JPH0390983A - Ｉｃカードのテスト装置およびテストボード - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はＩＣカードのテスト装置およびこれに用いるテ
ストボードに関する。

〔従来の技術〕

磁気カードに代わる新しい媒体としてＩＣカードが注目
されつつあるが、このＩＣカードは磁気カードに比べて
非常に複雑な機能を有するため、製品出荷時には厳密な
テストが要求される。ＩＣカードに対するテストは、通
常、外部から所定のデータをＩＣカードに与え、これに
応答してＩＣカード側から出力される応答データが期待
どおりのものであるか否かを判定することによって行わ
れる。このようなＩＣカードのテストを行うための装置
としては、パソコンにテスト用モジュールを接続したも
のが一般的に用いられている。

〔発明が解決しようとする課題〕

ＩＣカードを現在の磁気カード並みに普及させるには、
量産化を図る必要がある。しかしながら、前述したパソ
コンを用いたテスト装置では、ＩＣカードを１枚ずつテ
ストすることしかできず、量産工程にとうてい対応でき
るものではない。

そこで本発明は、多数のＩＣカードを一度にテストでき
、量産化に対応できるＩＣカードのテスト装置およびこ
れに用いるテストボードを提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

（１）　　本願箱１の発明は、テスト対象となるＩＣカ
ードを複数枚保持することができ、テストに必要な電気
信号を各ＩＣカードに対して入出力させるための配線を
備えたテストボードと、このテストボードをドライブす
るためのドライバボードと、 をそれぞれ所定枚数用意し、これらを複数のグループに
分類し、 １つのグループに属するＩＣカードに対して、同一のテ
ストを同時に行う機能を有するテストユニットを、各グ
ループごとに設け、各グループに属するテストボードに
対してドライバボードを介して信号のやりとりができる
ように構成し、テストボードを収容し、これを所定温度
に保つチャンバと、 このチャンバ内の温度制御と、各グループごとに設けら
れたテストユニットの統括制御と、を行うシステムコン
トローラと、 このシステムコントローラに指令を与えるホストコンピ
ュータと、 を更に設け、各グループごとに独立したテストを行える
ようなＩＣカードのテスト装置を構成したものである。

（２）　　本願箱２の発明は、ＩＣカードのテスト装置
に用いるテストボードにおいて、 テスト対象となるＩＣカードを、ボード面に対して垂直
に保持することのできる保持手段をボード面上に複数個
配列し、テストに必要な電気信号を、各保持手段によっ
て保持されたＩＣカードに対して入出力させるための配
線を設けるようにしたものである。

〔作　用〕

本願箱１の発明によれば、１枚のテストボード上に複数
のＩＣカードがセットされ、しかも、このように複数の
ＩＣカードをセットしたテストボードが複数枚葉まって
１つのテストグループが構成される。本発明の装置は、
このようなテストグループを複数組含んでいる。テスト
は各グループごとに全く独立して行うことができるため
、種類の異なるＩＣカードがあっても、これらを同時に
テストすることが可能である。このように、多数のＩＣ
カードをバッチ処理して同時にテストを行うことができ
るため、量産化に十分に対応できるようになる。

本願箱２の発明によれば、テスト対象となるＩＣカード
を、ボード面に対して垂直に保持するようにしたため、
１枚のテストボードについてのＩＣカードの実装密度が
向上し、より多数のＩＣカードについてのテストを同時
に行うことができるようになる。

〔実施例〕

以下本発明を図示する実施例に基づいて説明する。第１
図は本発明の一実施例に係るＩＣカードのテスト装置の
溝底を示すブロック図である。ホストコンピュータ１０
は、この装置全体を統括制御する機能をもち、ここにお
いて、テストパターンの作成、テスト結果のモニタ表示
および印字、テスト温度の条件設定などが行われる。シ
ステムコントローラ２０は、ホストコンピュータ１０か
らの指示に基づいて、チャンバー３０内の温度制御を行
うとともに、４つのテストユニット４１〜４４に対する
統括制御を行う。テストユニット４１〜４４は、それぞ
れ第１グループ〜第４グループのテストをそれぞれ独立
して実行する。各テストユニット４１〜４４には、それ
ぞれメモリカード５１が接続されている。この装置では
、４つのグループともに構成は同一であるため、第１図
では第２グループ（テストユニット４２がテストを行う
グループ）の構成だけを示すことにする。テストユニッ
ト４２には、３つのドライバボード６１〜６３が接続さ
れており、これらにはそれぞれテストボード７１〜７３
が接続されている。ドライバボード６１〜６３およびテ
ストボード７１〜７３には、ボード用電源８０から電源
が供給される。テスト対象となるＩＣカードは、テスト
ボード７１〜７３上に装着される。このテストボード上
には、テストに必要な電気信号を各ＩＣカードに入出力
させるための配線がなされている。テストボード７１〜
７３はチャンバー３０内に収容されるため、ＩＣカード
は所定の温度条件下におかれる。

この装置では、１枚のテストボードは、テスト対象とな
る３２枚のＩＣカードを保持することができる。１枚の
テストボードには、１枚のドライバボードが接続されて
おり、１つのテストユニットには３枚のドライバボード
が接続されている。

この３対のドライバボードおよびテストボードが、１グ
ループを構成し、同じグループ内では同一のテストが同
時に行われる。すなわち、この実施例の装置では、９６
枚のＩＣカードが１グループを構成し、合計で４グル一
プ３８４枚のＩＣカードをバッチ処理することができる
。

この装置の動作は次のとおりである。はじめに、オペレ
ータは３８４枚までのＩＣカードを１２枚のテストボー
ドにセットし、このテストボードをチャンバー３０に収
容する。チャンバー３０内には、ドライバボードとの接
続端子が設けられており、各テストボードは各ドライバ
ボードと電気的に接続されることになる。続いて、オペ
レータはホストコンピュータ１０に対して、テスト指示
を与える。すなわち、どのようなテストパターンを用い
、どのような温度でテストを行うかといった条件設定が
行われる。システムコントローラ２゜は、ホストコンピ
ュータ１ｏからの指令を受け、チャンバー３０内を所定
温度に制御するとともに、各テストユニット４１〜４４
がグループごとに定められたテストを実行するよう制御
する。４グループは、システムコントローラ２ｏによっ
て統括制御されることになるが、各テストユニット４１
〜４４は、それぞれ独立してテストを行うことができる
ので、各グループごとに内容の異なるテストを行うこと
ができる。すなわち、４種類までのＩＣカードについて
のテストを同時に行うことができる。ここでは、第２グ
ループについてのテストを例にとって説明する。テスト
ユニット４２は、３枚のドライバボード６１〜６３に対
して、電圧値をもったテストパターンの印加を行う。こ
のときのテストパターンデータ、電圧条件などはメモリ
カード５２に記憶されている。メモリカード５２は抜き
差しが容易で、交換が簡単にできるので、テスト対象と
なるＩＣカードに応じて随時交換することができる。

テストユニット４２からテストパターンが与えられると
、ドライバボード６１〜６３は、コレヲテストボード７
１〜７３上のＩＣカードの入力端子に供給する。このと
き、テストパターン供給の有無を各ＩＣカードごとに制
御することができるので、あるひとつのテストの結果、
不良と判定されたＩＣカードには、後続するテストでは
テストパターンの供給を止めることができる。各？Ｃカ
ードからは、このテストパターンに対する応答データが
出力される。この応答データは、ドライバボードを介し
てテストユニット４２へと送られる。

テストユニット４２内にはコンパレータ回路が組み込ま
れており、この応答データを期待データと比較し、両者
が一致していないＩＣカードについては不良の判定を下
す。この良否結果は、システムコントローラ２０を介し
てホストコンピュータ１０まで伝送される。オペレータ
は、ホストコンピュータｌＯのモニタ表示あるいは印字
によって、テスト結果を確認することができる。また、
このテスト結果は、ホストコンピュータ１０内でデータ
ベース化され、後の工程を行う上での情報として利用で
きる。

以上がこの装置の概要である。この装置の特徴を列挙す
ると次のとおりである。

（Ｌ）　　多数のＩＣカードをバッチ処理によりテスト
することができるため、作業性が向上する。

（２）　　多数のカードに対してテストが同時に進行す
るため、テスト時間が非常に短縮される。

（３〉　　チャンバーを用いて所定の温度条件下でのテ
ストができるため、・スクリーニング効果が得られカー
ドの信頼性も向上する。

（４）　　テスト結果をホストコンピュータによってデ
ータベース化することができるため、出荷状況の管理お
よび工程不良の管理が容易になる。

最後に、この装置に適したテストボード９０の構造の一
例を第２図および第３図に示す。第２図はこのテストボ
ード９０の上面図、第３図は側面図である。第２図に示
されているように、テストボード本体９１はプリント配
線基板からなり、この上に３２個のＩＣカード用カセッ
ト９３が配列されている。このＩＣカード用カセット９
３は、第３図に示されているように、テストボード本体
９１のボード面に対して垂直に配設されており、ここに
テスト対象となるＩＣカード９４を図の矢印のように挿
入することができる。このように、ＩＣカードをボード
面に対して垂直に保持するようにしたため、実装密度を
向上させることができる。テストボード本体９１の図の
右端には、接続用端子９２ａ、９２ｂが設けられており
、この接続端子と各ＩＣカード用カセットとの間に、プ
リント配線が形成されている。

第４図は、このテストボード９０を収容するのに適した
チャンバー３０の一実施例を示す図である。チャンバー
３０の側壁内面には、図のように溝３１ａ、３１ｂが形
成されており、第２図に示すテストボード９０の側辺９
１ａ、９１ｂをこの溝３１ａ、３１ｂに嵌合させながら
、テストボード９０をチャンバー３０内に収容すること
ができる。チャンバー３０の奥には、接続用端子３２ａ
。

３２ｂが設けられており、テストボード９０を差し込む
と、接続端子９２ａ、９２ｂと、接続用端子３２ａ、３
２ｂとが電気的に接触するようになる。この接続用端子
を介して、テストボードはドライバボードに電気的に接
続される。チャンバー３０内には、テストボード９０を
挿入するための溝が上下に一定間隔をおいて複数形成さ
れており、複数枚のテストボードを収容することができ
る。

テストボードを収容したあと、扉（図示されていない）
を閉じれば、チャンバー３０内を所定の温度に保つこと
ができる。

このように、各テストボード上に複数のＩＣカードを垂
直に保持するようにすれば、ＩＣカードの実装密度が向
上し、小さなスペースにより多くのＩＣカードを収容す
ることができる。

〔発明の効果〕

以上のとおり本発明のＩＣカードのテスト装置によれば
、複数のＩＣカードをセットしたテストボードを複数枚
集めて１つのテストグループを構成し、各グループごと
に全く独立したテストを行えるように構成したため、多
数のＩＣカードをバッチ処理して同時にテストを行うこ
とが可能になり、量産化に十分に対応できるようになる
。

また、本発明のテストボードによれば、テスト対象とな
るＩＣカードを、ボード面に対して垂直に保持するよう
にしたため、１枚のテストボードについてのＩＣカード
の実装密度が向上し、より多数のＩＣカードについての
テストを同時に行うことができるようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係るＩＣカードのテスト装
置の基本構成を示すブロック図、第２図および第３図は
第１図に示す装置に用いるのに適したテストボードの上
面図および側面図、第４図は第１図に示す装置に用いる
のに適したチャンバーを示す図である。 ３０　＝−チャンバー、３１　ａ、　　３　ｌ　ｂ−溝
、３２ａ、３２ｂ・・・接続端子、９０・・・テストボ
ード、９１・・・テストボード本体、９１ａ、９１ｂ・
・・側辺、９２ａ、９２ｂ・・・接続端子、９３・・・
ＩＣカード用カセット、９４・・・ＩＣカード。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）テスト対象となるＩＣカードを複数枚保持するこ
   とができ、テストに必要な電気信号を各ＩＣカードに対
   して入出力させるための配線を備えたテストボードと、 前記テストボードをドライブするためのドライバボード
   と、 をそれぞれ所定枚数用意し、これらを複数のグループに
   分類し、 １つのグループに属するＩＣカードに対して、同一のテ
   ストを同時に行う機能を有するテストユニットを、各グ
   ループごとに設け、各グループに属するテストボードに
   対してドライバボードを介して信号のやりとりができる
   ように構成し、前記テストボードを収容し、これを所定
   温度に保つチャンバと、 このチャンバ内の温度制御と、前記各グループごとに設
   けられたテストユニットの統括制御と、を行うシステム
   コントローラと、 このシステムコントローラに指令を与えるホストコンピ
   ュータと、 を更に設け、各グループごとに独立したテストを行える
   ようにしたことを特徴とするＩＣカードのテスト装置。
2. （２）ＩＣカードのテスト装置に用いるテストボードで
   あって、 テスト対象となるＩＣカードを、ボード面に対して垂直
   に保持することのできる保持手段をボード面上に複数個
   配列し、テストに必要な電気信号を、前記各保持手段に
   よって保持されたＩＣカードに対して入出力させるため
   の配線を備えたことを特徴とするテストボード。