JP2009047693A - 試験機器ネットワーク - Google Patents
試験機器ネットワーク Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009047693A JP2009047693A JP2008204956A JP2008204956A JP2009047693A JP 2009047693 A JP2009047693 A JP 2009047693A JP 2008204956 A JP2008204956 A JP 2008204956A JP 2008204956 A JP2008204956 A JP 2008204956A JP 2009047693 A JP2009047693 A JP 2009047693A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- script processor
- script
- processor
- group
- computer code
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31907—Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318307—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
【解決手段】コンピュータ・コードの実行に適した複数のスクリプト・プロセッサと実行されたコンピュータ・コードに応じたスクリプト・プロセッサによって制御されDUTを試験する複数の測定リソースとを含み、これらは、2つグループの一方のグループに割り当てられ、1つのスクリプト・プロセッサだけが主スクリプト・プロセッサで、他のスクリプト・プロセッサは、従スクリプト・プロセッサであり、主スクリプト・プロセッサのみが他グループのスクリプト・プロセッサ上のコード実行開始を行い、従スクリプト・プロセッサは、そのグループの測定リソースの動作開始だけができ、主スクリプト・プロセッサは、実行中の特定のグループ中のスクリプト・プロセッサ上のコンピュータ・コードの実行開始も、その測定リソースの動作開始もしない。
【選択図】図1
Description
12 コントローラ
14、14’ スクリプト・プロセッサ
16、16’ 測定リソース
20 DUT(被試験物)
22 グループ
24 グループ
Claims (2)
- 複数のDUT(被試験物)を試験するための試験機器ネットワークにおいて、前記ネットワークは、:コントローラと、コンピュータ・コードを実行するのに適した複数の通信用スクリプト・プロセッサと、実行されたコンピュータ・コードに応答して前記スクリプト・プロセッサによって制御可能で前記の複数のDUTを試験するのに適合したな複数の測定リソースとから成り、各スクリプト・プロセッサと測定リソースは、前記コントローラによって、少なくとも2つグループのうち一方のグループに任意に割り当てられ、1つだけのスクリプト・プロセッサは、主スクリプト・プロセッサであるようにあてがわれ、他のスクリプト・プロセッサは、従スクリプト・プロセッサであり、主スクリプト・プロセッサを含まない任意のグループは、遠隔グループであり、前記主スクリプト・プロセッサは、遠隔グループのスクリプト・プロセッサ上のコード実行を開始することを排他的に認められており、前記従スクリプト・プロセッサはそのグループの測定リソースの動作を開始することができるだけであり、更に、特定のスクリプト・プロセッサがコンピュータ・コードを実行している時に、主スクリプト・プロセッサは、前記の特定のスクリプト・プロセッサのグループ中のメンバー・スクリプト・プロセッサ上のコンピュータ・コードの実行を開始することはないし、そのグループ中のメンバー測定リソースの動作を開始することがないようにした試験機器ネットワーク。
- 複数のDUT(被試験物)を試験するための試験機器ネットワークにおいて、前記ネットワークは、コントローラと、複数の通信用試験機器とから成り、前記各試験機器は、コンピュータ・コードを実行するのに適したスクリプト・プロセッサと前記スクリプト・プロセッサと協働する測定リソースとを有し、前記測定リソースは、実行されたコンピュータ・コードに応答して前記スクリプト・プロセッサによって制御可能で前記複数のDUTを試験するのに適合しており、各スクリプト・プロセッサと測定リソースは、前記コントローラによって、少なくとも2つグループのうち一方のグループに任意に割り当てられ、1つだけのスクリプト・プロセッサは、主スクリプト・プロセッサであるように割り当てられ、他のスクリプト・プロセッサは、従スクリプト・プロセッサであり、主スクリプト・プロセッサを含まない任意のグループは、遠隔グループであり、前記主スクリプト・プロセッサは、遠隔グループのスクリプト・プロセッサ上のコード実行を開始することを排他的に認められており、前記従スクリプト・プロセッサは、そのグループの測定リソースの動作を開始することができるだけであり、更に、特定のスクリプト・プロセッサがコンピュータ・コードを実行している時に、主スクリプト・プロセッサは、前記の特定のスクリプト・プロセッサのグループ中のメンバー・スクリプト・プロセッサ上のコンピュータ・コードの実行を開始することがないし、そのグループ中のメンバー測定リソースの動作を開始することがないようにした試験機器ネットワーク。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/839,295 US7680621B2 (en) | 2007-08-15 | 2007-08-15 | Test instrument network |
US11/839,295 | 2007-08-15 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009047693A true JP2009047693A (ja) | 2009-03-05 |
JP5373334B2 JP5373334B2 (ja) | 2013-12-18 |
Family
ID=40363625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008204956A Expired - Fee Related JP5373334B2 (ja) | 2007-08-15 | 2008-08-08 | 試験機器ネットワーク |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7680621B2 (ja) |
JP (1) | JP5373334B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120242357A1 (en) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | Hamilton Sundstrand Corporation | Automatic fault insertion, calibration and test system |
RU2618508C2 (ru) | 2012-12-27 | 2017-05-04 | Хуавэй Текнолоджиз Ко., Лтд. | Способ возвращения информации состояния канала, пользовательское оборудование и базовая станция |
US10429437B2 (en) | 2015-05-28 | 2019-10-01 | Keysight Technologies, Inc. | Automatically generated test diagram |
CN107305515A (zh) * | 2016-04-25 | 2017-10-31 | Emc公司 | 计算机实现方法、计算机程序产品以及计算系统 |
CN113514759B (zh) * | 2021-09-07 | 2021-12-17 | 南京宏泰半导体科技有限公司 | 一种多核测试处理器及集成电路测试系统与方法 |
US20230224233A1 (en) | 2022-01-07 | 2023-07-13 | Keithley Instruments, Llc | Resource allocation in a test instrument network |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0390983A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Dainippon Printing Co Ltd | Icカードのテスト装置およびテストボード |
JPH0694796A (ja) * | 1990-09-05 | 1994-04-08 | Schlumberger Technol Inc | 自動テスト装置用イベントシーケンサ |
JP2003050269A (ja) * | 2001-04-19 | 2003-02-21 | Agilent Technol Inc | アルゴリズム的にプログラム可能なメモリテスタにおけるトリガ信号生成方法 |
JP2006170761A (ja) * | 2004-12-15 | 2006-06-29 | Sharp Corp | 半導体集積回路テストシステム |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2950437A (en) * | 1954-08-16 | 1960-08-23 | Textron Inc | Circuit testing apparatus |
