JPS63250575A - プリント基板の試験装置 - Google Patents
プリント基板の試験装置Info
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- JPS63250575A JPS63250575A JP62085580A JP8558087A JPS63250575A JP S63250575 A JPS63250575 A JP S63250575A JP 62085580 A JP62085580 A JP 62085580A JP 8558087 A JP8558087 A JP 8558087A JP S63250575 A JPS63250575 A JP S63250575A
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- Japan
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- printed circuit
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Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 21
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ、産業上の利用分野
この発明は電子部品搭載のプリント基板の試験装置に関
する。
する。
Ｂ９発明の概要
この発明は複数のプリント基板群を試験する装置におい
て、 被検査プリント基板の種類（機能）や収納枚数を予め設
定情報として記憶させた記憶部を設け、試験開始時に記
憶部の設定情報を読込んで所望の検査用診断プログラム
を選択してから試験を行うようにしたことにより、 被検査プリント基板の確実な試験が誤りなくできるよう
にしたものである。
て、 被検査プリント基板の種類（機能）や収納枚数を予め設
定情報として記憶させた記憶部を設け、試験開始時に記
憶部の設定情報を読込んで所望の検査用診断プログラム
を選択してから試験を行うようにしたことにより、 被検査プリント基板の確実な試験が誤りなくできるよう
にしたものである。
Ｃ６従来の技術
制御機器には近年、電子部品を搭載したプリント基板が
数多く使用されている。このため、機器の正常動作を維
持するにはプリント基板製作後に、プリント基板の検査
を行って、事前に不良のプリント基板を排除する必要が
ある。通常、制御機器に使用されるプリント基板は機能
別に複数の種類のものを、複数枚製作する。製作された
これらプリント基板は同時に温度試験やある時間のラン
ニング試験が行われる。このような、試験のときに、各
プリント基板に対して機能診断プログラムを与えてプリ
ント基板の機能の試験も同時に行う手段がとられるのが
普通である。
数多く使用されている。このため、機器の正常動作を維
持するにはプリント基板製作後に、プリント基板の検査
を行って、事前に不良のプリント基板を排除する必要が
ある。通常、制御機器に使用されるプリント基板は機能
別に複数の種類のものを、複数枚製作する。製作された
これらプリント基板は同時に温度試験やある時間のラン
ニング試験が行われる。このような、試験のときに、各
プリント基板に対して機能診断プログラムを与えてプリ
ント基板の機能の試験も同時に行う手段がとられるのが
普通である。
Ｄ８発明が解決しようとする問題点
上記のような試験の際、試験されるプリント基板の位置
、種類、枚数の情報を入力し、この情報によってプリン
ト基板機能診断プログラムを選択する操作部と、複数の
被検査用プリント基板が収納されている盤（収納箱）と
が、離れた位置に設置されていて試験を行うことがある
。このようなとき、収納箱に収納されているプリントし
仮の種類や枚数の情報が誤って操作部に入力されること
がある。例えばプリント基板の枚数が実際の数より多く
入力されたとすると、その収納箱の被検査用プリント基
板に機能診断プログラムを与えて試験を行うと、診断プ
ログラム数が多くなりすぎて一度試験したプリント基板
を再度試験してしまったり、あるいは逆にプリント基板
の枚数が少なく入力されたときにはプログラム数が少な
くなって診断が行われないものが生じてしまう問題点が
ある。
、種類、枚数の情報を入力し、この情報によってプリン
ト基板機能診断プログラムを選択する操作部と、複数の
被検査用プリント基板が収納されている盤（収納箱）と
が、離れた位置に設置されていて試験を行うことがある
。このようなとき、収納箱に収納されているプリントし
仮の種類や枚数の情報が誤って操作部に入力されること
がある。例えばプリント基板の枚数が実際の数より多く
入力されたとすると、その収納箱の被検査用プリント基
板に機能診断プログラムを与えて試験を行うと、診断プ
ログラム数が多くなりすぎて一度試験したプリント基板
を再度試験してしまったり、あるいは逆にプリント基板
の枚数が少なく入力されたときにはプログラム数が少な
くなって診断が行われないものが生じてしまう問題点が
ある。
Ｅ１問題点を解決するための手段
この発明は被検査プリント基板が収納された箱を複数個
設け、これら収納箱の被検査プリント基板を操作部から
プリント基板機能診断プログラムによって検査するプリ
ント基板の試験装置において、 前記各収納箱に被検査プリント基板の機能や収納枚数を
予め設定情報として記憶させた記憶部を設け、試験開始
時、記憶部の設定情報を用いて機能診断プログラムから
所望のプログラムを選択して被検査プリント基板の診断
を行うようにしたものである。
設け、これら収納箱の被検査プリント基板を操作部から
プリント基板機能診断プログラムによって検査するプリ
ント基板の試験装置において、 前記各収納箱に被検査プリント基板の機能や収納枚数を
予め設定情報として記憶させた記憶部を設け、試験開始
時、記憶部の設定情報を用いて機能診断プログラムから
所望のプログラムを選択して被検査プリント基板の診断
を行うようにしたものである。
Ｆ１作用
各収納箱毎にプリント基板の機能や枚数が記憶部に記憶
しておき、機能診断プログラムを送出す前に記憶部から
設定情報を読み出し、この設定情報に基づいて試験を行
うようにした。このため、各収納箱のプリント基板の診
断が間違いなく確実にできる。
しておき、機能診断プログラムを送出す前に記憶部から
設定情報を読み出し、この設定情報に基づいて試験を行
うようにした。このため、各収納箱のプリント基板の診
断が間違いなく確実にできる。
Ｇ、実施例
以下図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。
第１図において、１は操作部で、この操作部ｌは試験さ
れるプリント基板の種類１枚数等の情報が入力された際
、その情報に応じてプリント基板機能診断プログラムを
選択して送出するものである。２ ａ、 ２ ｂ、 ２
ｃ・・・は種々の機能を持ったプリント基板が種類毎
に複数枚収納される収納箱で、これら収納箱２ ａ、
２ ｂ、 ２ ｃ・・・にはどのような種類（機能）の
プリント基板が何枚収納されているのかを予め設定情報
として記憶しておく記憶部３ａ。
れるプリント基板の種類１枚数等の情報が入力された際
、その情報に応じてプリント基板機能診断プログラムを
選択して送出するものである。２ ａ、 ２ ｂ、 ２
ｃ・・・は種々の機能を持ったプリント基板が種類毎
に複数枚収納される収納箱で、これら収納箱２ ａ、
２ ｂ、 ２ ｃ・・・にはどのような種類（機能）の
プリント基板が何枚収納されているのかを予め設定情報
として記憶しておく記憶部３ａ。
３ｂ、３ｃ・・・が設けられる。
第２図は第１図の詳細を示す説明図で、操作部ｌは操作
部本体１ａ、管理部本体１ｂ、検査部本体１ｃを有し、
コンピュータから構成される。操作部Ｉと収納箱２ａ、
２ｂ、２ｃ・・・は一定距離能れた場所に配設され、両
者は伝送路５で結ばれている。４ａ。
部本体１ａ、管理部本体１ｂ、検査部本体１ｃを有し、
コンピュータから構成される。操作部Ｉと収納箱２ａ、
２ｂ、２ｃ・・・は一定距離能れた場所に配設され、両
者は伝送路５で結ばれている。４ａ。
４ｂ・・・は収納箱２ ａ、 ２ ｂ、・・・内に設け
られた被検査プリント基板群である。なお、収納箱２
ａ、 ２ ｂ、・・・に設けられている設定情報記憶部
３ ａ、 ３ ｂ、・・・としてはプリント基板の種類
１枚数等の設定ができる機能を有する検査用プリント基
板か使用される。
られた被検査プリント基板群である。なお、収納箱２
ａ、 ２ ｂ、・・・に設けられている設定情報記憶部
３ ａ、 ３ ｂ、・・・としてはプリント基板の種類
１枚数等の設定ができる機能を有する検査用プリント基
板か使用される。
次に上記のように構成した実施例の動作を第３図のフロ
ーチャートを用いて述べる。
ーチャートを用いて述べる。
まずステップＳ１で、各収納箱２ ａ、 ２ ｂ、 ２
ｃ・・・に操作部ｌからプリント基板の種類はどのよ
うな種類のものであるかの問い合わせを行って、記憶部
３ａ、３ｂ、３ｃ・・・から、その種類情報を操作部ｌ
に読込む処理を行う。このステップＳ、の処理の後、ス
テップＳ２に進んで、プリント基板の枚数情報を操作部
ｌに読込む。操作部１ではステップＳ１゜Ｓ２で読込ん
だ内容から各収納箱２ ａ、 ２ ｂ、 ２ ｃ・・・
へ送る機能診断プログラムの選択の処理をステップＳ３
で行う。ステップＳ３で選択した診断プログラムは伝達
路５を介して収納箱２ ａ、 ２ ｂ、 ２ ｃ・・・
へ転送する。この転送処理がステップＳ４である。
ｃ・・・に操作部ｌからプリント基板の種類はどのよ
うな種類のものであるかの問い合わせを行って、記憶部
３ａ、３ｂ、３ｃ・・・から、その種類情報を操作部ｌ
に読込む処理を行う。このステップＳ、の処理の後、ス
テップＳ２に進んで、プリント基板の枚数情報を操作部
ｌに読込む。操作部１ではステップＳ１゜Ｓ２で読込ん
だ内容から各収納箱２ ａ、 ２ ｂ、 ２ ｃ・・・
へ送る機能診断プログラムの選択の処理をステップＳ３
で行う。ステップＳ３で選択した診断プログラムは伝達
路５を介して収納箱２ ａ、 ２ ｂ、 ２ ｃ・・・
へ転送する。この転送処理がステップＳ４である。
転送された診断プログラムによりステップＳ５で試験が
開始される。ステップＳ８は試験か終了したか否かの判
断処理部で、試験が終了したときにはＥ Ｎ Ｄ部に行
き、否なら各収納箱２ ａ、 ２ ｂ、２ｃ・・・の試
験状況を読込む処理のステップＳ７に進む。
開始される。ステップＳ８は試験か終了したか否かの判
断処理部で、試験が終了したときにはＥ Ｎ Ｄ部に行
き、否なら各収納箱２ ａ、 ２ ｂ、２ｃ・・・の試
験状況を読込む処理のステップＳ７に進む。
ステップＳ、の状況から被検査プリント基板の良否判定
処理のステップＳ８に進む。ステップＳ、でプリント基
板の良否が判定されたならステップＳ。
処理のステップＳ８に進む。ステップＳ、でプリント基
板の良否が判定されたならステップＳ。
でプリントしてステップＳ、の処理に戻る。
上記のようにして収納箱２ ａ、 ２ ｂ、 ２ ｃ・
・・内のプリント基板の種類や枚数を予め記憶部３ ａ
、 ３ ｂ、３ｃ・・・に設定情報として入力しておく
ようにしたので、試験を間違いなく行うことができる。
・・内のプリント基板の種類や枚数を予め記憶部３ ａ
、 ３ ｂ、３ｃ・・・に設定情報として入力しておく
ようにしたので、試験を間違いなく行うことができる。
Ｈ６発明の効果
以上述べたように、この発明によれば、被検査プリント
基板の種類や収納枚数を予め設定情報として記憶部に記
憶させ、試験開始時に記憶部から設定情報を読込んで検
査用診断プログラムを選択するようにしたので、各収納
箱内の被検査プリント基板を間違いなく試験できその良
否の判定が確実にできるようにしたものである。
基板の種類や収納枚数を予め設定情報として記憶部に記
憶させ、試験開始時に記憶部から設定情報を読込んで検
査用診断プログラムを選択するようにしたので、各収納
箱内の被検査プリント基板を間違いなく試験できその良
否の判定が確実にできるようにしたものである。
第１図はこの発明の一実施例に示す構成図、第２図は第
１図の詳細を示す構成図、第３図は動作を説明するため
のフローチャートである。 １・・・操作部、２ ａ、 ２ ｂ、 ２ ｃ＝−収納
箱、３ ａ、 ３ ｂ。 ３ｃ・・・記憶部、４ａ、４ｂ、４ｃ・・・被検査プリ
ント基板群。 雷
１図の詳細を示す構成図、第３図は動作を説明するため
のフローチャートである。 １・・・操作部、２ ａ、 ２ ｂ、 ２ ｃ＝−収納
箱、３ ａ、 ３ ｂ。 ３ｃ・・・記憶部、４ａ、４ｂ、４ｃ・・・被検査プリ
ント基板群。 雷
Claims (1)
- （１）被検査プリント基板が収納された箱を複数個設け
、これら収容箱の被検査プリント基板を操作部からプリ
ント基板機能診断プログラムによって検査するプリント
基板の試験装置において、前記各収納箱に、被検査プリ
ント基板の機能や収納枚数を予め設定情報として記憶さ
せた記憶部を設け、試験開始時、記憶部の設定情報を用
いて機能診断プログラムから所望のプログラムを選択し
て被検査プリント基板の診断を行うようにしたプリント
基板の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62085580A JPS63250575A (ja) | 1987-04-07 | 1987-04-07 | プリント基板の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62085580A JPS63250575A (ja) | 1987-04-07 | 1987-04-07 | プリント基板の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63250575A true JPS63250575A (ja) | 1988-10-18 |
Family
ID=13862747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62085580A Pending JPS63250575A (ja) | 1987-04-07 | 1987-04-07 | プリント基板の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63250575A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0390985A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Dainippon Printing Co Ltd | Ｉｃカードのテスト装置 |
| JPH0390983A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Dainippon Printing Co Ltd | Ｉｃカードのテスト装置およびテストボード |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59122971A (ja) * | 1982-12-29 | 1984-07-16 | Fujitsu Ltd | プリント基板の自動検査方式 |
| JPS6148773A (ja) * | 1984-08-15 | 1986-03-10 | Fanuc Ltd | 供試装置識別手段を有する試験装置 |
-
1987
- 1987-04-07 JP JP62085580A patent/JPS63250575A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59122971A (ja) * | 1982-12-29 | 1984-07-16 | Fujitsu Ltd | プリント基板の自動検査方式 |
| JPS6148773A (ja) * | 1984-08-15 | 1986-03-10 | Fanuc Ltd | 供試装置識別手段を有する試験装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0390985A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Dainippon Printing Co Ltd | Ｉｃカードのテスト装置 |
| JPH0390983A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Dainippon Printing Co Ltd | Ｉｃカードのテスト装置およびテストボード |
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