JP2015064357A - ディエンベッド・プローブ及び及び試験測定システム - Google Patents
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Abstract
【課題】DUTのプローブ・チップ負荷が原因の測定エラーを減少させる。【解決手段】ディエンベッド・プローブ100は、DUTに接続される2つの入力端子112及び114と、メモリ110と、信号を出力する信号発生装置102と、複数の負荷要素116と、複数のスイッチ106と、コントローラ108とを有している。各負荷要素116は、異なる負荷を提供する。複数のスイッチ106の第1スイッチは、信号発生装置102と関連し、複数のスイッチ106の他のスイッチは、それぞれ1つの負荷要素106と関連する。コントローラ108は、複数の負荷要素116の中の負荷の組み合わせと、2つの入力端子112及び114間にかかる信号発生装置102からの信号とを接続する複数のスイッチ106を制御する。【選択図】図1
Description
本発明は、大まかに言えば、信号取込みシステムに関し、特に、被測定デバイスのプローブ・チップの負荷を原因とする測定エラーを低減するためのスイッチ式負荷を有するディエンベッド・プローブ及び内部信号発生装置と、こうしたディエンベッド・プローブを含む試験測定システムとに関する。
伝統的に、被測定デバイス(DUT)の特性を記述するスキャタリング・パラメータ(Sパラメータ)を得るのに、ベクトル・ネットワーク・アナライザ又はタイム・ドメイン・リフレクトメータ(TDR)システムが、サンプリング・オシロスコープとともに必要とされてきた。フィクスチャ(取付装置)のSパラメータが測定され、被測定デバイスのSパラメータが測定されたら、被測定デバイスの特性のみを得るために、完全なディエンベッド処理を実行できる。
ディエンベッド・プローブは、米国特許第7,460,983号、米国特許第7,414,411号、米国特許第7,408,363号及び米国特許第7,405,575号に記述されているように、プローブ・チップにかかるプローブ内スイッチ式負荷を利用して測定値を得る。ディエンベッド・プローブのSパラメータは、製造時に測定され、そのプローブ内のSパラメータ・メモリ中に記憶される。続いて、ユーザは、プローブを被測定デバイスに接続し、校正ボタンを押す。オシロスコープは、2又は3回、平均化されたアクイジション(信号取込み)を得るが、それぞれでプローブ・チップにかかるディエンベッド負荷を切り換える。
これら取込みの後、オシロスコープは、被測定デバイスのインピーダンスを周波数の関数として算出できると共に、まるでプローブとオシロスコープが接続されていないかのような、被測定デバイスの波形の完全にディエンベッドされた表示も提供できる。これは、米国特許仮出願第61/882,283号及び米国特許出願第14/267,697号で議論されているように、信号源を伴う2つのディエンベッド・プルーブ・フィクスチャを用いて、上述した方法をベクトル・ネットワーク・アナライザに組み入れ、2つのディエンベッド・プルーブ・フィクスチャを用いながらベクトル・ネットワーク・アナライザとして動作するように設定することによっても行える。
米国特許仮出願第61/882,298号は、TDRディエンベッド・プローブを開示している。このプローブは、スイッチ式負荷を含んでいないが、TDRディエンベッド・プローブ・チップにかかる内部TDR発生装置が常に取り付けられている。この発生装置のSパラメータは、製造時に測定され、そのプローブ中に記憶される。このTDRディエンベッド・プローブが、アクティブ又はパッシブのどちらかの被測定デバイスに接続されると、被測定デバイスの波形がTDRパルス発生装置と非同期になるトリガ処理スキームを用いて、被測定デバイスの信号をゼロに平均化し、その結果を測定しても良い。その測定結果から、ディエンベッドされた(つまり、プローブ接続の影響が除かれた)波形が算出できる。
アクティブ及びパッシブの被測定デバイスのプローブ・チップ負荷が原因の測定エラーを低減するために、ディエンベッド・プローブの更なる改良が必要とされている。そこで、必要とされているのは、被測定デバイス信号源有りで又は無しで、アクティブ及びパッシブの被測定デバイスの両方を測定するのに利用できるディエンベッド・プローブである。