US2996666A (en) * | 1957-07-12 | 1961-08-15 | Gen Motors Corp | Automatic test apparatus |
US3219927A (en) * | 1958-09-15 | 1965-11-23 | North American Aviation Inc | Automatic functional test equipment utilizing digital programmed storage means |
US3082374A (en) * | 1959-06-12 | 1963-03-19 | Itt | Automatic testing system and timing device therefor |
US3237100A (en) * | 1960-06-24 | 1966-02-22 | Chalfin Albert | Computer-controlled test apparatus for composite electrical and electronic equipment |
US3522532A (en) * | 1965-10-21 | 1970-08-04 | Mc Donnell Douglas Corp | Comparison system for testing points in a circuit using a multi-channel analog signal record and playback means |
US3487304A (en) * | 1968-02-02 | 1969-12-30 | Aai Corp | Sequential test apparatus for electrical circuits including a digital controlled analog test signal generating unit |
US4044244A (en) * | 1976-08-06 | 1977-08-23 | International Business Machines Corporation | Automatic tester for complex semiconductor components including combinations of logic, memory and analog devices and processes of testing thereof |
US4736374A (en) * | 1986-05-14 | 1988-04-05 | Grumman Aerospace Corporation | Automated test apparatus for use with multiple equipment |
JP3163128B2 (ja) * | 1991-08-28 | 2001-05-08 | アジレント・テクノロジー株式会社 | 電子部品等試験装置および電子部品等試験方法 |
US5265832A (en) * | 1992-03-18 | 1993-11-30 | Aeg Transportation Systems, Inc. | Distributed PTU interface system |
US7240258B1 (en) * | 2002-09-27 | 2007-07-03 | Keithley Instruments, Inc. | Parallel test system and method |
-
2007
- 2007-08-15 US US11/839,295 patent/US7680621B2/en active Active
-
2008
- 2008-08-08 JP JP2008204956A patent/JP5373334B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0390983A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Dainippon Printing Co Ltd | Icカードのテスト装置およびテストボード |
JPH0694796A (ja) * | 1990-09-05 | 1994-04-08 | Schlumberger Technol Inc | 自動テスト装置用イベントシーケンサ |
JP2003050269A (ja) * | 2001-04-19 | 2003-02-21 | Agilent Technol Inc | アルゴリズム的にプログラム可能なメモリテスタにおけるトリガ信号生成方法 |
JP2006170761A (ja) * | 2004-12-15 | 2006-06-29 | Sharp Corp | 半導体集積回路テストシステム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090048800A1 (en) | 2009-02-19 |
US7680621B2 (en) | 2010-03-16 |
JP5373334B2 (ja) | 2013-12-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5373334B2 (ja) | 試験機器ネットワーク | |
JP6307140B2 (ja) | セーフティクリティカルソフトウェア自動要求ベーステストケース生成のためのシステムおよび方法 | |
CN108376061B (zh) | 用于开发无人驾驶车辆应用的方法和装置 | |
JP4595039B2 (ja) | 試験装置および試験方法 | |
JP2008524595A5 (ja) | ||
EP3640654B1 (en) | Self-test apparatuses involving distributed self-test controller circuits and methods thereof | |
US9354275B2 (en) | Testing an integrated circuit | |
CN106484620B (zh) | 对多系统终端设备执行测试的方法、控制设备及控制台 | |
CN106546834B (zh) | 一种环境应力筛选试验方法及装置 | |
CN109783359A (zh) | 自动检测接口有效标识的方法、装置和计算机设备 | |
CN102238048B (zh) | 一种协议一致性测试方法和系统 | |
TWI658742B (zh) | 用於同時測試多個能經由多重無線存取技術進行通訊的封包資料信號收發器之系統及方法 | |
Montenegro et al. | A realistic generator of power quality disturbances for practicing in courses of electrical engineering | |
CN105138451A (zh) | 一种用于测试插件的功能的方法、装置和系统 | |
US10255155B2 (en) | Scheduler | |
JP2020112469A (ja) | 試験装置、試験方法、インタフェースユニット | |
TW201610452A (zh) | 除錯系統 | |
JP6366811B2 (ja) | 検査装置、検査方法、及び、プログラム | |
JP5061622B2 (ja) | Lsiテスタ | |
CN115576765B (zh) | 一种测试方法、装置、电子设备及存储介质 | |
Podelko | Multiple Dimensions of Load Testing | |
JP2007315828A (ja) | テストシステム | |
WO2021123100A1 (en) | System and method for testing of system under test | |
JP2009121978A (ja) | 半導体試験装置 | |
JP2010079541A (ja) | 半導体試験装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110531 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110829 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110901 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110927 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110930 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111025 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20111025 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120807 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20121106 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20121109 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121207 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130820 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130919 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |