KR100684302B1

KR100684302B1 - 안과 장치

Info

Publication number: KR100684302B1
Application number: KR1020050050829A
Authority: KR
Inventors: 토시후미 마사키
Original assignee: 캐논 가부시끼가이샤
Priority date: 2004-06-14
Filing date: 2005-06-14
Publication date: 2007-02-20
Also published as: CN100409802C; CN1714740A; US20050275804A1; KR20060048350A; JP2005349095A; JP4533013B2; US7258443B2

Abstract

검안부를 동공의 중심에 정확히 정렬하기 위해, 도 8(a)의 조명 광원상(PL,PR)의 간격(d)는, 다른 얼라인먼트 수단에 의해 작동 거리가 적절히 정렬된 경우에 얻어진 간격이고, 도 8(b)는 작동 거리가 적정 위치보다도 먼 상태의 간격(d1), 도 8(c)는 작동 거리가 적정 위치 보다도 가까운 상태에서의 간격(d2)을 보이고 있다. 동공 중심으로 정렬을 할 때에 작동 거리가 변동하여, 도 8(b),8(c)에 도시한 바와 같이 간격이 d1, d2가 되더라도, 측정부를 전후 방향으로 이동하여, 도 8(a)에 도시한 바와 같이 기준 간격(d)에 일치시킴으로써, 적정한 작동 거리를 얻을 수 있다.

얼라인먼트, 전안부, 동공, 광검출, 조명 수단, 위치 정렬, 변위

Description

안과 장치{OPHTHALMOLOGIC APPARATUS}

도 1은 실시예의 외관도이고,

도 2는 측정부의 광학적인 구성도이고,

도 3은 6-분할 조리개와 6-분할 프리즘의 사시도이고,

도 4는 얼라인먼트 프리즘 조리개의 사시도이고,

도 5는 제어 시스템의 블록 회로 구성도이고,

도 6(a),(b),(c)는 전안부 상중에 나타난 얼라인먼트 광의 각막 반사상에 의한 휘점, 조명 광원에 의한 각막 반사상의 설명도이고,

도 7은 얼라인먼트 개시로부터 완료까지의 조작 흐름도이고,

도 8(a),(b),(c)은 조명 광원의 각막 반사상의 설명도이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

2: 측정부 3: 모니터

17: 측정 광원 21,26: 2차원 촬상 소자

24: 얼라인먼트 프리즘 조리개

31: 고정 타겟 광원 32a,32b: 조명 광원

41: 중앙 처리 장치(CPU) 44: 화상 메모리

47,48,49: 모터

[특허문헌 1]일본 특허 공개 평9-66027호 공보

[특허문헌 2]일본 특허 공개 평9-131314호 공보

[특허문헌 3]일본 특허 공개 평9-84760호 공보

본 발명은, 자동적으로 검사 대상의 피검안(被檢眼)과 검안부(檢眼部)의 동공 중심과의 정렬을 행하여, 검안이나 촬영을 하는 안과 장치에 적합한 기술에 관한 것이다.

종래의 오토 얼라인먼트를 행하는 안과 장치로는, 검안부의 측정 광축 내에서 피검안 각막에 광속을 투영하여, 그 반사광을 수광 소자로 검출하여, 검출된 반사상을 기초로 피검안과 검안부의 위치 변위를 검출하여, 검안부를 구동하여 오토얼라인먼트를 행하는 것이 알려져 있다.

또한, 일본 특허 출원 공개 평9-066027호에 개시된 바와 같이, 동공 중심을 검출하여 상하좌우 방향의 오토 얼라인먼트를 행하는 장치나, 일본 특허 출원 공개 평9-131314호에 개시된 바와 같이, 전안부(前眼部) 조명 광원의 각막 반사상의 간 격에 의해, 전후 방향의 얼라인먼트 검출을 행하는 장치가 알려져 있다.

전술의 종래예에서는, 예컨대 동공의 중심에서 측정을 할 필요가 있는 객체형 안굴절력 측정 장치(objective type eye refractive power measuring apparatus)에 적용하는 경우에, 상하좌우 방향의 얼라인먼트 검출은 동공 중심에서 행하고, 전후 방향의 얼라인먼트 검출은 일본 특허 출원 공개 평9-84760호에 개시된 바와 같이 얼라인먼트 광의 각막 반사광 다발을 분리하여 검출한다.

이 경우에, 얼라인먼트용 광원과 측정 광원을 공용으로 사용하면, 측정 광원의 광속이 강도가 약하기 때문에, 피검안 각막으로부터의 얼라인먼트 광의 반사광을 수광 소자로 검출할 수 있는 범위가 좁아지게 된다.

전후 방향의 얼라인먼트 검출에 관하여는, 일본 특허 출원 공개 평9-131314호에 개시된 바와 같이, 전안부 조명의 각막 반사상의 간격을 이용한 검출 방법이 있지만, 이 방법에서는 각막의 곡률 반경에 의해 전안부 조명의 각막 반사상의 간격이 변화되어 버린다.

본 발명의 목적은, 자동적으로 검사 대상의 피검안(被檢眼)과 검안부(檢眼部)의 동공 중심과의 정렬을 행하여, 검안이나 촬영을 하는 안과 장치에 적합한 기술을 제공하는 것이다.

전술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명에 따른 안과 장치는, 피검안 각막에 얼라인먼트용 광속을 투영하는 얼라인먼트 광투영 수단과; 상기 얼라인먼트용 광속에 의한 각막 반사광을 검출하는 얼라인먼트 광검출 수단과; 피검안의 전안부를 조명하는 복수의 조명 수단과; 피검안의 전안부를 촬상하는 촬상 수단과; 상기 촬상 수단에 의해 픽업된 전안부 상으로부터 피검안의 동공 위치를 검출하는 동공 위치 검출 수단과; 상기 조명 수단의 복수의 각막 반사상의 간격을 검출하는 각막 반사상 간격 검출 수단과; 상기 얼라인먼트 광검출 수단에 의해 검출된 각막 반사광에 의해 피검안의 위치를 검출하여 검안부와 피검안의 위치 정렬을 행하는 제1 위치 정렬 수단과; 상기 제1 위치 정렬 수단에 의한 위치 정렬이 완료됐을 때 상기 각막 반사상 간격 검출 수단에 의해 검출된 상기 복수의 각막 반사상의 간격을 기준 간격으로서 저장하는 메모리 수단과; 상기 동공 위치 검출 수단에 의해 검출된 상기동공 위치에 상기 검안부를 맞추는 제2 위치 정렬 수단과; 상기 각막 반사상 간격 검출 수단에 의해 검출된 상기 간격과 상기 메모리 수단에 저장된 상기 기준 간격과의 관계를 기초로 피검안의 전후 방향의 위치 변위를 검출하여, 상기 검안부와 피검안의 전후 방향의 위치 정렬을 행하는 제3 위치 정렬 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 다른 특징 및 장점들은 첨부 도면을 참조한 하기의 상세한 설명으로부터 분명해질 것이며, 도면 전체에서 동일한 도면 부호는 동일하거나 유사한 구성을 가리킨다.

본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조로 상세히 설명한다.

본 발명을 도시된 실시예에 기초로 하여 상세히 설명한다.

도 1는 본 발명의 안 굴절 측정 장치의 외관도이다. 베이스(1) 상에 측정부(2)가 이동 가능하게 적재되어 있고, 베이스(1)의 조작면에는, 측정치나 피검안 상등의 표시나 각종 장치의 설정을 선택하는 액정이나 CRT로 이루어지는 모니터(3)와, 그 표시 화면을 조작하고, 측정부(2)를 피검안에 위치 정렬하기 위한 트랙 볼(4)과, 롤러(5)와, 측정 결과를 인쇄하기 위한 프린터(6)와, 측정 개시 스위치와 선택 설정 스위치 등이 배치된 스위치 패널(7)이 설치된다.