本発明のある実施形態は、被測定デバイスに接続するよう構成される2つの入力端子と、メモリと、信号を出力するよう構成される信号発生装置と、複数の負荷要素と、複数のスイッチと、コントローラとを含むディエンベッド・プローブが含まれる。各負荷要素は、異なる負荷を提供するように構成される。上記複数のスイッチの第1スイッチは、信号発生装置と関連し、上記複数のスイッチのその他のスイッチは、それぞれ1つの負荷要素と関連する。コントローラは、複数の負荷要素の中の負荷の組み合わせと、2つの入力端子間にかかる信号発生装置からの信号とを接続する複数のスイッチを制御するよう構成される。
本発明の他の実施形態は、被測定デバイスに接続するよう構成される2つの入力端子と、メモリと、信号を出力するよう構成される信号発生装置と、複数の異なる負荷を伴う負荷集積回路と、複数のスイッチと、複数の異なる負荷を有する負荷集積回路と、複数のスイッチであって、これら複数のスイッチの第1スイッチは、信号発生装置と関連し、複数のスイッチのその他のスイッチは、負荷集積回路の1つの負荷とそれぞれ関連する複数のスイッチと、複数の負荷要素の中の負荷の組み合わせと、2つの入力端子間にかかる信号発生装置からの信号とを接続する複数のスイッチを制御するよう構成されるコントローラとを含んでいるディエンベッド・プローブを含む。
他の実施形態は、被測定デバイスと、試験測定装置と、後述する本発明のディエンベッド・プローブとを含む試験測定システムを含む。
本発明の概念1は、ディエンベッド・プローブであって、
被測定デバイスに接続される2つの入力端子と、
メモリと、
信号を出力するよう構成される信号発生装置と、
各負荷要素が異なる負荷を提供するよう構成された複数の負荷要素と、
複数のスイッチであって、上記複数のスイッチの第1スイッチは、上記信号発生装置と関連し、上記複数のスイッチのその他のスイッチは、それぞれ1つの負荷要素と関連する上記複数のスイッチと、
上記複数の負荷要素の中の負荷の組み合わせと、上記2つの入力端子間にかかる上記信号発生装置からの上記信号とを接続する上記複数のスイッチを制御するよう構成されるコントローラと
を具えている。
被測定デバイスに接続される2つの入力端子と、
メモリと、
信号を出力するよう構成される信号発生装置と、
各負荷要素が異なる負荷を提供するよう構成された複数の負荷要素と、
複数のスイッチであって、上記複数のスイッチの第1スイッチは、上記信号発生装置と関連し、上記複数のスイッチのその他のスイッチは、それぞれ1つの負荷要素と関連する上記複数のスイッチと、
上記複数の負荷要素の中の負荷の組み合わせと、上記2つの入力端子間にかかる上記信号発生装置からの上記信号とを接続する上記複数のスイッチを制御するよう構成されるコントローラと
を具えている。
本発明の概念2は、上記概念1のディエンベッド・プローブであって、このとき、上記メモリは、上記複数のスイッチのスイッチ位置それぞれにおける上記ディエンベッド・プローブの測定された上記Sパラメータを記憶するよう構成されている。
本発明の概念3は、上記概念1のディエンベッド・プローブであって、このとき、上記信号発生装置は、タイム・ドメイン・リフレクトメータ・パルス信号発生装置である。
本発明の概念4は、上記概念1のディエンベッド・プローブであって、このとき、上記信号発生装置は、正弦波発生装置である。
本発明の概念5は、試験測定システムであって、
被測定デバイスと、
試験測定装置と、
上記概念1のディエンベッド・プローブと
を具えている。
本発明の6は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記ディエンベッド・プローブは、上記試験測定装置に接続される出力端子を更に具え、上記出力端子は、上記2つの入力端子からの測定値を提供する。
被測定デバイスと、
試験測定装置と、
上記概念1のディエンベッド・プローブと
を具えている。
本発明の6は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記ディエンベッド・プローブは、上記試験測定装置に接続される出力端子を更に具え、上記出力端子は、上記2つの入力端子からの測定値を提供する。
本発明の概念7は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記ディエンベッド・プローブは、上記2つの入力端子の一方に接続される第1出力端子と、上記2つの入力端子の他方に接続される第2出力端子とを更に具え、これら出力端子のそれぞれは、上記2つの入力端子のそれぞれからの入力波形を供給するよう構成される。
本発明の概念8は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記メモリは、上記複数のスイッチのあり得るスイッチ位置それぞれにおける上記ディエンベッド・プローブの測定された上記Sパラメータを記憶するよう構成されている。
本発明の概念9は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記信号発生装置は、タイム・ドメイン・リフレクトメータ・パルス信号発生装置である。
本発明の概念10は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記信号発生装置は、正弦波発生装置である。
本発明の概念11は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記試験測定装置は、
上記プローブを制御するユーザ入力を受けるよう構成されるユーザ・インタフェースと、
上記ユーザ入力に基いて上記コントローラに命令を送信するよう構成されるプロセッサと
を含んでいる。
上記プローブを制御するユーザ入力を受けるよう構成されるユーザ・インタフェースと、
上記ユーザ入力に基いて上記コントローラに命令を送信するよう構成されるプロセッサと
を含んでいる。
本発明の概念12は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記試験測定装置は、オシロスコープである。
本発明の概念13は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、試験測定装置は、スペクトラム・アナライザである。
本発明の概念14は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記被測定デバイスは、パッシブ被測定デバイスである。
本発明の概念15は、上記概念5の試験測定システムであって、このとき、上記被測定デバイスは、アクティブ被測定デバイスである。
本発明の概念16は、ディエンベッド・プローブであって、
被測定デバイスに接続される2つの入力端子と、
メモリと、
信号を出力するよう構成される信号発生装置と、
複数の異なる負荷を有する負荷集積回路と、
複数のスイッチであって、上記複数のスイッチの第1スイッチは、上記信号発生装置と関連し、上記複数のスイッチのその他のスイッチは、上記負荷集積回路の1つの負荷とそれぞれ関連する上記複数のスイッチと、
上記複数の負荷要素の中の負荷の組み合わせと、上記2つの入力端子間にかかる上記信号発生装置からの上記信号とを接続する上記複数のスイッチを制御するよう構成されるコントローラと
を具えている。
被測定デバイスに接続される2つの入力端子と、
メモリと、
信号を出力するよう構成される信号発生装置と、
複数の異なる負荷を有する負荷集積回路と、
複数のスイッチであって、上記複数のスイッチの第1スイッチは、上記信号発生装置と関連し、上記複数のスイッチのその他のスイッチは、上記負荷集積回路の1つの負荷とそれぞれ関連する上記複数のスイッチと、
上記複数の負荷要素の中の負荷の組み合わせと、上記2つの入力端子間にかかる上記信号発生装置からの上記信号とを接続する上記複数のスイッチを制御するよう構成されるコントローラと
を具えている。
本発明の概念17は、試験測定システムであって、
被測定デバイスと、
試験測定装置と、
上記概念16のディエンベッド・プローブと
を具えている。
被測定デバイスと、
試験測定装置と、
上記概念16のディエンベッド・プローブと
を具えている。
複数の図面において、これらは必ずしも縮尺が同一でなく、開示されたシステム及び方法の類似又は対応する要素は、同じ参照番号で示される。
本発明は、ディエンベッド・プローブを含み、これは、図1に示すように、信号発生装置及びスイッチ式負荷の両方を含む。図1は、本発明のいくつかの実施形態によるディエンベッド・プローブ100を描いている。ディエンベッド・プローブ100は、標準的なプローブ・チップを有する標準的なプローブで良い。また、ディエンベッド・プローブ100は、プラグイン・モジュールとして実現されても良い。好ましくは、ディエンベッド・プローブ100は、SMA(サブミニチュア・バージョンA)コネクタ入力端子を有するプローブ補償ボックスとして実現されるであろう。この構成のディエンベッド・プローブ100によれば、詳しくは後述するように、信号発生装置102や他の回路のための空間を確保できる。
ディエンベッド・プローブ100は、上述の特許公報で記述されているように、増幅器104と、ディエンベッド・プローブで一般的に装備される典型的な回路も含んでいる。この典型的な回路は、図1では示されていない。
ディエンベッド・プローブ100は、複数のスイッチ106のグループ(set:セットも含んでいる。スイッチ106の一部は、集積回路内のアナログ・スイッチでも良い。更に、スイッチ106の一部が、MEMS(microelectromechanical systems)でも良い。スイッチ106の他の形式には、リレー・コンタクトのようなものも含んでも良い。スイッチ106は、詳しくは後述するが、コントローラ108によって制御される。
ディエンベッド・プローブ100は、メモリ要素110も含む。メモリ110は、プローブの動作中に使用される可能性のあるスイッチ106の位置のそれぞれにおけるプローブの測定されたSパラメータを記憶する。これらSパラメータは、プローブのアクイジション(信号取込み)時のスイッチの位置に応じて、波形のディエンベッドされた表示を提供するのに利用される。例えば、メモリは、信号発生装置102が切り換えられてプローブの入力端子112及び114だけに接続された場合におけるプローブのSパラメータを記憶することもあろう。それから、スイッチ106が全て他の位置にある場合におけるプローブのSパラメータを記憶する。メモリ要素110は、プローブがこれまでに組み込んいる典型的な機能も記憶している。更に、メモリ要素110は、複数のメモリ要素から構成しても良い。
ディエンベッド・プローブ100は、複数の負荷116も含んでおり、これらは、プローブ入力端子112及び114間でスイッチできる。負荷116は、負荷集積回路(IC)又はディスクリート負荷部品のいずれかで用意されても良い。最小で3つの負荷116が、プローブ入力端子間でスイッチされる必要がある。しかし、第1の負荷は、プローブ入力端子間に負荷が接続されていない場合でも、存在するとみなさせる。後述の如く、被測定デバイスに対する最も良い負荷をユーザが試験測定装置のメニューで選択できるように、他の多数の負荷があることが望ましくかつ好ましい。
ディエンベッド・プローブ100は、上述のように、信号発生装置102も含んでいる。もしディエンベッド・プローブ100が差動プローブなら、そのときは、信号発生装置102も差動である。しかし、もしディエンベッド・プローブがシングル・エンドのディエンベッド・プローブ(図示せず)なら、そのときは、信号発生装置102はシングル・エンドである(図示せず)。つまり、ディエンベッド・プローブは、単一の入力端子及び単一の出力端子のみを保有する。信号発生装置102は、好ましくは、TDRパルス発生装置であり、これは、TDRパルス発生装置は、プローブ内に適合させるのに必要となる小さなサイズ内に組み込むのが容易だからである。しかし、信号発生装置102は、正弦波発生装置のような、任意の形式の信号発生装置としても良い。
ディエンベッド・プローブ100には、増幅器104からの出力端子118もあり、これは、図2に関して詳しく後述するように、試験測定装置へと送られる。出力信号118は、入力端子112及び114からの波形であって、プローブ100と増幅器104を通過して伝わった後のものを含む。
図1に関して記述したディエンベッド・プローブ100は、図2に示す試験測定システム中で使用できる。ディエンベッド・プローブ100は、試験測定装置200及び被測定デバイス202に接続される。
ディエンベッド・プローブ100は、プローブからの入力信号を受けることができる任意の形式の試験測定装置200と共に利用できる。試験測定装置200は、動作中にスイッチ106を制御するコントローラ108を、パス120を通してプロセッサ204によって制御する責任を持っている。プロセッサ204は、メモリ中に記憶され、プロセッサ204によって実行される命令セットにより、ディエンベッド処理を実行するのに必要な数学アルゴリズムを演算するのにも利用される。試験測定装置100のSパラメータは、試験測定装置100中のメモリ(図示せず)に記憶され、より正確な結果をもたらすためにディエンベッド処理全体の一部として使われる。
試験測定装置200は、ユーザ・インタフェース206も含む。ユーザは、ユーザ・インタフェース206を介してディエンベッド・プローブ100を制御できる。即ち、ユーザは、どの負荷を、そして、いくつの負荷をプローブ入力端子間に接続するかを制御できる。
プローブ100には、被測定デバイス202のより近い位置にプローブ100を配置するために、延長ケーブルを取り付けても良い。ユーザは、プローブ100及び被測定デバイス200間の任意のケーブル又はフィクスチャの複数のSパラメータをユーザ・インタフェース206に入れても良い。これらは、プロセッサ204で実行されるディエンベッド処理に含まれるように、ロードされるか又はユーザ・インタフェース206に入力される。
上述した米国特許第7,460,983号、米国特許第7,414,411号、米国特許第7,408,363号、米国特許第7,405,575号及び米国特許仮出願第61/882,283号で展開され、定義された数式、数学的処理、アルゴリズムは、取り込んだ波形をディエンベッドするためのアルゴリズムを導くのに利用できる。
信号源は、前もって、試験測定システムで測定される被測定デバイスであるとし、そして、プローブ入力端子間では、パッシブ負荷のみがスイッチされるとする。本発明では、もし被測定デバイスがパッシブであれば、信号発生装置102は、プローブの入力端子112及び114間でスイッチされて、被測定デバイス202のインピーダンスを測定する。スイッチ式負荷116も使用される。被測定デバイス202の特性を得るためのディエンベッド処理を実行する数式は、信号発生装置102が被測定デバイス202中ではなく、ディエンベッド・プローブ100内に配置されることを除けば、上述の特許の記述と同じである。
もし被測定デバイス202がアクティブで信号を含むならば、信号発生装置102は、依然としてプローブの入力端子112及び114間で、スイッチ式負荷116と共にスイッチされる。アクティブな被測定デバイス202からの信号は、信号発生装置102からの信号に対して、ランダムでなければならない。そこで、被測定デバイスの信号202が平均してゼロとなり、信号発生装置102からの内部信号がそうならないようにするのを確実にすべく、非同期式ランダム遅延トリガ方法を利用しても良い。これによれば、測定で許容できる信号対ノイズ比が得られる。ランダム遅延トリガは、試験測定装置200に備わっているであろう。
米国特許仮出願61/882,298号と比較すると、信号発生装置102と共に使用するように複数の負荷をスイッチでき、よって、種々の負荷から得られるディエンベッドの結果を平均化し、精度を改善できる。
本発明のプローブは、図1に示す3ポート・プローブ100に限定されない。そのプローブは、図3に示す4ポート・プローブ300でも良い。単一の増幅器104及び単一の出力端子118へと伝達する入力端子112及び114からの信号取込みというよりは、各入力端子がそれぞれ増幅器302及び304と、それぞれ出力端子306及び308とを含んでいる。しかし、プローブ300は、依然として、信号発生装置102、負荷116及びスイッチ106に関して上述したプローブ100と同じやり方で動作するであろう。
図3に示す4ポート・プローブ300では、入力端子112及び114からの入力波形の両方が、プローブ300を通して試験測定装置へと通過する。そして、これら両波形をプロセッサをモデル化するSパラメータの測定で使うことで、試験装置を望ましい形でディエンベッド処理し、被測定デバイスの本当の波形を提供する結果となるようにしても良い。被測定デバイスからの差動信号は2つの波形によって完全に表されるのであるが、ユーザは、あり得る4つの出力波形のいずれかに興味を持つかもしれない:(1)差動モード、これは、両側の2つの波形間の差分である;(2)コモン・モード、これは、2つの波形の和を2で割ったものである;(3)その他の波形の1つだけを示す。もしプローブが図1に示すような3ポート・プローブ100だけなら、ディエンベッド処理は、差動モード波形のみが対象となる。
試験測定装置200は、オシロスコープ又はスペクトラム・アナライザでも良い。上述のように、試験測定装置200は、プロセッサ204と、実行可能な命令を記憶するメモリ(図示せず)とを含む。こうした実行可能な命令は、コンピュータ読み出し可能な媒体上に具現化されるコンピュータ読み出し可能なコードでも良く、これは、実行されると、コンピュータ又はプロセッサに上述の動作のいずれかを実行させる。本願で用いているように、コンピュータとは、コードを実行できる任意のデバイスである。マイクロプロセッサ、プログラマブル・ロジック・デイバイス、マルチプロセッサ・システム、デジタル・シグナル・プロセッサ、パーソナル・コンピュータなどは、全てそうしたコンピュータの例である。いくつかの実施形態では、コンピュータ読み出し可能な媒体は、非一時的なやり方でコンピュータ読み出し可能なコードを蓄積するよう構成された有体のコンピュータ読み出し可能な媒体でも良い。
本発明の好ましい実施形態において、本発明の原理を説明し、図示してきたが、こうした原理から離れることなく、構成や詳細に関して本発明を変更できることは明かであろう。
100 ディエンベッド・プローブ
102 信号発生装置
104 増幅器
106 スイッチ
108 コントローラ
110 メモリ
112 プローブ入力端子
114 プローブ入力端子
116 負荷
118 単一の出力端子
120 通信リンク
200 試験測定装置
202 被測定デバイス
204 プロセッサ
206 ユーザ・インタフェース
302 増幅器
304 増幅器
306 出力端子
308 出力端子
102 信号発生装置
104 増幅器
106 スイッチ
108 コントローラ
110 メモリ
112 プローブ入力端子
114 プローブ入力端子
116 負荷
118 単一の出力端子
120 通信リンク
200 試験測定装置
202 被測定デバイス
204 プロセッサ
206 ユーザ・インタフェース
302 増幅器
304 増幅器
306 出力端子
308 出力端子
Claims (5)
- 被測定デバイスに接続される2つの入力端子と、
メモリと、
信号を出力するよう構成される信号発生装置と、
各負荷要素が異なる負荷を提供するよう構成された複数の負荷要素と、
複数のスイッチであって、上記複数のスイッチの第1スイッチは、上記信号発生装置と関連し、上記複数のスイッチのその他のスイッチは、それぞれ1つの負荷要素と関連する上記複数のスイッチと、
上記複数の負荷要素の中の負荷の組み合わせと、上記2つの入力端子間にかかる上記信号発生装置からの上記信号とを接続する上記複数のスイッチを制御するよう構成されるコントローラと
を具えるディエンベッド・プローブ。 - 上記メモリが、上記複数のスイッチのスイッチ位置それぞれにおける上記ディエンベッド・プローブの測定された上記Sパラメータを記憶するよう構成される請求項1のディエンベッド・プローブ。
- 被測定デバイスと、
試験測定装置と、
請求項1又は2のディエンベッド・プローブと
を具える試験測定システム。 - 被測定デバイスに接続される2つの入力端子と、
メモリと、
信号を出力するよう構成される信号発生装置と、
複数の異なる負荷を有する負荷集積回路と、
複数のスイッチであって、上記複数のスイッチの第1スイッチは、上記信号発生装置と関連し、上記複数のスイッチのその他のスイッチは、上記負荷集積回路の1つの負荷とそれぞれ関連する上記複数のスイッチと、
上記複数の負荷要素の中の負荷の組み合わせと、上記2つの入力端子間にかかる上記信号発生装置からの上記信号とを接続する上記複数のスイッチを制御するよう構成されるコントローラと
を具えるディエンベッド・プローブ。 - 被測定デバイスと、
試験測定装置と、
請求項4のディエンベッド・プローブと
を具える試験測定システム。
Applications Claiming Priority (4)
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---|---|---|---|
US201361882292P | 2013-09-25 | 2013-09-25 | |
US61/882,292 | 2013-09-25 | ||
US14/261,834 | 2014-04-25 | ||
US14/261,834 US20150084655A1 (en) | 2013-09-25 | 2014-04-25 | Switched load time-domain reflectometer de-embed probe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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---|---|
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EP (1) | EP2853902B1 (ja) |
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