JPS6391747A

JPS6391747A - 電子機器の検査方式

Info

Publication number: JPS6391747A
Application number: JP61238638A
Authority: JP
Inventors: Katsuya Taniguchi; 克哉谷口; Masayuki Kino; 城野　雅行
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1986-10-06
Filing date: 1986-10-06
Publication date: 1988-04-22

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、電子機器の検査方式に関し、さらに詳しくは
インタフェースを介在させ、端末機器を制御する電子機
器の検査方式に関する。

背景技術典型的な先行技術は、第４図に示゛されている。

マイクロプロセッサ３１やプログラムを内蔵したＲＯＭ
３２などによって構成されるポケットコンピュータなど
の電子機器２１と、電子機器２１からの制御信号によっ
て動作するたとえばプリンタなどの端末ｔｅｌ器２２と
の間には、Ｉ１０ボートなどを備えたインク７エース３
３が介在し、両者間の信号授受の仲介を行なっている。

ポケットコンピュータのような小形化された電子機器２
１では、インタフェース３３は通常マイクロプロセッサ
（以下、ＣＰＵと記ｔ）３１やＲＯＭ３２ｈｔ搭載すれ
ている同一の基板３４に取付けられ、それより複数の入
出カライン３５が引き出されて接続用コネクタ３６ａに
接！され、対をなすコネクタ３６ｂおよび接続ケーブル
３７によって端末機器２２に接続されて一つのシステム
を形成している。

このようなシステムが設置された現場において、動作ト
ラブルの発生やメンテナンスなどのために電子機器２１
の動作を点検する場合、従来は接続用コネクタ３６ａ、
３６ｂを分離して、電子機器２１と端末８！器２２を切
り離し、別に用意した同一機種の端末機器（図示せず）
をコネクタ３Ｇａを介して電子機器２１に接続し、検査
用プログラムを実行させ、あるいは端末機器２２に別に
用意した同一機種の電子機器（図示せず）を接続し、同
様にして検査を行ない、正常動作を行なうかどうか、入
出カラインの断線、短絡の有無などを検査し、原因の発
見や動作の良否を判定していた。

発明が解決しようとする問題点しかしながら上述のような方法では、検査の都度、検査
担当者は検査用の電子機器や端末機器など多くの機材の
運搬に労力を要求され、現場では検査のため多くの時間
を必要とし、非能率的であった。このため簡単な構成で
、しかも確実に当該電子機器の動作の良否判定や原因の
所在を発見することのできる電子へ器の検査方式が所望
されていた。

したがって本発明の目的は、上述の技術的開運７αを解
決し、簡単な構成によって電子機器の動作が検査され、
原因の所在を容易に発見することのできる電子機器の検
査方式を提供することである。

問題点を解決するための手段本発明は、演算処理手段と、記憶手段と、インタフェー
スと、インク７エースと接続される複数のピン列から成
る入出力部とを含む電子８ｗ器と、上記入出力部に対応
するピン列を有し、かつ上記ピン列が予め定められた順
序に結１１１ｉＩされた検査用治具とを含み、電子機器はそのピン列に順次的に検査用信号を導出し、
上記治具を介して検査用信号が入力され、これによって
上記インタフェースに関連する結線状態を検査するよう
にしたことを特徴とする電子機器の検査方式である。

作　　用本発明に従う電子８！器は、演算処理手段と、記憶手段
と、インタフェースと、インク７エー又と接続される複
数のピン列から成る入出力部とを含む、また上記入出力
部に対応するピン列を有し、かつ上記ピン列は予め定め
られた順序に結＋ｔＱされた検査用治具が用いられる。

電子機器はそのピン列に順次的に検査用信号を導出し、
上記治具を介して検査用信号が再入力され、これによっ
て上記インタフェースに関連する結線状態を検査する。

実施例第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。たとえばポケットコンピュータなどの電子機器１側
のインタフェース１１がらの対をなす出力線ノ１．ノ２
．ノ３．・・べ総称するときは参照符ノで示す）と、入
力線ｍｌ　ｙＩａ２　＋ｍ３　＋・・・（総称するとき
は参照符部で示す）と、対をなす入出力＃１ｔｐ１　＋
Ｉ）２　＋・・・＋ｐ（ｎ　−Ｉ　Ｌ　ｐｎ（総称する
ときは参照符ｐで示す）とは、それぞれ多数のピン列を
有する入出力部としての接続用コネクタ１２ａに個別的
に接続されている。

上記接続用コネクタ１２ａに対応するピン列を有し、か
つ上記ピン列は予め定められた順序に結線された検査用
治具１３が、接続用コネクタ１２ａに接続される。検査
用治具１３に取付けられた検査用コネクタ１２ｂには、
対応する電子機器１側の対をなす入力線！と、出力線噛
と、対をなす入出力ａｐｌ＋ｐ２＋・・・とをそれぞれ
個別的にかつ相互に短絡接続する配線ラインｋｌ　、に
、に３　、・・・、ｋｍ（総称するときは参照符にで示
す）が施された基板１４が取付けられ、検査用治具１３
が形成されている。

電子８！器１の動作を点検するには、まず図示しない端
末機器側のコネクタを接続用コネクタ１２ａから取り外
し、代わりに検査用治具１３の検査用コネクタ１２Ｉ）
を電子機器１側の接続用コネクタ１２ａに嵌合させる。

これにより電子機器１側の出力線ノは、検査用治具１３
側の基板１４に施された連絡用配線ｋを介して、それぞ
れ入力１線泊に個別的に対をなして接続される。入出力
４Ｑｐｌ＋ｐ２、・・・についても同様に連絡用配線ｋ
ｎ、・・・、に＋ａによって相互に短絡される。

この状態において、検査用プログラムを実行させる。す
なわち、ＣＰＵ　２はまず出力線！１に所定の信号、た
とえば「Ｉ（」レベルの信号　（以下、ｆゴ号ｒＨＪと
記す）を出力線ノ１に出力する。信号ｒＨＪは、検査用
治具１４内の連絡用配線に１　　を経て入力線輪１に戻
り、正常ならば出力線ノ１と入力線−１１とは同一レベ
ル「ＦＩ」となる。ＣＰＵ　２はこの状態を調べ、正し
ければ次に同じ出力線１１に信号ｒＬＪを出力し、入力
線輪１　に信号ｒＬＪが戻っているかどうかを調べる。

正しければ次の対をなす出力線！２と入力線輪２　に移
り、同様にして検査を行なう。もし出力した信号と異な
る結果がでた場合には、電子機器１内の表示手段３に「
エラー」を表示させる。以下、同様の手順を繰返しつつ
、対をなす出力線！と入力線輪および入出力線１）１＋
９２、・・・について検査を続ける。

第２図は本発明の一実施例の動作を示すフローチャート
である。同図（１）に示すステップｎ１　で第１図示の
検査用油Ａ１３の検査用コネクタ１２ｂと電子ｇ器１の
接続用コネクタ１２’ａとが接続され、検査用プログラ
ムが実行され検査が開始される。ステップｎ２　　では
出力線ノ１に信号［Ｉ］」が出力される。ステップｎ３
　　ではＣＰＵ２が検査用油Ｊｆｉｃ１３を介して接続
された入力線輪１　の状態な調べ、入力ａ如１　が出力
線ノ１と同じ［ＨＪであればステップｎ４に移る。もし
出力線！１と入力線１１との信号が違っておればステッ
プｎ５　　に移って、ＣＰＵ２は表示部３に「エラー」
メッセーノを表示させ、検査の進行は中断され、「エラ
ー」の原因を調べる。

ステップｎ６１’はＣＰＵ２は出力線）１に信号「Ｌ」
を出力し、ステップｎ７　　で入力線輪１の状態を調べ
、等しく「Ｌ」かどうかを調べる。正常ならばステップ
ｎ７に進み、違っておればステップｎ８に移って「エラ
ー」を表示させるとともに、検査は中断され、原因が調
べられる。以下同様にして出力Ｒノと入力線ｌについて
の検査が終われば、同図（２）に示すステップｑ１に進
んで、対をなす入出力Ｍｐｌ　、、２　、・・・につい
ての検査が実行される。

ステップｑ１で一方の入出力＃ｉＬ　ｐ　１に信号「Ｉ
］」が出力され、ステップｑ２″Ｃ他方の入出力線ｐ２
の状態が調べられ、等しければステップｑ３　に進んで
検査が続？′ｉ′され、違っておればステップｑ４　１
こ移って「エラー」が表示される。

ステップｑ３では入出力Ｍ　ｐ　１に信号ｒＬＪが出力
され、ステップｑ５で入出力線ｐ１と対をなす他方の入
出力線ｐ２　　の状態が調べられ、等しく「Ｌ」ならば
ステップｑ６　に進む。違っておればステップｑ７に移
って「エラー」が表示される。ステップｑ６からｑｌｌ
では、ステップｑ１からｑ５　　と逆に入出力線ｐ２か
ら出力し、入出力ｍ　ｐ　１の状態を調べることにより
検査を行なう。以後同様にして対をなす入出力＃ａｐご
とに、信号［ＨＪと信号ｒＬＪとにつき交互に検査が行
なわれて０き、ステップｑｎで全部の出力線）、入力線
糟および入出力線ｐについて検査が行なわれたかどうか
が判断され、途中検査が中断なく進行して終了ならば表
示部３にたとえば「ＯＫ」の表示が出され、終了する。

上述の実施例では−の対をなす出力線ｌと入力＃ａｍあ
るいは入出力線１］１＋＋３２＋・・・について交互に
信号のｒＨＪ、ｒＬＪを切替えつつ検査を続けるように
したけれども、さきに全部の入力線ｍと出力線！および
入出力線ｐについてまず信号「Ｉ（」で検査を行ない、
次に信号ｒＬＪで再び検査を行なうようにしでもよい。

また「エラー」表示が出たらそのステップを記憶してお
き、検査は中断することなしに続行され、全部の検査が
終わった後、上記記憶さ胱たステップに基づいて原因を
調べるようにしてもよい。

第３図は、実際に使用されている電子機器と対応する検
査用治具との構成を示すブロック図である。１３図にお
いてｔｔｒＪ１図と対応する部分には同一の参照符を付
す。電子機器１内にはＣＰＵ　２、液晶などで実現され
る表示部３等の素子が内ｉされており、検査用プログラ
ムは予めＲＯＭ７に格納されている。ＣＰＵ２およびデ
ートアレイ６からは、対応するインタフェースｌｌａ、
ｌｌｂを介して、それぞれ複数の出力ａ　Ｊ：　ａ　＋
　ｍ　ａ　＋　ｌｌ　＆　＋　、ｅ　ｂ、ｍ　１１　ｒ
　ｌ）ｂが、接続用フネクタ１２ａ、１２ｃに接続され
ている。検査用治具１３ａ、１３ｂの各検査用フネクタ
１２ｂ、１２ｄを対応する上記接続用フネクタ】２ａ。

１２Ｉ）に接続し、検査用プログラムを実行させること
により、予め定められた順序で電子機器１内の各素子の
動作状態が検査され、検査結果は表示部３に表示される
。

本実施例では予め検査用プログラムをＲＯＭ７に格納し
ておくようにしたけれども、カードメモリなどで実現さ
れる外部メモリ１５に予め検査用プログラムを記憶させ
ておき、検査の際には上記外部メモリ１５を電子機器１
に設けられているスロッ）１０ａまたはスロッ）１０ｂ
に挿入してプログラムを読み取らせ、検査プログラムを
実行させるようにしてもよい。これによりＲＯＭ７のメ
モリ容量に余裕が生じる。

効　　果以上のように本発明によれば、電子機器はそのビン列に
順次的に検査用信号を導出し、治具を介して検査用信号
が再入力され、これによって上記インタフェースに関連
する結線状態を検査する。

これによって、出力と入力とをつないだ簡単な検査用治
具を電子機器側の接続用コネクタに接続し、予め定めら
れた検査用プログラムを実行させるのみでよく、検査に
必要な低材は少なく、電子機器および電子機器を用いた
システムを使用中の現場においても簡単に検査を行なう
ことができる。

【図面の簡単な説明】

！＃Ｓ１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図
、第２図は本発明の一実施例の動作を示す７０−チャー
ト、第３図は実際に使用されている電子機器１と対応す
る検査用治具１３との構成を示すブロック図、第４図は
先行技術を示すブロック図である。１．２１・・・電子機器、２，３１・・・マイクロプロ
セッサ、３・・・表示部、１１，１１ａ、１　ｌｂ、３
３−インタフェース、１２ａ、１２ｃ・・・接続用コネ
クタ、１２　ｂ、　１２　ｄ・・・検査用コネクタ、１
３，１３ａ、１３ｔＩ・・・検査用治具代理人　　弁理士　四教　圭一部第　１　図ｐ人工ｐ珂木１第２図第４図

Claims

【特許請求の範囲】演算処理手段と、記憶手段と、インタフェースと、イン
タフェースと接続される複数のピン列から成る入出力部
とを含む電子機器と、上記入出力部に対応するピン列を有し、かつ上記ピン列
が予め定められた順序に結線された検査用治具とを含み
、電子機器はそのピン列に順次的に検査用信号を導出し、
上記治具を介して検査用信号が入力され、これによって
上記インタフェースに関連する結線状態を検査するよう
にしたことを特徴とする電子機器の検査方式。