10-10 | 2021-11-02 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种改善vr时序信号不单调的方法与系统 |
| CN109298986B (zh) * | 2018-11-01 | 2020-07-24 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种服务器板卡的Undershoot测试方法、装置 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN201282417Y (zh) * | 2008-09-04 | 2009-07-29 | 深圳市东辰科技有限公司 | Tps3510的应用电路 |
| CN102999096B (zh) * | 2011-09-14 | 2016-03-30 | 中山市云创知识产权服务有限公司 | 计算机 |
| CN202661616U (zh) * | 2012-07-04 | 2013-01-09 | 尚艳燕 | 用于检测pc电源的电子负载机 |
| CN102830368A (zh) * | 2012-07-04 | 2012-12-19 | 尚艳燕 | 一种用于检测pc电源的电子负载机 |
| CN105242218A (zh) * | 2015-09-24 | 2016-01-13 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种直流电源全覆盖自动化测试系统 |
| CN105824388A (zh) * | 2016-04-05 | 2016-08-03 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种上电/掉电的检测方法、装置和系统 |
| CN106445057A (zh) * | 2016-11-08 | 2017-02-22 | 福建星海通信科技有限公司 | 一种监控电源掉电自动快速放电电路及方法 |
| CN207134984U (zh) * | 2017-09-08 | 2018-03-23 | 迈普通信技术股份有限公司 | 网络设备上下电时序控制系统 |
| CN108549009B (zh) * | 2018-05-22 | 2020-11-27 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统 |
-
2018
- 2018-05-22 CN CN201810492541.9A patent/CN108549009B/zh active Active
- 2018-10-26 WO PCT/CN2018/112004 patent/WO2019223230A1/zh active Application Filing
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2019223230A1 (zh) | 2019-11-28 |
| CN108549009A (zh) | 2018-09-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108549009B (zh) | 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统 | |
| US11360139B2 (en) | Method for testing a power module | |
| CN101932943B (zh) | 半导体器件测试系统 | |
| US20140375346A1 (en) | Test control device and method for testing signal integrities of electronic product | |
| CN113419159B (zh) | 柔性电路板的测试方法、测试装置和测试电路 | |
| CN114397562B (zh) | 芯片emc抗扰度自动测试方法及系统 | |
| CN108646173B (zh) | 一种解决vr时序测试pg信号不单调的方法与系统 | |
| EP1978370A1 (en) | Processing tantalum capacitors on assembled PWAs to yield low failure rate | |
| CN109726056B (zh) | 一种改善vr时序信号不单调的方法与系统 | |
| CN109738791B (zh) | 一种vr芯片上电前短路保护测试装置及方法 | |
| JP2015045542A (ja) | 検査装置 | |
| CN114121137B (zh) | 一种Nand Flash颗粒功耗测试系统及方法 | |
| CN210572606U (zh) | 一种内存条vref电路的短路测试仪 | |
| CN109116265B (zh) | 电源模块过冲测试满载上电异常震荡的处理方法及系统 | |
| CN104459562A (zh) | 开关机测试装置 | |
| CN102116818A (zh) | 电性连接瑕疵侦测系统及方法 | |
| JP2015010880A (ja) | 絶縁検査装置 | |
| CN211627710U (zh) | 一种i2c测试治具 | |
| WO2012028304A1 (en) | Process for auto-testing a fully discharged battery, such as double-layer capacitor battery, and circuit for doing the same | |
| CN105866727A (zh) | 一种用于电能表检定装置的实时核查系统 | |
| RU2437138C1 (ru) | Способ, устройство и автоматизированная система контроля электрических параметров драйверов лазерных диодов | |
| CN215340177U (zh) | 一种用于血糖仪的工装治具 | |
| JP2014219335A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
| CN103943151A (zh) | 内存测试方法 | |
| CN221485531U (zh) | 一种高精度绝缘导通测量功能模块 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20201105 Address after: 215100 No. 1 Guanpu Road, Guoxiang Street, Wuzhong Economic Development Zone, Suzhou City, Jiangsu Province Applicant after: SUZHOU LANGCHAO INTELLIGENT TECHNOLOGY Co.,Ltd. Address before: 450018 Henan province Zheng Dong New District of Zhengzhou City Xinyi Road No. 278 16 floor room 1601 Applicant before: ZHENGZHOU YUNHAI INFORMATION TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |