KR101792385B1 - 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 - Google Patents

적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 Download PDF

Info

Publication number
KR101792385B1
KR101792385B1 KR1020160007516A KR20160007516A KR101792385B1 KR 101792385 B1 KR101792385 B1 KR 101792385B1 KR 1020160007516 A KR1020160007516 A KR 1020160007516A KR 20160007516 A KR20160007516 A KR 20160007516A KR 101792385 B1 KR101792385 B1 KR 101792385B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
stress dispersion
ceramic capacitor
area
internal electrodes
multilayer ceramic
Prior art date
Application number
KR1020160007516A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20170087665A (ko
Inventor
안진모
Original Assignee
삼성전기주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전기주식회사 filed Critical 삼성전기주식회사
Priority to KR1020160007516A priority Critical patent/KR101792385B1/ko
Priority to US15/276,228 priority patent/US9793051B2/en
Publication of KR20170087665A publication Critical patent/KR20170087665A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101792385B1 publication Critical patent/KR101792385B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/005Electrodes
    • H01G4/012Form of non-self-supporting electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G2/00Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
    • H01G2/02Mountings
    • H01G2/06Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/018Dielectrics
    • H01G4/06Solid dielectrics
    • H01G4/08Inorganic dielectrics
    • H01G4/12Ceramic dielectrics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/018Dielectrics
    • H01G4/06Solid dielectrics
    • H01G4/08Inorganic dielectrics
    • H01G4/12Ceramic dielectrics
    • H01G4/1209Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/228Terminals
    • H01G4/232Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/228Terminals
    • H01G4/248Terminals the terminals embracing or surrounding the capacitive element, e.g. caps
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/30Stacked capacitors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/111Pads for surface mounting, e.g. lay-out
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3431Leadless components
    • H05K3/3442Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10007Types of components
    • H05K2201/10015Non-printed capacitor
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10636Leadless chip, e.g. chip capacitor or resistor
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

본 발명은, 복수의 제1 및 제2 내부 전극을 포함하는 액티브영역과, 상기 액티브영역의 상하에 배치되는 커버영역을 포함하는 바디; 및 상기 바디의 길이 방향의 양 단에 배치되며, 제1 및 제2 내부 전극과 각각 접속되는 제1 및 제2 외부 전극; 을 포함하며, 상기 커버영역에 제1 또는 제2 내부 전극 대비 30 내지 95%의 면적을 가지는 응력분산패턴이 적어도 한 층 이상 형성되는 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판을 제공한다.

