JP2606095B2 - Ｉｃ分類挿抜機 - Google Patents
Ｉｃ分類挿抜機Info
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- JP2606095B2 JP2606095B2 JP5234598A JP23459893A JP2606095B2 JP 2606095 B2 JP2606095 B2 JP 2606095B2 JP 5234598 A JP5234598 A JP 5234598A JP 23459893 A JP23459893 A JP 23459893A JP 2606095 B2 JP2606095 B2 JP 2606095B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣの機能検査を行な
うに先立ってＩＣをトレーあるいはマガジン等の収納部
から検査用のボードへ装着したり、機能検査が終了した
ボードからＩＣを抜き取り検査結果に応じて所定の収納
部に収納するＩＣ分類挿抜機に関する。
うに先立ってＩＣをトレーあるいはマガジン等の収納部
から検査用のボードへ装着したり、機能検査が終了した
ボードからＩＣを抜き取り検査結果に応じて所定の収納
部に収納するＩＣ分類挿抜機に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のＩＣ分類挿抜機として
は、図３に示すようなものがある。図３は、従来のＩＣ
分類挿抜機のブロック図である。図３に示すように従来
のＩＣ分類挿抜機は、ＩＣの機能検査を行なう際に用い
られる検査用ボード（不図示）にＩＣを装着したり、検
査後の検査用ボードからＩＣを抜き取って所定の位置に
収納する挿抜動作部１１１と、挿抜動作部１１１に制御
指令を出力する制御部１１２と、上位装置であるホスト
コンピュータ（不図示）の情報格納部１１４に格納され
ている、検査用ボードの不良ソケット情報や、ＩＣの検
査結果等の情報を管理し、所定の情報を制御部１１２へ
出力するデータ管理部１１３とを有する。なお、検査用
ボードは、検査の対象となるＩＣの種類に応じて複数種
類用意され、それぞれが、複数のＩＣを装着可能なよう
に複数のソケットを有するとともに、識別コード等によ
り識別可能となっている。また、情報格納媒体１１４に
格納されている検査結果のデータは、検査用ボードのソ
ケットの位置と、そのソケットに装着されているＩＣの
検査結果とを対応させて格納されている。
は、図３に示すようなものがある。図３は、従来のＩＣ
分類挿抜機のブロック図である。図３に示すように従来
のＩＣ分類挿抜機は、ＩＣの機能検査を行なう際に用い
られる検査用ボード（不図示）にＩＣを装着したり、検
査後の検査用ボードからＩＣを抜き取って所定の位置に
収納する挿抜動作部１１１と、挿抜動作部１１１に制御
指令を出力する制御部１１２と、上位装置であるホスト
コンピュータ（不図示）の情報格納部１１４に格納され
ている、検査用ボードの不良ソケット情報や、ＩＣの検
査結果等の情報を管理し、所定の情報を制御部１１２へ
出力するデータ管理部１１３とを有する。なお、検査用
ボードは、検査の対象となるＩＣの種類に応じて複数種
類用意され、それぞれが、複数のＩＣを装着可能なよう
に複数のソケットを有するとともに、識別コード等によ
り識別可能となっている。また、情報格納媒体１１４に
格納されている検査結果のデータは、検査用ボードのソ
ケットの位置と、そのソケットに装着されているＩＣの
検査結果とを対応させて格納されている。
【０００３】データ管理部１１３は、さらに、検査用ボ
ードに対するＩＣの挿抜を行なう際に挿抜動作部１１１
の動作に必要な位置データを検査用ボードの品種毎に格
納し、必要に応じて制御部１１２へ送信する位置データ
管理手段１２１と、情報格納媒体１１４から検査用ボー
ドの不良ソケット情報やＩＣの検査結果を取り出し、制
御部１１２に送信する動作条件設定手段１２３と、制御
部１１２からの情報を収集し、このＩＣ分類挿抜機の動
作状態を表示したり監視するシステム監視手段１２５
と、システム監視手段１２５で収集した情報を管理する
稼動管理手段１２６とで構成されている。
ードに対するＩＣの挿抜を行なう際に挿抜動作部１１１
の動作に必要な位置データを検査用ボードの品種毎に格
納し、必要に応じて制御部１１２へ送信する位置データ
管理手段１２１と、情報格納媒体１１４から検査用ボー