측정부는 내장된 3-축의 모터에 의해, 베이스(1)에 대하여 상하좌우전후의 각 방향으로 이동 가능하게 되어 있다.

도 2는 측정부의 내부 구성도이다. 피검안(E)의 시축과 위치 정렬하는 측정부(2)의 중심축(O) 상에는, 안굴절 측정용 광학계로서, 가시광을 전반사하여 파장880nm의 광속을 일부 반사하는 다이크로익 미러(dichroic mirror)(11), 대물 렌즈(12), 투공 미러(apertured mirror)(13), 조리개(14), 투영 렌즈(15), 투영 조리개(16), 파장 880nm 광속을 발광하는 측정 광원(17)이 배치되어 있다. 투공 미러(13)의 반사 방향으로는, 6-분할 조리개(18), 6-분할 프리즘(19), 수광 렌즈(20), 이차원 촬상 소자(21)이 배열되어 있다. 도 3은 6-분할 조리개(18), 6-분할 프리즘(19)의 사시도이며, 실제로는 6-분할 조리개(18)와 6-분할 프리즘(19)은 밀착되어 있다.

한편, 다이크로익 미러(11)의 반사 방향으로는, 수광 광학계와, 전안부 관찰과 얼라인먼트 검출이 공용으로 사용되는 고정 타겟 투영 광학계가 배치되어 있다. 수광 광학계에는, 렌즈(22) 및 다이크로익 미러(23)가 배치되고, 다이크로익 미러(23)의 반사 방향으로는 얼라인먼트 광학계로서, 얼라인먼트 프리즘 조리개(24), 결상 렌즈(25) 및 이차원 촬상 소자(26)가 배열되어 있다.

도 4는 얼라인먼트 프리즘 조리개(24)의 사시도로서, 원판형의 조리개 판에 직선형으로 3개의 개구부(24a, 24b, 24c)가 설치되고 있고, 양측의 개구부(24a, 24b)의 다이크로익 미러(23) 측에, 광속을 편향하는 얼라인먼트 프리즘(27a, 27b)이 접착되어 있다.

또한, 다이크로익 미러(23)의 투과측에는, 전반사 미러(28), 고정 유도 렌즈(29), 고정 차트(fixation chart)(30), 고정 타켓 광원(31)이 배열되어, 고정 투영 광학계가 구성되어 있다. 또한, 피검안(E)의 경사 전방에는 광로(O)에 대하여 대칭으로 조명 광원(32a, 32b)가 설치된다.

도 5는 제어 시스템의 블록 회로 구성도이다. 스위치 패널(7), 트랙 볼(4), 롤러(5), 및 프린터(6)가 중앙 처리 장치(CPU)(41)의 포트에 접속되어 있다.

이차원 촬상 소자(21,26)의 출력은 비디오 스위치(42)에 입력되고, 비디오 스위치는 CPU(41)의 지령에 의해 이차원 촬상 소자(21 또는 26)의 어느 한 신호를 선택하여, 아날로그/디지털(A/D) 변환기(43)에 출력하도록 되어 있다. A/D 변환기(43)로부터의 디지털 데이터는 화상 메모리(44)에 접속되고, 화상 메모리는 다시 CPU(41)에 접속되어 있다. 또한, 이차원 촬상 소자(26)의 출력은 가산기(45)에 접속되어, 가산기에서 CPU(41)를 통한 캐릭터 발생기(character generator)(46)의 출력과 가산되고, 모니터(3)에 접속되어 있다.

측정부(2)를 이동시키는 상하 모터(47), 좌우 모터(48), 전후 모터(49) 및 고정 유도 렌즈용 모터(50)는 각각 모터 드라이버(5l,52,53,54)에 접속되어, CPU(41)로부터의 지령에 의해 구동된다. 측정 광원(17), 고정 타겟 광원(31) 및 조명 광원(32a, 32b)은 도시하지 않는 드라이버를 통해 디지털/아날로그(D/A) 변환기(55)에 접속되어 있고, CPU(41)로부터의 지령에 의해 광량을 변화시킬 수 있게 되어 있다.

고정 타겟 광원(31)의 투영 광속은, 고정 유도시에 고정 차트(30)를 이면으로부터 조명하여, 고정 유도 렌즈(29) 및 렌즈(22)를 통해 피검안(E)으로 투영된다. 고정 유도 렌즈(29)는 피검안(E)의 시정(視程; visibility)의 변화에 대응할 수 있도록, 고정 유도 렌즈용 모터(50)의 회전에 의해 광축 방향으로 이동할 수 있게 되어 있다.

이와 같이 구성된 안굴절 장치에 있어서, 측정 조작시, 피검자의 얼굴을 측정부(2)의 전방에 설치된 안면 수용대에 안치하여, 피검안(E)에 대하여 측정부(2)의 광축(O)을 맞추기 위해서, 조작자는 트랙 볼(4)과 롤러(5)를 조작한다. 트랙 볼(4)은 피검안(E)에 대하여 측정부(2)를 좌우 및 전후 방향으로 이동시키고, 롤러(5)는 측정부(2)를 상하 방향으로 이동시켜 위치 정렬을 행한다.

이 조작에 있어서, 트랙 볼(4) 및 롤러(5)에 내장하고 있는 각각의 펄스 카운터나 로터리 인코더로부터의 출력 신호를 CPU(41)에서 수신하여, 조작량 및 속도를 검출한다. 또한, 이들 조작량 및 속도로부터 각 모터 드라이버(51,52,53)를 통해 상하 모터(47), 좌우 모터(48) 및 전후 모터(49)를 구동시킨다.

얼라인먼트 검출을 위한 파장 880nm의 광원은 측정 광원(17)과 겸용으로 사용되어, 측정 광원(17)으로부터의 얼라인먼트 광속은 피검안(E)의 각막에서 반사된다. 이 반사광 다발은 다이크로익 미러(11)에서 반사되어, 렌즈(22)를 통과하고, 다른 다이크로익 미러(23)에서 반사되어 얼라인먼트 광학계에 유도된다.

도 6(a-c)은 얼라인먼트 검출을 위해 측정 광원(17)의 각막 반사상을 사용하는 경우에 관찰되는 피검안(E)의 전안부 상을 도시한다. 각막 반사상의 3개의 휘점(Pa∼Pc)이 각막의 중심부에서 대략 상하 방향으로 배열된다. 얼라인먼트 프리즘 조리개(24)의 개구부(24a)를 투과한 광속은 아래쪽의 휘점(Pa), 개구부(24b)를 투과한 광속은 상측의 휘점(Pb), 그리고 가운데 개구부(24c)를 투과한 광속은 중앙의 휘점(Pc)이 된다.

도 6(a)는 휘점(Pa∼Pc)이 상하로 한 줄로 배열되고, 피검안(E)의 작동 거리가 적절히 위치 정렬된 경우를 도시하고 있으며, 도 6(b)는 피검안(E)와 측정부(2)와의 작동 거리가 적정 위치 보다도 먼 상태의 관찰상을 도시하고 있으며, 도 6(c)는 피검안(E)와 측정부(2)와의 작동 거리가 적정 위치 보다도 가까운 상태에서의 관찰상을 도시하고 있다. 얼라인먼트의 작동 거리 방향의 얼라인먼트 변위량은 3개의 휘점(Pa∼Pc) 중, 상하의 휘점(Pa,Pb)의 X 좌표의 변위에 의하여 산출하여, 상하 및 좌우 방향으로의 엘라인먼트 변위는 중앙 휘점(Pc)의 위치에 의해 산출한다.

휘점(Pa∼Pc)이 얻어진 것을 모니터(3)로 확인하여, 측정 개시 스위치를 누르면, CPU(41)는 피검안(E)에 대하여 측정부(2)를 도 6(a)에 도시한 바와 같은 상 태로 자동적으로 위치 정렬하는 오토 얼라인먼트를 시작한다.

도 7는 오토 얼라인먼트 개시로부터 완료까지의 일련의 동작의 흐름도이다. X 방향은 좌우 방향, Y 방향은 상하 방향 및 Z 방향은 작동 거리 방향을 의미한다. 전술한 얼라인먼트 광의 각막 반사광에 의한 피검안(E)과 측정부(2)의 위치 정렬에 있어서는, 스텝 S1에서는 이차원 촬상 소자(26)로 감지 또는 픽업된 화상을 화상 메모리(44)에 받아 들인다. 스텝 S2에서는, 화상 메모리(44)에 받아 들인 전안부의 화상으로부터, CPU(41)에 의해서 측정 광원(17)에 의한 휘점(Pa∼Pc)의 검출을 행한다. 스텝 S3에서는, CPU(41)에 의한 휘점(Pa∼Pc)의 위치로부터 X, Y, Z 각 방향의 위치 변위량을 산출한다.

스텝 S4에서는, 산출된 X, Y, Z 각 방향의 위치 변위량이 선정된 허용 범위내에 있는지를 판단을 하여, 선정된 허용 범위 밖일 때는 스텝 S5로 이행한다. 이 Z 방향의 선정된 허용 범위는 측정에 영향을 미치지 않는 정도의 범위이며, X, Y 방향은 각막 정점의 위치에서 측정을 하는 것이 아니기 때문에, Z 방향의 허용 범위 보다도 넓어지더라도 좋다. 스텝 S5에서는, X, Y, Z 각 방향의 위치 변위량에 따라서 CPU(41)의 지령에 의해, 상하 좌우 전후의 각 모터(47,48,49)를 구동하여 측정부(2)를 이동시키고, 다시 스텝 S1로 복귀하여 오토 얼라인먼트 동작을 계속한다.

스텝 S4에서 X, Y, Z 각 방향의 위치 변위량이 선정된 허용 범위 내에 있다고 판단될 때까지, 즉 휘점(Pa∼Pc)이 도 6(a)와 같이 상하 방향으로 일렬로 배열될 때까지, 스텝 S1∼스텝 S5의 루프를 반복하고, 위치 변위량이 선정된 허용 범위 내에 있게 되면 스텝 S6로 이행한다.

한편, 조명 광원(32a, 32b)에 의한 피검안(E)의 전안부 상과 같이, 조명 광원(32a, 32b)에 의해 얼라인먼트 프리즘 조리개(24)의 중심의 개구부(24c)를 투과한 광속에 의한 각막 반사상에 의해서, 조명 광원상(PL,PR)이 도 6a-6c에 도시한 바와 같이 동공의 좌우에 결상된다.

스텝 S6에서는, 화상 메모리(44) 내의 화상, 즉, Z 방향의 얼라인먼트 변위가 스텝 S4에서 휘점(Pa∼Pc)을 이용한 판단시 전술한 위치 변위량이 선정된 허용 범위 내에 있다고 하여, 측정 가능한 허용 범위 내에 있고, 또한 도 6(a)와 같이 측정 광원(17)에 의한 각막 반사상의 3개의 휘점(Pa∼Pc)이 적절하게 상하 방향으로 배열되어 있는 Z 방향의 얼라인먼트 변위가 거의 발생하지 않은 상태에 있어, 양측의 조명 광원(32a,32b)의 2개의 조명 광원상(PL,PR)의 간격을 구하여, 기준 간격(d)으로서 저장하고, 그후 스텝 S7로 이행한다.

스텝 S7에서는, 스텝 S1에서 같이, 이차원 촬상 소자(26)로 촬영된 화상을 화상 메모리(44)에 받아 들인다. 스텝 S8에서는, 스텝 S1에서 화상 메모리(44)에 받아 들인 전안부 화상으로부터 흑화상(black image)이 되는 동공을 판별하고, CPU(41)에 의해 동공의 무게 중심으로부터 그 중심을 검출하고, 이 동공의 중심 좌표로부터 X, Y 방향의 위치 변위량을 검출하고, 측정부(2)를 동공의 중심으로 이동시킨다. 이 동공의 중심의 검출의 실시는, 전술한 휘점(Pa∼Pc)에 의한 검출이 각막 정점의 검출이고, 동공이 각막 정점에서 편심하고 있는 경우가 있기 때문에 행해진다.

측정부(2)의 동공 중심으로의 이러한 이동은, 측정부(2)를 X, Y 방향으로 상하·좌우 모터(47,48)를 사용하여 이동시킴으로써 행하지만, 이 조정 중에 피검안(E)의 움직임 등에 의해, Z 방향의 거리도 변화되어 버리는 경우가 있다. 또한, 이때의 휘점(Pa∼Pc)의 일부가 검출 가능하지 않은 경우도 있기 때문에, 스텝 S9에서는, 화상 메모리(44)에 받아 들인 전안부 화상으로부터 CPU(41)에 의해 조명 광원상(PL,PR)의 간격을 계산하고, Z 방향의 얼라인먼트 변위의 검출을 재차 행한다.

도 8(a)는 조명 광원상(PL,PR)의 간격이 d이고, 측정부(2)의 작동 거리가 적절히 위치 정렬된 경우의 전안부를 도시하고 있다. 도 8(b)는 피검안(E)와 측정부(2)와의 작동 거리가 적정 위치 보다도 먼 상태에서의 피검안(E)의 전안부상을 도시하고 있으며, 조명 광원상(PL,PR)의 간격이 d1이 되면, 이때 작동 거리가 멀어질 수록 간격 d1은 좁아지게 된다. 도 8(c)는 피검안(E)와 측정부(2)와의 작동 거리가 적정 위치보다도 가까운 상태에서의 피검안(E)의 전안부상을 도시하고 있으며, 조명 광원상(PL,PR)의 간격은 d2가 되어, 작동 거리가 접근할 수록 간격 d2는 넓게 된다.

이 간격의 정도는 각막의 곡률 반경에 의해서도 변화되지만, 사전에 적정 작동 거리로서 정의한 간격 d가 되도록, 측정부(2)를 Z 방향, 즉, 전후 방향으로 전후 모터(49)를 사용하여 이동시키고, 도 8(a)에 도시한 바와 같은 저장된 기준 간격 d에 일치시키면, 적정한 작동 거리를 얻을 수 있게 된다.

스텝 S10에서는, 스텝 S8 및 S9에서 산출된 X, Y, Z 각 방향의 위치 변위량이 측정 가능 범위내인지를 판단하여, 측정 가능 범위 밖일 때는 스텝 S11로 이행 한다. 스텝 S11에서는, X, Y, Z 각 방향의 위치 변위량에 따라서 CPU(41)의 지령에 의해 상하 좌우 전후의 각 모터(47,48,49)를 구동하여 측정부(2)를 이동시키고, 다시 스텝 S7로 복귀하여 오토 얼라인먼트 동작을 계속한다.

스텝 S7∼스텝 S11의 루프를, 스텝 S10에서 X, Y, Z 각 방향의 위치 변위량이 측정 가능 범위내에 있다고 판단될 때까지 반복하고, 측정 가능 범위내에 있게 되면 오토 얼라인먼트 동작을 완료시키고, 스텝 S12로 이행하여 안굴절력의 측정을 시작한다.

안굴절력 측정에 있어서는, 안굴절 측정용 광학계에서 측정 광원(17)으로부터 발광한 광속은, 투영 조리개(l6)에 의해 조리개 조절되고, 투영 렌즈(15)에 의해 대물 렌즈(12)의 그 측면상에 일차 결상하고, 대물 렌즈(12) 및 다이크로익 미러(11)를 투과하여 피검안(E)의 동공 중심으로 투광된다. 광속은 피검안(E)의 안저부(fundus)에 결상되고, 그 반사광은 동공 주변을 통과하여, 다시 대물 렌즈(12)로 되돌아간다.

투공 미러(13)에 의해 반사된 광속은 6-분할 조리개(18)로 6-분할되어, 6-분할 프리즘(19)에 의해 이차원 촬상 소자(21)의 수광면 영역의 적정 범위에 수광되 도록 굴절되고, 6점의 스폿상을 이차원 촬상 소자(21) 상에 투영한다. 그런 다음, 이차원 촬상 소자(21)에 의해 얻어진 스폿상의 위치에 기초하여, 공지의 수단에 의해 안굴절치(eye refraction value)를 산출한다.

본 실시예에서는, 오토 얼라인먼트 동작을 완료시키고 나서 안굴절력의 측정을 행하고 있지만, 안굴절력의 측정은 운무 동작(clouding operation) 등에 어느 정도의 시간이 소요되어, 측정 중에 얼라인먼트 변위가 생길 가능성이 있기 때문에, 오토 얼라인먼트를 계속하면서 측정을 실시하더라도 좋다.

본 발명에 따르면, 자동적으로 검사 대상의 피검안과 검안부의 동공 중심과의 정렬을 행하여, 검안이나 촬영을 하는 안과 장치에 적합한 기술을 제공할 수 있다.

본 발명에 따른 안과 장치에 따르면, 저렴한 구성으로, 동공 중심에서의 검안을 실시할 수 있고, 오토 얼라인먼트 중에 검안 및 촬영이 가능해 진다.

본 발명의 사상과 범주를 벗어나지 않고 광범위하게 다양한 다른 실시예들이 만들어질 수 있으나, 본 발명은 청구범위에 정의된 것을 제외하고 특정 실시예에 한정되지 않음을 이해하여야 한다.

Claims

피검안 각막에 얼라인먼트용 광속을 투영하는 얼라인먼트 광투영 수단과,

상기 얼라인먼트용 광속에 의한 각막 반사광을 검출하는 얼라인먼트 광검출 수단과,

피검안의 전안부를 조명하는 복수의 조명 수단과,

피검안의 전안부를 촬상하는 촬상 수단과,

상기 촬상 수단에 의해 촬상된 전안부 상으로부터 피검안의 동공 위치를 검출하는 동공 위치 검출 수단과,

상기 조명 수단의 복수의 광원이 각막에 반사된 반사상의 간격을 검출하는 각막 반사상 간격 검출 수단과,

상기 얼라인먼트 광검출 수단에 의해 검출된 각막 반사광에 의해 피검안의 위치를 검출하여 검안부와 피검안의 위치 정렬을 행하는 제1 위치 정렬 수단과,

상기 제1 위치 정렬 수단에 의한 위치 정렬이 완료됐을 때 상기 각막 반사상 간격 검출 수단에 의해 검출된 상기 복수의 각막 반사상의 간격을 기준 간격으로서 저장하는 메모리 수단과,

상기 동공 위치 검출 수단에 의해 검출된 상기동공 위치에 상기 검안부를 맞추는 제2 위치 정렬 수단과,

상기 각막 반사상 간격 검출 수단에 의해 검출된 상기 간격과 상기 메모리 수단에 저장된 상기 기준 간격과의 관계를 기초로 피검안의 전후 방향의 위치 변위를 검출하여, 상기 검안부와 피검안의 전후 방향의 위치 정렬을 행하는 제3 위치 정렬 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
제1항에 있어서,

상기 얼라인먼트 광검출 수단은 상기 촬상 수단과 공용으로 사용되는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
제1항에 있어서,

상기 얼라인먼트 광투영 수단은 검안을 위한 측정 광원과 공용으로 사용되는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
제1항에 있어서,

상기 제1 위치 정렬 수단은 상기 각막 반사광의 3개의 휘점이 상하로 일렬로 배열되도록 상기 검안부의 위치를 조정하는 것을 특징으로 하는 안과 장치.
제1항에 있어서,

상기 제2 위치 정렬 수단은 상기 동공 위치 검출 수단에 의해 검출된 동공의 무게 중심에 의해 중심 위치를 일치시키도록 상기 검안부의 위치를 조정하는 것을 특징으로 하는 안과 장치.