JPS59122971A - プリント基板の自動検査方式 - Google Patents

プリント基板の自動検査方式

Info

Publication number
JPS59122971A
JPS59122971A JP57229683A JP22968382A JPS59122971A JP S59122971 A JPS59122971 A JP S59122971A JP 57229683 A JP57229683 A JP 57229683A JP 22968382 A JP22968382 A JP 22968382A JP S59122971 A JPS59122971 A JP S59122971A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
inspection
type
inspected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57229683A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Hidaka
日高 博士
Takaaki Ogawa
孝明 小川
Kenji Doi
土居 研二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57229683A priority Critical patent/JPS59122971A/ja
Publication of JPS59122971A publication Critical patent/JPS59122971A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ta+  発明の技術分野 本発明はプリント基板の自動検査方式に関する。
tb>  従来技術と問題点 プリント基板の検査は、検査装置に設けられたストノカ
に収容された多数のプリント基板を、順次検査台上に移
送し、該検査台上において予め作成された検査プログラ
ムに従って各種検査を行い、被検査プリント基板の良否
を判定する。この間の操作は総て自動的に行われる。
ところがプリント基板の種類は多岐にわたるため、プリ
ント基板の製造は通當多品種少量生産とならざるを得な
い。そのため上記検査工程においては被検査プリント基
板の種別が頻繁に変わることとなり、その度に検査プロ
グラムの変更を要する。従来のプリント基板の自動検査
方式においては、この被検査プリント基板の変更に伴う
検査プログラムの変更の際に人間が介在せざるを得す、
従って被検査対象プリント基板の種別の管理には細心の
注意を要するのみならず、検査工程の能率及び自動検査
装置の稼働率は必ずしも満足し得るものではなかった。
tc)発明の目的 本発明の目的は被検査プリント基板の種別の識別及び対
応する検査プログラムの選択を自動的に行うことの出来
るプリント基板の自動検査方式を提供することにある。
+d)  発明の構成 本発明の特徴は、被処理プリント基板を検査装置に予め
格納された検査プログラムに従って順次検査を行うに当
り、前記被処理プリント基板の所定位置に予め識別指標
を付しておき、且つ、前記検査装置に検査すべきプリン
ト基板の種別に対応した検査プログラムを予め格納して
おくと共に、前記被処理プリント基板の識別手段とプロ
グラム選択手段とを設け、前記識別手段により前記被処
理プリント基板に設けられた識別指標を読み取ることに
より検査すべきプリント基板の種別を検知し、前記プロ
グラム選択手段により前記検知された被処理プリント基
板の種別に対応せる検査プログラムを選択することにあ
る。
+8)  発明の実施例 以下本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する。
第1図及び第2図は本発明の一実施例に使用したプリン
ト基板の自動検査装置の構成を示すブロック図、及びプ
リント基板を示す平面図である。
第1図及び第2図において、1はプリント基板、2、 
3. 4はそれぞれプリント基板の自動検査装置の制御
部、検査部、給材機構部、5はストッカ、6はコンベア
ベルト、7は検査台、8は中央処理装置(CPU)、、
9は主記憶装置(メモリ)、lOは磁気ディスク11.
磁気テープ12等からなる補助記憶装置で、以上の構成
は従来のプリント基板の自動検査装置と変わるところは
ない。本実施例ではこれに更にプリント基板1の識別手
段13を設けるとともに、プリント基板1の一主面の所
定位置にプリント基板1の種別を示す識別指標14を付
した。
上記識別指標14はプリント基板1の種別に対応して付
与したコードを示す指標であって、例えばバーコード、
カラーコード、OCRカード等を用いることが出来る。
識別手段13は上記識別指標14を読み取る装置であっ
て、プリント基板の自動検査装置の給材機構4を構成す
るストッカ5上に配設され、該ストッカ5内に収容され
た被検査プリント基板1の識別指標14を読み取って当
該プリント基板1の種別を検知し、検知した種別を自動
検査装置の制御部2に通知する。
制御部2はcpui、主記憶装置9.補助記憶装置lO
等を具備して構成され、予めプリント基板1の各種別に
対応して作成された検査プログラムに従って自動検査装
置の動作を制御する。
検査部3には被検査プリント基板1の検査台7が設けら
れ、該検査台上において所定の検査を行う。
給材機構4は被検査プリント基板1を上記検査一台7上
に順次移送する装置であって、多数の被検査プリント基
板1を収容するストッカ5.プリント基板1を移動させ
るためのコンベアヘルド6等が配設されている。
上述の如く構成された本実施例の自動検査装置によるプ
リント基板1の自動検査の手順を説明する。
被検査プリント基板1は上述の如くストッカ5内に収容
されることは従来と変わりはないが、本実施例ではプリ
ント基板1の種別を意識する必要はない。即ち、同一ス
トッカ5内に種別の異なるプリント基板1を収容しても
差支えない。
給材機構4の所定位置にストッカ5が装着されると、ま
ず識別手段13は最上段のプリント基板1の識別指標1
4を読み取り、被検査対象のプリント基板1の種別を検
知し、これを制御部2に通知する。
制御部2は、予めプリント基板の種別に対応して作成さ
れ補助記憶装置10に格納されている検査プログラムの
うちから、上記検知された被検査プリント基板1の種別
に対応する検査プログラムを選択して主記憶装置9にロ
ードし、以後制御部2はこの検査プログラムに従って自
動検査装置を制御する。この工程で若し主記憶装置9が
十分大きい容量を有するならば、上記複数種の検査プロ
グラムの総てをサブルーチンとして主記憶装置9にロー
ドしておき、この中から上記検知された被検査プリント
基板1の種別に対応した検査プログラムを選択して使用
するようにしても良いことは勿論である。
一方識別手段により種別を検知された被検査プリント基
板1はコンベアベルト6等を介して移送され、検査台7
上に載置される。
検査台7上に被検査プリント基板1が載置されると、制
御部2は上述のように選択され準備された検査プログラ
ムに従って検査部3を制御し、上記被検査プリント基板
1の検査を実施せしめる。
検査を終了したプリント基板1は、その良否に応じて設
けられた所定の収容容器(図示せず)等に移送される。
上記プリント基板1の検査を実行中、或いは検査が終了
次第、識別手段13は次のプリント基板1の種別を検知
し、制御部に通知する。この検知された種別が前の種別
と同一の場合は、制御部は先に準備した検査プログラム
に従って制御を行い、もし種別が異なる場合には、新た
に検知された種別に対応する検査プログラムを選択し、
主記憶装置9に準備し、この検査プログラムに従って以
後の検査を制御する。
以上のように本実施例では被検査プリント基板1の種別
に応じて自動的に検査プログラムが選択され、従来のよ
うにプリント基板1の種別が変わるたびに人手を介して
検査プログラムを変更する必要がなくなった。そのため
多品種少量生産の場合においても、プリント基板の自動
検査を能率よく行うことが出来、また自動検査装置の稼
働率が向上した。
なおここでいうプリント基板とは、回路部品搭載前およ
び回路部品搭載後のプリント基板の何れをも含む。即ち
本発明に係るプリント基板の自動検査方式は、回路部品
の搭載の有無にかかわらず使用し得るものである。
(f)  発明の詳細 な説明した如く本発明により、プリント基板の自動検査
工程において、被検査プリント基板の種別に対応して検
査プログラムを自動的に選択することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るプリント基板の自動検査方式の一
実施例を示すブロック図、第2図は上記一実施例におけ
るプリント基板の識別指標を示す平面図である。 図において、1はプリント基板、2. 3. 4はそれ
ぞれプリント基板の自動検査装置の構成を示すブロック
図、5はストッカ、14はプリント基板の識別指標を示
す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被処理プリント基板を検査装置に予め格納された検査プ
    ログラムに従って順次検査を行うに当り、前記被処理プ
    リント基板の所定位置に予め識別指標を付しておき、且
    つ、前記検査装置に検査すべきプリント基板の種別に対
    応した検査プログラムを予め格納しておくと共に、前記
    被処理プリント基板の識別手段とプログラム選択手段と
    を設け、前記識別手段により前記被処理プリント基板に
    設けられた識別指標を読み取ることにより検査すべきプ
    リント基板の種別を検知し、前記プログラム選択手段に
    より前記検知された被処理プリント基板の種別に対応せ
    る検査プログラムを選択することを特徴とするプリント
    基板の自動検査方式。
JP57229683A 1982-12-29 1982-12-29 プリント基板の自動検査方式 Pending JPS59122971A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57229683A JPS59122971A (ja) 1982-12-29 1982-12-29 プリント基板の自動検査方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57229683A JPS59122971A (ja) 1982-12-29 1982-12-29 プリント基板の自動検査方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59122971A true JPS59122971A (ja) 1984-07-16

Family

ID=16896052

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57229683A Pending JPS59122971A (ja) 1982-12-29 1982-12-29 プリント基板の自動検査方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59122971A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61256264A (ja) * 1985-05-09 1986-11-13 Panafacom Ltd 配線基板のテストプログラムロ−デイング装置
JPS62263479A (ja) * 1986-05-10 1987-11-16 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Ic検査システム
JPS63250575A (ja) * 1987-04-07 1988-10-18 Meidensha Electric Mfg Co Ltd プリント基板の試験装置
JPH01292270A (ja) * 1988-05-19 1989-11-24 Tokyo Electron Ltd プローブ装置
US4999578A (en) * 1988-01-20 1991-03-12 Nec Home Electronics Ltd. Function inspecting system

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5730964A (en) * 1980-08-01 1982-02-19 Automob Antipollut & Saf Res Center Inspecting device for printed circuit board

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5730964A (en) * 1980-08-01 1982-02-19 Automob Antipollut & Saf Res Center Inspecting device for printed circuit board

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61256264A (ja) * 1985-05-09 1986-11-13 Panafacom Ltd 配線基板のテストプログラムロ−デイング装置
JPS62263479A (ja) * 1986-05-10 1987-11-16 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Ic検査システム
JPS63250575A (ja) * 1987-04-07 1988-10-18 Meidensha Electric Mfg Co Ltd プリント基板の試験装置
US4999578A (en) * 1988-01-20 1991-03-12 Nec Home Electronics Ltd. Function inspecting system
JPH01292270A (ja) * 1988-05-19 1989-11-24 Tokyo Electron Ltd プローブ装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100243823B1 (ko) 반도체 장치의 테스트 핸들러
KR100371677B1 (ko) 검사장치
US6078188A (en) Semiconductor device transporting and handling apparatus
JPS59122971A (ja) プリント基板の自動検査方式
US6901311B2 (en) Device for characterizing component stores and method for using said device
JPH08150583A (ja) Ic移載装置つきオートハンドラ
JP2006319125A (ja) ウェハ検査方法及びその装置
JP3819993B2 (ja) ウエハ検査装置
JP3449564B2 (ja) 不良基板管理装置
KR20000004289A (ko) Pcb자동검사장치의 티칭데이타 설정방법 및 장치
JPS62240875A (ja) プリント板自動検査装置
JPS61196175A (ja) 品種自動切換えオ−トハンドラ
JPH08274499A (ja) 実装基板検査方法とその装置
JPH021141A (ja) プローブ装置
JPS62244191A (ja) プリント板自動検査装置
JP2606095B2 (ja) Ic分類挿抜機
JPH04342198A (ja) 電子部品の極性識別装置
JPS62244190A (ja) プリント板自動検査装置
JPH085713A (ja) 多品種・複数の実装基板の自動連続検査装置
JPH0537188A (ja) 電子部品実装方法及び装置
JPS62240874A (ja) プリント板自動検査装置
JPH067568B2 (ja) プローバの制御方法
KR100595139B1 (ko) 프루브 카드의 아이디 인식 장치 및 그 인식 방법
JPH02239013A (ja) 製品仕分け装置
JPS58218132A (ja) 半導体ウエ−ハ特性検査処理方法