JPH08150583A - Ｉｃ移載装置つきオートハンドラ - Google Patents
Ｉｃ移載装置つきオートハンドラInfo
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- JPH08150583A JPH08150583A JP32164794A JP32164794A JPH08150583A JP H08150583 A JPH08150583 A JP H08150583A JP 32164794 A JP32164794 A JP 32164794A JP 32164794 A JP32164794 A JP 32164794A JP H08150583 A JPH08150583 A JP H08150583A
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- Y10T29/53022—Means to assemble or disassemble with means to test work or product
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣソケット４Ａつきキャリア４に識別子４
Ｂを設け、不良ＩＣソケットだけにＩＣを供給しないＩ
Ｃ移載装置つきオートハンドラを提供する。 【構成】 供給装置１はキャリア４を判別し、判別した
キャリア番号に対するＩＣ供給位置設定に従いキャリア
４にＩＣを供給する。測定装置２はキャリア４を判別
し、判別したキャリア４に対するＩＣ搬送位置情報を供
給装置１から受信し、キャリア４のＩＣを測定する。測
定結果から不良ＩＣソケットを検出し、不良ＩＣソケッ
トを検出した場合には、供給装置１へ不良ＩＣソケット
位置情報を通信し、不良ＩＣソケットへＩＣを供給しな
いようにＩＣ供給位置設定を変更する。収容装置３はキ
ャリア４を判別し、判別したキャリア４に対するＩＣ測
定結果を測定装置２から受信し、キャリア４のＩＣを分
類・収容する。
Ｂを設け、不良ＩＣソケットだけにＩＣを供給しないＩ
Ｃ移載装置つきオートハンドラを提供する。 【構成】 供給装置１はキャリア４を判別し、判別した
キャリア番号に対するＩＣ供給位置設定に従いキャリア
４にＩＣを供給する。測定装置２はキャリア４を判別
し、判別したキャリア４に対するＩＣ搬送位置情報を供
給装置１から受信し、キャリア４のＩＣを測定する。測
定結果から不良ＩＣソケットを検出し、不良ＩＣソケッ
トを検出した場合には、供給装置１へ不良ＩＣソケット
位置情報を通信し、不良ＩＣソケットへＩＣを供給しな
いようにＩＣ供給位置設定を変更する。収容装置３はキ
ャリア４を判別し、判別したキャリア４に対するＩＣ測
定結果を測定装置２から受信し、キャリア４のＩＣを分
類・収容する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＩＣ移載装置と接続
するオートハンドラについてのものである。この発明に
よるオートハンドラは、ＩＣソケットを縦横に配置した
キャリアを搬送して、ＩＣを測定する。オートハンドラ
の前工程では、第１の移載装置でＩＣを複数搭載するト
レイからキャリアのＩＣソケットへＩＣを装着する。オ
ートハンドラの後工程では、第１の移載装置で測定済み
ＩＣをキャリアからトレイに分類・収容する。第１と第
２の移載装置とオートハンドラは接続され、情報が送受
される。
するオートハンドラについてのものである。この発明に
よるオートハンドラは、ＩＣソケットを縦横に配置した
キャリアを搬送して、ＩＣを測定する。オートハンドラ
の前工程では、第１の移載装置でＩＣを複数搭載するト
レイからキャリアのＩＣソケットへＩＣを装着する。オ
ートハンドラの後工程では、第１の移載装置で測定済み
ＩＣをキャリアからトレイに分類・収容する。第１と第
２の移載装置とオートハンドラは接続され、情報が送受
される。
【０００２】
【従来の技術】次に、この発明で使用されるキャリアの
構成を図７により説明する。図７の４はキャリアであ
り、４Ａは蓋つきのＩＣソケットである。図１０に示さ
れるように、キャリア４に複数のＩＣソケット４Ａが縦
横に取り付けられる。ＩＣはＩＣソケット４Ａに装着さ
れ、蓋が閉じた状態で搬送される。
構成を図７により説明する。図７の４はキャリアであ
り、４Ａは蓋つきのＩＣソケットである。図１０に示さ
れるように、キャリア４に複数のＩＣソケット４Ａが縦
横に取り付けられる。ＩＣはＩＣソケット４Ａに装着さ
れ、蓋が閉じた状態で搬送される。
【０００３】図８は、オートハンドラの前工程で使用さ
れる第１の移載装置の構成を示す平面図である。なお、
前記第１の移載装置を以下、供給装置と呼称する。図８
の１１はキャリア積載部、１２は供給ハンド、１３は移
載部、１４Ａと１４Ｂは供給トレイ積載部である。
れる第１の移載装置の構成を示す平面図である。なお、
前記第１の移載装置を以下、供給装置と呼称する。図８
の１１はキャリア積載部、１２は供給ハンド、１３は移
載部、１４Ａと１４Ｂは供給トレイ積載部である。
【０００４】図８では、キャリア積載部１１はキャリア
４が100 枚まで積載できる。トレイ積載部１４Ａ・１４
Ｂには複数のＩＣを収納されるトレイを各100 枚まで積
載できる。キャリア積載部１１から空のキャリア４が１
枚引き出され、移載部１３に搬送される。供給ハンド１
２はトレイ積載部１４Ａ・１４ＢからＩＣを吸着し、移
載部１３のキャリア４にＩＣを逐次移載する。キャリア
４上の全てのＩＣソケット４ＡにＩＣを移載すると、移
載部１３上のキャリア４をキャリア積載部１１へ戻る。
次に、空のキャリア４が移載部１３に移動し、前述の動
作が繰り返される。このように、供給装置１では、キャ
リア積載部１１の全ての空キャリア４にトレイのＩＣが
移載される。
４が100 枚まで積載できる。トレイ積載部１４Ａ・１４
Ｂには複数のＩＣを収納されるトレイを各100 枚まで積
載できる。キャリア積載部１１から空のキャリア４が１
枚引き出され、移載部１３に搬送される。供給ハンド１
２はトレイ積載部１４Ａ・１４ＢからＩＣを吸着し、移
載部１３のキャリア４にＩＣを逐次移載する。キャリア
４上の全てのＩＣソケット４ＡにＩＣを移載すると、移
載部１３上のキャリア４をキャリア積載部１１へ戻る。
次に、空のキャリア４が移載部１３に移動し、前述の動
作が繰り返される。このように、供給装置１では、キャ
リア積載部１１の全ての空キャリア４にトレイのＩＣが
移載される。
【０００５】図９は、オートハンドラの構成を示す平面
図である。なお、図９のオートハンドラを以下、測定装
置と呼称する。図９の２１と２２はキャリア積載部、２
３Ａは予冷部、２３Ｂは予熱部、２４Ａは低温槽内の測
定部、２４Ｂは高温槽内の測定部である。
図である。なお、図９のオートハンドラを以下、測定装
置と呼称する。図９の２１と２２はキャリア積載部、２
３Ａは予冷部、２３Ｂは予熱部、２４Ａは低温槽内の測
定部、２４Ｂは高温槽内の測定部である。
【０００６】図９では、供給装置１でＩＣを収納したキ
ャリア４をキャリア積載部２１へ100 枚まで積載でき
る。キャリア積載部２１のキャリア４は予冷部２３Ａへ
搬送され、ＩＣは目的温度に冷却される。次に、キャリ
ア４は測定部２４Ａに搬送され、キャリア４のＩＣは一
括して低温測定される。低温測定が完了したキャリア４
は予冷部２３Ａに復帰し、次に、予熱部２３Ｂに搬送さ
れる。
ャリア４をキャリア積載部２１へ100 枚まで積載でき
る。キャリア積載部２１のキャリア４は予冷部２３Ａへ
搬送され、ＩＣは目的温度に冷却される。次に、キャリ
ア４は測定部２４Ａに搬送され、キャリア４のＩＣは一
括して低温測定される。低温測定が完了したキャリア４
は予冷部２３Ａに復帰し、次に、予熱部２３Ｂに搬送さ
れる。
【０００７】予熱部２３Ｂでは、キャリア４のＩＣは目
的温度に加熱される。次に、キャリア４Ｉは測定部２４
Ｂに搬送され、キャリア４のＩＣは一括して高温測定さ
れる。高温測定が完了したキャリア４は余熱部２３Ｂに
復帰し、次に、キャリア４はキャリア積載部２２へ搬送
される。キャリア積載部２２はキャリア４を100 枚まで
積載できる。
的温度に加熱される。次に、キャリア４Ｉは測定部２４
Ｂに搬送され、キャリア４のＩＣは一括して高温測定さ
れる。高温測定が完了したキャリア４は余熱部２３Ｂに
復帰し、次に、キャリア４はキャリア積載部２２へ搬送
される。キャリア積載部２２はキャリア４を100 枚まで
積載できる。
【０００８】図９は高低温測定機能をもつ測定装置であ
るが、測定装置２を温度制御しなければ、常温で並列測
定することもできる。また、測定部２４Ａと測定部２４
Ｂのどちらか一方を常温に機能を切換え、並列測定する
こともできる。
るが、測定装置２を温度制御しなければ、常温で並列測
定することもできる。また、測定部２４Ａと測定部２４
Ｂのどちらか一方を常温に機能を切換え、並列測定する
こともできる。
【０００９】図１０は、図９の測定装置２の後工程で使
用される第２の移載装置の構成を示す平面図である。な
お、前記第２の移載装置を以下、収容装置と呼称する。
図１０の３１はキャリア積載部、３２は収容ハンド、３
３は移載部、３４Ａと３４Ｂは空トレイ積載部、３５Ａ
〜３５Ｃはトレイ積載部である。
用される第２の移載装置の構成を示す平面図である。な
お、前記第２の移載装置を以下、収容装置と呼称する。
図１０の３１はキャリア積載部、３２は収容ハンド、３
３は移載部、３４Ａと３４Ｂは空トレイ積載部、３５Ａ
〜３５Ｃはトレイ積載部である。
【００１０】図１０では、測定装置２で測定後のキャリ
ア４をキャリア積載部３１へ100 枚まで積載できる。空
トレイ積載部３４Ａ・３４Ｂには空のトレイを各100 枚
まで積載できる。収容ハンド３２は空トレイ積載部３４
Ａ・３４Ｂから空のトレイを１枚づつトレイ積載部３５
Ａ〜３５Ｃへ搬送する。
ア４をキャリア積載部３１へ100 枚まで積載できる。空
トレイ積載部３４Ａ・３４Ｂには空のトレイを各100 枚
まで積載できる。収容ハンド３２は空トレイ積載部３４
Ａ・３４Ｂから空のトレイを１枚づつトレイ積載部３５
Ａ〜３５Ｃへ搬送する。
【００１１】キャリア積載部３１からキャリア４が１枚
引き出され、移載部３３に搬送される。収容ハンド３２
は移載部３３のキャリア４からＩＣを吸着し、トレイ積
載部３５Ａ〜３５Ｃの空トレイへＩＣを逐次搬送する。
移載部３３のキャリア４にＩＣが無くなると、キャリア
４はキャリア積載部３１に戻る。次に、ＩＣの収容され
たキャリア４が移載部１３に移動し、前述の動作が繰り
返される。このように、収容装置３では、キャリア積載
部１１のキャリア４の全てのＩＣがトレイ積載部３５Ａ
〜３５Ｃに移載される。収容装置３で空のキャリア４は
供給装置１で使用される。
引き出され、移載部３３に搬送される。収容ハンド３２
は移載部３３のキャリア４からＩＣを吸着し、トレイ積
載部３５Ａ〜３５Ｃの空トレイへＩＣを逐次搬送する。
移載部３３のキャリア４にＩＣが無くなると、キャリア
４はキャリア積載部３１に戻る。次に、ＩＣの収容され
たキャリア４が移載部１３に移動し、前述の動作が繰り
返される。このように、収容装置３では、キャリア積載
部１１のキャリア４の全てのＩＣがトレイ積載部３５Ａ
〜３５Ｃに移載される。収容装置３で空のキャリア４は
供給装置１で使用される。
【００１２】このように、キャリア４は供給装置１から
測定装置２へ移動し、測定装置２から収容装置３に移動
し、収容装置３から供給装置１へと循環する。各装置間
のキャリア４の移動はベルトコンベアなどを利用した搬
送装置を使用することもできる。
測定装置２へ移動し、測定装置２から収容装置３に移動
し、収容装置３から供給装置１へと循環する。各装置間
のキャリア４の移動はベルトコンベアなどを利用した搬
送装置を使用することもできる。
【００１３】図８から図１０に至るシステムでは、キャ
リア４の特定のＩＣソケット４Ａに接触ピンの破損など
による不良が発生した場合、不良のＩＣソケット４Ａへ
ＩＣを装着しないようにしている。
リア４の特定のＩＣソケット４Ａに接触ピンの破損など
による不良が発生した場合、不良のＩＣソケット４Ａへ
ＩＣを装着しないようにしている。
【００１４】ＩＣテスタによる測定結果に基づき、測定
装置２に備えられた表示器からキャリア４上の不良ＩＣ
ソケットの位置が特定できる。不良ＩＣソケットの位置
が特定できると、設定を変更し、不良のＩＣソケット４
ＡへＩＣを装着しないようにする。
装置２に備えられた表示器からキャリア４上の不良ＩＣ
ソケットの位置が特定できる。不良ＩＣソケットの位置
が特定できると、設定を変更し、不良のＩＣソケット４
ＡへＩＣを装着しないようにする。
【００１５】その結果、供給装置１では、供給ハンド１
２は全てのキャリア４に対して不良ＩＣソケット４Ａの
位置にＩＣを供給しなくなり、測定装置２では、全ての
キャリア４に対して不良ＩＣソケットの位置のＩＣを測
定しなくなり、収容装置３では、収容ハンド３２が全て
のキャリア４に対して不良ＩＣソケットの位置に移動し
なくなる。
２は全てのキャリア４に対して不良ＩＣソケット４Ａの
位置にＩＣを供給しなくなり、測定装置２では、全ての
キャリア４に対して不良ＩＣソケットの位置のＩＣを測
定しなくなり、収容装置３では、収容ハンド３２が全て
のキャリア４に対して不良ＩＣソケットの位置に移動し
なくなる。
【００１６】また、このシステムでは、測定装置２の制
御部は分類カテゴリＮS と連続測定不良回数ＮS とが設
定できる機能をもつ。このシステムおよびＩＣテスタで
はＩＣの多分類が可能であり、「０」から「Ｆ」までの
分類カテゴリの内、例えば、「Ｆ」をＩＣソケットの不
良カテゴリとして設定することができる。また、連続測
定不良回数ＮS を「５」に設定し、試験結果、カテゴリ
Ｆが５回連続したとき、ＩＣソケット４Ａが不良と判断
する。
御部は分類カテゴリＮS と連続測定不良回数ＮS とが設
定できる機能をもつ。このシステムおよびＩＣテスタで
はＩＣの多分類が可能であり、「０」から「Ｆ」までの
分類カテゴリの内、例えば、「Ｆ」をＩＣソケットの不
良カテゴリとして設定することができる。また、連続測
定不良回数ＮS を「５」に設定し、試験結果、カテゴリ
Ｆが５回連続したとき、ＩＣソケット４Ａが不良と判断
する。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】図９の測定装置で、不
良ＩＣソケットが判別できたときは、良品のＩＣソケッ
トに交換することも考えられる。しかし、ＩＣソケット
の交換はＩＣ試験の効率を低下させるので、測定装置は
キャリアの不良ＩＣソケットの番地を記憶しておき、前
記不良番地のＩＣは測定しないように制御している。
良ＩＣソケットが判別できたときは、良品のＩＣソケッ
トに交換することも考えられる。しかし、ＩＣソケット
の交換はＩＣ試験の効率を低下させるので、測定装置は
キャリアの不良ＩＣソケットの番地を記憶しておき、前
記不良番地のＩＣは測定しないように制御している。
【００１８】したがって、供給装置では全てのキャリア
の全てのＩＣソケットにＩＣが供給され、測定装置では
不良ＩＣソケットの良品ＩＣが測定されず、収容装置で
は不良ＩＣソケットのＩＣは不良品として処理されると
いう無駄が生ずる。
の全てのＩＣソケットにＩＣが供給され、測定装置では
不良ＩＣソケットの良品ＩＣが測定されず、収容装置で
は不良ＩＣソケットのＩＣは不良品として処理されると
いう無駄が生ずる。
【００１９】この発明は、キャリアにキャリアを識別す
る識別子を設け、供給装置は識別子を識別して、不良Ｉ
ＣソケットにＩＣを供給せず、測定装置は識別子を識別
して、不良ＩＣソケットを測定せず、収容装置は識別子
を識別して、不良ＩＣソケットに移載手段が移動しない
ＩＣ移載装置つきオートハンドラの提供を目的とする。
る識別子を設け、供給装置は識別子を識別して、不良Ｉ
ＣソケットにＩＣを供給せず、測定装置は識別子を識別
して、不良ＩＣソケットを測定せず、収容装置は識別子
を識別して、不良ＩＣソケットに移載手段が移動しない
ＩＣ移載装置つきオートハンドラの提供を目的とする。
【００２０】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、この発明は、キャリア４は複数のＩＣソケット４Ａ
を縦横に取り付け、供給装置１はキャリア４を複数枚積
載し、トレイからＩＣをＩＣソケット４Ａに移載し、測
定装置２はＩＣが搭載されたキャリア４を複数枚積載
し、キャリア４を移動してキャリア４のＩＣを一括して
測定し、測定後のキャリア４を複数積載し、収容装置３
は測定後のキャリア４を複数枚積載し、キャリア４のＩ
Ｃを前記測定結果によりトレイに分類移載し、収容装置
３の空のキャリア４が供給装置１に循環するＩＣ移載装
置つきオートハンドラであって、キャリア４にキャリア
４を特定する識別子４Ｂを取り付ける。
に、この発明は、キャリア４は複数のＩＣソケット４Ａ
を縦横に取り付け、供給装置１はキャリア４を複数枚積
載し、トレイからＩＣをＩＣソケット４Ａに移載し、測
定装置２はＩＣが搭載されたキャリア４を複数枚積載
し、キャリア４を移動してキャリア４のＩＣを一括して
測定し、測定後のキャリア４を複数積載し、収容装置３
は測定後のキャリア４を複数枚積載し、キャリア４のＩ
Ｃを前記測定結果によりトレイに分類移載し、収容装置
３の空のキャリア４が供給装置１に循環するＩＣ移載装
置つきオートハンドラであって、キャリア４にキャリア
４を特定する識別子４Ｂを取り付ける。
【００２１】供給装置１は識別子４Ｂを読み取るキャリ
ア判別手段１Ｂと、測定装置２と接続する通信手段１Ｄ
と、記憶手段１Ｅをもち、測定装置２は識別子４Ｂを読
み取るキャリア判別手段２Ｂと、通信手段１Ｄと接続す
る通信手段２Ｄと、記憶手段２Ｅをもち、ＩＣの測定結
果のカテゴリの内、不良のＩＣソケット４Ａのカテゴリ
を「Ｃs 」として測定装置２に設定し、不良カテゴリＣ
s が連続する不良回数を「Ｎs 」として測定装置２に設
定し、測定装置２は不良カテゴリＣs が連続不良回数Ｎ
s に達したキャリア４の識別番号Ｎs と前記キャリア４
の不良のＩＣソケット４Ａの不良番地Ｄs を記憶手段２
Ｅに書き込み、供給装置１はＣＰＵ１Ａが記憶手段２Ｅ
の前記識別番号Ｎs と不良番地Ｄs を記憶手段１Ｅに書
込指令し、ＣＰＵ１Ａは記憶手段１Ｅに読込指令してキ
ャリア４の識別番号を比較照合し、供給手段１Ｃは不良
のＩＣソケット４Ａをもつキャリア４の不良番地Ｄs に
トレイからＩＣを供給しない。
ア判別手段１Ｂと、測定装置２と接続する通信手段１Ｄ
と、記憶手段１Ｅをもち、測定装置２は識別子４Ｂを読
み取るキャリア判別手段２Ｂと、通信手段１Ｄと接続す
る通信手段２Ｄと、記憶手段２Ｅをもち、ＩＣの測定結
果のカテゴリの内、不良のＩＣソケット４Ａのカテゴリ
を「Ｃs 」として測定装置２に設定し、不良カテゴリＣ
s が連続する不良回数を「Ｎs 」として測定装置２に設
定し、測定装置２は不良カテゴリＣs が連続不良回数Ｎ
s に達したキャリア４の識別番号Ｎs と前記キャリア４
の不良のＩＣソケット４Ａの不良番地Ｄs を記憶手段２
Ｅに書き込み、供給装置１はＣＰＵ１Ａが記憶手段２Ｅ
の前記識別番号Ｎs と不良番地Ｄs を記憶手段１Ｅに書
込指令し、ＣＰＵ１Ａは記憶手段１Ｅに読込指令してキ
ャリア４の識別番号を比較照合し、供給手段１Ｃは不良
のＩＣソケット４Ａをもつキャリア４の不良番地Ｄs に
トレイからＩＣを供給しない。
【００２２】測定装置２はＣＰＵ２Ａが記憶手段２Ｅに
読込指令してキャリア４の識別番号を比較照合し、測定
手段２Ｃは不良のＩＣソケット４Ａをもつキャリア４の
不良番地Ｄs のＩＣを測定しない。
読込指令してキャリア４の識別番号を比較照合し、測定
手段２Ｃは不良のＩＣソケット４Ａをもつキャリア４の
不良番地Ｄs のＩＣを測定しない。
【００２３】収容装置３は識別子４Ｂを読み取るキャリ
ア判別手段３Ｂと、測定装置２と接続する通信手段３Ｄ
と、記憶手段３Ｅをもち、収容装置３はＣＰＵ３Ａが記
憶手段３Ｅの前記識別番号Ｎs と不良番地Ｄs を記憶手
段３Ｅに書込指令し、ＣＰＵ３Ａは記憶手段３Ｅに読込
指令してキャリア４の識別番号を比較照合し、収容手段
１Ｃは不良のＩＣソケット４Ａをもつキャリア４の不良
番地Ｄs に移動しない。
ア判別手段３Ｂと、測定装置２と接続する通信手段３Ｄ
と、記憶手段３Ｅをもち、収容装置３はＣＰＵ３Ａが記
憶手段３Ｅの前記識別番号Ｎs と不良番地Ｄs を記憶手
段３Ｅに書込指令し、ＣＰＵ３Ａは記憶手段３Ｅに読込
指令してキャリア４の識別番号を比較照合し、収容手段
１Ｃは不良のＩＣソケット４Ａをもつキャリア４の不良
番地Ｄs に移動しない。
【００２４】また、この発明による測定装置２の表示手
段２Ｆは、第１の表示はキャリア４の識別番号とＩＣの
搬送されるＩＣソケット４Ａの番地を表示し、第２の表
示は連続不良回数Ｎs と不良カテゴリＣs を表示し、第
３の表示はキャリア４の不良番地Ｄs を表示する。
段２Ｆは、第１の表示はキャリア４の識別番号とＩＣの
搬送されるＩＣソケット４Ａの番地を表示し、第２の表
示は連続不良回数Ｎs と不良カテゴリＣs を表示し、第
３の表示はキャリア４の不良番地Ｄs を表示する。
【００２５】
【作用】この発明では、供給装置１では、キャリア判別
手段１Ｂがキャリア４を判別する。判別したキャリア番
号に対するＩＣソケット４Ａの番地を記憶手段１Ｅから
読み出す。読み出したＩＣ搬送位置設定に従い、供給手
段１ＣはＩＣをキャリア４に供給する。
手段１Ｂがキャリア４を判別する。判別したキャリア番
号に対するＩＣソケット４Ａの番地を記憶手段１Ｅから
読み出す。読み出したＩＣ搬送位置設定に従い、供給手
段１ＣはＩＣをキャリア４に供給する。
【００２６】測定装置２では、キャリア判別手段２Ｂが
キャリア４を判別する。判別したキャリア番号に対する
ＩＣソケット４Ａの番地を通信手段２ＤによりＩＣ供給
装置１から読み出す。読み出したＩＣソケット４Ａの番
地に従い、測定手段２Ｃがキャリア４のＩＣを測定す
る。
キャリア４を判別する。判別したキャリア番号に対する
ＩＣソケット４Ａの番地を通信手段２ＤによりＩＣ供給
装置１から読み出す。読み出したＩＣソケット４Ａの番
地に従い、測定手段２Ｃがキャリア４のＩＣを測定す
る。
【００２７】収容装置３では、キャリア判別手段３Ｂが
キャリア４を判別する。判別したキャリア番号に対する
ＩＣの測定結果を通信手段３Ｄにより測定装置２から読
み出す。読み出したＩＣの測定結果に従い、収容手段３
Ｃはキャリア４のＩＣを分類、収容する。
キャリア４を判別する。判別したキャリア番号に対する
ＩＣの測定結果を通信手段３Ｄにより測定装置２から読
み出す。読み出したＩＣの測定結果に従い、収容手段３
Ｃはキャリア４のＩＣを分類、収容する。
【００２８】測定装置２では、記憶手段２Ｅから連続不
良回数Ｎs と不良カテゴリＣs を読み出す。キャリア判
別手段２Ｂが判別したキャリア番号の各ＩＣの測定結果
に対し連続不良が発生したかを確認し、連続不良の場合
には表示手段２ＦへＩＣソケットの不良番地を表示す
る。
良回数Ｎs と不良カテゴリＣs を読み出す。キャリア判
別手段２Ｂが判別したキャリア番号の各ＩＣの測定結果
に対し連続不良が発生したかを確認し、連続不良の場合
には表示手段２ＦへＩＣソケットの不良番地を表示す
る。
【００２９】また、測定装置２で、連続不良が発生した
とき、通信手段２Ｄが連続不良のキャリア番号と不良ソ
ケットの番地を供給装置１に送信する。供給装置１で
は、受信した不良キャリア番号に対する不良ソケットの
番地を記憶手段１Ｅから読み出す。受信した不良ソケッ
トの番地をＩＣ未供給に変更し、記憶手段１Ｅに書き込
む。以降の供給動作において、キャリア４の不良のＩＣ
ソケット番地へＩＣを供給しない。
とき、通信手段２Ｄが連続不良のキャリア番号と不良ソ
ケットの番地を供給装置１に送信する。供給装置１で
は、受信した不良キャリア番号に対する不良ソケットの
番地を記憶手段１Ｅから読み出す。受信した不良ソケッ
トの番地をＩＣ未供給に変更し、記憶手段１Ｅに書き込
む。以降の供給動作において、キャリア４の不良のＩＣ
ソケット番地へＩＣを供給しない。
【００３０】
【実施例】次に、この発明によるオートハンドラの構成
を図１により説明する。図１の供給装置１は、制御手段
１Ａ、キャリア判別手段１Ｂ、供給手段１Ｃ、通信手段
１Ｄ、記憶手段１Ｅ、表示手段１Ｆで構成される。測定
装置２は、制御手段２Ａ、キャリア判別手段２Ｂ、測定
手段２Ｃ、通信手段２Ｄ、記憶手段２Ｅ、表示手段２Ｆ
で構成される。収容装置３は制御手段３Ａ、キャリア判
別手段３Ｂ、収容手段３Ｃ、通信手段３Ｄ、記憶手段３
Ｅ、表示手段３Ｆで構成される。
を図１により説明する。図１の供給装置１は、制御手段
１Ａ、キャリア判別手段１Ｂ、供給手段１Ｃ、通信手段
１Ｄ、記憶手段１Ｅ、表示手段１Ｆで構成される。測定
装置２は、制御手段２Ａ、キャリア判別手段２Ｂ、測定
手段２Ｃ、通信手段２Ｄ、記憶手段２Ｅ、表示手段２Ｆ
で構成される。収容装置３は制御手段３Ａ、キャリア判
別手段３Ｂ、収容手段３Ｃ、通信手段３Ｄ、記憶手段３
Ｅ、表示手段３Ｆで構成される。
【００３１】図１の供給装置１は図８を機能ブロックに
構成化したものである。同様に、図１の測定装置２は図
９を機能ブロックに構成化したものであり、図１の収容
装置２は図１０を機能ブロックに構成化したものであ
る。
構成化したものである。同様に、図１の測定装置２は図
９を機能ブロックに構成化したものであり、図１の収容
装置２は図１０を機能ブロックに構成化したものであ
る。
【００３２】この発明の最も特徴とするところは、図７
に示されるキャリア４にキャリアを特定する識別子４Ｂ
を取り付ける点にある。識別子４Ｂは例えば、バーコー
ドまたは抵抗器がある。識別子４Ｂにバーコードを使用
する場合は、バーコードをキャリア４の側壁に張り付け
ればよい。バーコードの場合、キャリア判別手段１Ｂ〜
３Ｂにはバーコードリーダを使用する。
に示されるキャリア４にキャリアを特定する識別子４Ｂ
を取り付ける点にある。識別子４Ｂは例えば、バーコー
ドまたは抵抗器がある。識別子４Ｂにバーコードを使用
する場合は、バーコードをキャリア４の側壁に張り付け
ればよい。バーコードの場合、キャリア判別手段１Ｂ〜
３Ｂにはバーコードリーダを使用する。
【００３３】識別子４Ｂに抵抗器を使用する場合は、抵
抗器をキャリア４の側壁に取り付ければよい。抵抗器の
抵抗値をキャリア毎に変えれば、キャリアを特定でき
る。抵抗器の場合、キャリア判別手段１Ｂ〜３Ｂには抵
抗値読取器を使用する。
抗器をキャリア４の側壁に取り付ければよい。抵抗器の
抵抗値をキャリア毎に変えれば、キャリアを特定でき
る。抵抗器の場合、キャリア判別手段１Ｂ〜３Ｂには抵
抗値読取器を使用する。
【００３４】図１の制御手段１Ａ〜３ＡはＣＰＵであ
り、各装置の構成品を指令制御または演算する。記憶装
置１Ｅ〜３Ｅには例えばＲＡＭなどを使用し、制御手段
１Ａ〜３Ａの指令により情報が書き込まれ、または読み
込まれる。通信手段１Ｄ〜３Ｄ例えば、ＬＡＮまたはＧ
ＰＩＢなどを使用する。供給装置１の通信手段１Ｄは測
定装置２の通信手段２Ｄと接続し、測定装置２の通信手
段２Ｄは収容装置３の通信手段３Ｄと接続する。表示手
段１Ｆ〜３Ｆには例えば、ディスプレイを使用する。
り、各装置の構成品を指令制御または演算する。記憶装
置１Ｅ〜３Ｅには例えばＲＡＭなどを使用し、制御手段
１Ａ〜３Ａの指令により情報が書き込まれ、または読み
込まれる。通信手段１Ｄ〜３Ｄ例えば、ＬＡＮまたはＧ
ＰＩＢなどを使用する。供給装置１の通信手段１Ｄは測
定装置２の通信手段２Ｄと接続し、測定装置２の通信手
段２Ｄは収容装置３の通信手段３Ｄと接続する。表示手
段１Ｆ〜３Ｆには例えば、ディスプレイを使用する。
【００３５】供給装置１の供給手段１Ｃは図８の供給ハ
ンド１２の駆動手段を意味する。供給装置１は、キャリ
ア判別手段１Ｂがキャリア４の識別子４Ｂを読み取り、
キャリア４を判別する。制御手段１Ａの指令により、判
別したキャリア番号のＩＣ供給番地を記憶手段１Ｅから
読み出す。読み出したＩＣの搬送番地設定に従い、供給
手段１Ｃはトレイからキャリア４にＩＣを供給する。
ンド１２の駆動手段を意味する。供給装置１は、キャリ
ア判別手段１Ｂがキャリア４の識別子４Ｂを読み取り、
キャリア４を判別する。制御手段１Ａの指令により、判
別したキャリア番号のＩＣ供給番地を記憶手段１Ｅから
読み出す。読み出したＩＣの搬送番地設定に従い、供給
手段１Ｃはトレイからキャリア４にＩＣを供給する。
【００３６】測定装置２は、キャリア判別手段２Ｂが、
キャリア４の識別子４Ｂを読み取り、キャリア４を判別
する。制御手段２Ａの指令により、判別したキャリア番
号のＩＣ供給番地を記憶手段２Ｅから読み出す。読み出
したＩＣ供給番地のＩＣに対し、測定手段２Ｃはキャリ
ア４のＩＣを測定する。ＩＣの測定結果は記憶手段２Ｅ
へ書き込まれる。
キャリア４の識別子４Ｂを読み取り、キャリア４を判別
する。制御手段２Ａの指令により、判別したキャリア番
号のＩＣ供給番地を記憶手段２Ｅから読み出す。読み出
したＩＣ供給番地のＩＣに対し、測定手段２Ｃはキャリ
ア４のＩＣを測定する。ＩＣの測定結果は記憶手段２Ｅ
へ書き込まれる。
【００３７】ここで、制御手段２Ａは記憶装置２Ｅから
連続不良回数Ｎs と、不良カテゴリ設定Ｃs と、判別し
たキャリア番号のキャリア４の過去のＩＣ測定結果を読
み出す。、キャリア４の各ＩＣについて過去Ｎs 回のテ
ストで連続して不良カテゴリＣs が発生したかを確認す
る。連続して発生した場合には、そのＩＣソケット番地
に対し連続不良の警報を表示手段２Ｆに表示し、ＩＣソ
ケット３Ａの不良を検出する。
連続不良回数Ｎs と、不良カテゴリ設定Ｃs と、判別し
たキャリア番号のキャリア４の過去のＩＣ測定結果を読
み出す。、キャリア４の各ＩＣについて過去Ｎs 回のテ
ストで連続して不良カテゴリＣs が発生したかを確認す
る。連続して発生した場合には、そのＩＣソケット番地
に対し連続不良の警報を表示手段２Ｆに表示し、ＩＣソ
ケット３Ａの不良を検出する。
【００３８】また、連続不良の発生時には、通信手段２
Ｄにより、供給装置１ヘ連続不良キャリア番号と連続不
良ソケットの番地の情報を送信する。このとき、供給装
置１では、受信した連続不良キャリア番号に対するＩＣ
供給位置設定を記憶手段１Ｅから読み出し、不良ＩＣソ
ケットの番地にＩＣを供給しないよう記憶手段１Ｅを書
き換え、以降の供給動作においてキャリア４の不良ＩＣ
ソケットの番地へＩＣを供給しない。
Ｄにより、供給装置１ヘ連続不良キャリア番号と連続不
良ソケットの番地の情報を送信する。このとき、供給装
置１では、受信した連続不良キャリア番号に対するＩＣ
供給位置設定を記憶手段１Ｅから読み出し、不良ＩＣソ
ケットの番地にＩＣを供給しないよう記憶手段１Ｅを書
き換え、以降の供給動作においてキャリア４の不良ＩＣ
ソケットの番地へＩＣを供給しない。
【００３９】収容装置３では、キャリア判別手段３Ｂ
が、キャリア４に取り付けた識別子３Ｂを読み取り、キ
ャリア４を判別する。判別したキャリア番号に対するＩ
Ｃ測定結果を、制御手段３Ａが通信手段３Ｄにより測定
装置２から読出指令し、読み出したＩＣ測定結果に対
し、収容手段３Ｃがキャリア４のＩＣを分類・収容す
る。
が、キャリア４に取り付けた識別子３Ｂを読み取り、キ
ャリア４を判別する。判別したキャリア番号に対するＩ
Ｃ測定結果を、制御手段３Ａが通信手段３Ｄにより測定
装置２から読出指令し、読み出したＩＣ測定結果に対
し、収容手段３Ｃがキャリア４のＩＣを分類・収容す
る。
【００４０】次に、供給装置１の動作を図２のフローチ
ャートにより説明する。 図２のステップ１０１では、
キャリア４が移載部１３に移載されたかを判断する。キ
ャリア４が移載されるとステップ１０２では、キャリア
判別手段１Ｂがキャリア４のキャリア番号を判別する。
ステップ１０３では、判別したキャリア番号に対するＩ
Ｃ供給番地を制御手段１Ａが記憶手段１Ｅから読み出
す。ステップ１０４では、指定のＩＣ供給番地に供給手
段１ＣがＩＣを供給する。ステップ１０５では、制御手
段１Ａはキャリア４へのＩＣの供給結果を記憶装置１Ｅ
へ書き込み、ステップ１０１へ戻る。以上の動作はキャ
リア積載部１１にＩＣ未供給のキャリアが無くなるまで
繰り返される。
ャートにより説明する。 図２のステップ１０１では、
キャリア４が移載部１３に移載されたかを判断する。キ
ャリア４が移載されるとステップ１０２では、キャリア
判別手段１Ｂがキャリア４のキャリア番号を判別する。
ステップ１０３では、判別したキャリア番号に対するＩ
Ｃ供給番地を制御手段１Ａが記憶手段１Ｅから読み出
す。ステップ１０４では、指定のＩＣ供給番地に供給手
段１ＣがＩＣを供給する。ステップ１０５では、制御手
段１Ａはキャリア４へのＩＣの供給結果を記憶装置１Ｅ
へ書き込み、ステップ１０１へ戻る。以上の動作はキャ
リア積載部１１にＩＣ未供給のキャリアが無くなるまで
繰り返される。
【００４１】次に、測定装置２の動作を図３のフローチ
ャートにより説明する。ステップ２０１では、キャリア
４が予冷部２３Ａに移載されたかを判断する。ステップ
２０２では、キャリア判別手段２Ｂが移載されたキャリ
ア４を判別する。ステップ２０３では、判別したキャリ
ア番号に対するＩＣ搬送位置情報を通信手段２Ｄが供給
装置１から通信により読み出す。ステップ２０４では、
読み出したＩＣ搬送位置情報により搬送されたキャリア
４のＩＣを測定手段２Ｃが測定する。ステップ２０５で
は、制御手段２ＡがＩＣの測定結果を記憶手段２Ｅへ書
き込み、ステップ２０１へ戻る。以上の動作はＩＣが供
給されたキャリアが無くなるまで繰り返される。
ャートにより説明する。ステップ２０１では、キャリア
４が予冷部２３Ａに移載されたかを判断する。ステップ
２０２では、キャリア判別手段２Ｂが移載されたキャリ
ア４を判別する。ステップ２０３では、判別したキャリ
ア番号に対するＩＣ搬送位置情報を通信手段２Ｄが供給
装置１から通信により読み出す。ステップ２０４では、
読み出したＩＣ搬送位置情報により搬送されたキャリア
４のＩＣを測定手段２Ｃが測定する。ステップ２０５で
は、制御手段２ＡがＩＣの測定結果を記憶手段２Ｅへ書
き込み、ステップ２０１へ戻る。以上の動作はＩＣが供
給されたキャリアが無くなるまで繰り返される。
【００４２】次に、収容装置３の動作を図４のフローチ
ャートにより説明する。ステップ３０１では、キャリア
４が移載部３３に移載されたかを確認する。ステップ３
０２ではキャリア判別手段３Ｂが移載されたキャリア４
を判別する。ステップ３０３では判別したキャリア番号
に対するＩＣ測定結果を通信手段３Ｄが測定装置２から
通信により読み出す。ステップ３０４では読み出したＩ
Ｃ測定結果に従い、収容手段３Ｃがキャリア４のＩＣを
分類・収容し、ステップ３０１ヘ戻る。以上の動作は測
定後のＩＣが搭載キャリアが無くなるまで繰り返され
る。
ャートにより説明する。ステップ３０１では、キャリア
４が移載部３３に移載されたかを確認する。ステップ３
０２ではキャリア判別手段３Ｂが移載されたキャリア４
を判別する。ステップ３０３では判別したキャリア番号
に対するＩＣ測定結果を通信手段３Ｄが測定装置２から
通信により読み出す。ステップ３０４では読み出したＩ
Ｃ測定結果に従い、収容手段３Ｃがキャリア４のＩＣを
分類・収容し、ステップ３０１ヘ戻る。以上の動作は測
定後のＩＣが搭載キャリアが無くなるまで繰り返され
る。
【００４３】次に、警報を表示する場合の測定装置２の
動作を図５のフローチャートにより説明する。図５のス
テップ２１１からステップ２１５は、図３のステップ２
０１からステップ２０５と同様であるため説明を省略す
る。
動作を図５のフローチャートにより説明する。図５のス
テップ２１１からステップ２１５は、図３のステップ２
０１からステップ２０５と同様であるため説明を省略す
る。
【００４４】図５のステップ２１６では、制御手段２Ａ
が連続不良回数Ｎs （測定結果に連続不良カテゴリが連
続して発生した場合にＩＣソケットの不良と判断し、連
続続不良アラームを発生させるまでの設定される連続回
数）、不良カテゴリＣs （ＩＣソケットが不良の場合、
測定結果に発生する設定されるカテゴリ）、判別したキ
ャリア４の過去の測定結果を記憶手段２Ｅから読み出
す。
が連続不良回数Ｎs （測定結果に連続不良カテゴリが連
続して発生した場合にＩＣソケットの不良と判断し、連
続続不良アラームを発生させるまでの設定される連続回
数）、不良カテゴリＣs （ＩＣソケットが不良の場合、
測定結果に発生する設定されるカテゴリ）、判別したキ
ャリア４の過去の測定結果を記憶手段２Ｅから読み出
す。
【００４５】ステップ２１７では判別したキャリア４の
各ＩＣについて、過去Ｎs 回の測定で連続して不良カテ
ゴリＣs が発生したかを判断し、発生しない場合にはス
テップ２１１へ戻り、発生した場合にはステップ２１８
で連続して不良カテゴリの発生したＩＣソケットに対し
連続不良アラームを表示し、ステップ２１１へ戻る。以
上の動作は測定後のＩＣが乗ったキャリアが無くなるま
で繰り返される。
各ＩＣについて、過去Ｎs 回の測定で連続して不良カテ
ゴリＣs が発生したかを判断し、発生しない場合にはス
テップ２１１へ戻り、発生した場合にはステップ２１８
で連続して不良カテゴリの発生したＩＣソケットに対し
連続不良アラームを表示し、ステップ２１１へ戻る。以
上の動作は測定後のＩＣが乗ったキャリアが無くなるま
で繰り返される。
【００４６】次に、連続不良が発生した場合の測定装置
２と供給装置１の動作を図６のフローチャートによりを
参照して説明する。図６アの測定装置２で、キャリア４
に連続不良が発生した場合のフローチャートである。図
６アのステップ２４１では表示手段２Ｆに連続不良アラ
ームを表示する。これは、図５のステップ２１８と同様
の処置を示す。ステップ２４２では連続不良の発生した
キャリアに対する、連続不良キャリア番号、不良ソケッ
ト位置情報を供給装置１へ送信する。
２と供給装置１の動作を図６のフローチャートによりを
参照して説明する。図６アの測定装置２で、キャリア４
に連続不良が発生した場合のフローチャートである。図
６アのステップ２４１では表示手段２Ｆに連続不良アラ
ームを表示する。これは、図５のステップ２１８と同様
の処置を示す。ステップ２４２では連続不良の発生した
キャリアに対する、連続不良キャリア番号、不良ソケッ
ト位置情報を供給装置１へ送信する。
【００４７】図６イは供給装置１のフローチャートであ
る。供給装置１のステップ１４３では、不良キャリア番
号、不良ＩＣソケット位置情報を測定装置２から受信す
る。ステップ１４４では、受信した不良キャリア番号に
対するＩＣ搬送位置設定を記憶手段１Ｅから読み出す。
ステップ１４５では読み出したＩＣ搬送位置設定につい
て、受信した不良ＩＣソケット位置情報の不良ＩＣソケ
ット位置をＩＣ未供給に設定変更する。ステップ１４６
では、設定変更したＩＣ搬送位置設定を記憶手段１Ｅに
書き込み、以降の供給動作においてキャリア４の不良Ｉ
Ｃソケット位置へＩＣを供給しない。
る。供給装置１のステップ１４３では、不良キャリア番
号、不良ＩＣソケット位置情報を測定装置２から受信す
る。ステップ１４４では、受信した不良キャリア番号に
対するＩＣ搬送位置設定を記憶手段１Ｅから読み出す。
ステップ１４５では読み出したＩＣ搬送位置設定につい
て、受信した不良ＩＣソケット位置情報の不良ＩＣソケ
ット位置をＩＣ未供給に設定変更する。ステップ１４６
では、設定変更したＩＣ搬送位置設定を記憶手段１Ｅに
書き込み、以降の供給動作においてキャリア４の不良Ｉ
Ｃソケット位置へＩＣを供給しない。
【００４８】図１１はこの発明の実施例における第１の
表示画面である。図１１の表示画面には、キャリア番
号、各キャリア番号に対するＩＣ搬送位置などの設定情
報がそれぞれ表示される。
表示画面である。図１１の表示画面には、キャリア番
号、各キャリア番号に対するＩＣ搬送位置などの設定情
報がそれぞれ表示される。
【００４９】図１２はこの発明の実施例における第２の
表示画面である。図１２の表示画面には、連続不良回
数、連続不良カテゴリなどの設定情報がそれぞれ表示さ
れる。
表示画面である。図１２の表示画面には、連続不良回
数、連続不良カテゴリなどの設定情報がそれぞれ表示さ
れる。
【００５０】図１３はこの発明の実施例における第３の
表示画面である。図１３の表示画面には、連続不良が発
生した場合のアラーム情報が表示される。
表示画面である。図１３の表示画面には、連続不良が発
生した場合のアラーム情報が表示される。
【００５１】
【発明の効果】この発明はＩＣを搭載するキャリアに識
別子を取り付け、前記キャリアが供給装置と測定装置収
容装置を循環し、各装置は通信手段で接続されるととも
に、各装置の記憶手段に不良ＩＣソケットに位置情報が
常に書き換えられるので、キャリアの不良ＩＣソケット
だけにＩＣを供給しないことできる。、また、キャリア
のＩＣソケットに不良が発生した場合には、その不良Ｉ
Ｃソケットを検出することができる。また、不良ＩＣソ
ケットを検出した場合には、それ以降、不良ＩＣソケッ
トにＩＣを供給しないようになり、ＩＣ測定のスループ
ットが向上する。
別子を取り付け、前記キャリアが供給装置と測定装置収
容装置を循環し、各装置は通信手段で接続されるととも
に、各装置の記憶手段に不良ＩＣソケットに位置情報が
常に書き換えられるので、キャリアの不良ＩＣソケット
だけにＩＣを供給しないことできる。、また、キャリア
のＩＣソケットに不良が発生した場合には、その不良Ｉ
Ｃソケットを検出することができる。また、不良ＩＣソ
ケットを検出した場合には、それ以降、不良ＩＣソケッ
トにＩＣを供給しないようになり、ＩＣ測定のスループ
ットが向上する。
【図１】この発明の実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】図１の供給装置の動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図３】図１の測定装置の動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図４】図１の収容装置の動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図５】図３で警報表示するときのフローチャートであ
る。
る。
【図６】連続不良が発生した場合の測定装置２と供給装
置１の動作を示すフローチャートである。
置１の動作を示すフローチャートである。
【図７】この発明で使用されるキャリアの構成図であ
る。
る。
【図８】従来技術による供給装置の構成図である。
【図９】従来技術による測定装置の構成図である。
【図１０】従来技術による収容装置の構成図である。
【図１１】この発明の実施例における第１の表示画面の
図である。
図である。
【図１２】この発明の実施例における第２の表示画面の
図である。
図である。
【図１３】この発明の実施例における第３の表示画面の
図である。
図である。
１ 供給装置 １Ａ 制御手段（ＣＰＵ） １Ｂ キャリア判別手段 １Ｃ 供給手段 １Ｄ 通信手段 １Ｅ 記憶手段 １Ｆ 表示手段 ２ 測定装置 ２Ａ 制御手段（ＣＰＵ） ２Ｂ キャリア判別手段 ２Ｃ 測定手段 ２Ｄ 通信手段 ２Ｅ 記憶手段 ２Ｆ 表示手段 ３ 収容装置 ３Ａ 制御手段（ＣＰＵ） ３Ｂ キャリア判別手段 ３Ｃ 収容手段 ３Ｄ 通信手段 ３Ｅ 記憶手段 ３Ｆ 表示手段 ４ キャリア ４Ａ ＩＣソケット ４Ｂ 識別子
Claims (5)
- 【請求項１】 キャリア(4) は複数のＩＣソケット(4A)
を縦横に取り付け、 供給装置(1) はキャリア(4) を複数枚積載し、トレイか
らＩＣをＩＣソケット(4A)に移載し、 測定装置(2) はＩＣが搭載されたキャリア(4) を複数枚
積載し、キャリア(4)を移動してキャリア(4) のＩＣを
一括して測定し、測定後のキャリア(4) を複数積載し、 収容装置(3) は測定後のキャリア(4) を複数枚積載し、
キャリア(4) のＩＣを前記測定結果によりトレイに分類
移載し、 収容装置(3) の空のキャリア(4) が供給装置(1) に循環
するＩＣ移載装置つきオートハンドラであって、 キャリア(4) にキャリア(4) を特定する識別子(4B)を取
り付けることを特徴とするＩＣ移載装置つきオートハン
ドラ。 - 【請求項２】 供給装置(1) は識別子(4B)を読み取る第
１のキャリア判別手段(1B)と、測定装置(2) と接続する
第１の通信手段(1D)と、第１の記憶手段(1E)をもち、 測定装置(2) は識別子(4B)を読み取る第２のキャリア判
別手段(2B)と、第１の通信手段(1D)と接続する第２の通
信手段(2D)と、第２の記憶手段(2E)をもち、 ＩＣの測定結果のカテゴリの内、不良のＩＣソケット(4
A)のカテゴリを「Ｃs」として測定装置(2) に設定し、 不良カテゴリＣs が連続する不良回数を「Ｎs 」として
測定装置(2) に設定し、 測定装置(2) は不良カテゴリＣs が連続不良回数Ｎs に
達したキャリア(4)の識別番号Ｎs と前記キャリア(4)の
不良のＩＣソケット(4A)の不良番地Ｄs を第２の記憶手
段(2E)に書き込み、 供給装置(1) は第１のＣＰＵ(1A)が第２の記憶手段(2E)
の前記識別番号Ｎs と不良番地Ｄs を第１の記憶手段(1
E)に書込指令し、 第１のＣＰＵ(1A)は第１の記憶手段(1E)に読込指令して
キャリア(4)の識別番号を比較照合し、 供給手段(1C)は不良のＩＣソケット(4A)をもつキャリア
(4)の不良番地Ｄs にトレイからＩＣを供給しないこと
を特徴とする請求項１記載の供給装置。 - 【請求項３】 測定装置(2) は第２のＣＰＵ(2A)が第２
の記憶手段(2E)に読込指令してキャリア(4)の識別番号
を比較照合し、 測定手段(2C)は不良のＩＣソケット(4A)をもつキャリア
(4)の不良番地Ｄs のＩＣを測定しないことを特徴とす
る請求項１記載の測定装置。 - 【請求項４】 収容装置(3) は識別子(4B)を読み取る第
３のキャリア判別手段(3B)と、測定装置(2) と接続する
第３の通信手段(3D)と、第３の記憶手段(3E)をもち、 収容装置(3) は第３のＣＰＵ(3A)が第３の記憶手段(3E)
の前記識別番号Ｎs と不良番地Ｄs を第３の記憶手段(3
E)に書込指令し、 第３のＣＰＵ(3A)は第３の記憶手段(3E)に読込指令して
キャリア(4)の識別番号を比較照合し、 収容手段(1C)は不良のＩＣソケット(4A)をもつキャリア
(4)の不良番地Ｄs に移動しないことを特徴とする請求
項１記載の収容装置。 - 【請求項５】 第１の表示はキャリア(4) の識別番号と
ＩＣの搬送されるＩＣソケット(4A)の番地を表示し、第
２の表示は連続不良回数Ｎs と不良カテゴリＣs を表示
し、第３の表示はキャリア(4) の不良番地Ｄs を表示す
る表示手段(2F)を備えることを特徴とする請求項１記載
の測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32164794A JPH08150583A (ja) | 1994-11-29 | 1994-11-29 | Ｉｃ移載装置つきオートハンドラ |
| US08/564,571 US5715168A (en) | 1994-11-29 | 1995-11-28 | Auto-handler system preventing delivery of integrated circuits to defective sockets |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32164794A JPH08150583A (ja) | 1994-11-29 | 1994-11-29 | Ｉｃ移載装置つきオートハンドラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08150583A true JPH08150583A (ja) | 1996-06-11 |
Family
ID=18134842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32164794A Pending JPH08150583A (ja) | 1994-11-29 | 1994-11-29 | Ｉｃ移載装置つきオートハンドラ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5715168A (ja) |
| JP (1) | JPH08150583A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004317513A (ja) * | 2003-04-15 | 2004-11-11 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体素子の電気的検査方法 |
| KR101459386B1 (ko) * | 2013-05-23 | 2014-11-10 | (주)에이젯 | 블레이드 오프기능을 갖는 테스트 핸들러 시스템 및 그 방법 |
| JP2022105301A (ja) * | 2020-12-31 | 2022-07-13 | 致茂電子股▲分▼有限公司 | レーザーダイオードテストシステム及びレーザーダイオードテスト方法 |
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|---|---|---|---|---|
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| JP4202498B2 (ja) * | 1998-12-15 | 2008-12-24 | 株式会社アドバンテスト | 部品ハンドリング装置 |
| US6046677A (en) * | 1999-02-08 | 2000-04-04 | Honda Of America Mfg., Inc. | Method and apparatus for ensuring proper use of an indication device within an assembly line |
| US7924440B2 (en) * | 2008-08-19 | 2011-04-12 | Silverbrook Research Pty Ltd | Imaging apparatus for imaging integrated circuits on an integrated circuit carrier |
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