CN104459562A - 开关机测试装置 - Google Patents

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张新萍
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Abstract

一种开关机测试装置,用于对一电源供应模块进行开关机测试,所述开关机测试装置包括处理器以及示波器。所述处理器用于输出开机信号给所述电源供应模块以控制所述电源供应模块开机,并接收电源供应模块输出的开机正常信号以判断电源供应模块是否正常开机。所述示波器用于显示所述开机信号及开机正常信号的波形。所述处理器还用于在输出所述开机信号后的第一延时时间内未收到有效的开机正常信号时,控制示波器记录当前开机信号及开机正常信号的波形。所述开关机测试装置能有效避免了人工判断而出现遗漏的情况发生。

Description

开关机测试装置
技术领域
本发明涉及一种开关机测试装置,尤其涉及一种对电源供应模块(Power Supply Unit, PSU)进行测试的开关机测试装置。
背景技术
在对PSU进行开关机测试时,每一次开关机过程中,主机首先给PSU发送开机信号控制PSU开机,PSU完成正常开机后再返回一开机正常信号给主机。实际测试过程中,一般会设置一示波器对测试过程中的各种信号,如所述开机控制信号、开机正常信号以及PSU的交流输入电源等信号的波形进行显示。当这些信号的波形出现异常时,由测试人员观察示波器进行发现。然而,在每一次开关机测试时,需要PSU连续进行上百次甚至上千次的开关机,以此完成一次开关机测试。由于测试人员往往无法长时间集中注意力,若仅由测试人员对示波器显示的波形异常进行人工捕捉,容易出现遗漏等情况,影响测试结果。
发明内容
针对上述问题,有必要提供一种能够提高测试准确度的开关机测试装置。
一种开关机测试装置,用于对一电源供应模块进行开关机测试,所述开关机测试装置包括:
处理器,用于输出开机信号给所述电源供应模块以控制所述电源供应模块开机,并接收电源供应模块输出的开机正常信号以判断电源供应模块是否正常开机;
示波器,电性连接至所述处理器及电源供应模块,用于显示所述开机信号及开机正常信号的波形;以及
所述处理器还用于在输出所述开机信号后的第一延时时间内未收到有效的开机正常信号时,控制示波器记录当前开机信号及开机正常信号的波形。
所述的开关机测试装置通过处理器根据电源供应模块是否有输出有效的开机正常信号来相应控制示波器进行波形的记录,从而完成了电源供应模块开机失败时波形的自动记录,有效避免了人工判断而出现遗漏的情况发生。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的开关机测试装置的功能模块图。
主要元件符号说明
开关机测试装置 10
PSU 20
处理器 11
信号转换电路 12
示波器 13
键盘电路 14
显示器 15
存储器 16
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,本发明较佳实施方式的开关机测试装置10用于对PSU20进行开关机测试。PSU20用于将一交流电压AC,如220V市电转换为多个直流电压,如12V,5V以及3.3V电压等。开关机测试装置10包括处理器11、信号转换电路12、示波器13、键盘电路14、显示器15以及存储器16。
处理器11用于输出开机信号PSON给PSU20以控制PSU20开机,并接收PSU20输出的开机正常信号PG以判断PSU20是否正常开机。
在本实施方式中,开机信号PSON为低电平有效。处理器11通过信号转换电路12输出所述开机信号PSON。具体为,信号转换电路12包括电子开关Q、电源VCC以及电阻R。电子开关Q包括控制端C、连接端A以及连接端B。控制端C电性连接至处理器11;连接端A通过电阻R电性连接至电源VCC,连接端A与电阻R的节点电性连接至PSU20,连接端B接地处理。当处理器11需要控制PSU20开机时,处理器11则输出相应的控制信号以控制信号转换电路12导通,此时连接端A与接地处理的连接端B电性连接于一起,连接端A则输出有效的开机信号PSON(低电平信号)至PSU20。可以理解,在其他实施方式中,信号转换电路12可以省略,处理器11直接输出开机信号PSON。所述电子开关可以为三极管或者金属氧化物半导体场效应晶体管。
示波器13电性连接至处理器11、信号转换电路12以及PSU20,用于显示开机信号PSON、开机正常信号PG、交流电压AC以及PSU20输出的直流电压,如12V电压等信号的波形。
处理器11还用于在输出开机信号PSON后的第一延时时间T1内未收到有效的开机正常信号PG时,控制示波器13记录当前的波形,并将示波器13记录的波形存储于存储器16内。其中,示波器13记录当前的波形至少包括开机信号PSON及开机正常信号PG的波形,还可以包括所述交流电压AC以及PSU20输出的直流电压的波形。在本实施方式中,以记录开机信号PSON及开机正常信号PG的波形为例进行说。在本实施方式中,开机正常信号PG为高电平有效。也就是说,当处理器11从PSU20接收到低电平时,则判断为无效的开机正常信号PG。下面结合处理器11的工作过程简述处理器11的作用。
在示波器13首次记录波形后的第二延时时间T2后,若处理器11仍未接收到有效的开机正常信号PG,则再次控制示波器13记录当前的开机信号PSON及开机正常信号PG的波形,并将示波器13记录的波形存储于存储器16内。如此反复N次,N为大于二的整数,若处理器11仍未检测到有效的开机正常信号PG,则处理器11判断开机失败,并将最后一次存储的开机信号PSON及开机正常信号PG的波形显示于显示器15上。若处理器11在上述N次反复过程中有任意一次检测到有效的开机正常信号PG,即,高电平信号,则处理器11判断PSU20开机成功。接着处理器11在第三延时时间T3后,停止输出所述控制信号至电子开关Q,此时电子开关Q断开,PSU20接收到无效的开机信号PSON(高电平信号),则PSU20开始关机,处理器11同时将对PSU20的开关机次数加一。随后,在第四延时时间T4到达后,处理器11再次输出所述控制信号至电子开关Q,以通过电子开关Q输出有效的开机信号PSON至PSU20控制PSU20开机,并重复上述步骤,直到完成预设的开关机次数。在完成预设次数的开关机次数后,处理器11还用于控制示波器13抓取当前显示的开机信号PSON及开机正常信号PG的波形,即通过测试的波形,并将示波器13抓取的波形存储于存储器16内。
键盘电路14电性连接至处理器11,用于输入第一延时时间T1、第二延时时间T2、第三延时时间T3、第四延时时间T4以及开关机次数至处理器11,处理器11同时控制显示器15对键盘电路14输出的信息进行显示。
所述的开关机测试装置10通过处理器11根据PSU20是否有输出有效的开机正常信号PG来相应控制示波器13进行波形的记录,从而完成了PSU20开机失败时波形的自动记录,有效避免了人工判断而出现遗漏的情况发生。

Claims (7)

1.一种开关机测试装置,用于对一电源供应模块进行开关机测试,其特征在于,所述开关机测试装置包括:
处理器,用于输出开机信号给所述电源供应模块以控制所述电源供应模块开机,并接收电源供应模块输出的开机正常信号以判断电源供应模块是否正常开机;
示波器,电性连接至所述处理器及电源供应模块,用于显示所述开机信号及开机正常信号的波形;以及
所述处理器还用于在输出所述开机信号后的第一延时时间内未收到有效的开机正常信号时,控制示波器记录当前开机信号及开机正常信号的波形。
2.如权利要求1所述的开关机测试装置,其特征在于:所述开关机测试装置还包括信号转换电路,所述处理器通过信号转换电路输出所述开机信号,所述信号转换电路包括电子开关、电阻以及电源,所述电子开关包括电性连接至控制器的控制端、通过电阻电性连接至所述电源的第一连接端及接地处理的第二连接端,所述电阻与第一连接端之间的节点电性连接至所述电源供应模块。
3.如权利要求2所述的开关机测试装置,其特征在于:所述开机信号由所述电阻与第一连接端之间的节点输出,所述控制器通过输出相应的控制信号至所述电子开关的控制端以控制电子开关的闭合,从而控制所述电阻与第一连接端之间的节点输出有效的开机信号。
4.如权利要求3所述的开关机测试装置,其特征在于:所述电子开关为三极管或者金属氧化物半导体场效应晶体管。
5.如权利要求1所述的开关机测试装置,其特征在于:所述开关机测试装置还包括电性连接至所述处理器的存储器,所述示波器记录的波形存储于存储器内。
6.如权利要求5所述的开关机测试装置,其特征在于:在所述示波器首次记录波形后的第二延时时间后,若处理器仍为接收到有效的开机正常信号,则处理器再次控制示波器记录当前的波形,并将示波器记录的波形存储于存储器内。
7.如权利要求6所述的开关机测试装置,其特征在于:所述开关机测试装置还包括键盘电路,所述键盘电路用于输入所述第一延时时间以及第二延时时间至所述处理器。
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