JPWO2010008030A1 - ピン先端部のクリーニング機構を有する基板検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
最初に、基板検査装置全体について、簡単に説明する。
図2は、図1の回転テーブル装置22の一実施例に係る回転テーブル装置22を上方から見た平面図である。回転テーブル装置22は搬送手段で、移動手段の円形テーブル22t及び回転駆動軸22sを備えており、基板検査の際に、円形テーブル22tは回転駆動軸22sによって矢印で示すように時計回りに回転する。
図4Aから図4Dは、クリーニング機構50の一実施形態の詳細な構造を説明するための図である。
図6は、シャトル型基板検査装置70の簡略化した平面図である。シャトル型基板検査装置70はクリーニング機構90を備える。図2に示す回転テーブル装置22は、複数の被検査基板保持部40を円形状の経路に沿って移動する搬送路を形成するのに対し、図6に示すシャトル型基板検査装置は、2つの搬送路70L及び70Rの2つの搬送路を備え、それらの搬送路は、共通の搬送路70Cを持つ。そのような略矩形状の搬送路70L及び共通搬送路70Cに沿って被検査基板保持部(トレイ)74Lが移動し、また、略矩形状の搬送路70R及び共通搬送路70Cに沿って被検査基板保持部(トレイ)74Rが移動する。
図7は、図2と異なる他の実施形態に係る回転テーブル装置220を上方から見た平面図である。図2の回転テーブル装置22と同様の要素には同一の符号を付してその説明は省略する。
図8は、他のピン先端部清浄化部品を有する回転テーブル装置22を示す一部拡大図である。
図9(A)及び図9(B)は、検査治具28とピン先端部清浄化部品44の詳細を説明する図である。
本実施形態のクリーニング機構は、回転テーブル装置220を利用した基板検査装置10に限定されない。例えば、図10は、シャトル型基板検査装置150で使用される基板保持部分を説明する図である。シャトル型基板検査装置150の基板保持部分以外は、図7で説明した基板試験装置と同じである。また、基本的な構成は図6のシャトル型基板検査装置70の構成と同じである。符号29はアライメントカメラである。
例えば、基板検査装置10,150では、導体パターンの電気抵抗値を測定して、その良否を判定している。例えば、良否の判定基準は、導体パターンの測定抵抗値が、次式の検査しきい値以下であれば良品と判定し、検査しきい値を超えると不良品と判定する。
L:良品基板の導体パターン抵抗値
k:ピンと導体パターンの接触抵抗、ピン先端部の半田付着等の抵抗
一例で説明すると、100枚程度の基板検査を実施すると、基板導体の測定抵抗値が検査しきい値を超えてしまう場合があった。この場合、背景技術で説明したように、手作業にてピン先端部のクリーニングを行って、基板導体の測定抵抗値が検査しきい値以下に回復するようにしていた。
以上説明したように、基板検査装置にクリーニング機構を備えることにより、次のような利点・効果が生じる。
本実施形態により、ピン先端部のクリーニング機構を有する基板検査装置を実現することが出来た。
背景技術で説明したように、従来は、基板検査装置から検査治具を取り外して、手作業にて検査治具のピンをブラシによりクリーニングしていた。
基板検査装置にクリーニング機構を備えることにより、クリーニング作業の自動化を図ることが出来た。
基板検査装置にクリーニング機構を備えることにより、検査治具の取り外し及び再取り付けが不要になった。被検査基板の配線が極度に高密度化され、これに対応する検査治具のピン配列も極度に高密度化されている。そのため、検査治具を基板検査装置に再取り付けする際に、位置補正をしながら位置を決定するために多大の時間を要していた。基板検査装置にクリーニング機構を備えることにより、検査治具の着脱自体が不要となり、ピン先端部のクリーニングに要する時間を大幅に短縮することが出来た。結果的に、一定の枚数の基板を検査に要する合計基板検査時間を大幅に短縮することが出来た。
従来、清浄化作業後に検査治具を基板検査装置に再取り付けする際、少しずつ設置位置の補正を繰り返しながら最終的な位置を決定して取り付けるような位置設定を行っていた。しかし、このような取り付け位置設定作業では、どうしても検査治具着脱の前後で位置ズレを起こす不具合があった。しかし、ピン先端部のクリーニング機構を、基板検査装置に組み込むことにより、ピン先端部のクリーニングの際の検査治具の着脱自体が不要になり、着脱の前後で生じる位置ズレの問題が解消した。
以上、本発明に係るクリーニング機構を備える基板検査装置の望ましい実施態様について説明したが、本発明はその実施態様に拘束されるものではなく、当業者が容易になしえる追加、削除、改変等は、本発明に含まれるものであり、また、本発明の技術的範囲は、添付の特許請求の範囲の記載によって定められることを承知されたい。
11・・・制御装置
22・・・回転テーブル装置
22t・・・円形テーブル
22s・・・回転駆動軸
28u・・・上側検査治具
28d・・・下側検査治具
32・・・ピン
30・・・検査部
40・・・被検査基板保持部
42・・・被検査基板
44・・・ピン先端部清浄化部品
44R・・・半径方向延在ピン先端部清浄化部品
44C・・・円周方向延在ピン先端部清浄化部品
44RC・・・半径方向及び円周方向延在ピン先端部清浄化部品
44u・・・上側ピン先端部清浄化部品
44d・・・下側ピン先端部清浄化部品
44Ru・・・上側半径方向延在ピン先端部清浄化部品
44Cu・・・上側円周方向延在ピン先端部清浄化部品
44RCu・・・上側半径方向及び円周方向延在ピン先端部清浄化部品
44Rd・・・下側半径方向延在ピン先端部清浄化部品
44Cd・・・下側円周方向延在ピン先端部清浄化部品
44RCd・・・下側半径方向及び円周方向延在ピン先端部清浄化部品
44b・・・ブラシ
44f・・・ファイバー部
44h・・・ブラシ固定部材
48・・・トレイ
50,70,90・・・クリーニング機構
52,72,92・・・ブラシ部分
54,74,94・・・ブラシ保持部
54a・・・調整プレート
64a・・・調整ねじ
70L,70R・・・搬送路
70C・・・共通搬送路
Claims (10)
- 搬入部から搬出部までの搬送路と、該搬送路上に所定の間隔で設けられた被検査基板保持部と、該被検査基板保持部を前記搬送路に沿って移動する移動手段とを備える搬送手段と、
前記搬送路の途中に設けられていて、前記搬送手段の前記被検査基板保持部に保持された被検査基板を順次検査する検査部であって、検査治具を備え、該検査治具に設けられた複数のピンを被検査基板上の配線の検査点に接触させることによって該配線の電気的特性を測定する検査部と、
前記搬送路上に所定の間隔で設けられた任意の隣り合う被検査基板保持部の間に設けられたクリーニング手段であって、前記搬送手段の前記移動手段によって移動され、前記検査部を通過する際に前記複数のピンのクリーニングを行うクリーニング手段とを備える、基板検査装置。 - 請求項1の基板検査装置において、前記任意の隣り合う被検査基板保持部の間に設けられた前記クリーニング手段と隣接する2つの前記被検査基板保持部との各距離は、前記任意の隣り合う被検査基板保持部の間の距離よりも小さい、基板検査装置。
- 請求項2の基板検査装置において、前記クリーニング手段がブラシを備えていて、該ブラシが、前記移動手段によって移動される移動方向に沿った繊維の流れを有し、前記移動方向とは反対の方向に傾斜して保持されている、基板検査装置。
- 請求項3の基板検査装置において、前記ブラシが、水平面に対し約30度から50度の間の任意の角度に傾斜して保持されている、基板検査装置。
- 請求項3の基板検査装置において、
前記ブラシは、グラスファイバーからなる、基板検査装置。 - 請求項1の基板検査装置において、
前記搬送手段は、円形テーブルと該円形テーブルを回転駆動する回転駆動手段とを有する回転テーブル装置を備えており、前記被検査基板保持部が、前記円形テーブル上の円周に沿った位置に所定間隔で設けられており、また、前記クリーニング手段が、前記円形テーブル上に設けられた前記被検査基板保持部の任意の隣り合う2つの被検査基板保持部の間に少なくとも1つ設けられた、基板検査装置。 - 請求項1の基板検査装置において、
前記搬送手段が、2つの前記搬送路と、該2つの搬送路の各々に配置された前記被検査基板保持部と、該被検査基板保持を各搬送路に沿って移動する移動手段とを備え、
前記2つの搬送路の一部の経路が共通し、該共通する経路上の任意の位置に前記検査部が配置されており、さらに、前記2つの搬送路の少なくとも一方に1つの前記クリーニング手段が設けられており、
前記共通する前記経路上の前記検査部を、前記2つの被検査基板保持部が所定の時間間隔をおいて通過する一方、該間隔の間に、前記クリーニング手段が前記共通する前記経路を通過する、基板検査装置。 - 請求項1の基板検査装置において、
前記クリーニング手段は、前記検査治具のピン先端部から離れた位置から一方に向けて移動開始し該ピン先端部に接触しながらクリーニングして該ピン先端部から離れた位置まで移動して停止し、その後、元の位置まで反対向きに移動して該ピン先端部をクリーニングし、この往復移動を繰り返す、基板検査装置。 - 請求項1の基板検査装置において、
前記搬送手段は、回転駆動軸と円形テーブルとを有する回転テーブルで形成され、
前記円形テーブルに円周状に保持された複数枚の被検査基板の間に、前記クリーニング手段が設けられ、該クリーニング手段は、前記回転駆動軸の回転により、前記被検査基板と同一の搬送経路を辿って前記検査部に移動する、基板検査装置。 - 検査治具に設けられた複数のピンを被検査基板上の配線の検査点に接触させる
ことによって該配線の電気的特性を測定する検査部に、既定のタイミングで、複数の前記被検査基板を順次搬送する一方、
前記既定のタイミングと異なるタイミングで、ブラシを有するクリーニング手段を前記検査部を通過させて前記複数のピンをクリーニングする、基板検査装置における複数のピンのクリーニング方法。
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