JP2001208792A - バーンイン試験システム、バーンイン試験方法及び記憶媒体 - Google Patents

バーンイン試験システム、バーンイン試験方法及び記憶媒体

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JP2001208792A
JP2001208792A JP2000017404A JP2000017404A JP2001208792A JP 2001208792 A JP2001208792 A JP 2001208792A JP 2000017404 A JP2000017404 A JP 2000017404A JP 2000017404 A JP2000017404 A JP 2000017404A JP 2001208792 A JP2001208792 A JP 2001208792A
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Kazuhiko Yamada
策彦 山田
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Ando Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 バーンイン試験装置と挿抜機との間のI/F
(インターフェイス)の構築を容易にし、また、バーン
インボードの実装位置情報および測定結果等の各情報フ
ァイルのデータの受け渡しの際にミスを発生することが
なく、バーンイン試験を容易にする。 【解決手段】 情報ファイル21・22・23・24
を、対応するバーンインボード7に対応づけてファイル
サーバ2に記憶させ、ファイルサーバ2が一括管理する
ことにより、挿抜機3・6、バーンイン試験装置4・5
で情報ファイル21・22・23・24を共用する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バーンイン試験シ
ステム、バーンイン試験方法及び記憶媒体に関し、詳細
には、半導体集積回路のバーンインボードへの実装、バ
ーンイン試験およびバーンインボードからの抜去におけ
る各工程間でのインターフェイスに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、様々な電子機器に使用される半導
体集積回路(IC(Integrated Circuit)やLSI(La
rge Scale Integrated-circuit)等)は、抵抗、コンデ
ンサ、トランジスタ等の各素子の働きを、印刷、蒸着等
の方法により形成した回路によって実現するが、大量生
産される製品間には多少の特性のばらつきが生じる。そ
のため、このような半導体集積回路の特性が規格を満た
しているか否かを試験して良否判定することにより、半
導体集積回路の信頼性を確保する必要がある。この半導
体集積回路の試験、すなわちIC試験は、IC試験シス
テムにより行われる。
【0003】このようなIC試験システムの一形態とし
て、半導体集積回路(以下、DUT:Device Under Tes
t)を恒温槽の中に入れ、槽内のDUTに外部から電源
電圧や試験パターン信号を印加して試験するバーンイン
試験システムがある。
【0004】バーンイン試験システムにおいては、恒温
槽内の温度を一定に設定し、DUTに長時間にわたり試
験パターン信号を印加してストレスを加え、初期不良を
検出している。また、DUTの1個当たりの試験時間が
長いため、恒温槽内に数千個から一万個のDUTを収容
して試験時間を短縮させ、効率をあげている。
【0005】恒温槽内には、DUTに外部から電源電圧
や試験パターン信号等を印加するために、DUTを実装
するバーンインボードとよばれるボードがある。バーン
インボードには、1枚当たり数百個のDUTを実装する
ことができ、また、恒温槽内には数枚から数十枚のバー
インボードを収容することができる。
【0006】バーンインボードへのDUTの実装作業
は、自動的に実装作業をする挿抜機により実行される。
この挿抜機は、試験対象となるDUTをバーンインボー
ドへ実装すると共に、バーンインボード1枚分実装後
に、バーンインボードへDUTを実装した実装位置情報
を作成する。
【0007】バーンイン試験装置は、挿抜機で作成され
た実装位置情報をもとにDUTのバーンイン試験を行
い、バーンイン試験の結果であるパス/フェイルマップ
およびカテゴリ情報を作成する。また、バーンイン試験
装置は、バーンイン試験を実行する際、バーンインボー
ドへDUTを実装した部分は全て良品(パス)の状態と
して試験を開始する。
【0008】バーンイン試験装置による試験が終了する
と、抜去用の挿抜機は、バーンイン試験装置で作成され
たカテゴリ情報をもとにDUTをバーンインボードから
抜去し、複数のカテゴリに分類する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
バーンイン試験システムでは、使用するバーンインボー
ドの品種に応じたボードの仕様(row :縦の数、colum
n:横の数)を、使用する挿抜機ごとに入力する必要が
あった。
【0010】また、挿抜機で作成された実装位置情報、
バーンイン試験の結果であるパス/フェイルマップおよ
びカテゴリ情報は、FDを用いてデータの受け渡しが行
われていた。そのため、大量のバーンインボードを扱う
バーンイン試験においては、FDの受け渡しのミスや、
添付するFDの間違い等のミスを発生させ、作業効率を
悪くさせていた。また、複数台のバーンイン試験装置で
同一ロットのDUTを分散して測定する場合において
は、バーンインボードの実装位置情報の受け渡しミスが
発生することがあった。
【0011】さらに、バーンイン試験装置と挿抜機との
インターフェイス(以下、I/Fという)を構築する場
合において、使用する挿抜機の仕様にあわせてI/Fを
構築しなければならず、I/F構築のために多大なる工
数が発生していた。
【0012】本発明の課題は、バーンイン試験装置と挿
抜機との間のI/Fの構築を容易にし、また、バーンイ
ンボードの実装位置情報および測定結果等のデータの受
け渡しの際にミスを発生することがなく、バーンイン試
験を容易にすることである。
【0013】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、請求項1記載の発明は、複数の被試験デバイスを
バーンインボード(例えば、図1のバーンインボード
7)上に搬送して配置すると共に、当該バーンインボー
ドから複数の被試験デバイスを搬出するデバイス搬送/
搬出装置(例えば、図1の挿抜機(挿入)3、挿抜機
(抜去)6)と、前記複数の被試験デバイスが配置され
るバーンインボードを恒温槽に収納し、当該複数の被試
験デバイスに試験信号を印加してバーンイン試験を実行
するバーンイン試験装置(例えば、図1のバーンイン試
験装置4および5)と、前記デバイス搬送/搬出装置お
よび前記バーンイン試験装置と通信回線(例えば、図1
のネットワーク1)を介して接続され、前記通信回線を
介して前記デバイス搬送/搬出装置から送信される前記
複数の被試験デバイスの配置情報(例えば、図1の実装
位置情報ファイル22)と、前記通信回線を介して前記
バーンイン装置から送信されるバーンイン試験結果(例
えば、図1のパス/フェイルマップファイル23、カテ
ゴリ情報ファイル24)と、を対応づけて記憶する記憶
手段を備える管理装置(例えば、図1のファイルサーバ
2)と、から構成されるバーンイン試験システム(例え
ば、図1のバーンイン試験システム10)であって、前
記管理手段は、前記バーンインボードの情報を含むマス
タファイル(例えば、図1のマスタファイル21)を作
成し、前期被試験デバイスの配置情報およびバーンイン
試験結果を、前記マスタファイルと対応づけて前記管理
装置の記憶手段に記憶することを特徴とする。
【0014】したがって、ファイルサーバが、使用する
バーンインボード毎に対応するマスタファイルを作成す
ることにより、バーンインボードを使用する度にその仕
様を入力する必要がなくなり、また、バーンインボード
を再使用する際においても、対応するマスタファイルを
再度読み出して使用することにより、容易にバーンイン
試験を実行できる。
【0015】また、マスタファイルに基づいて、バーン
インボードに対応する実装位置情報ファイル、パス/フ
ェイルマップファイルおよびカテゴリ情報ファイル等の
各情報ファイルを作成でき、対応する各情報ファイルの
管理が容易にできる。
【0016】さらに、複数のバーンイン試験装置間で各
情報ファイルを共有できるので、バーンイン試験の結果
を、以降実行するバーンイン試験に受け継ぐことが可能
になり、FDによるデータの受け渡しのミスを防止でき
る。
【0017】しかも、使用するバーンインボードの品種
または枚数の違い、さらに、使用するバーンイン試験装
置の性能または数の違いに関係なく、このバーンイン試
験システムを適用できるので、異なるI/F毎に行って
いたI/F構築の手間を大幅に削減できる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明の実施
の形態を詳細に説明する。まず構成を説明する。
【0019】図1において、バーンイン試験システム1
0は、ファイルサーバ2、挿抜機(挿入)3、バーンイ
ン試験装置4・5、挿抜機(抜去)6およびバーンイン
ボード7により構成される。そして、これらの各部は、
ネットワーク1により接続されている。
【0020】バーンインボード7は、複数のDUTを実
装することができる。バーンインボード7上へのDUT
の実装は挿抜機(挿入)3によって実行され、DUTの
実装位置は実装位置情報ファイル22に登録される。ま
た、挿抜機(挿入)3によってDUTを実装されたバー
ンインボード7は、バーンイン試験装置4・5が有する
恒温槽内にセットされる。そして、試験済みのDUT
は、挿抜機(抜去)6により、抜去される。
【0021】バーンイン試験装置4・5は、各構成部を
制御する試験制御部、試験制御部が実行するための試験
プログラムとしての測定処理プログラムや試験結果等を
記憶する試験装置記憶部、バーンインボード7をセット
する恒温槽、試験制御部から入力される指示信号に応じ
てこの恒温槽内の温度を一定に保つヒータ部等から、そ
れぞれ構成される。
【0022】また、恒温槽には、槽内にセットされるバ
ーンインボード7に試験制御部から入力される電源電圧
や試験パターン信号を供給するための試験信号入力端子
が設けられている。
【0023】また、バーンイン試験装置4・5は、恒温
槽内にバーンインボード7がセットされ、かつ、ファイ
ルサーバ2から実装位置情報ファイル22を読み込む
と、試験装置記憶部に記憶された試験プログラムにした
がってバーンイン試験を実行する。そして、試験結果
を、パス/フェイルマップファイルおよびカテゴリ情報
ファイル24として、ファイルサーバ2に出力する。
【0024】挿抜機(挿入)3は、DUTを実装するバ
ーンインボード7に対応するマスタファイル21をファ
イルサーバ2から読み込み、マスタファイル21に基づ
いてバーンインボード7にDUTを実装するとともに、
DUTを実装した位置を登録する実装位置情報ファイル
22を作成し、ファイルサーバ2に出力する。そして、
DUTを実装したバーンインボード7を、バーンイン試
験装置4・5の恒温槽内にセットする。
【0025】挿抜機(抜去)6は、バーンイン装置4・
5から試験済みのバーンインボード7を受け継ぐと、フ
ァイルサーバ2から、対応するカテゴリ情報ファイル2
4を読み出し、この読み出したカテゴリ情報ファイル2
4に基づいて、バーンインボード7からDUTを除去
し、複数のカテゴリに分類する。
【0026】ファイルサーバ2は、ファイルサーバ2の
各構成部を制御する制御部、制御部から出力されるデー
タを表示する表示部、キーボードやマウス等によって入
力される情報を入力信号として制御部に出力する入力
部、制御部から指示されるデータや制御部が各種処理を
実行するためのプログラム等を記憶する記憶部等から構
成される。
【0027】また、ファイルサーバ2の記憶部には、マ
スタファイル21、実装位置情報ファイル22、パス/
フェイルマップファイル23およびカテゴリ情報ファイ
ル24が記憶され、ネットワーク1を介してバーンイン
試験装置4・5、挿抜機(挿入)3および挿抜機(抜
去)6とデータのやりとりを行う。
【0028】マスタファイル21は、ファイルサーバ2
によって作成され、バーンインボード7の品種、縦の
数、横の数およびシリアル番号等の情報が登録される。
【0029】実装位置情報ファイル22は、挿抜機(挿
入)3によって、バーンインボード7にDUTが実装さ
れた後に作成され、実装されたDUTの位置等が登録さ
れる。
【0030】パス/フェイルマップファイル23は、フ
ァイルサーバ2によって、実装位置情報ファイル22に
基づいて作成され、バーンインボード7上に実装したD
UTが良品(パス)または不良品(フェイル)のどちら
であるかが登録される。また、初期設定として、全ての
DUTは良品(パス)と設定され、バーンイン試験装置
4・5によりバーンイン試験が実行されると、その試験
結果に応じて設定変更される。
【0031】カテゴリ情報ファイル24は、バーンイン
試験装置4・5によりバーンイン試験が終了すると、そ
の試験結果に応じて作成される。そして、このカテゴリ
情報ファイル24に基づいて、挿抜機(抜去)6はバー
ンインボード7上から試験済みのDUTを抜去・分類す
る。
【0032】すなわち、バーンインボード毎に対応する
マスタファイル21、実装位置情報ファイル22、パス
/フェイルマップファイル23およびカテゴリ情報ファ
イル24が作成され、対応づけられてファイルサーバ2
の記憶部に記憶される。
【0033】また、ファイルサーバ2は、使用するバー
ンインボード7に対応するマスタファイル21を作成
し、記憶部に記憶する。そして、挿抜機(挿入)3から
入力される実装位置情報ファイル22を、マスタファイ
ル21に対応づけて記憶部に記憶し、この実装位置情報
ファイル22に基づいて対応するパス/フェイルマップ
ファイル23を作成し、記憶部に記憶する。
【0034】また、バーンイン試験装置4・5から更新
されたパス/フェイルマップファイル23およびカテゴ
リ情報ファイル24が入力されると、記憶部に記憶され
ている、対応するパス/フェイルマップファイル23を
更新し、フェイルが発生したDUTにはフェイル情報を
付加して記憶する。また、入力されるカテゴリ情報ファ
イル24を記憶部に記憶する。
【0035】次に動作を説明する。本実施の形態におけ
るバーンイン試験システム10の、挿抜機(挿入)3、
挿抜機(抜去)6、ファイルサーバ2およびバーンイン
試験装置4・5の動作を、図2に示すフローチャートに
より説明する。
【0036】まず、ファイルサーバ2は、バーンイン試
験を行うバーンインボード7の品種、縦の数、横の数お
よびシリアル番号などの情報を登録したマスタファイル
21を作成し(ステップS12)、ファイルサーバ2の
記憶部に記憶する。
【0037】次に、挿抜機(挿入)3は、ネットワーク
1を介してファイルサーバ2から、DUTを実装するバ
ーンインボード7に対応するマスタファイル21を読み
出す(ステップS21)。そして、挿抜機(挿入)3
は、読み出したマスタファイル21に基づいてバーンイ
ンボード7上にDUTを実装し(ステップS22)、こ
の実装したDUTの位置を登録する実装位置情報ファイ
ル22を作成し(ステップS23)、ネットワーク1を
介してファイルサーバ2に出力する。
【0038】ファイルサーバ2は、ネットワーク1を介
して挿抜機(挿入)3から入力される実装位置情報ファ
イル22を、マスタファイル21に対応づけて記憶部に
記憶し(ステップS14)、実装位置情報ファイル22
を基づいて、パス/フェイルマップファイル23を作成
し(ステップS15)、マスタファイル21に対応づけ
て記憶部に記憶する。
【0039】この時、パス/フェイルマップファイル2
3において、全てのDUTは良品(パス)に初期設定す
る。
【0040】そして、バーンイン試験装置4・5は、D
UTが実装されたバーンインボード7が挿抜機(挿入)
3により恒温槽内にセットされると、ネットワーク1を
介して、ファイルサーバ2から実装位置情報ファイル2
2を読み出し(ステップS31)、実装されたDUTに
対するバーンイン試験を実行する(ステップS32)。
【0041】バーンイン試験が終了すると、バーンイン
試験装置4・5は、試験結果に基づいてパス/フェイル
マップファイル23を作成し(ステップS33)、ネッ
トワーク1を介してファイルサーバ2に出力する。
【0042】また、バーンイン試験装置4・5は、試験
結果に基づいてカテゴリ情報ファイル24を作成し(ス
テップS34)、ネットワーク1を介してファイルサー
バ2に出力する。
【0043】ファイルサーバ2は、バーンイン装置4・
5からネットワーク1を介して、パス/フェイルマップ
ファイル23およびカテゴリ情報ファイル24が入力さ
れると、フェイルが発生したDUTにはフェイル情報を
付加して、ファイルサーバ2上のパス/フェイルマップ
ファイル23の内容を更新する(ファイルS17)。
【0044】また、ファイルサーバ2は、入力されたカ
テゴリ情報ファイル24を記憶部に記憶する(ステップ
S18)。
【0045】そして、挿抜機(抜去)6は、ネットワー
ク1を介してファイルサーバ2より、バーンイン装置4
・5により作成されたカテゴリ情報ファイル24を読み
出し(ステップS41)、このカテゴリ情報ファイル2
4に基づいてバーンインボード7から試験済みのDUT
を抜去・分類する(ステップS42)。
【0046】挿抜機(抜去)6は、全ての試験済みのD
UTについてバーンインボード7上からの抜去・分類が
終了すると、対応する実装位置情報ファイル22をファ
イルサーバ2より削除し、バーンイン試験処理を終了す
る。
【0047】本実施の形態においては、バーンインボー
ドが1枚の場合において説明を行ったが、もちろんこれ
は複数枚使用してもよい。その場合においては、ファイ
ルサーバ2は、使用する複数のバーンインボード7毎に
対応するマスタファイル21を作成し、また、実装位置
情報ファイル22、パス/フェイルマップファイル23
およびカテゴリ情報ファイル24は、この各マスタファ
イル21毎に対応づけて作成・記憶される。
【0048】また、挿抜機(挿入)3は、DUTの実装
を行う際に、バーンインボード7に対応するマスタファ
イル21をファイルサーバ2から読み出し、このマスタ
ファイル21に基づいてDUTを実装する。
【0049】バーンイン装置4・5は、バーンイン試験
を行う際に、バーンイン試験を行うバーンインボード7
に対応する実装位置情報ファイル22をファイルサーバ
2から読み出し、バーンイン試験する。
【0050】また、このバーンイン試験が終了すると、
パス/フェイルマップファイル23およびカテゴリ情報
ファイル24を作成し、ファイルサーバ2に出力する。
【0051】ファイルサーバ2は、入力されるパス/フ
ェイルマップファイル23およびカテゴリ情報ファイル
24を、対応するバーンインボード7に対応づけて記憶
する。
【0052】また、本実施の形態においては、バーンイ
ン試験装置を2台使用する場合において説明をしたが、
もちろんこれは何台でも良いし、使用するバーンイン試
験装置は、それぞれ異なる性能等を持っていてもかまわ
ない。
【0053】以上のように、ファイルサーバ2が、使用
するバーンインボード7毎に対応するマスタファイル2
1を作成することにより、バーンイン試験をする際に、
バーンインボード7を使用する度にその仕様を入力する
必要がなくなり、また、バーンインボード7を再度使用
する際においても、対応するマスタファイル21を再度
読み出して使用することにより、容易にバーンイン試験
を実行できる。
【0054】また、マスタファイル21に基づいて、バ
ーンインボード7毎に対応する実装位置情報ファイル2
2、パス/フェイルマップファイル23およびカテゴリ
情報ファイル24等の各情報ファイルを作成することに
より、各情報ファイルの判別・管理を容易に実行でき
る。
【0055】また、実装位置情報ファイル22は、DU
Tを実装するバーンインボード7のマスタファイル21
に対応して作成されるので、同一ロッドのバーンインボ
ード7を複数使用する場合でも、実装位置情報ファイル
22の受け渡しミスを防止できる。
【0056】さらに、各挿抜機3および6、複数のバー
ンイン試験装置4・5で各情報ファイルを共有できるの
で、バーンイン試験の結果を、以降実行するバーンイン
試験装置が受け継ぐことが可能になる。
【0057】例えば、全てのバーンイン試験装置に良品
(パス)の判定されたDUTのみを選別したい場合、一
度フェイル(不良品)と判定されたDUTは以降のバー
ンイン試験の対象から除外できるので、バーンイン試験
の効率をアップできる。
【0058】また、使用するバーンインボードの品種ま
たは枚数の違い、さらに、使用するバーンイン試験装置
の性能または数の違い等に関係なく、このバーンイン試
験システムを適用できる。このため、異なるI/F毎に
行っていたI/F構築の手間を大幅に削減できる。
【0059】
【発明の効果】請求項1、3および5記載の発明によれ
ば、ファイルサーバが、使用するバーンインボード毎に
対応するマスタファイルを作成することにより、バーン
インボードを使用する度にその仕様を入力する必要がな
くなる。また、バーンインボードを再使用する際におい
ても、対応するマスタファイルを再度読み出して使用す
ることにより、容易にバーンイン試験を実行できる。
【0060】また、マスタファイルに基づいて、バーン
インボードに対応する実装位置情報ファイル、パス/フ
ェイルマップファイルおよびカテゴリ情報ファイル等の
各情報ファイルを作成でき、対応する各情報ファイルの
管理が容易にできる。
【0061】さらに、複数のバーンイン試験装置間で各
情報ファイルを共有できるので、バーンイン試験の結果
を、以降実行するバーンイン試験に受け継ぐことが可能
になり、FDによるデータの受け渡しのミスを防止でき
る。
【0062】しかも、使用するバーンインボードの品種
または枚数の違い、さらに、使用するバーンイン試験装
置の性能または数の違いに関係なく、このバーンイン試
験システムを適用できる。したがって、異なるI/F毎
に行っていたI/F構築の手間を大幅に削減できる。
【0063】請求項2、4および6記載の発明によれ
ば、対応するマスタファイルに基づいて、バーンインボ
ード上に被試験デバイスを配置でき、実装位置情報ファ
イルをバーンインボード毎に対応づけて作成・記憶でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】バーンイン試験システムの内部構成を示すブロ
ック図である。
【図2】各挿抜機、ファイルサーバおよびバーンイン試
験装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
10 バーンイン試験システム 1 ネットワーク 2 ファイルサーバ 21 マスタファイル 22 実装位置情報ファイル 23 パス/フェイルマップファイル 24 カテゴリ情報ファイル 3 挿抜機(挿入) 4、5 バーンイン試験装置 6 挿抜機(抜去) 7 バーンインボード

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の被試験デバイスをバーンインボード
    上に搬送して配置すると共に、当該バーンインボードか
    ら複数の被試験デバイスを搬出するデバイス搬送/搬出
    装置と、 前記複数の被試験デバイスが配置されるバーンインボー
    ドを恒温槽に収納し、当該複数の被試験デバイスに試験
    信号を印加してバーンイン試験を実行するバーンイン試
    験装置と、 前記デバイス搬送/搬出装置および前記バーンイン試験
    装置と通信回線を介して接続され、前記通信回線を介し
    て前記デバイス搬送/搬出装置から送信される前記複数
    の被試験デバイスの配置情報と、前記通信回線を介して
    前記バーンイン試験装置から送信されるバーンイン試験
    結果と、を対応づけて記憶する記憶手段を備えた管理装
    置と、 から構成されるバーンイン試験システムであって、 前記管理装置は、前記バーンインボードの情報を記憶す
    るマスタファイルを作成し、前記被試験デバイスの配置
    情報およびバーンイン試験結果を、前記マスタファイル
    と対応づけて前記記憶手段に記憶することを特徴とする
    バーンイン試験システム。
  2. 【請求項2】前記デバイス搬送/搬出装置は、前記管理
    装置の記憶手段に記憶される前記マスタファイルを読み
    出し、当該マスタファイルに基づいて、前記バーンイン
    ボード上に前記複数の被試験デバイスを配置することを
    特徴とする請求項1記載のバーンイン試験システム。
  3. 【請求項3】複数の被試験デバイスをバーンインボード
    上に搬送して配置すると共に、当該バーンインボードか
    ら複数の被試験デバイスを搬出するデバイス搬送/搬出
    工程と、 前記複数の被試験デバイスが配置されるバーンインボー
    ドを恒温槽に収納し、当該複数の被試験デバイスに試験
    信号を印加してバーンイン試験を実行するバーンイン試
    験工程と、 通信回線を介して送信される前記複数の被試験デバイス
    の配置情報とバーンイン試験結果とを対応づけて管理す
    る管理工程と、 を備えるバーンイン試験方法であって、 前記管理工程において、前記バーンインボードの情報を
    記憶するマスタファイルを作成し、前記被試験デバイス
    の配置情報およびバーンイン試験結果を、前記マスタフ
    ァイルと対応づけて記憶する記憶工程を含むことを特徴
    とするバーンイン試験方法。
  4. 【請求項4】前記記憶工程に続き、前記マスタファイル
    を読み出し、当該マスタファイルに基づいて、前記バー
    ンインボード上に前記複数の被試験デバイスを配置する
    配置工程をさらに含むことを特徴とする請求項3記載の
    バーンイン試験方法。
  5. 【請求項5】デバイス搬送/搬出装置により、複数の被
    試験デバイスをバーンインボード上に搬送して配置する
    と共に、当該バーンインボードから複数の被試験デバイ
    スを搬出し、 バーンイン試験装置により、前記複数の被試験デバイス
    が配置されるバーンインボードを恒温槽に収納し、当該
    複数の被試験デバイスに試験信号を印加してバーンイン
    試験を実行し、 前記デバイス搬送/搬出装置および前記バーンイン試験
    装置と通信回線を介して接続される管理装置により、前
    記通信回線を介して前記デバイス搬送/搬出装置から送
    信される前記複数の被試験デバイスの配置情報と、前記
    通信回線を介して前記バーンイン試験装置から送信され
    るバーンイン試験結果と、を対応づけて管理するバーン
    イン試験を制御するためのコンピュータが実行可能なプ
    ログラムを格納した記憶媒体であって、 前記バーンインボードの情報を記憶するマスタファイル
    を作成し、前記被試験デバイスの配置情報およびバーン
    イン試験結果を、前記マスタファイルに対応づけて記憶
    するためのプログラムコードを含むプログラムを格納し
    たことを特徴とする記憶媒体。
  6. 【請求項6】記憶された前記マスタファイルを読み出
    し、当該マスタファイルに基づいて、前記バーンインボ
    ード上に前記複数の被試験デバイスを配置するためのプ
    ログラムコードをさらに格納したことを特徴とする請求
    項5記載の記憶媒体。
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