Description

적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판{Multi-layered ceramic capacitor and board for mounting the same}
본 발명은 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판에 관한 것이다.
적층 세라믹 커패시터(MLCC: Multi-Layered Ceramic Capacitor)는 소형이고 고용량이 보장되며 실장이 용이한 특징을 갖는다.
상기 적층 세라믹 커패시터는 액정 표시 장치(LCD: Liquid Crystal Display)와 플라즈마 표시 장치 패널(PDP: Plasma Display Panel) 등의 영상 기기, 컴퓨터, 스마트 폰 및 휴대폰 등 여러 전자 제품의 회로 기판에 장착되어 전기를 충전시키거나 또는 방전시키는 역할을 한다.
또한, 적층 세라믹 커패시터는 회로 기판에 실장되는 SMD(surface mount device) 타입의 전하저장 및 인덕터나 저항과 함께 사용되어 필터와 같은 역할을 할 수 있다.
최근 모바일 기기와 같이 전자 제품의 다기능화 및 박층화가 이루어지면서 MLCC도 초소형, 박형 및 고용량의 시장 소요가 증가하는 추세이다.
이에 따라 유전체층의 두께가 서브 미크론으로 박형화되면서 내부 전극의 재료로 사용되는 니켈(Ni) 및 팔라듐(Pd) 등의 금속 재료의 밀집도는 상대적으로 높아지고 바디 전체의 체적 대비 유전체의 상대적 감소가 이루어진다.
동일한 칩 체적 내에서 고용량을 구현하기 위해서는 인쇄에 의해 형성되는 내부 전극의 층수가 올라감에 따라 상하 커버로 사용되는 유전체층의 두께 및 체적은 낮추게 되는데, 이에 내부 전극이 포함된 액티브영역과 내부 전극을 포함하지 않는 커버영역의 계면에서 크랙 및 디라미네이션 등의 결함이 발생할 수 있다.
국내공개특허 제2015-0007581호 국내공개특허 제2015-0019643호
본 발명의 목적은 액티브영역과 커버영역 사이의 계면에서 크랙 및 디라미네이션이 발생되는 것을 개선할 수 있는 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 측면은, 복수의 제1 및 제2 내부 전극을 포함하는 액티브영역과, 상기 액티브영역의 상하에 배치되는 커버영역을 포함하는 바디; 및 상기 바디의 길이 방향의 양 단에 배치되며, 제1 및 제2 내부 전극과 각각 접속되는 제1 및 제2 외부 전극; 을 포함하며, 상기 커버영역에 제1 또는 제2 내부 전극 대비 30 내지 95%의 면적을 가지는 응력분산패턴이 적어도 한 층 이상 형성되는 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판을 제공한다.
본 발명의 일 실시 형태에 따르면, 커버영역에 내부 전극 대비 30 내지 95%의 면적을 가지는 응력분산패턴을 배치하여 액티브영역과 커버영역 사이의 계면에서 크랙 및 디라미네이션이 발생되는 것을 개선할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 적층 세라믹 커패시터를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 2A 내지 도 2D는 도 1의 제1 및 제2 내부 전극과 응력분산패턴의 적층 구조를 나타낸 분리사시도이다.
도 3은 도 1의 I-I'선 단면도이다.
도 4는 도 1의 응력분산패턴의 다른 실시 형태를 나타낸 사시도이다.
도 5는 도 4의 제1 및 제2 내부 전극과 응력분산패턴의 적층 구조를 나타낸 분리사시도이다.
도 6은 도 1의 적층 세라믹 커패시터가 기판에 실장되는 모습을 나타낸 단면도이다.
도 7은 도 5의 적층 세라믹 커패시터가 기판에 실장되는 모습을 나타낸 단면도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태를 설명한다.
그러나, 본 발명의 실시 형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다.
또한, 본 발명의 실시 형태는 당해 기술 분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다.
도면에서 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.
또한, 각 실시 예의 도면에 나타난 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성 요소는 동일한 참조 부호를 사용하여 설명한다.
본 발명의 실시 예를 명확하게 설명하기 위해 육면체의 방향을 정의하면, 도면에 표시된 L, W 및 T는 각각 길이 방향, 폭 방향 및 두께 방향을 나타낸다.
여기서, 두께 방향은 유전체층이 적층되는 적층 방향과 동일한 개념으로 사용될 수 있다.
적층 세라믹 커패시터
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 적층 세라믹 커패시터를 개략적으로 나타낸 사시도이고, 도 2A 내지 도 2D는 도 1의 제1 및 제2 내부 전극과 응력분산패턴의 적층 구조를 나타낸 분리사시도이고, 도 3은 도 1의 I-I'선 단면도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 실시 형태에 따른 적층 세라믹 커패시터(100)는 바디(110)와 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)과 응력분산패턴을 포함한다.
바디(110)는 두께 방향으로 적층되는 복수의 유전체층(111)과, 유전체층(111)을 사이에 두고 두께 방향을 따라 번갈아 배치되는 복수의 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 포함하는 액티브영역과 상기 액티브영역의 상하에 배치되는 커버영역을 포함한다.
이러한 바디(110)는 복수의 유전체층(111)과 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 폭 방향으로 적층한 다음 소성하여 형성되며, 형상에 특별히 제한은 없지만 도시된 바와 같이 대략적으로 육면체 형상을 가질 수 있다.
본 실시 형태에서 바디(110)는 예컨대 길이ⅹ폭ⅹ두께가 0.4ⅹ0.2ⅹ0.2~4ⅹ2ⅹ2(mm)일 수 있다.
이때, 바디(110)는, 서로 대향되는 두께 방향(T)의 제1 면(S1) 및 제2 면(S2)과, 제1 면(S1) 및 제2 면(S2)을 연결하며 서로 대향되는 길이 방향(L)의 제3 면(S3) 및 제4 면(S4)과, 서로 대향되는 폭 방향(W)의 제5 면(S5) 및 제6 면(S6)을 가질 수 있다.
이하, 본 실시 형태에서, 적층 세라믹 커패시터(100)의 실장 면은 바디(110)의 제1 면(S1)으로 정의하여 함께 설명하기로 한다.
유전체층(111)은 소결된 상태로서, 인접하는 유전체층(111) 사이의 경계는 주사전자현미경(SEM: Scanning Electron Microscope)를 이용하지 않고 확인하기 곤란할 정도로 일체화될 수 있다.
이때, 유전체층(111)의 두께는 적층 세라믹 커패시터(100)의 용량 설계에 맞추어 임의로 변경할 수 있으며, 바람직하게 1층의 두께는 소성 후 0.01 내지 1.00㎛이 되도록 구성할 수 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 유전체층(111)의 적층 수는 예컨대 50 내지 1,000층일 수 있다.
또한, 유전체층(111)은 고유전률을 갖는 세라믹 분말, 예를 들어 티탄산바륨(BaTiO3)계 또는 티탄산스트론튬(SrTiO3)계 분말 또는 티탄산 마그네슘 등을 포함할 수 있으며, 충분한 정전 용량을 얻을 수 있는 한 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 유전체층(111)에는 상기 세라믹 분말과 함께, 필요시 세라믹 첨가제, 유기용제, 가소제, 결합제 및 분산제 등이 적어도 하나 이상 더 첨가될 수 있다.
커버영역은 바디(110)의 두께 방향 마진으로서 두께 방향의 양쪽 최외곽에 커버(112, 113)를 각각 배치하여 구성된다.
커버(112, 113)는 내부 전극을 포함하지 않는 것을 제외하고는 유전체층(111)과 동일한 재질 및 구성을 가질 수 있다.
또한, 커버(112, 113)는 단일 유전체층 또는 2 개 이상의 유전체층을 바디(110)의 폭 방향의 양쪽 최외곽에 각각 적층하여 마련할 수 있으며, 기본적으로 물리적 또는 화학적 스트레스에 의한 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)의 손상을 방지하는 역할을 수행한다.
이때, 상기 커버영역에는 적어도 1층 이상의 응력분산패턴(123, 124)이 형성될 수 있다. 응력분산패턴(123, 124)은 소성시 바디(110)의 응력을 분산시켜 크랙 및 디라미네이션이 발생되는 것을 방지하는 역할을 한다.
이와 같이 응력분산패턴(123, 124)을 형성하면, 커버영역의 열처리 수축율과 액티브영역의 온도별 수축 변형의 차이에 따른 응력(stress)이 커버영역과 액티브영역의 경계 면에 한번에 집중되지 않고 그 경계 면에서 여러 층에 나누어 전달되어 응력이 분산될 수 있다.
이러한 응력분산패턴(123, 124)은 제1 또는 제2 내부 전극(121, 122) 대비 30 내지 95%의 면적 또는 체적을 가질 수 있다.
이때, 응력분산패턴(123, 124)의 면적 또는 체적이 제1 또는 제2 내부 전극(121, 122) 대비 30% 미만이거나 95%를 초과하는 경우 응력 분산 효과가 저하되어 바디(110)에 디라미네이션이 발생할 수 있다.
또한, 응력분산패턴(123, 124)은 외부 전극과 연결되지 않으며 바디(110) 내에 위치하는 플로팅 전극일 수 있다.
이때, 응력분산패턴(123, 124)은 상부 또는 하부 커버(112, 113)에 적어도 2층 이상이 적층될 수 있으며, 상단 또는 하단에서 중앙부로 갈수록 면적이 커지는 구조로 이루어질 수 있다.
다른 예로서, 응력분산패턴(123, 124)은 상부 또는 하부 커버(112, 113)에 적어도 2층 이상이 적층될 수 있으며, 상단 또는 하단에서 길이 또는 폭 중 하나만 커지도록 구성할 수 있다.
이와 같은 구조에 따라, 응력분산패턴(123, 124)은 적층 방향을 따라 테이퍼진 형상을 가질 수 있다.
이에, 액티브영역과 상부 또는 하부 커버(112, 113)의 계면에서, 응력분산패턴(123, 124)의 면적이 점차 바깥쪽으로 갈수록 작아지게 형성하면, 응력분산패턴(123, 124)에 의한 수축률 차이가 점진적으로 낮아지면서 액티브 영역과 커버영역의 계면의 응력을 더 낮춰 층간 디라미네이션 방지 효과를 더 향상시킬 수 있다.
한편, 응력분산패턴(23, 124)은 상부 커버영역과 하부 커버영역에 동일한 적층 수와 형상으로 이루어질 수 있다.
이에 적층 세라믹 커패시터(100)가 상하 대칭 구조로 될 수 있어서, 실장시 적층 커패시터의 상하 방향성을 제거할 수 있다.
제1 내지 제3 외부 전극(131-133)은 바디(110)의 제3 및 제4 면(S3, S4)에 배치되고, 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)의 노출되는 단부와 각각 접촉되어 전기적으로 접속된다.
이때, 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)은 필요시 바디(110)의 제3 및 제4 면(S3, S4)에 형성되는 도전층과 상기 도전층 상에 각각 형성되는 도금층을 포함할 수 있다.
상기 도금층은 니켈(Ni) 도금층과 상기 니켈(Ni) 도금층 상에 형성되는 주석(Sn) 도금층을 포함할 수 있다.
한편, 제1 및 제2 외부 전극(131, 132.)은 바디(110)의 제3, 4 면(S3, S4)에 형성되는 접속부와, 상기 접속부에서 바디(110)의 제5 및 제6 면(S5, S6)의 일부와 제1 또는 제2 면(S1, S2)의 일부까지 각각 연장되는 제1 및 제2 밴드부를 포함할 수 있다.
이에 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)의 고착강도를 향상시킬 수 있다.
제1 및 제2 내부 전극(121, 122)은 서로 다른 극성을 인가받는 전극으로서, 바디(110) 내부에 배치되며, 유전체층(111)을 사이에 두고 두께 방향으로 번갈아 배치된다.
이때, 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)은 중간에 배치된 유전체층(111)에 의해 서로 전기적으로 절연될 수 있다.
제1 및 제2 내부 전극(121, 122)의 두께는 용도에 따라 결정될 수 있는데, 예를 들어 바디(110)의 크기를 고려하여 0.2 내지 1.0 ㎛의 범위 내에 있도록 결정될 수 있으며, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)은 예컨대 총 적층 수가 50 내지 1,000일 수 있다.
또한, 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 형성하는 재료는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들어 팔라듐(Pd), 팔라듐-은(Pd-Ag)합금 등의 귀금속 재료 및 니켈(Ni) 및 구리(Cu) 중 하나 이상의 물질로 이루어진 도전성 페이스트를 사용하여 형성될 수 있다.
이때, 상기 도전성 페이스트의 인쇄 방법은 스크린 인쇄법 또는 그라비아 인쇄법 등을 사용할 수 있으며, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.
변형 예
도 4는 도 1의 응력분산패턴의 다른 실시 형태를 나타낸 사시도이고, 도 5는 도 4의 제1 및 제2 내부 전극과 응력분산패턴의 적층 구조를 나타낸 분리사시도이다.
여기서, 앞서 설명한 일 실시 형태와 동일한 부분에 대해서는 중복을 피하기 위하여 이에 대한 구체적인 설명을 생략하며, 앞서 설명한 실시 형태와 상이한 구조를 갖는 응력분산패턴에 대해 구체적으로 설명한다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 본 실시 형태의 응력분산패턴은 제1 및 제2 응력분산패턴(125, 126)을 포함하며, 제1 및 제2 응력분산패턴(125, 126)은 바디(110)의 적층 방향을 따라 번갈아 가며 배치될 수 있다.
또한, 제1 및 제2 응력분산패턴(125, 126)의 일 단부는 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)과 각각 접촉되어 전기적으로 접촉될 수 있다. 이와 같이 제1 및 제2 응력분산패턴(125, 126)의 단부가 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)과 각각 접촉되면 용량 저하를 줄일 수 있다.
이때, 제1 및 제2 응력분산패턴(125, 126)의 각각의 길이는 바디(110) 길이의 1/2 이상일 수 있다.
이에 제1 및 제2 응력 분산 패턴(125, 126)의 타 단부는 일부가 서로 오버랩되는 구조를 가질 수 있다.
이때, 제1 및 제2 응력 분산 패턴(125, 126)이 서로 오버랩되는 부분은 바람직하게 바디(110)의 길이 대비 10 내지 70%일 수 있다.
또한, 제1 및 제2 응력분산패턴(125, 126)은 상부 커버영역과 하부 커버영역에 동일한 적층 수로 이루어질 수 있으며, 이에 적층 세라믹 커패시터가 상하 대칭 구조로 될 수 있다.
적층 세라믹 커패시터의 실장 기판
도 6은 도 1의 적층 세라믹 커패시터가 기판에 실장되는 모습을 나타낸 사시도이다.
도 6을 참조하면, 본 실시 형태에 따른 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판(200)은 적층 세라믹 커패시터(100)가 실장되는 기판(210)과, 기판(210)의 상면에 서로 이격되게 형성된 제1 및 제2 전극 패드(221, 222)를 포함한다.
적층 세라믹 커패시터(100)는 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)이 제1 및 제2 전극 패드(221, 222) 위에 각각 접촉되게 위치한 상태에서 솔더(230)에 의해 기판(210)과 전기적으로 연결될 수 있다.
한편, 본 실시 형태는 도 1의 적층 세라믹 커패시터를 실장하는 형태로 도시하여 설명하고 있으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니다.
일례로서, 도 7에 도시된 바와 같이, 도 5에 도시된 적층 세라믹 커패시터(100') 등도 유사한 구조로 기판에 실장하여 실장 기판을 구성할 수 있다.
본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다.
따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.
100, 100': 적층 세라믹 커패시터
110: 세라믹 바디
111: 유전체층
112, 113: 커버
121, 122: 제1 및 제2 내부 전극
123, 124, 125, 126: 응력분산패턴
131, 132: 제1 및 제2 외부 전극
200: 실장 기판
210: 기판
221, 222: 제1 및 제2 전극 패드
230: 솔더

Claims (11)

  1. 복수의 유전체층과, 상기 유전체층을 사이에 두고 길이 방향의 양 면을 통해 번갈아 노출되도록 배치되는 복수의 제1 및 제2 내부 전극을 포함하는 액티브영역과, 상기 액티브영역의 상하에 배치되는 커버영역을 포함하는 바디; 및
    상기 바디의 길이 방향의 양 단에 배치되며, 제1 및 제2 내부 전극과 각각 접속되는 제1 및 제2 외부 전극; 을 포함하며,
    상기 커버영역에 제1 또는 제2 내부 전극 대비 30 내지 95%의 면적을 가지는 응력분산패턴이 적어도 한 층 이상 형성되고,
    상기 응력분산패턴은, 적층 방향을 따라 번갈아 배치되며 일 단부가 상기 제1 및 제2 외부 전극과 각각 연결되는 제1 및 제2 응력분산패턴을 포함하고,
    상기 제1 및 제2 응력분산패턴의 타 단부는 상하로 오버랩되고,
    상기 제1 및 제2 응력분산패턴의 타 단부가 오버랩되는 면적과 상기 제1 및 제2 내부 전극의 오버랩 면적이 다른 적층 세라믹 커패시터.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 응력분산패턴의 타 단부가 오버랩되는 면적이 상기 제1 및 제2 내부 전극의 오버랩 면적 보다 작은 적층 세라믹 커패시터.
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서, 상기 상하 커버영역에 형성되는 응력분산패턴은 동일한 적층 수를 가지며, 상하 대칭되는 형상으로 이루어지는 적층 세라믹 커패시터.
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 제1항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 응력분산패턴의 길이가 상기 바디 길이의 1/2 이상인 적층 세라믹 커패시터.
  10. 삭제
  11. 상부에 제1 및 제2 전극 패드를 갖는 기판; 및
    상기 제1 및 제2 전극 패드 위에 제1 및 제2 외부 전극이 각각 배치되어 상기 기판 상에 실장되는 제1항, 제2항, 제6항 및 제9항 중 어느 한 항의 적층 세라믹 커패시터; 를 포함하는 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판.
KR1020160007516A 2016-01-21 2016-01-21 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 KR101792385B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160007516A KR101792385B1 (ko) 2016-01-21 2016-01-21 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
US15/276,228 US9793051B2 (en) 2016-01-21 2016-09-26 Multilayer ceramic capacitor and board having the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160007516A KR101792385B1 (ko) 2016-01-21 2016-01-21 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170087665A KR20170087665A (ko) 2017-07-31
KR101792385B1 true KR101792385B1 (ko) 2017-11-01

Family

ID=59360884

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160007516A KR101792385B1 (ko) 2016-01-21 2016-01-21 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9793051B2 (ko)
KR (1) KR101792385B1 (ko)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102059443B1 (ko) 2017-09-06 2019-12-27 삼성전기주식회사 적층형 커패시터 및 그 실장 기판
JP7122818B2 (ja) 2017-11-30 2022-08-22 太陽誘電株式会社 積層セラミック電子部品及びその製造方法
JP2019161212A (ja) * 2018-03-09 2019-09-19 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. 積層型キャパシタ
US10971308B2 (en) * 2018-07-20 2021-04-06 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd Multilayer capacitor
KR102118495B1 (ko) * 2018-08-29 2020-06-09 삼성전기주식회사 적층형 커패시터
KR102126415B1 (ko) * 2018-08-29 2020-06-25 삼성전기주식회사 적층형 커패시터
JP7435947B2 (ja) 2018-08-29 2024-02-21 サムソン エレクトロ-メカニックス カンパニーリミテッド. 積層型キャパシタ
US11276526B2 (en) 2018-08-29 2022-03-15 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer capacitor
US10811192B2 (en) * 2018-09-28 2020-10-20 Apple Inc. Reliable capacitor structures
KR20190121191A (ko) * 2018-10-05 2019-10-25 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자부품의 제조방법 및 적층 세라믹 전자부품
KR20190116128A (ko) 2019-07-05 2019-10-14 삼성전기주식회사 커패시터 부품
US11908624B2 (en) 2019-11-08 2024-02-20 Amotech Co., Ltd. Broadband capacitor
KR20210102084A (ko) * 2020-02-11 2021-08-19 주식회사 아모텍 광대역 커패시터
KR102470407B1 (ko) * 2020-05-27 2022-11-24 주식회사 아모텍 광대역 커패시터
KR102524878B1 (ko) * 2021-11-18 2023-04-24 주식회사 아모텍 세라믹 커패시터 제조방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006324576A (ja) * 2005-05-20 2006-11-30 Tdk Corp 積層電子部品
JP2007042743A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Tdk Corp 積層電子部品
JP2014165492A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd 多層セラミック素子

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10241991A (ja) * 1997-02-24 1998-09-11 Taiyo Yuden Co Ltd 積層コンデンサとそのトリミング方法
JP4270395B2 (ja) * 2005-03-28 2009-05-27 Tdk株式会社 積層セラミック電子部品
JP4905498B2 (ja) * 2009-04-22 2012-03-28 株式会社村田製作所 積層型セラミック電子部品
DE102009034417A1 (de) * 2009-07-23 2011-01-27 Airbus Operations Gmbh Fluid-Aktuator zur Erzeugung einer gepulsten Auslass-Strömung in der Umströmung eines aerodynamischen Körpers, eine Ausblasvorrichtung mit einem solchen Fluid-Aktuator sowie einen solchen aerodynamischen Körper
JP2012156315A (ja) * 2011-01-26 2012-08-16 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミック電子部品
KR101565641B1 (ko) * 2013-04-17 2015-11-03 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자부품 및 그 실장 기판
KR101525666B1 (ko) 2013-07-11 2015-06-03 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조 방법
KR20150019643A (ko) 2013-08-14 2015-02-25 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006324576A (ja) * 2005-05-20 2006-11-30 Tdk Corp 積層電子部品
JP2007042743A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Tdk Corp 積層電子部品
JP2014165492A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd 多層セラミック素子

Also Published As

Publication number Publication date
US20170213647A1 (en) 2017-07-27
US9793051B2 (en) 2017-10-17
KR20170087665A (ko) 2017-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101792385B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
KR101867982B1 (ko) 커패시터 및 그 실장 기판
KR101548813B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터
US9336946B2 (en) Multilayer ceramic electronic component and assembly board having the same
KR102620535B1 (ko) 적층형 커패시터 및 그 실장 기판
JP5529298B1 (ja) 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法
KR102319596B1 (ko) 적층형 커패시터 및 그 실장 기판
US8891226B2 (en) Multilayer ceramic electronic component and method of manufacturing the same
KR20230093188A (ko) 적층형 커패시터, 그 실장 기판 및 적층형 커패시터의 제조방법
JP2014165489A (ja) 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法
KR20150033341A (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조 방법
JP2022186940A (ja) 積層型キャパシタ
JP2018129499A (ja) キャパシタ部品
CN109935467B (zh) 电容器组件
KR102122927B1 (ko) 적층형 커패시터
KR102551242B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
KR101792362B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
KR102089696B1 (ko) 적층 세라믹 전자부품 및 적층 세라믹 전자부품의 실장 기판
KR102632349B1 (ko) 커패시터 부품
KR101771824B1 (ko) 적층형 커패시터 및 그 실장 기판
KR102386974B1 (ko) 커패시터 및 그 실장 기판
JP5628351B2 (ja) 積層セラミックキャパシタ及びその製造方法
KR102380836B1 (ko) 적층형 커패시터 및 그 실장 기판
KR20140125111A (ko) 적층 세라믹 전자 부품, 그 제조 방법 및 그 실장 기판
KR102483617B1 (ko) 적층형 전자 부품

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant