KR101557016B1 - 기판 처리장치 - Google Patents
기판 처리장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101557016B1 KR101557016B1 KR1020130123761A KR20130123761A KR101557016B1 KR 101557016 B1 KR101557016 B1 KR 101557016B1 KR 1020130123761 A KR1020130123761 A KR 1020130123761A KR 20130123761 A KR20130123761 A KR 20130123761A KR 101557016 B1 KR101557016 B1 KR 101557016B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- lower portion
- substrate holder
- blocking plate
- chamber body
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B1/00—Shaft or like vertical or substantially vertical furnaces
- F27B1/10—Details, accessories, or equipment peculiar to furnaces of these types
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67109—Apparatus for thermal treatment mainly by convection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/6719—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the processing chambers, e.g. modular processing chambers
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B1/00—Shaft or like vertical or substantially vertical furnaces
- F27B1/02—Shaft or like vertical or substantially vertical furnaces with two or more shafts or chambers, e.g. multi-storey
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B1/00—Shaft or like vertical or substantially vertical furnaces
- F27B1/10—Details, accessories, or equipment peculiar to furnaces of these types
- F27B1/20—Arrangements of devices for charging
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B1/00—Shaft or like vertical or substantially vertical furnaces
- F27B1/10—Details, accessories, or equipment peculiar to furnaces of these types
- F27B1/21—Arrangements of devices for discharging
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B3/00—Hearth-type furnaces, e.g. of reverberatory type; Tank furnaces
- F27B3/02—Hearth-type furnaces, e.g. of reverberatory type; Tank furnaces of single-chamber fixed-hearth type
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B5/00—Muffle furnaces; Retort furnaces; Other furnaces in which the charge is held completely isolated
- F27B5/04—Muffle furnaces; Retort furnaces; Other furnaces in which the charge is held completely isolated adapted for treating the charge in vacuum or special atmosphere
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B5/00—Muffle furnaces; Retort furnaces; Other furnaces in which the charge is held completely isolated
- F27B5/06—Details, accessories, or equipment peculiar to furnaces of these types
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B5/00—Muffle furnaces; Retort furnaces; Other furnaces in which the charge is held completely isolated
- F27B5/06—Details, accessories, or equipment peculiar to furnaces of these types
- F27B5/14—Arrangements of heating devices
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B5/00—Muffle furnaces; Retort furnaces; Other furnaces in which the charge is held completely isolated
- F27B5/06—Details, accessories, or equipment peculiar to furnaces of these types
- F27B5/16—Arrangements of air or gas supply devices
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B5/00—Muffle furnaces; Retort furnaces; Other furnaces in which the charge is held completely isolated
- F27B5/06—Details, accessories, or equipment peculiar to furnaces of these types
- F27B5/18—Arrangement of controlling, monitoring, alarm or like devices
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27D—DETAILS OR ACCESSORIES OF FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS, IN SO FAR AS THEY ARE OF KINDS OCCURRING IN MORE THAN ONE KIND OF FURNACE
- F27D3/00—Charging; Discharging; Manipulation of charge
- F27D3/0084—Charging; Manipulation of SC or SC wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67126—Apparatus for sealing, encapsulating, glassing, decapsulating or the like
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67757—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber vertical transfer of a batch of workpieces
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B17/00—Furnaces of a kind not covered by any preceding group
- F27B17/0016—Chamber type furnaces
- F27B17/0033—Chamber type furnaces the floor of the furnaces consisting of the support carrying the charge, e.g. car type furnaces
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
- H01L21/67781—Batch transfer of wafers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
본 발명의 일 실시예에 의하면, 기판 처리장치는, 일측에 형성된 통로를 통해 기판이 이송되며, 상부 및 하부가 개방된 챔버본체; 상기 챔버본체의 상부에 설치되어 상기 기판에 대한 공정이 이루어지는 공정공간을 제공하며, 하부가 개방된 형상을 가지는 내부반응튜브; 상기 챔버의 개방된 하부에 배치되어 상기 통로를 통해 이송된 상기 기판을 상하방향을 따라 적재하는 적재위치 및 상기 공정공간을 향해 상승하여 적재된 상기 기판에 대한 공정이 이루어지는 공정위치로 전환가능한 기판홀더; 상기 기판홀더의 하부에 연결되어 상기 기판홀더와 함께 승강하며, 상기 공정위치에서 상기 내부반응튜브의 개방된 하부를 폐쇄하는 차단플레이트; 상기 차단플레이트의 하부에 기립설치되어 상기 차단플레이트와 함께 승강하는 연결실린더; 상기 챔버본체의 개방된 하부면과 상기 연결실린더 사이에 연결되며, 개방된 상기 챔버본체의 하부를 외부로부터 격리하는 차단부재를 포함한다.
Description
본 발명은 기판 처리장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 배치식 기판처리장치에 있어서 신축가능한 차단부재를 이용하여 기판에 대한 공정 수행 시, 적재공간의 부피를 제어하여 기판에 대한 오염을 최소화함으로써 품질 및 생산성을 향상시키는 기판 처리장치에 관한 것이다.
반도체, 평판 디스플레이 및 태양전지 제조에 사용되는 기판 처리장치는 실리콘 웨이퍼나 글래스와 같은 기판상에 증착되어 있는 소정의 박막에 대하여 결정화, 상 변화 등의 공정을 위하여 필수적인 열처리 단계를 포함하는 장치이다.
대표적으로, 액정 디스플레이 또는 박막형 결정질 실리콘 태양전지를 제조하는 경우, 글래스 기판상에 증착된 비정질 실리콘을 폴리 실리콘으로 결정화시키는 실리콘 결정화 장치가 있다. 이와 같은 결정화 공정을 수행하기 위해서는 소정의 박막이 형성되어 있는 기판의 히팅이 가능하여야 하며, 예를 들어, 비정질 실리콘의 결정화를 위한 공정온도는 최소한 550 내지 600도의 온도가 필요하다.
이러한 기판 처리장치에는 하나의 기판에 대하여 기판에 대한 공정을 수행할 수 있는 매엽식(single wafer type)과 복수개의 기판에 대하여 기판처리를 수행할 수 있는 배치식(batch type)이 있다. 매엽식은 장치의 구성이 간단한 이점이 있으나, 생산성이 떨어지는 단점으로 인해 최근의 대량 생산용으로는 배치식이 각광을 받고 있다.
본 발명의 목적은 공정공간과 적재공간을 차단한 상태에서 기판에 대한 공정을 진행하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적은 기판홀더의 공정위치에서 적재공간의 부피를 최소화시키는 데 있다.
본 발명의 또 다른 목적들은 다음의 상세한 설명과 도면으로부터 보다 명확해질 것이다.
본 발명의 일 실시예에 의하면, 기판 처리장치는, 일측에 형성된 통로를 통해 기판이 이송되며, 상부 및 하부가 개방된 챔버본체; 상기 챔버본체의 상부에 설치되어 상기 기판에 대한 공정이 이루어지는 공정공간을 제공하며, 하부가 개방된 형상을 가지는 내부반응튜브; 상기 챔버의 개방된 하부에 배치되어 상기 통로를 통해 이송된 상기 기판을 상하방향을 따라 적재하는 적재위치 및 상기 공정공간을 향해 상승하여 적재된 상기 기판에 대한 공정이 이루어지는 공정위치로 전환가능한 기판홀더; 상기 기판홀더의 하부에 연결되어 상기 기판홀더와 함께 승강하며, 상기 공정위치에서 상기 내부반응튜브의 개방된 하부를 폐쇄하는 차단플레이트; 상기 차단플레이트의 하부에 기립설치되어 상기 차단플레이트와 함께 승강하는 연결실린더; 상기 챔버본체의 개방된 하부면과 상기 연결실린더 사이에 연결되며, 개방된 상기 챔버본체의 하부를 외부로부터 격리하는 차단부재를 포함한다.
상기 차단부재는, 상기 기판홀더의 적재위치에서 상기 공정공간과 연통되는 적재공간을 제공하며, 상기 기판홀더의 공정위치에서 상기 적재공간을 감소시킬 수 있다.
상기 차단부재는 상기 차단플레이트가 승강함에 따라 신축가능할 수 있다.
상기 연결실린더의 하부는 외측을 향해 돌출된 돌출부를 가지며, 상기 차단부재는 상기 챔버본체의 개방된 하부면과 상기 돌출부 사이에 연결될 수 있다.
상기 연결실린더는, 상기 기판홀더의 적재위치에서 상기 챔버본체의 하부에 위치하며, 상기 기판홀더의 공정위치에서 상기 챔버본체의 내부에 위치할 수 있다.
상기 기판 처리장치는 상기 챔버본체의 상부에 설치되는 매니폴드를 더 포함하되, 상기 내부반응튜브는 상기 매니폴드에 지지될 수 있다.
상기 차단플레이트는 상기 공정위치에서 상기 매니폴드와 맞닿아 배치되어 상기 공정공간을 형성할 수 있다.
상기 매니폴드는, 상기 공정공간을 향해 공정가스를 공급하는 제1 공급구; 상기 제1 공급구의 반대편에 형성되어 상기 공정공간에 공급된 상기 공정가스를 배기하는 배기구; 및 상기 제1 공급구의 하부에 형성되어 상기 챔버본체의 내부를 향해 퍼지가스를 공급하는 제2 공급구를 형성하되, 상기 제2 공급구는 상기 기판홀더의 공정위치에서 상기 차단플레이트와 서로 나란하게 배치될 수 있다.
상기 기판 처리장치는, 상기 차단플레이트의 상부면을 따라 형성된 설치홈에 삽입되는 실링부재를 더 포함할 수 있다.
상기 기판 처리장치는, 상기 차단플레이트의 내부에 형성되어 외부로부터 공급된 냉매가 흐르는 냉각유로를 더 포함할 수 있다.
상기 기판 처리장치는, 상기 차단플레이트의 상부면을 따라 형성된 설치홈에 삽입되는 실링부재를 더 포함하되, 상기 냉각유로는 상기 실링부재를 따라 근접배치될 수 있다.
상기 기판 처리장치는, 상기 차단부재의 외측에 기립설치되는 승강축; 상기 승강축에 연결되어 상기 승강축을 회전하는 승강모터; 상기 연결실린더의 하부에 연결되는 지지링; 및 상기 지지링과 상기 승강축에 각각 연결되어 상기 승강축의 회전에 의해 상기 지지링과 함께 승강하는 브래킷을 더 구비할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 의하면, 배치식 기판처리장치에 있어서 적재공간과 공정공간을 용이하게 차단한 상태에서 기판에 대한 공정 수행할 수 있다. 또한, 적재공간의 부피를 최소화한 상태에서 기판에 대한 공정을 수행가능함으로써 기판에 대한 오염을 최소화하여 품질 및 생산성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2 및 도 3은 도 1에 도시한 기판 처리장치의 작동과정을 나타내는 도면이다.
도 4는 도 3의 A를 확대한 도면이다.
도 5는 도 3에 도시한 기판 처리장치의 퍼지가스 유동상태를 나타내는 도면이다.
도 2 및 도 3은 도 1에 도시한 기판 처리장치의 작동과정을 나타내는 도면이다.
도 4는 도 3의 A를 확대한 도면이다.
도 5는 도 3에 도시한 기판 처리장치의 퍼지가스 유동상태를 나타내는 도면이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예들을 첨부된 도 1 내지 도 5를 참고하여 더욱 상세히 설명한다. 본 발명의 실시예들은 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 설명하는 실시예들에 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 실시예들은 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 상세하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서 도면에 나타난 각 요소의 형상은 보다 분명한 설명을 강조하기 위하여 과장될 수 있다.
또한, 실시예에서 설명하는 기판(W) 외에 다양한 피처리체에도 응용될 수 있음은 당업자로서 당연하다. 예를 들어, 본 발명에서 처리될 수 있는 기판의 종류는 특별하게 제한되지 아니한다. 따라서, 반도체 공정 전반에서 일반적으로 이용되는 글래스, 플라스틱, 폴리머, 실리콘 웨이퍼, 스테인레스 스틸, 사파이어 등 다양한 재질의 기판이 본 발명의 기판처리장치에서 처리될 수 있다. 또한, 본 발명에서 기판을 처리한다 함은 기판 그 자체뿐만 아니라 기판 상에 형성된 소정의 막 또는 패턴 등을 처리하는 경우를 포함하는 것으로 이해될 수 있다.
뿐만 아니라, 본 발명의 기판 처리장치의 용도 또한 특별히 제한되지 아니한다. 따라서 본 발명의 기판 처리장치를 이용하여 전반적인 반도체공정, 예를 들어, 증착공정, 식각공정, 표면개질공정 등이 수행될 수 있다. 뿐만 아니라, 이하에서는 발명의 주요한 구성요소에 대해서만 설명하며, 이용되는 목적에 따라 다양한 구성요소들이 본 발명의 기판 처리장치에 추가적으로 포함할 수 있음은 자명하다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리장치를 개략적으로 나타내는 도면이다. 도 1에 도시한 바와 같이, 기판 처리장치(100)는 상부 및 하부가 개방된 형상의 챔버본체(30)와 개방된 챔버본체(30)의 상부를 폐쇄하는 챔버덮개(5), 그리고 개방된 챔버본체(30)의 하부를 외부로부터 격리가능한 차단부재(70)를 포함한다. 챔버본체(30)의 일측에 형성된 통로(32)를 통해 기판(W)이 챔버본체(30)의 내부로 이송되며, 게이트 밸브(도시안함)는 통로(32)의 외측에 설치되어 통로(32)는 게이트 밸브에 의해 개방 및 폐쇄될 수 있다. 또한, 배기포트(34)는 통로의 반대편에 형성되며, 후술하는 퍼지가스를 배기포트(34)를 통해 외부로 배기할 수 있다.
매니폴드(40)는 챔버본체(30)의 상부에 설치되며, 내부반응튜브(10)는 매니폴드(40)에 의해 지지될 수 있다. 내부반응튜브(10)는 챔버본체(30)의 개방된 상부를 폐쇄하여 기판(W)에 대한 공정이 이루어지는 공정공간(도 3의 2)을 제공하며, 하부가 개방된 형상을 가질 수 있다. 매니폴드(40)의 내면에는 각각 제1 공급구(13)와 제2 공급구(14) 및 배기구(19)가 형성될 수 있으며, 제1 공급구(13)는 제2 공급구(14)의 상부에 형성된다. 분사노즐(15)은 제1 공급구(13)와 연결되며, 외부로부터 공급된 공정가스는 제1 공급구(13)를 통해 분사노즐(15)에 공급되어 분사노즐(15)을 통해 기판에 공정가스를 공급할 수 있다.
분사노즐(15)은 내부반응튜브(10)의 내벽을 따라 삽입설치되며, 원주방향을 따라 서로 다른 높이에 배치될 수 있다. 분사노즐(15)로부터 공급된 공정가스는 반대편에 형성된 배기홀(17)들을 향해 흐르며, 이를 통해 공정가스와 기판(W)의 표면이 반응할 수 있는 충분한 시간을 확보할 수 있다. 이때, 공정 중 발생한 미반응가스 및 반응부산물들은 배기홀(17)을 통해 배기구(19)로 흡입되어 외부로 배출되며, 퍼지가스는 제2 공급구(14)를 통해 기판 처리장치(100)의 내부로 공급되어 배기포트(34)를 통해 배기될 수 있다. 또한, 기판 처리장치(100)는 미반응가스 및 반응부산물들이 용이하게 배기홀(17)을 통해 배기구(19)로 유동하도록 보조튜브(18)가 설치될 수 있다.
또한, 기판 처리장치(100)는 내부반응튜브(10)의 외측에는 외부반응튜브(20)가 설치될 수 있으며, 외부반응튜브(20)는 분사노즐(15) 및 배기홀(17)의 외측에 배치된다. 외부반응튜브(20)의 외측에는 챔버덮개(5)가 설치될 수 있으며, 챔버덮개(5)는 기판(W)을 가열하는 히터(7)를 구비할 수 있다. 내부반응튜브(10) 및 외부반응튜브(20)는 세라믹이나 쿼츠(quartz), 또는 메탈에 세라믹을 코팅한 재질일 수 있다.
기판 처리장치(100)는 복수의 기판들이 적재되는 기판홀더(50)를 더 포함하며, 통로(32)를 통해 이송된 기판(W)들은 기판홀더(50) 상에 상하방향으로 순차적으로 로딩된다. 기판홀더(50)는 기판(W)을 용이하게 적재가능하도록 상하방향으로 복수의 지지팁(53)(또는 슬롯)들이 형성될 수 있으며, 지지팁(53)과 지지팁(53) 사이에는 가이드 플레이트(55)를 구비할 수 있다. 가이드 플레이트(55)는 기판(W)의 단면적보다 크며, 가이드 플레이트(55)를 통해 상하방향으로 적재된 기판(W)과 기판(W) 사이에 균일한 가스의 공급이 가능하다.
기판홀더(50)는 챔버본체(30)의 하부에 배치되어 기설정된 간격으로 상승함으로써 통로(32)를 통해 이송되는 기판(W)을 상하방향으로 적재가능하며('적재위치'), 적재가 완료된 기판홀더(50)는 기판(W)에 대한 공정을 수행가능하도록 상승하여 공정위치로 전환될 수 있다. 기판홀더(50)가 공정위치로 전환된 경우, 공정공간(도 3의 2) 내부의 열손실을 최소화하기 위해 기판홀더(50)의 하부에는 다수의 단열플레이트가 구비될 수 있다.
기판홀더(50)의 하부에는 차단플레이트(60)가 설치되며, 차단플레이트(60)는 기판홀더(50)와 동심을 기준으로 기판홀더(50)의 외경보다 큰 형상을 가진다. 기판홀더(50)가 공정위치로 전환될 경우, 차단플레이트(60)는 매니폴드(40)와 맞닿아 내부반응튜브(10)의 개방된 하부를 폐쇄하여 공정공간(도 3의 2)을 제공한다. 설치홈(63)은 차단플레이트(60)의 상부면을 따라 형성될 수 있으며, 실링부재(65)는 설치홈(63)에 삽입설치된다. 실링부재(65)는 차단플레이트(60)와 매니폴드(40) 사이의 틈을 최소화하여 공정공간(도 3의 2)을 적재공간(도 3의 3)으로부터 면밀히 차단할 수 있다. 실링부재(65)는 실리콘 소재의 오링(0-ring)일 수 있다.
또한, 차단플레이트(60)의 내면에는 냉각유로(68)가 형성되며, 냉각유로(68)를 따라 외부로부터 공급된 냉매는 냉각유로(68)를 따라 흐를 수 있다. 바람직하게는 냉각유로(68)는 설치홈(63)과 기설정된 간격으로 이격되어 형성될 수 있으며, 설치홈(63)과 대응되는 형상을 가질 수 있다. 따라서, 기판홀더(50)의 공정위치에서 기판(W)에 대한 공정을 진행할 경우, 공정공간(도 3의 2)은 고온 분위기로 진행됨에 따른 실링부재(65)의 파손을 미연에 방지할 수 있다.
차단플레이트(60)의 하부 중앙부에는 모터하우징(85)이 설치될 수 있다. 회전축(83)의 일측은 차단플레이트(60)의 하부와 연결되며, 회전축(83)을 회전하는 회전모터(도시안함)는 모터하우징(85)의 내부에 고정설치될 수 있다. 회전모터는 기판홀더(50)가 공정위치로 전환되어 기판(W)에 대한 공정이 이루어질 경우, 회전축(83)을 구동하여 기판홀더(50)를 회전할 수 있다.
또한, 차단플레이트(60)의 하부 측면에는 연결실린더(80)가 설치된다. 연결실린더(80)는 차단플레이트(60)의 하부를 향해 기립설치되며, 연결실린더(80)의 하부는 외측을 향해 돌출되는 돌출부(81)를 가질 수 있다. 차단부재(70)는 개방된 챔버본체(30)의 하부와 연결실린더(80)의 돌출부(81) 사이에 연결되며, 개방된 챔버본체(30)의 하부를 외부로부터 격리하여 적재공간(도 3의 3)을 제공할 수 있다. 적재공간(도 3의 3)은 기판홀더(50)의 적재위치에서 공정공간(도 3의 2)과 연통되며, 기판홀더(50)가 공정위치로 전환될 경우, 적재공간(도 3의 3)은 공정공간(도 3의 2)과 차단된다.
차단부재(70)는 신축가능한 소재이며, 연결실린더(80)와 함께 상승함에 따라 적재공간(도 3의 3)의 부피는 탄력적으로 변화될 수 있다. 차단부재(70)는 벨로우즈(bellows)일 수 있으며, 플렌지(flange)(72)를 통해 챔버본체(30)와 연결실린더(80) 사이에 연결될 수 있다. 지지링(95)은 연결실린더(80)의 돌출부(81) 하부에 연결되어 연결실린더(80)를 지지한다. 브래킷(97)의 일측은 지지링(95)과 연결되며, 브래킷(97)의 타측은 차단부재(70)의 외측에 기립설치되는 승강축(90)과 연결된다. 승강모터(98)는 승강축(90)에 연결되어 승강축(90)을 구동가능하며, 브래킷(97)은 승강축(90)의 회전에 의해 지지링(95)과 함께 승강할 수 있다.
도 2 및 도 3은 도 1에 도시한 기판 처리장치의 작동과정을 나타내는 도면이며, 도 4는 도 3의 A를 확대한 도면이다. 도 2는 도 1에 도시한 기판홀더의 적재위치를 나타내는 도면이며, 도 3은 도 1에 도시한 기판홀더의 공정위치로 전환된 상태를 나타내는 도면이다. 도 2에 도시한 바와 같이, 통로(32)를 통해 이송된 기판(W)은 기판홀더(50)에 적재된다. 기판홀더(50)는 앞서 설명한 바와 같이, 승강 가능하며, 통로(32)를 통해 이송된 기판(W)은 기판홀더(50)의 상부에서 하부방향으로 순차적으로 지지팁(53)에 놓여진다.
기판홀더(50)에 기판(53)들의 적재가 모두 완료될 경우, 도 3에 도시한 바와 같이 기판홀더(50)는 공정위치로 전환된다. 기판홀더(50)가 공정위치로 전환된 경우, 기판홀더(50)의 하부에 연결된 차단플레이트(60)는 매니폴드(40)와 맞닿으며, 내부반응튜브(10)의 개방된 하부를 폐쇄할 수 있다. 또한, 차단플레이트(60)의 하부에 연결된 연결실린더(80)는 기판홀더(50)와 함께 승강함에 따라 함께 승강하며, 챔버본체(30)의 하부와 연결실린더(80) 사이에 연결된 차단부재(70)는 신축가능하므로 연결실린더(80)의 상승에 따라 적재공간(3)의 부피를 감소시킬 수 있다.
도 4에 도시한 바와 같이, 차단플레이트(60)는 설치홈(63)이 형성되어 실링부재(65)가 설치홈(63)에 설치됨으로써 매니폴드(40)와 차단플레이트(60) 사이를 밀봉함으로써 공정공간(2)을 외부로부터 긴밀하게 유지할 수 있다. 냉각유로(68)는 차단플레이트(60)의 설치홈(63)과 대응되도록 형성되어 실링부재(65)가 파손 및 차단플레이트(60)의 열손상을 방지할 수 있다. 또한, 실링부재(65)는 매니폴드(40)와 내부반응튜브(10), 플랜지(72)와 챔버본체(30), 챔버본체(30)와 매니폴드(40) 사이에 각각 설치될 수 있으며, 냉각유로(68) 또한 대응되는 위치에 형성될 수 있다.
도 5는 도 3에 도시한 기판 처리장치의 퍼지가스 유동상태를 나타내는 도면이다. 도 5에 도시한 바와 같이, 기판홀더(50)의 공정위치에서 제2 공급구(14)는 차단플레이트(60)와 나란하게 동일한 높이로 배치된다. 챔버본체(30)의 내부에는 제2 공급구(14)를 따라 노즐링(38)이 설치될 수 있으며, 퍼지가스는 제2 공급구(14)를 따라 노즐링(38)에 형성된 공급홀(39)들을 통해 적재공간(3)으로 공급될 수 있다. 챔버본체(30)의 통로 반대편에는 배기포트(34)가 형성되며, 적재공간(3)으로 공급된 퍼지가스는 배기포트(34)를 통해 배기될 수 있다.
즉, 기판홀더(50)가 공정위치로 전환될 경우, 차단부재(70)는 상하로 신축가능하므로 적재공간(3)이 최소화된다. 기판홀더(50)의 공정위치에서 차단플레이트(60)는 공정공간(2)과 적재공간(3)을 구획하며, 실링부재(65)를 통해 공정공간(2)과 적재공간(3) 사이의 공백을 최소화할 수 있다. 따라서, 적재공간(3)의 퍼지를 용이하게 제어가능하며, 적재공간(3)을 최소화시킴으로써 기판(W)에 대한 공정을 마친 후 기판홀더(50)를 하강할 경우, 기판(W)의 오염 및 파티클(particle)에 의한 불량을 줄여 기판(W)에 대한 수율을 향상 및 생산성을 증대할 수 있다.
본 발명을 바람직한 실시예들을 통하여 상세하게 설명하였으나, 이와 다른 형태의 실시예들도 가능하다. 그러므로, 이하에 기재된 청구항들의 기술적 사상과 범위는 바람직한 실시예들에 한정되지 않는다.
5 : 챔버덮개 7 : 히터
10 : 내부반응튜브 13 : 제1 공급구
14 : 제2 공급구 15 : 분사노즐
17 : 배기홀 19 : 배기구
20 : 외부반응튜브 30 : 챔버본체
32 : 통로 34 : 배기포트
38 : 노즐링 40 : 매니폴드
50 : 기판홀더 55 : 가이드플레이트
60 : 차단플레이트
63 : 설치홈 65 : 실링부재
68 : 냉각유로 70 : 차단부재
80 : 연결실린더 81 : 돌출부
83 : 회전축 85 : 모터하우징
90 : 회전축 95 : 지지링
97 : 브래킷 98 : 승강모터
100 : 기판 처리장치
10 : 내부반응튜브 13 : 제1 공급구
14 : 제2 공급구 15 : 분사노즐
17 : 배기홀 19 : 배기구
20 : 외부반응튜브 30 : 챔버본체
32 : 통로 34 : 배기포트
38 : 노즐링 40 : 매니폴드
50 : 기판홀더 55 : 가이드플레이트
60 : 차단플레이트
63 : 설치홈 65 : 실링부재
68 : 냉각유로 70 : 차단부재
80 : 연결실린더 81 : 돌출부
83 : 회전축 85 : 모터하우징
90 : 회전축 95 : 지지링
97 : 브래킷 98 : 승강모터
100 : 기판 처리장치
Claims (12)
- 일측에 형성된 통로를 통해 기판이 이송되며, 상부 및 하부가 개방된 챔버본체;
상기 챔버본체의 상부에 설치되어 상기 기판에 대한 공정이 이루어지는 공정공간을 제공하며, 하부가 개방된 형상을 가지는 내부반응튜브;
상기 챔버의 개방된 하부에 배치되어 상기 통로를 통해 이송된 상기 기판을 상하방향을 따라 적재하는 적재위치 및 상기 공정공간을 향해 상승하여 적재된 상기 기판에 대한 공정이 이루어지는 공정위치로 전환가능한 기판홀더;
상기 기판홀더의 하부에 연결되어 상기 기판홀더와 함께 승강하며, 상기 공정위치에서 상기 내부반응튜브의 개방된 하부를 폐쇄하는 차단플레이트;
상기 차단플레이트의 하부에 기립설치되어 상기 차단플레이트와 함께 승강하는 연결실린더;
상기 챔버본체의 개방된 하부면과 상기 연결실린더 사이에 연결되어, 상기 기판홀더의 적재위치에서 상기 공정공간과 연통되는 적재공간을 외부로부터 격리하는 차단부재; 및
상기 챔버본체의 상부에 설치되며, 상부에 놓여진 상기 내부반응튜브를 지지하는 매니폴드를 포함하되,
상기 매니폴드는,
상기 공정공간을 향해 공정가스를 공급하는 제1 공급구;
상기 제1 공급구의 반대편에 형성되어 상기 공정공간에 공급된 상기 공정가스를 배기하는 배기구; 및
상기 제1 공급구의 하부에 형성되어 상기 적재공간에 퍼지가스를 공급하며, 상기 기판홀더의 상기 공정위치에서 상기 차단플레이트와 동일한 높이로 배치되는 제2 공급구를 가지며,
상기 챔버본체는 배기포트를 더 포함하는, 기판 처리장치. - 제1항에 있어서,
상기 차단부재는 상기 기판홀더의 상기 공정위치에서 상기 적재공간을 감소시킬 수 있는, 기판 처리장치. - 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 차단부재는 상기 차단플레이트가 승강함에 따라 신축가능한, 기판 처리장치. - 제1항에 있어서,
상기 연결실린더의 하부는 외측을 향해 돌출된 돌출부를 가지며, 상기 차단부재는 상기 챔버본체의 개방된 하부면과 상기 돌출부 사이에 연결되는, 기판 처리장치. - 제1항에 있어서,
상기 연결실린더는,
상기 기판홀더의 상기 적재위치에서 상기 챔버본체의 하부에 위치하며, 상기 기판홀더의 상기 공정위치에서 상기 챔버본체의 내부에 위치하는, 기판 처리장치. - 일측에 형성된 통로를 통해 기판이 이송되며, 상부 및 하부가 개방된 챔버본체;
상기 챔버본체의 상부에 설치되어 상기 기판에 대한 공정이 이루어지는 공정공간을 제공하며, 하부가 개방된 형상을 가지는 내부반응튜브;
상기 챔버의 개방된 하부에 배치되어 상기 통로를 통해 이송된 상기 기판을 상하방향을 따라 적재하는 적재위치 및 상기 공정공간을 향해 상승하여 적재된 상기 기판에 대한 공정이 이루어지는 공정위치로 전환가능한 기판홀더;
상기 기판홀더의 하부에 연결되어 상기 기판홀더와 함께 승강하며, 상기 공정위치에서 상기 내부반응튜브의 개방된 하부를 폐쇄하는 차단플레이트;
상기 차단플레이트의 하부에 기립설치되어 상기 차단플레이트와 함께 승강하는 연결실린더;
상기 챔버본체의 개방된 하부면과 상기 연결실린더 사이에 연결되어, 상기 기판홀더의 적재위치에서 상기 공정공간과 연통되는 적재공간을 외부로부터 격리하는 차단부재;
상기 챔버본체의 상부에 설치되며, 상부에 놓여진 상기 내부반응튜브를 지지하는, 그리고 상기 공정공간을 향해 공정가스를 공급하는 제1 공급구와, 상기 제1 공급구의 반대편에 형성되어 상기 공정공간에 공급된 상기 공정가스를 배기하는 배기구와, 상기 제1 공급구의 하부에 형성되어 상기 적재공간에 퍼지가스를 공급하는 제2 공급구를 가지는 매니폴드;
상기 챔버본체의 내벽에 설치되며 상기 제2 공급구와 연통되어 상기 제2 공급구를 통해 공급된 상기 퍼지가스를 상기 적재공간으로 공급하는 노즐링; 및
상기 내부반응튜브의 외측에 설치되어, 상기 내부반응튜브에 형성된 배기홀 및 상기 배기구와 연통되는 배기공간을 형성하는 보조튜브를 포함하는, 기판 처리장치. - 제1항에 있어서,
상기 차단플레이트는 상기 공정위치에서 상기 매니폴드와 맞닿아 배치되어 상기 공정공간을 형성하는, 기판 처리장치. - 제1항에 있어서,
상기 배기포트는 상기 통로의 반대편에 위치하는, 기판 처리장치. - 제1항에 있어서,
상기 기판 처리장치는,
상기 차단플레이트의 상부면을 따라 형성된 설치홈에 삽입되는 실링부재를 더 포함하는, 기판 처리장치. - 제1항에 있어서,
상기 기판 처리장치는,
상기 차단플레이트의 내부에 형성되어 외부로부터 공급된 냉매가 흐르는 냉각유로를 더 포함하는, 기판 처리장치. - 제10항에 있어서,
상기 기판 처리장치는,
상기 차단플레이트의 상부면을 따라 형성된 설치홈에 삽입되는 실링부재를 더 포함하되,
상기 냉각유로는 상기 실링부재를 따라 근접배치되는, 기판 처리장치. - 제1항에 있어서,
상기 기판 처리장치는,
상기 차단부재의 외측에 기립설치되는 승강축;
상기 승강축에 연결되어 상기 승강축을 회전하는 승강모터;
상기 연결실린더의 하부에 연결되는 지지링; 및
상기 지지링과 상기 승강축에 각각 연결되어 상기 승강축의 회전에 의해 상기 지지링과 함께 승강하는 브래킷을 더 구비하는, 기판 처리장치.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130123761A KR101557016B1 (ko) | 2013-10-17 | 2013-10-17 | 기판 처리장치 |
TW103135489A TWI559362B (zh) | 2013-10-17 | 2014-10-14 | 基板處理裝置 |
PCT/KR2014/009807 WO2015057023A1 (ko) | 2013-10-17 | 2014-10-17 | 기판 처리장치 |
JP2016521662A JP6158436B2 (ja) | 2013-10-17 | 2014-10-17 | 基板処理装置 |
CN201480052654.7A CN105580126B (zh) | 2013-10-17 | 2014-10-17 | 基板处理装置 |
US14/915,709 US10229845B2 (en) | 2013-10-17 | 2014-10-17 | Substrate treatment apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130123761A KR101557016B1 (ko) | 2013-10-17 | 2013-10-17 | 기판 처리장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20150045012A KR20150045012A (ko) | 2015-04-28 |
KR101557016B1 true KR101557016B1 (ko) | 2015-10-05 |
Family
ID=52828391
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020130123761A KR101557016B1 (ko) | 2013-10-17 | 2013-10-17 | 기판 처리장치 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10229845B2 (ko) |
JP (1) | JP6158436B2 (ko) |
KR (1) | KR101557016B1 (ko) |
CN (1) | CN105580126B (ko) |
TW (1) | TWI559362B (ko) |
WO (1) | WO2015057023A1 (ko) |
Families Citing this family (221)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130023129A1 (en) | 2011-07-20 | 2013-01-24 | Asm America, Inc. | Pressure transmitter for a semiconductor processing environment |
US10714315B2 (en) | 2012-10-12 | 2020-07-14 | Asm Ip Holdings B.V. | Semiconductor reaction chamber showerhead |
US20160376700A1 (en) | 2013-02-01 | 2016-12-29 | Asm Ip Holding B.V. | System for treatment of deposition reactor |
US11015245B2 (en) | 2014-03-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof |
US10941490B2 (en) | 2014-10-07 | 2021-03-09 | Asm Ip Holding B.V. | Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same |
US10276355B2 (en) | 2015-03-12 | 2019-04-30 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same |
US10458018B2 (en) | 2015-06-26 | 2019-10-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same |
KR101715193B1 (ko) | 2015-07-20 | 2017-03-10 | 주식회사 유진테크 | 기판 처리장치 |
JP6564642B2 (ja) | 2015-07-23 | 2019-08-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板搬送室、基板処理システム、及び基板搬送室内のガス置換方法 |
KR101760316B1 (ko) | 2015-09-11 | 2017-07-21 | 주식회사 유진테크 | 기판처리장치 |
US10211308B2 (en) | 2015-10-21 | 2019-02-19 | Asm Ip Holding B.V. | NbMC layers |
US11139308B2 (en) | 2015-12-29 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices |
US10529554B2 (en) | 2016-02-19 | 2020-01-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches |
US10367080B2 (en) | 2016-05-02 | 2019-07-30 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a germanium oxynitride film |
US11453943B2 (en) | 2016-05-25 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor |
US10612137B2 (en) | 2016-07-08 | 2020-04-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Organic reactants for atomic layer deposition |
US9859151B1 (en) | 2016-07-08 | 2018-01-02 | Asm Ip Holding B.V. | Selective film deposition method to form air gaps |
US9812320B1 (en) | 2016-07-28 | 2017-11-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
KR102532607B1 (ko) | 2016-07-28 | 2023-05-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 가공 장치 및 그 동작 방법 |
US9887082B1 (en) | 2016-07-28 | 2018-02-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
US11532757B2 (en) | 2016-10-27 | 2022-12-20 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of charge trapping layers |
US10714350B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-07-14 | ASM IP Holdings, B.V. | Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures |
KR102546317B1 (ko) | 2016-11-15 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
KR20180068582A (ko) | 2016-12-14 | 2018-06-22 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11447861B2 (en) | 2016-12-15 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure |
US11581186B2 (en) | 2016-12-15 | 2023-02-14 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus |
KR20180070971A (ko) | 2016-12-19 | 2018-06-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US10269558B2 (en) | 2016-12-22 | 2019-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
US11390950B2 (en) | 2017-01-10 | 2022-07-19 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process |
US10468261B2 (en) | 2017-02-15 | 2019-11-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
US10529563B2 (en) | 2017-03-29 | 2020-01-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
US10770286B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures |
US11306395B2 (en) | 2017-06-28 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus |
KR20190009245A (ko) | 2017-07-18 | 2019-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물 |
US10541333B2 (en) | 2017-07-19 | 2020-01-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US11374112B2 (en) | 2017-07-19 | 2022-06-28 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US11018002B2 (en) | 2017-07-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US10590535B2 (en) * | 2017-07-26 | 2020-03-17 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same |
US10692741B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-06-23 | Asm Ip Holdings B.V. | Radiation shield |
US10770336B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate lift mechanism and reactor including same |
US11139191B2 (en) | 2017-08-09 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
US11769682B2 (en) | 2017-08-09 | 2023-09-26 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
US11830730B2 (en) | 2017-08-29 | 2023-11-28 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
US11056344B2 (en) | 2017-08-30 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method |
KR102491945B1 (ko) | 2017-08-30 | 2023-01-26 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11295980B2 (en) | 2017-08-30 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
US10658205B2 (en) | 2017-09-28 | 2020-05-19 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber |
US10403504B2 (en) | 2017-10-05 | 2019-09-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a metallic film on a substrate |
US11022879B2 (en) | 2017-11-24 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer |
TWI791689B (zh) | 2017-11-27 | 2023-02-11 | 荷蘭商Asm智慧財產控股私人有限公司 | 包括潔淨迷你環境之裝置 |
WO2019103613A1 (en) | 2017-11-27 | 2019-05-31 | Asm Ip Holding B.V. | A storage device for storing wafer cassettes for use with a batch furnace |
US10872771B2 (en) | 2018-01-16 | 2020-12-22 | Asm Ip Holding B. V. | Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures |
US11482412B2 (en) | 2018-01-19 | 2022-10-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a gap-fill layer by plasma-assisted deposition |
TWI799494B (zh) | 2018-01-19 | 2023-04-21 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 沈積方法 |
US11081345B2 (en) | 2018-02-06 | 2021-08-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method of post-deposition treatment for silicon oxide film |
CN111699278B (zh) | 2018-02-14 | 2023-05-16 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过循环沉积工艺在衬底上沉积含钌膜的方法 |
US10896820B2 (en) | 2018-02-14 | 2021-01-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
KR102636427B1 (ko) | 2018-02-20 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 장치 |
US10975470B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-04-13 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment |
US11473195B2 (en) | 2018-03-01 | 2022-10-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate |
US11629406B2 (en) | 2018-03-09 | 2023-04-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate |
US11114283B2 (en) | 2018-03-16 | 2021-09-07 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same |
KR102646467B1 (ko) | 2018-03-27 | 2024-03-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조 |
US11088002B2 (en) | 2018-03-29 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate rack and a substrate processing system and method |
US11230766B2 (en) | 2018-03-29 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
US11361981B2 (en) | 2018-05-02 | 2022-06-14 | Applied Materials, Inc. | Batch substrate support with warped substrate capability |
KR20190128558A (ko) | 2018-05-08 | 2019-11-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 산화물 막을 주기적 증착 공정에 의해 증착하기 위한 방법 및 관련 소자 구조 |
KR102596988B1 (ko) | 2018-05-28 | 2023-10-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치 |
US11270899B2 (en) | 2018-06-04 | 2022-03-08 | Asm Ip Holding B.V. | Wafer handling chamber with moisture reduction |
US11718913B2 (en) | 2018-06-04 | 2023-08-08 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution system and reactor system including same |
US11286562B2 (en) | 2018-06-08 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase chemical reactor and method of using same |
KR102568797B1 (ko) | 2018-06-21 | 2023-08-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 시스템 |
US10797133B2 (en) | 2018-06-21 | 2020-10-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures |
WO2020002995A1 (en) | 2018-06-27 | 2020-01-02 | Asm Ip Holding B.V. | Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material |
KR20210027265A (ko) | 2018-06-27 | 2021-03-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 금속 함유 재료를 형성하기 위한 주기적 증착 방법 및 금속 함유 재료를 포함하는 막 및 구조체 |
US10612136B2 (en) | 2018-06-29 | 2020-04-07 | ASM IP Holding, B.V. | Temperature-controlled flange and reactor system including same |
US10755922B2 (en) | 2018-07-03 | 2020-08-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US10388513B1 (en) | 2018-07-03 | 2019-08-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US11053591B2 (en) | 2018-08-06 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-port gas injection system and reactor system including same |
US11430674B2 (en) | 2018-08-22 | 2022-08-30 | Asm Ip Holding B.V. | Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods |
US11024523B2 (en) | 2018-09-11 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
KR20200030162A (ko) | 2018-09-11 | 2020-03-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 |
US11049751B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-06-29 | Asm Ip Holding B.V. | Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith |
CN110970344A (zh) | 2018-10-01 | 2020-04-07 | Asm Ip控股有限公司 | 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法 |
US11232963B2 (en) | 2018-10-03 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
KR102592699B1 (ko) | 2018-10-08 | 2023-10-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치 |
KR102605121B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
KR102546322B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
USD948463S1 (en) | 2018-10-24 | 2022-04-12 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus |
US11087997B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
KR20200051105A (ko) | 2018-11-02 | 2020-05-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
US11572620B2 (en) | 2018-11-06 | 2023-02-07 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate |
US11031242B2 (en) | 2018-11-07 | 2021-06-08 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a boron doped silicon germanium film |
US10847366B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-11-24 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process |
US10818758B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-10-27 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures |
US11217444B2 (en) | 2018-11-30 | 2022-01-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film |
KR102636428B1 (ko) | 2018-12-04 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치를 세정하는 방법 |
US11158513B2 (en) | 2018-12-13 | 2021-10-26 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
JP2020096183A (ja) | 2018-12-14 | 2020-06-18 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 窒化ガリウムの選択的堆積を用いてデバイス構造体を形成する方法及びそのためのシステム |
TW202405220A (zh) | 2019-01-17 | 2024-02-01 | 荷蘭商Asm Ip 私人控股有限公司 | 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法 |
KR20200091543A (ko) | 2019-01-22 | 2020-07-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
CN111524788B (zh) | 2019-02-01 | 2023-11-24 | Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法 |
JP2020136677A (ja) | 2019-02-20 | 2020-08-31 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基材表面内に形成された凹部を充填するための周期的堆積方法および装置 |
KR20200102357A (ko) | 2019-02-20 | 2020-08-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 3-d nand 응용의 플러그 충진체 증착용 장치 및 방법 |
KR102626263B1 (ko) | 2019-02-20 | 2024-01-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치 |
KR102638425B1 (ko) | 2019-02-20 | 2024-02-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 표면 내에 형성된 오목부를 충진하기 위한 방법 및 장치 |
JP2020133004A (ja) | 2019-02-22 | 2020-08-31 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基材を処理するための基材処理装置および方法 |
KR20200108242A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체 |
KR20200108243A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법 |
KR20200108248A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | SiOCN 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법 |
JP7214834B2 (ja) * | 2019-03-19 | 2023-01-30 | 株式会社Kokusai Electric | 半導体装置の製造方法、基板処理装置およびプログラム |
JP2020167398A (ja) | 2019-03-28 | 2020-10-08 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | ドアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置 |
KR20200116855A (ko) | 2019-04-01 | 2020-10-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자를 제조하는 방법 |
US11447864B2 (en) | 2019-04-19 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
KR20200125453A (ko) | 2019-04-24 | 2020-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
KR20200130121A (ko) | 2019-05-07 | 2020-11-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기 |
KR20200130118A (ko) | 2019-05-07 | 2020-11-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법 |
KR20200130652A (ko) | 2019-05-10 | 2020-11-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조 |
JP2020188255A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
JP2020188254A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
USD947913S1 (en) | 2019-05-17 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD975665S1 (en) | 2019-05-17 | 2023-01-17 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD935572S1 (en) | 2019-05-24 | 2021-11-09 | Asm Ip Holding B.V. | Gas channel plate |
USD922229S1 (en) | 2019-06-05 | 2021-06-15 | Asm Ip Holding B.V. | Device for controlling a temperature of a gas supply unit |
KR20200141002A (ko) | 2019-06-06 | 2020-12-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법 |
KR20200143254A (ko) | 2019-06-11 | 2020-12-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조 |
USD944946S1 (en) | 2019-06-14 | 2022-03-01 | Asm Ip Holding B.V. | Shower plate |
USD931978S1 (en) | 2019-06-27 | 2021-09-28 | Asm Ip Holding B.V. | Showerhead vacuum transport |
KR20210005515A (ko) | 2019-07-03 | 2021-01-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법 |
JP2021015791A (ja) | 2019-07-09 | 2021-02-12 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法 |
CN112216646A (zh) | 2019-07-10 | 2021-01-12 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板支撑组件及包括其的基板处理装置 |
KR20210010307A (ko) | 2019-07-16 | 2021-01-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
KR20210010816A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법 |
KR20210010820A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법 |
US11643724B2 (en) | 2019-07-18 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming structures using a neutral beam |
JP2021019198A (ja) | 2019-07-19 | 2021-02-15 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | トポロジー制御されたアモルファスカーボンポリマー膜の形成方法 |
TW202113936A (zh) | 2019-07-29 | 2021-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於利用n型摻雜物及/或替代摻雜物選擇性沉積以達成高摻雜物併入之方法 |
CN112309899A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112309900A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
US11587814B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11587815B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11227782B2 (en) | 2019-07-31 | 2022-01-18 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
KR20210018759A (ko) | 2019-08-05 | 2021-02-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 화학물질 공급원 용기를 위한 액체 레벨 센서 |
USD965044S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD965524S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-10-04 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor support |
JP2021031769A (ja) | 2019-08-21 | 2021-03-01 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置 |
USD930782S1 (en) | 2019-08-22 | 2021-09-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor |
KR20210024423A (ko) | 2019-08-22 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법 |
USD949319S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Exhaust duct |
USD979506S1 (en) | 2019-08-22 | 2023-02-28 | Asm Ip Holding B.V. | Insulator |
USD940837S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-01-11 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode |
KR20210024420A (ko) | 2019-08-23 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법 |
US11286558B2 (en) | 2019-08-23 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film |
KR20210029090A (ko) | 2019-09-04 | 2021-03-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법 |
KR20210029663A (ko) | 2019-09-05 | 2021-03-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11562901B2 (en) | 2019-09-25 | 2023-01-24 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing method |
CN112593212B (zh) | 2019-10-02 | 2023-12-22 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法 |
TW202129060A (zh) | 2019-10-08 | 2021-08-01 | 荷蘭商Asm Ip控股公司 | 基板處理裝置、及基板處理方法 |
TW202115273A (zh) | 2019-10-10 | 2021-04-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成光阻底層之方法及包括光阻底層之結構 |
KR20210045930A (ko) | 2019-10-16 | 2021-04-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 산화물의 토폴로지-선택적 막의 형성 방법 |
US11637014B2 (en) | 2019-10-17 | 2023-04-25 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selective deposition of doped semiconductor material |
KR20210047808A (ko) | 2019-10-21 | 2021-04-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법 |
KR20210050453A (ko) | 2019-10-25 | 2021-05-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조 |
US11646205B2 (en) | 2019-10-29 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same |
KR20210054983A (ko) | 2019-11-05 | 2021-05-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
US11501968B2 (en) | 2019-11-15 | 2022-11-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps |
KR20210062561A (ko) | 2019-11-20 | 2021-05-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템 |
KR20210065848A (ko) | 2019-11-26 | 2021-06-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 제1 유전체 표면과 제2 금속성 표면을 포함한 기판 상에 타겟 막을 선택적으로 형성하기 위한 방법 |
CN112951697A (zh) | 2019-11-26 | 2021-06-11 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112885693A (zh) | 2019-11-29 | 2021-06-01 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112885692A (zh) | 2019-11-29 | 2021-06-01 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
JP2021090042A (ja) | 2019-12-02 | 2021-06-10 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | 基板処理装置、基板処理方法 |
KR20210070898A (ko) | 2019-12-04 | 2021-06-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
TW202125596A (zh) | 2019-12-17 | 2021-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成氮化釩層之方法以及包括該氮化釩層之結構 |
KR20210080214A (ko) | 2019-12-19 | 2021-06-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조 |
US11375371B1 (en) * | 2019-12-31 | 2022-06-28 | Mcafee, Llc | Methods, systems, and media for protected near-field communications |
TW202140135A (zh) | 2020-01-06 | 2021-11-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氣體供應總成以及閥板總成 |
US11993847B2 (en) | 2020-01-08 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Injector |
KR20210095050A (ko) | 2020-01-20 | 2021-07-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법 |
TW202130846A (zh) | 2020-02-03 | 2021-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成包括釩或銦層的結構之方法 |
KR20210100010A (ko) | 2020-02-04 | 2021-08-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 대형 물품의 투과율 측정을 위한 방법 및 장치 |
US11776846B2 (en) | 2020-02-07 | 2023-10-03 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices |
TW202146715A (zh) | 2020-02-17 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於生長磷摻雜矽層之方法及其系統 |
TW202203344A (zh) | 2020-02-28 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip控股公司 | 專用於零件清潔的系統 |
KR20210116240A (ko) | 2020-03-11 | 2021-09-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치 |
KR20210116249A (ko) | 2020-03-11 | 2021-09-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 록아웃 태그아웃 어셈블리 및 시스템 그리고 이의 사용 방법 |
KR20210117157A (ko) | 2020-03-12 | 2021-09-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 타겟 토폴로지 프로파일을 갖는 층 구조를 제조하기 위한 방법 |
KR20210124042A (ko) | 2020-04-02 | 2021-10-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 |
TW202146689A (zh) | 2020-04-03 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip控股公司 | 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法 |
TW202145344A (zh) | 2020-04-08 | 2021-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法 |
US11821078B2 (en) | 2020-04-15 | 2023-11-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film |
US11996289B2 (en) | 2020-04-16 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods |
CN113555279A (zh) | 2020-04-24 | 2021-10-26 | Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含氮化钒的层的方法及包含其的结构 |
TW202146831A (zh) | 2020-04-24 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 垂直批式熔爐總成、及用於冷卻垂直批式熔爐之方法 |
KR20210132600A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템 |
KR20210134226A (ko) | 2020-04-29 | 2021-11-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 고체 소스 전구체 용기 |
KR20210134869A (ko) | 2020-05-01 | 2021-11-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환 |
KR20210141379A (ko) | 2020-05-13 | 2021-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구 |
TW202147383A (zh) | 2020-05-19 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基材處理設備 |
KR20210145078A (ko) | 2020-05-21 | 2021-12-01 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법 |
KR20210145080A (ko) | 2020-05-22 | 2021-12-01 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 과산화수소를 사용하여 박막을 증착하기 위한 장치 |
TW202201602A (zh) | 2020-05-29 | 2022-01-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TW202218133A (zh) | 2020-06-24 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含矽層之方法 |
TW202217953A (zh) | 2020-06-30 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TW202219628A (zh) | 2020-07-17 | 2022-05-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於光微影之結構與方法 |
TW202204662A (zh) | 2020-07-20 | 2022-02-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於沉積鉬層之方法及系統 |
TW202212623A (zh) | 2020-08-26 | 2022-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成金屬氧化矽層及金屬氮氧化矽層的方法、半導體結構、及系統 |
USD990534S1 (en) | 2020-09-11 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Weighted lift pin |
USD1012873S1 (en) | 2020-09-24 | 2024-01-30 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for semiconductor processing apparatus |
TW202229613A (zh) | 2020-10-14 | 2022-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 於階梯式結構上沉積材料的方法 |
KR20220053482A (ko) | 2020-10-22 | 2022-04-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐 금속을 증착하는 방법, 구조체, 소자 및 증착 어셈블리 |
TW202223136A (zh) | 2020-10-28 | 2022-06-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統 |
TW202235675A (zh) | 2020-11-30 | 2022-09-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 注入器、及基板處理設備 |
CN114639631A (zh) | 2020-12-16 | 2022-06-17 | Asm Ip私人控股有限公司 | 跳动和摆动测量固定装置 |
TW202231903A (zh) | 2020-12-22 | 2022-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成 |
USD981973S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-28 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor wall for substrate processing apparatus |
USD1023959S1 (en) | 2021-05-11 | 2024-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for substrate processing apparatus |
USD980813S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate for substrate processing apparatus |
USD980814S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor for substrate processing apparatus |
US11862490B2 (en) * | 2021-07-28 | 2024-01-02 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Diffusion furnace |
USD990441S1 (en) | 2021-09-07 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100745932B1 (ko) | 2003-02-21 | 2007-08-02 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | 기판처리장치 및 반도체 디바이스의 제조 방법 |
KR101215511B1 (ko) | 2012-06-27 | 2012-12-26 | (주)이노시티 | 프로세스 챔버 및 기판 처리 장치 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2548062B2 (ja) * | 1992-11-13 | 1996-10-30 | 日本エー・エス・エム株式会社 | 縦型熱処理装置用ロードロックチャンバー |
US5578132A (en) * | 1993-07-07 | 1996-11-26 | Tokyo Electron Kabushiki Kaisha | Apparatus for heat treating semiconductors at normal pressure and low pressure |
KR100481874B1 (ko) * | 2003-02-05 | 2005-04-11 | 삼성전자주식회사 | 집적회로 제조에 사용되는 확산로 및 확산로의 냉각방법 |
JP5144990B2 (ja) * | 2006-10-13 | 2013-02-13 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置 |
DE102007063363B4 (de) * | 2007-05-21 | 2016-05-12 | Centrotherm Photovoltaics Ag | Vorrichtung zur Dotierung und Beschichtung von Halbleitermaterial bei niedrigem Druck |
JP2010171388A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-08-05 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置及び半導体装置の製造方法及び基板処理用反応管 |
KR101364701B1 (ko) | 2011-11-17 | 2014-02-20 | 주식회사 유진테크 | 위상차를 갖는 반응가스를 공급하는 기판 처리 장치 |
KR101371435B1 (ko) * | 2012-01-04 | 2014-03-12 | 주식회사 유진테크 | 처리유닛을 포함하는 기판 처리 장치 |
KR101312592B1 (ko) * | 2012-04-10 | 2013-09-30 | 주식회사 유진테크 | 히터 승강형 기판 처리 장치 |
-
2013
- 2013-10-17 KR KR1020130123761A patent/KR101557016B1/ko active IP Right Grant
-
2014
- 2014-10-14 TW TW103135489A patent/TWI559362B/zh active
- 2014-10-17 JP JP2016521662A patent/JP6158436B2/ja active Active
- 2014-10-17 CN CN201480052654.7A patent/CN105580126B/zh active Active
- 2014-10-17 WO PCT/KR2014/009807 patent/WO2015057023A1/ko active Application Filing
- 2014-10-17 US US14/915,709 patent/US10229845B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100745932B1 (ko) | 2003-02-21 | 2007-08-02 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | 기판처리장치 및 반도체 디바이스의 제조 방법 |
KR101215511B1 (ko) | 2012-06-27 | 2012-12-26 | (주)이노시티 | 프로세스 챔버 및 기판 처리 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105580126B (zh) | 2018-10-09 |
JP2016540372A (ja) | 2016-12-22 |
US20160195331A1 (en) | 2016-07-07 |
WO2015057023A1 (ko) | 2015-04-23 |
CN105580126A (zh) | 2016-05-11 |
KR20150045012A (ko) | 2015-04-28 |
JP6158436B2 (ja) | 2017-07-05 |
US10229845B2 (en) | 2019-03-12 |
TWI559362B (zh) | 2016-11-21 |
TW201530609A (zh) | 2015-08-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101557016B1 (ko) | 기판 처리장치 | |
KR101390474B1 (ko) | 기판처리장치 | |
CN112962084B (zh) | 基板处理装置 | |
CN110211859B (zh) | 处理基板的方法 | |
KR100902330B1 (ko) | 반도체공정장치 | |
TW201041069A (en) | Substrate processing apparatus | |
JPH11204442A (ja) | 枚葉式の熱処理装置 | |
JPWO2007018139A1 (ja) | 半導体装置の製造方法および基板処理装置 | |
JP5964107B2 (ja) | 半導体製造装置および半導体製造方法 | |
KR20210048062A (ko) | 웨이퍼 처리 장치 및 웨이퍼 처리 방법 | |
KR101463592B1 (ko) | 기판 처리장치 | |
KR101392378B1 (ko) | 기판처리장치 | |
KR101685095B1 (ko) | 기판 버퍼링 장치, 기판처리설비, 및 기판처리방법 | |
KR101392379B1 (ko) | 기판처리장치 | |
US20130108792A1 (en) | Loading and unloading system for thin film formation and method thereof | |
JP2014175494A (ja) | 基板処理装置、基板処理方法、半導体装置の製造方法および基板の製造方法 | |
KR101356537B1 (ko) | 기판 처리 장치 | |
KR20070060252A (ko) | 고온공정용 반도체 제조장치 | |
KR101390785B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
JP4954678B2 (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2010086986A (ja) | 基板処理装置 | |
US20230033715A1 (en) | Substrate processing apparatus | |
JPH062951B2 (ja) | 気相反応装置 | |
JP2003129240A (ja) | 基板処理装置 | |
KR101771901B1 (ko) | 기판처리장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180821 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190828 Year of fee payment: 5 |