ドの不良ソケット情報やＩＣの検査結果を取り出し、制
御部１１２に送信する動作条件設定手段１２３と、制御
部１１２からの情報を収集し、このＩＣ分類挿抜機の動
作状態を表示したり監視するシステム監視手段１２５
と、システム監視手段１２５で収集した情報を管理する
稼動管理手段１２６とで構成されている。
【０００４】次に、このＩＣ分類挿抜機の動作について
説明する。ＩＣ分類挿抜機の動作としては、トレーやマ
ガジン等の収納部に収納されているＩＣを、機能検査を
行なうために検査用ボードに装着する作業（以下、「入
り作業」という）と、ＩＣの機能検査終了後に、検査用
ボードから機能検査が終了したＩＣを抜き取り、そのＩ
Ｃを検査結果に応じて所定の収納部に収納して分類する
作業（以下、「出作業」という）とがある。
説明する。ＩＣ分類挿抜機の動作としては、トレーやマ
ガジン等の収納部に収納されているＩＣを、機能検査を
行なうために検査用ボードに装着する作業（以下、「入
り作業」という）と、ＩＣの機能検査終了後に、検査用
ボードから機能検査が終了したＩＣを抜き取り、そのＩ
Ｃを検査結果に応じて所定の収納部に収納して分類する
作業（以下、「出作業」という）とがある。
【０００５】入り作業の場合は、始めに、挿抜動作部１
１１に検査前のＩＣが収納された収納部と、ＩＣが装着
されていない検査用ボードをセットしておく。この状態
でＩＣ分類挿抜機を動作させると、動作条件設定手段１
２３は、セットされている検査用ボードの不良ソケット
情報を情報格納媒体１１４から取り出し、制御部１１２
に必要なデータに変換して制御部１１２へ出力する。一
方で、挿抜動作部１１１の動作に必要な、検査用ボード
のソケットの位置データが位置データ管理手段１２１か
ら制御部１１２へ出力される。そして、制御部１１２か
ら挿抜動作部１１１に制御指令が出力され、この制御指
令に基づいて挿抜動作部１１１は、収納部からＩＣを取
り出して、検査用ボードの不良ソケット以外のソケット
に装着する。この挿抜動作部１１１の動作は、収納部の
ＩＣがなくなるまで繰り返され、ＩＣがなくなる前に検
査用ボードの全てのソケットにＩＣが装着されたら、同
様にして次の検査用ボードにＩＣが装着される。
１１に検査前のＩＣが収納された収納部と、ＩＣが装着
されていない検査用ボードをセットしておく。この状態
でＩＣ分類挿抜機を動作させると、動作条件設定手段１
２３は、セットされている検査用ボードの不良ソケット
情報を情報格納媒体１１４から取り出し、制御部１１２
に必要なデータに変換して制御部１１２へ出力する。一
方で、挿抜動作部１１１の動作に必要な、検査用ボード
のソケットの位置データが位置データ管理手段１２１か
ら制御部１１２へ出力される。そして、制御部１１２か
ら挿抜動作部１１１に制御指令が出力され、この制御指
令に基づいて挿抜動作部１１１は、収納部からＩＣを取
り出して、検査用ボードの不良ソケット以外のソケット
に装着する。この挿抜動作部１１１の動作は、収納部の
ＩＣがなくなるまで繰り返され、ＩＣがなくなる前に検
査用ボードの全てのソケットにＩＣが装着されたら、同
様にして次の検査用ボードにＩＣが装着される。
【０００６】出作業の場合は、始めに、挿抜動作部１１
１に空の収納部と、検査が終了したＩＣが装着されてい
る検査用ボードをセットしておく。ここで、検査用ボー
ドから抜き取られたＩＣは、後述するように検査結果に
応じて複数種に分類されるので、収納部は、分類される
数だけセットする。また、情報格納媒体１１４には、検
査用ボードに装着されたＩＣの検査結果が格納されてい
る。この状態でＩＣ分類挿抜機を動作させると、動作条
件設定手段１２３は、ＩＣの検査結果を情報格納媒体１
１４から取り出し、制御部１１２に必要なデータに変換
して制御部１１２へ出力する。一方で、入り作業と同様
に位置データ管理手段１２１から制御部１１２へ、位置
データが出力される。そして、制御部１１２から挿抜動
作部１１１に制御指令が出力され、この制御指令に基づ
いて挿抜動作部１１１は、検査用ボードからＩＣを抜き
取り、抜き取ったＩＣの検査結果に応じて所定の収納部
にＩＣを収納する。これにより、検査が終了したＩＣ
が、検査結果に応じて分類される。
１に空の収納部と、検査が終了したＩＣが装着されてい
る検査用ボードをセットしておく。ここで、検査用ボー
ドから抜き取られたＩＣは、後述するように検査結果に
応じて複数種に分類されるので、収納部は、分類される
数だけセットする。また、情報格納媒体１１４には、検
査用ボードに装着されたＩＣの検査結果が格納されてい
る。この状態でＩＣ分類挿抜機を動作させると、動作条
件設定手段１２３は、ＩＣの検査結果を情報格納媒体１
１４から取り出し、制御部１１２に必要なデータに変換
して制御部１１２へ出力する。一方で、入り作業と同様
に位置データ管理手段１２１から制御部１１２へ、位置
データが出力される。そして、制御部１１２から挿抜動
作部１１１に制御指令が出力され、この制御指令に基づ
いて挿抜動作部１１１は、検査用ボードからＩＣを抜き
取り、抜き取ったＩＣの検査結果に応じて所定の収納部
にＩＣを収納する。これにより、検査が終了したＩＣ
が、検査結果に応じて分類される。
【０００７】そして、ＩＣ分類挿抜機の動作中は、制御
部１１２はシステム監視手段１２５へエラー情報等の情
報を送信してシステムの監視を行なうとともに、稼動管
理手段１２６がエラー情報等のデータ収集ならびに管理
を行なう。
部１１２はシステム監視手段１２５へエラー情報等の情
報を送信してシステムの監視を行なうとともに、稼動管
理手段１２６がエラー情報等のデータ収集ならびに管理
を行なう。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のＩＣ分類挿抜機では、出作業において、検査用
ボードから抜き取られたＩＣは検査結果に応じて予め決
められた収納部に収納されるので、検査条件や検査結果
によっては全く使用されない収納部があったり、その逆
に多数のＩＣが収納され、その収納部がすぐにいっぱい
になってしまう場合があるという問題点があった。そし
て、収納部がいっぱいになった場合の収納部の交換は人
手により行なうので、収納部がすぐにいっぱいになって
しまうということにより、収納部の交換作業が多くなっ
てしまう。
た従来のＩＣ分類挿抜機では、出作業において、検査用
ボードから抜き取られたＩＣは検査結果に応じて予め決
められた収納部に収納されるので、検査条件や検査結果
によっては全く使用されない収納部があったり、その逆
に多数のＩＣが収納され、その収納部がすぐにいっぱい
になってしまう場合があるという問題点があった。そし
て、収納部がいっぱいになった場合の収納部の交換は人
手により行なうので、収納部がすぐにいっぱいになって
しまうということにより、収納部の交換作業が多くなっ
てしまう。
【０００９】そこで本発明は、検査結果に応じて収納部
を有効に使用し、収納部の交換作業を少なくするＩＣ分
類挿抜機を提供することを目的とする。
を有効に使用し、収納部の交換作業を少なくするＩＣ分
類挿抜機を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明のＩＣ分類挿抜機は、ＩＣの機能検査に用いられ
る検査用ボードにＩＣを装着したり、検査後の検査用ボ
ードからＩＣを抜き取り複数の収納部に収納する挿抜動
作部を有し、前記検査後の複数のＩＣを各収納部に収納
する際に、上位装置に格納されている各ＩＣの検査結果
に基づき、前記検査後の各ＩＣを検査結果のモード毎に
前記各収納部のうちの所定の収納部に収納することで前
記検査後の各ＩＣを分類するＩＣ分類挿抜機において、
前記検査後の各ＩＣを前記各収納部に収納する前に、前
記検査で多く発生したモードのＩＣを前記各収納部のう
ち収納容量の大きい収納部に収納するように前記各ＩＣ
を収納する収納部を設定する収納パターン設定手段を有
することを特徴とする。
本発明のＩＣ分類挿抜機は、ＩＣの機能検査に用いられ
る検査用ボードにＩＣを装着したり、検査後の検査用ボ
ードからＩＣを抜き取り複数の収納部に収納する挿抜動
作部を有し、前記検査後の複数のＩＣを各収納部に収納
する際に、上位装置に格納されている各ＩＣの検査結果
に基づき、前記検査後の各ＩＣを検査結果のモード毎に
前記各収納部のうちの所定の収納部に収納することで前
記検査後の各ＩＣを分類するＩＣ分類挿抜機において、
前記検査後の各ＩＣを前記各収納部に収納する前に、前
記検査で多く発生したモードのＩＣを前記各収納部のう
ち収納容量の大きい収納部に収納するように前記各ＩＣ
を収納する収納部を設定する収納パターン設定手段を有
することを特徴とする。
【００１１】
【作用】上記のとおり構成された本発明のＩＣ分類挿抜
機では、収納パターン設定手段により、検査後の各ＩＣ
を各収納部に収納する前にどのモードのＩＣがどの収納
部に収納されるかが、検査結果に応じて設定される。具
体的には、ＩＣを良品と不良品とに分類する場合、通常
は不良品の数は非常に少ないので収納スペースを有効に
使うために、良品を収納する収納部の容量を大きくし不
良品を収納する収納部の容量を小さくしている。ところ
が、なんらかの異常により不良品が多発した場合には、
良品を容量の小さい収納部に収納するように設定し不良
品を容量の大きい収納部に収納するように設定する。こ
れにより、どのような場合でも収納部が有効に使用さ
れ、収納部の交換頻度が少なくなる。
機では、収納パターン設定手段により、検査後の各ＩＣ
を各収納部に収納する前にどのモードのＩＣがどの収納
部に収納されるかが、検査結果に応じて設定される。具
体的には、ＩＣを良品と不良品とに分類する場合、通常
は不良品の数は非常に少ないので収納スペースを有効に
使うために、良品を収納する収納部の容量を大きくし不
良品を収納する収納部の容量を小さくしている。ところ
が、なんらかの異常により不良品が多発した場合には、
良品を容量の小さい収納部に収納するように設定し不良
品を容量の大きい収納部に収納するように設定する。こ
れにより、どのような場合でも収納部が有効に使用さ
れ、収納部の交換頻度が少なくなる。
【００１２】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１３】図１は、本発明のＩＣ分類挿抜機の一実施
例のブロック図である。図１に示すように本実施例のＩ
Ｃ分類挿抜機は、データ管理部１３に収納パターン設定
手段２２と情報編集手段２４とを設けた点が、図３に示
した従来のＩＣ分類挿抜機と異なっている。収納パター
ン設定手段２２は、出作業を行なう前に、情報格納媒体
１４に格納されているＩＣの検査結果に応じて、複数の
収納部のうちのどの収納部にどういう検査結果のＩＣを
収納するかを設定するものである。また、情報編集手段
２４は、入り作業において、検査用ボード（不図示）の
全てのソケットにＩＣが装着されない場合に、装着され
ていないソケットの位置データを情報格納媒体１４に格
納させるものである。その他の、制御部１２、情報格納
媒体１４、位置データ管理手段２１、動作条件設定手段
２３、システム監視手段２５、および稼動管理手段２６
については、図３に示した従来のものと同様であるの
で、その説明は省略する。
例のブロック図である。図１に示すように本実施例のＩ
Ｃ分類挿抜機は、データ管理部１３に収納パターン設定
手段２２と情報編集手段２４とを設けた点が、図３に示
した従来のＩＣ分類挿抜機と異なっている。収納パター
ン設定手段２２は、出作業を行なう前に、情報格納媒体
１４に格納されているＩＣの検査結果に応じて、複数の
収納部のうちのどの収納部にどういう検査結果のＩＣを
収納するかを設定するものである。また、情報編集手段
２４は、入り作業において、検査用ボード（不図示）の
全てのソケットにＩＣが装着されない場合に、装着され
ていないソケットの位置データを情報格納媒体１４に格
納させるものである。その他の、制御部１２、情報格納
媒体１４、位置データ管理手段２１、動作条件設定手段
２３、システム監視手段２５、および稼動管理手段２６
については、図３に示した従来のものと同様であるの
で、その説明は省略する。
【００１４】また、挿抜動作部１１についても従来のも
のと同様であるが、ここで、挿抜動作部１１について図
２を参照して説明する。図２は、図１に示したＩＣ分類
挿抜機の挿抜動作部１１の概略斜視図である。図２にお
いて、検査用ボードはラック（不図示）に収納されて、
ラック供給部４にセットされる。ここでは、ラックには
６枚の検査用ボードが収納可能となっている。ラックに
収納された検査用ボードは、検査用ボード搬送部５によ
ってラック供給部４から引き出され、挿抜ハンド６によ
りＩＣの抜き差しが行なわれる。
のと同様であるが、ここで、挿抜動作部１１について図
２を参照して説明する。図２は、図１に示したＩＣ分類
挿抜機の挿抜動作部１１の概略斜視図である。図２にお
いて、検査用ボードはラック（不図示）に収納されて、
ラック供給部４にセットされる。ここでは、ラックには
６枚の検査用ボードが収納可能となっている。ラックに
収納された検査用ボードは、検査用ボード搬送部５によ
ってラック供給部４から引き出され、挿抜ハンド６によ
りＩＣの抜き差しが行なわれる。
【００１５】一方、ＩＣを収納するＩＣトレーは、２つ
のエレベータ１ａ、１ｂ内にそれぞれ複数枚ずつセット
できるようになっており、ＩＣトレーがトレーハンドリ
ング部２ａ、２ｂに引き出された状態で、入り作業時に
は挿抜ハンド６によりＩＣトレーから検査前のＩＣが取
り出され、出作業時には挿抜ハンド６によりＩＣトレー
に検査後のＩＣが収納される。各トレーハンドリング部
２ａ、２ｂは、それぞれエレベータ機構（不図示）を有
しており、出作業時にＩＣトレーがいっぱいになった
ら、そのＩＣトレーを下降させ、エレベータ１ａ、１ｂ
から新たなＩＣトレーが引き出される。下降したＩＣト
レーは、このＩＣ分類挿抜機の所定の位置にセットされ
る。また、出作業時にＩＣが収納されるものとして、こ
のＩＣ分類挿抜機には３つの収納領域を有する収納ステ
ージ３が設けられている。以上のことから明らかなよう
に、本実施例では、ＩＣトレーおよび収納ステージ３で
収納部を構成しており、各エレベータ１ａ、１ｂのそれ
ぞれに収納される全てのＩＣトレーを１つの収納部と考
え、収納ステージ３の３つの領域をそれぞれ１つの収納
部と考えると、各エレベータ１ａ、１ｂ毎に１つずつと
収納ステージ３の３つとを合わせて５つの収納部を有す
ることになる。それに対応して、本実施例では検査終了
後のＩＣは５種類に分類される。例えば、全ての検査に
合格した良品、一部の検査には不合格であったが不良品
とは判断されない良品、そして不良モードによって分け
られた３種類の不良品である。また、各収納部の容量と
しては、各エレベータ１ａ、１ｂにセットされたＩＣト
レーで構成される２つの収納部の容量が大きく、収納ス
テージ３の３つの収納部の容量が小さい。そこで通常
は、ＩＣトレーに良品が収納され、収納ステージ３に不
良品のＩＣが収納される。
のエレベータ１ａ、１ｂ内にそれぞれ複数枚ずつセット
できるようになっており、ＩＣトレーがトレーハンドリ
ング部２ａ、２ｂに引き出された状態で、入り作業時に
は挿抜ハンド６によりＩＣトレーから検査前のＩＣが取
り出され、出作業時には挿抜ハンド６によりＩＣトレー
に検査後のＩＣが収納される。各トレーハンドリング部
２ａ、２ｂは、それぞれエレベータ機構（不図示）を有
しており、出作業時にＩＣトレーがいっぱいになった
ら、そのＩＣトレーを下降させ、エレベータ１ａ、１ｂ
から新たなＩＣトレーが引き出される。下降したＩＣト
レーは、このＩＣ分類挿抜機の所定の位置にセットされ
る。また、出作業時にＩＣが収納されるものとして、こ
のＩＣ分類挿抜機には３つの収納領域を有する収納ステ
ージ３が設けられている。以上のことから明らかなよう
に、本実施例では、ＩＣトレーおよび収納ステージ３で
収納部を構成しており、各エレベータ１ａ、１ｂのそれ
ぞれに収納される全てのＩＣトレーを１つの収納部と考
え、収納ステージ３の３つの領域をそれぞれ１つの収納
部と考えると、各エレベータ１ａ、１ｂ毎に１つずつと
収納ステージ３の３つとを合わせて５つの収納部を有す
ることになる。それに対応して、本実施例では検査終了
後のＩＣは５種類に分類される。例えば、全ての検査に
合格した良品、一部の検査には不合格であったが不良品
とは判断されない良品、そして不良モードによって分け
られた３種類の不良品である。また、各収納部の容量と
しては、各エレベータ１ａ、１ｂにセットされたＩＣト
レーで構成される２つの収納部の容量が大きく、収納ス
テージ３の３つの収納部の容量が小さい。そこで通常
は、ＩＣトレーに良品が収納され、収納ステージ３に不
良品のＩＣが収納される。
【００１６】次に、本実施例のＩＣ分類挿抜機の動作に
ついて、入り作業と出作業とに分けて説明する。なお、
システム監視手段２５および稼動管理手段２６の動作に
ついては、従来のものと同様なので説明は省略する。
ついて、入り作業と出作業とに分けて説明する。なお、
システム監視手段２５および稼動管理手段２６の動作に
ついては、従来のものと同様なので説明は省略する。
【００１７】入り作業の場合は、始めに、挿抜動作部１
１の各エレベータ１ａ、１ｂにそれぞれ検査前のＩＣが
収納されたＩＣトレーを複数枚ずつセットするととも
に、ラック供給部４に、ＩＣが装着されていない検査用
ボードをＩＣトレーに収納されたＩＣが全て装着できる
枚数だけセットする。この状態でＩＣ分類挿抜機を動作
させると、動作条件設定手段２３は、セットされている
検査用ボードの不良ソケット情報を情報格納媒体１４か
ら取り出し、制御部１２に必要なデータに変換して制御
部１２へ出力する。一方で、挿抜動作部１１の動作に必
要な、検査用ボードのソケットの位置データが位置デー
タ管理手段２１から制御部１２へ出力される。
１の各エレベータ１ａ、１ｂにそれぞれ検査前のＩＣが
収納されたＩＣトレーを複数枚ずつセットするととも
に、ラック供給部４に、ＩＣが装着されていない検査用
ボードをＩＣトレーに収納されたＩＣが全て装着できる
枚数だけセットする。この状態でＩＣ分類挿抜機を動作
させると、動作条件設定手段２３は、セットされている
検査用ボードの不良ソケット情報を情報格納媒体１４か
ら取り出し、制御部１２に必要なデータに変換して制御
部１２へ出力する。一方で、挿抜動作部１１の動作に必
要な、検査用ボードのソケットの位置データが位置デー
タ管理手段２１から制御部１２へ出力される。
【００１８】そして、制御部１２から挿抜動作部１１に
制御指令が出力される。この制御指令に基づいて、ま
ず、一方のエレベータ１ａから１枚のＩＣトレーがトレ
ーハンドリング部２ａに引き出されるとともに、ラック
供給部４から検査用ボード搬送部５により１枚の検査用
ボードが引き出される。その後、挿抜ハンド６によりＩ
Ｃを、ＩＣトレーから検査用ボードの不良ソケット以外
のソケットへ１つずつ装着していく。ＩＣトレーが空に
なったら、次に他方のエレベータ１ｂからＩＣトレーが
トレーハンドリング部２ｂに引き出され、このＩＣトレ
ーから検査用ボードにＩＣを装着する。空になったＩＣ
トレーは、トレーハンドリング部２ａ、２ｂのエレベー
タ機構により所定の位置にセットされる。また、検査用
ボードの装着可能な（良品の）全てのソケットにＩＣが
装着されたら、その検査用ボードはラック供給部４に戻
され、新たな検査用ボードが引き出される。
制御指令が出力される。この制御指令に基づいて、ま
ず、一方のエレベータ１ａから１枚のＩＣトレーがトレ
ーハンドリング部２ａに引き出されるとともに、ラック
供給部４から検査用ボード搬送部５により１枚の検査用
ボードが引き出される。その後、挿抜ハンド６によりＩ
Ｃを、ＩＣトレーから検査用ボードの不良ソケット以外
のソケットへ１つずつ装着していく。ＩＣトレーが空に
なったら、次に他方のエレベータ１ｂからＩＣトレーが
トレーハンドリング部２ｂに引き出され、このＩＣトレ
ーから検査用ボードにＩＣを装着する。空になったＩＣ
トレーは、トレーハンドリング部２ａ、２ｂのエレベー
タ機構により所定の位置にセットされる。また、検査用
ボードの装着可能な（良品の）全てのソケットにＩＣが
装着されたら、その検査用ボードはラック供給部４に戻
され、新たな検査用ボードが引き出される。
【００１９】ここで、検査用ボードの入り作業が終了し
た場合には、どのソケットが空いているかという情報が
情報編集手段２４により情報格納媒体１４へ格納され
る。これにより、検査で不良が発生したとき、ＩＣの検
査不良によるものか未装着によるものかが判断される。
た場合には、どのソケットが空いているかという情報が
情報編集手段２４により情報格納媒体１４へ格納され
る。これにより、検査で不良が発生したとき、ＩＣの検
査不良によるものか未装着によるものかが判断される。
【００２０】出作業の場合は、始めに、挿抜動作部１１
の各エレベータ１ａ、１ｂにそれぞれ空のＩＣトレーを
複数枚ずつセットするとともに、ラック供給部４に、検
査が終了したＩＣが装着されている検査用ボードをセッ
トする。また、情報格納媒体１４には、検査用ボードに
装着されたＩＣの検査結果が格納されている。この状態
でＩＣ分類挿抜機を動作させると、収納パターン設定手
段２２は、ＩＣの検査結果に応じて、どういう検査結果
のものをどの収納部に収納させるかを設定し、制御部１
２へ出力する。例えば、不良品が少ない場合には、２種
類の良品をそれぞれ容量の大きな収納部である各エレベ
ータ１ａ、１ｂのＩＣトレーに収納して分類し、３種類
の不良品をそれぞれ容量の小さな収納部である収納ステ
ージ３の３つの領域に収納して分類するように設定す
る。また、動作条件設定手段２３は、ＩＣの検査結果を
情報格納媒体１４から取り出し、制御部１２に必要なデ
ータに変換して制御部１２へ出力する。一方で、入り作
業と同様に位置データ管理手段２１から制御部１２へ、
位置データが出力される。
の各エレベータ１ａ、１ｂにそれぞれ空のＩＣトレーを
複数枚ずつセットするとともに、ラック供給部４に、検
査が終了したＩＣが装着されている検査用ボードをセッ
トする。また、情報格納媒体１４には、検査用ボードに
装着されたＩＣの検査結果が格納されている。この状態
でＩＣ分類挿抜機を動作させると、収納パターン設定手
段２２は、ＩＣの検査結果に応じて、どういう検査結果
のものをどの収納部に収納させるかを設定し、制御部１
２へ出力する。例えば、不良品が少ない場合には、２種
類の良品をそれぞれ容量の大きな収納部である各エレベ
ータ１ａ、１ｂのＩＣトレーに収納して分類し、３種類
の不良品をそれぞれ容量の小さな収納部である収納ステ
ージ３の３つの領域に収納して分類するように設定す
る。また、動作条件設定手段２３は、ＩＣの検査結果を
情報格納媒体１４から取り出し、制御部１２に必要なデ
ータに変換して制御部１２へ出力する。一方で、入り作
業と同様に位置データ管理手段２１から制御部１２へ、
位置データが出力される。
【００２１】そして、制御部１２から挿抜動作部１１に
制御指令が出力される。この制御指令に基づいて、ま
ず、各エレベータ１ａ、１ｂからそれぞれトレーハンド
リング部２ａ、２ｂに空のＩＣトレーが１枚ずつ引き出
されるとともに、ラック供給部４から検査用ボード搬送
手段５により検査用ボードが１枚引き出される。その
後、挿抜ハンド６により検査用ボードからＩＣを１つず
つ抜き取り、そのＩＣを、収納パターン設定手段２２で
設定した収納部に収納し検査結果に応じて分類してい
く。検査用ボードに装着されているＩＣが全て分類され
たら、その検査用ボードはラック供給部４に戻され、新
たな検査用ボードが引き出される。また、例えば一方の
トレーハンドリング部２ａのＩＣトレーがいっぱいにな
ったら、そのＩＣトレーはトレーハンドリング部２ａの
エレベータ機構により所定の位置にセットされ、一方の
エレベータ１ａから新たなＩＣトレーが引き出される。
他方のトレーハンドリング部２ｂについても同様であ
る。
制御指令が出力される。この制御指令に基づいて、ま
ず、各エレベータ１ａ、１ｂからそれぞれトレーハンド
リング部２ａ、２ｂに空のＩＣトレーが１枚ずつ引き出
されるとともに、ラック供給部４から検査用ボード搬送
手段５により検査用ボードが１枚引き出される。その
後、挿抜ハンド６により検査用ボードからＩＣを１つず
つ抜き取り、そのＩＣを、収納パターン設定手段２２で
設定した収納部に収納し検査結果に応じて分類してい
く。検査用ボードに装着されているＩＣが全て分類され
たら、その検査用ボードはラック供給部４に戻され、新
たな検査用ボードが引き出される。また、例えば一方の
トレーハンドリング部２ａのＩＣトレーがいっぱいにな
ったら、そのＩＣトレーはトレーハンドリング部２ａの
エレベータ機構により所定の位置にセットされ、一方の
エレベータ１ａから新たなＩＣトレーが引き出される。
他方のトレーハンドリング部２ｂについても同様であ
る。
【００２２】ここでは、検査の結果不良品が少なかった
場合について述べたが、不良品が多発した場合等それ以
外の場合には、多いモードから順に、一方のエレベータ
１ａのＩＣトレー、他方のエレベータ１ｂのＩＣトレ
ー、そして収納ステージ３へと収納するように、収納パ
ターン設定手段は収納する場所を設定する。
場合について述べたが、不良品が多発した場合等それ以
外の場合には、多いモードから順に、一方のエレベータ
１ａのＩＣトレー、他方のエレベータ１ｂのＩＣトレ
ー、そして収納ステージ３へと収納するように、収納パ
ターン設定手段は収納する場所を設定する。
【００２３】以上説明したように、収納パターン設定手
段２２により、ＩＣの検査結果に応じてＩＣの収納場所
を変更することで、検査で多く発生したモードのＩＣが
容量の大きい収納部であるＩＣトレーに収納されるの
で、例えば不良が多発した場合には不良品はＩＣトレー
に収納され、従来のように収納ステージ３を頻繁に交換
しなくてよくなる。
段２２により、ＩＣの検査結果に応じてＩＣの収納場所
を変更することで、検査で多く発生したモードのＩＣが
容量の大きい収納部であるＩＣトレーに収納されるの
で、例えば不良が多発した場合には不良品はＩＣトレー
に収納され、従来のように収納ステージ３を頻繁に交換
しなくてよくなる。
【００２４】
【発明の効果】本発明のＩＣ分類挿抜機は以上説明した
ように、検査後の各ＩＣを各収納部に収納する前に、検
査で多く発生したモードのＩＣを収納容量の大きい収納
部に収納するように各ＩＣを収納する収納部を設定する
収納パターン設定手段を有するので、通常は発生数の少
ないモードが多発した場合でもそれに応じて収納部を変
更でき、収納部を有効に使用することができる。また、
これにより収納部の交換頻度が少なくなり、作業の効率
化が図られる。
ように、検査後の各ＩＣを各収納部に収納する前に、検
査で多く発生したモードのＩＣを収納容量の大きい収納
部に収納するように各ＩＣを収納する収納部を設定する
収納パターン設定手段を有するので、通常は発生数の少
ないモードが多発した場合でもそれに応じて収納部を変
更でき、収納部を有効に使用することができる。また、
これにより収納部の交換頻度が少なくなり、作業の効率
化が図られる。
【図１】本発明のＩＣ分類挿抜機の一実施例のブロック
図である。
図である。
【図２】図１に示したＩＣ分類挿抜機の挿抜動作部の概
略斜視図である。
略斜視図である。
【図３】従来のＩＣ分類挿抜機のブロック図である。
１ａ、１ｂ エレベータ ２ａ、２ｂ トレーハンドリング部 ３ 収納ステージ ４ ラック供給部 ５ 検査用ボード搬送部 ６ 挿抜ハンド １１ 挿抜動作部 １２ 制御部 １３ データ管理部 １４ 情報格納媒体 ２１ 位置データ管理手段 ２２ 収納パターン設定手段 ２３ 動作条件設定手段 ２４ 情報編集手段 ２５ システム監視手段 ２６ 稼動管理手段
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣの機能検査に用いられる検査用ボー
ドにＩＣを装着したり、検査後の検査用ボードからＩＣ
を抜き取り複数の収納部に収納する挿抜動作部を有し、
前記検査後の複数のＩＣを各収納部に収納する際に、上
位装置に格納されている各ＩＣの検査結果に基づき、前
記検査後の各ＩＣを検査結果のモード毎に前記各収納部
のうちの所定の収納部に収納することで前記検査後の各
ＩＣを分類するＩＣ分類挿抜機において、 前記検査後の各ＩＣを前記各収納部に収納する前に、前
記検査で多く発生したモードのＩＣを前記各収納部のう
ち収納容量の大きい収納部に収納するように、前記各Ｉ
Ｃを収納する収納部を設定する収納パターン設定手段を
有することを特徴とするＩＣ分類挿抜機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5234598A JP2606095B2 (ja) | 1993-09-21 | 1993-09-21 | Ｉｃ分類挿抜機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5234598A JP2606095B2 (ja) | 1993-09-21 | 1993-09-21 | Ｉｃ分類挿抜機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0792225A JPH0792225A (ja) | 1995-04-07 |
| JP2606095B2 true JP2606095B2 (ja) | 1997-04-30 |
Family
ID=16973547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5234598A Expired - Fee Related JP2606095B2 (ja) | 1993-09-21 | 1993-09-21 | Ｉｃ分類挿抜機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2606095B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2741043B2 (ja) * | 1988-11-17 | 1998-04-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 半導体素子の選別方法 |
| JPH0590360A (ja) * | 1991-09-27 | 1993-04-09 | Nec Corp | Ｉｃ挿入抜去装置 |
-
1993
- 1993-09-21 JP JP5234598A patent/JP2606095B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0792225A (ja) | 1995-04-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |