JPWO2018163513A1 - 光モジュール - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 177
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 79
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J1/0209—Monolithic
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0403—Mechanical elements; Supports for optical elements; Scanning arrangements
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0411—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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- G01J1/28—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source
- G01J1/30—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source using electric radiation detectors
- G01J1/32—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source using electric radiation detectors adapted for automatic variation of the measured or reference value
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
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Abstract
Description
受光素子が採用される光モジュールにおいては、受光面に入射する半導体レーザからの光の一部が受光面において反射されて光モジュールから出射され、意図しない場所に光が到達する現象(迷光)が生じ得る。光モジュールが部品として使用される装置によっては、迷光が当該装置の機能との関係において好ましくない場合がある。
本開示の少なくとも1つの実施例の光モジュールによれば、迷光を発生し難くすることができる。
最初に本開示の技術の実施態様を列記して説明する。本開示の光モジュールは、光を形成する光形成部と、光形成部を取り囲むように配置される保護部材と、を備える。光形成部は、ベース部材と、ベース部材上に配置され、赤色の光を出射する赤色半導体レーザと、ベース部材上に配置され、緑色の光を出射する緑色半導体レーザと、ベース部材上に配置され、青色の光を出射する青色半導体レーザと、を含む。光形成部は、ベース部材上に配置され、赤色半導体レーザから出射される光のスポットサイズを変換する第1レンズと、ベース部材上に配置され、緑色半導体レーザから出射される光のスポットサイズを変換する第2レンズと、ベース部材上に配置され、青色半導体レーザから出射される光のスポットサイズを変換する第3レンズと、をさらに含む。光形成部は、ベース部材上に配置され、赤色半導体レーザから第1レンズに向う光とは反対側に出射される赤色後方光を第1受光面にて受光する第1受光素子と、ベース部材上に配置され、緑色半導体レーザから第2レンズに向う光とは反対側に出射される緑色後方光を第2受光面にて受光する第2受光素子と、ベース部材上に配置され、青色半導体レーザから第3レンズに向う光とは反対側に出射される青色後方光を第3受光面にて受光する第3受光素子と、をさらに含む。第1受光面、第2受光面および第3受光面は、赤色後方光の光軸に垂直な面、緑色後方光の光軸に垂直な面および青色後方光の光軸に垂直な面に対してそれぞれ傾斜している。
<第1の実施の形態>
次に、本開示の光モジュールの第1の実施の形態について、図1〜図3を参照して説明する。図2は、図1のキャップ40を取り外した状態に対応する図である。以下の図面において同一または相当する部分には同一の参照番号を付しその説明は繰返さない。
次に、本開示の光モジュールの第2の実施の形態について、図5および図6を参照して説明する。図5〜図6および図1〜図4を参照して、第2の実施の形態における光モジュール1は、基本的には第1の実施の形態の場合と同様の構造を有し、同様の効果を奏する。しかし、第2の実施の形態の光モジュール1は、第1フォトダイオード94、第2フォトダイオード95および第3フォトダイオード96の設置状態において、第1の実施の形態の場合とは異なっている。
次に、本開示の光モジュールの第3の実施の形態について、図7および図8を参照して説明する。図7〜図8および図1〜図4を参照して、第3の実施の形態における光モジュール1は、基本的には第1の実施の形態の場合と同様の構造を有し、同様の効果を奏する。しかし、第3の実施の形態の光モジュール1は、第1フォトダイオード94、第2フォトダイオード95および第3フォトダイオード96の設置状態において、第1の実施の形態の場合とは異なっている。
次に、本開示の光モジュールの第4の実施の形態について、図9〜図11を参照して説明する。図9〜図11および図1〜図4を参照して、第4の実施の形態における光モジュール1は、基本的には第1の実施の形態の場合と同様の構造を有し、同様の効果を奏する。しかし、第4の実施の形態の光モジュール1は、第1フォトダイオード94、第2フォトダイオード95および第3フォトダイオード96の設置状態および構造において、第1の実施の形態の場合とは異なっている。
3高濃度n型層
3A第1主面
3B第2主面
4n型層
4A主面
5p型領域
6p側電極
7n側電極
8絶縁膜
8A貫通孔
10基部
10A,10B主面
20光形成部
30電子冷却モジュール
31吸熱板
32放熱板
33半導体柱
40キャップ
41出射窓
51リードピン
60ベース板
60A,60B主面
63第1ブロック
64第2ブロック
65第3ブロック
66第4ブロック
67第5ブロック
68第6ブロック
66A,67A,68A支持面
71第1サブマウント
72第2サブマウント
73第3サブマウント
74第4サブマウント
75第5サブマウント
76第6サブマウント
74A,75A,76A搭載面
77第1レンズ保持部
78第2レンズ保持部
79第3レンズ保持部
81赤色レーザダイオード
82緑色レーザダイオード
83青色レーザダイオード
88第1突出領域
89第2突出領域
91第1レンズ
92第2レンズ
93第3レンズ
91A,92A,93Aレンズ部
94第1フォトダイオード
95第2フォトダイオード
96第3フォトダイオード
94A第1受光面
95A第2受光面
96A第3受光面
97第1フィルタ
98第2フィルタ
Claims (5)
- 光を形成する光形成部と、
前記光形成部を取り囲むように配置される保護部材と、を備え、
前記光形成部は、
ベース部材と、
前記ベース部材上に配置され、赤色の光を出射する赤色半導体レーザと、
前記ベース部材上に配置され、緑色の光を出射する緑色半導体レーザと、
前記ベース部材上に配置され、青色の光を出射する青色半導体レーザと、
前記ベース部材上に配置され、前記赤色半導体レーザから出射される光のスポットサイズを変換する第1レンズと、
前記ベース部材上に配置され、前記緑色半導体レーザから出射される光のスポットサイズを変換する第2レンズと、
前記ベース部材上に配置され、前記青色半導体レーザから出射される光のスポットサイズを変換する第3レンズと、
前記ベース部材上に配置され、前記赤色半導体レーザから前記第1レンズに向う光とは反対側に出射される赤色後方光を第1受光面にて受光する第1受光素子と、
前記ベース部材上に配置され、前記緑色半導体レーザから前記第2レンズに向う光とは反対側に出射される緑色後方光を第2受光面にて受光する第2受光素子と、
前記ベース部材上に配置され、前記青色半導体レーザから前記第3レンズに向う光とは反対側に出射される青色後方光を第3受光面にて受光する第3受光素子と、を含み、
前記第1受光面、前記第2受光面および前記第3受光面は、前記赤色後方光の光軸に垂直な面、前記緑色後方光の光軸に垂直な面および前記青色後方光の光軸に垂直な面に対してそれぞれ傾斜している、光モジュール。 - 前記第1受光面、前記第2受光面および前記第3受光面は、それぞれ前記赤色後方光の光軸に垂直な面、前記緑色後方光の光軸に垂直な面および前記青色後方光の光軸に垂直な面に対し、受光される光の光軸を含み前記ベース部材の主面に垂直な第1の平面に含まれる方向に回転するとともに、前記ベース部材の前記主面に平行な第2の平面に含まれる方向に回転することにより、前記赤色後方光の光軸に垂直な面、前記緑色後方光の光軸に垂直な面および前記青色後方光の光軸に垂直な面に対して傾斜している、請求項1に記載の光モジュール。
- 前記第1受光素子、前記第2受光素子および前記第3受光素子のうち少なくとも1つの受光素子は、前記ベース部材上に配置される支持部材の搭載面上に搭載され、
前記搭載面は、前記少なくとも1つの受光素子において受光される光の光軸に垂直な面に対して傾斜している、請求項1または請求項2に記載の光モジュール。 - 前記第1受光素子、前記第2受光素子および前記第3受光素子のうち少なくとも1つの受光素子は、半導体層を含む半導体受光素子であり、
前記半導体受光素子は、前記半導体層の主面に平行な面に対して傾斜する受光面を有する、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の光モジュール。 - ベース部材と、
前記ベース部材上に配置される半導体レーザと、
前記ベース部材上に配置され、前記半導体レーザからの光が入射される光学系と、
前記ベース部材上に配置され、前記半導体レーザから前記光学系に向う光とは反対側に前記半導体レーザから出射される後方光を受光面にて受光する受光素子と、
を含み、前記受光面は、前記後方光の光軸に垂直な面に対して傾斜している、光モジュール。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017042145 | 2017-03-06 | ||
JP2017042145 | 2017-03-06 | ||
PCT/JP2017/041156 WO2018163513A1 (ja) | 2017-03-06 | 2017-11-15 | 光モジュール |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2018163513A1 true JPWO2018163513A1 (ja) | 2020-01-16 |
Family
ID=63448572
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018519779A Pending JPWO2018163513A1 (ja) | 2017-03-06 | 2017-11-15 | 光モジュール |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11060907B2 (ja) |
JP (1) | JPWO2018163513A1 (ja) |
DE (1) | DE112017007177T5 (ja) |
WO (1) | WO2018163513A1 (ja) |
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-
2017
- 2017-11-15 DE DE112017007177.1T patent/DE112017007177T5/de active Pending
- 2017-11-15 US US16/477,695 patent/US11060907B2/en active Active
- 2017-11-15 JP JP2018519779A patent/JPWO2018163513A1/ja active Pending
- 2017-11-15 WO PCT/JP2017/041156 patent/WO2018163513A1/ja active Application Filing
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE112017007177T5 (de) | 2019-12-05 |
US20190360862A1 (en) | 2019-11-28 |
US11060907B2 (en) | 2021-07-13 |
WO2018163513A1 (ja) | 2018-09-13 |
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