JPS63284964A - 縮小読取光学系 - Google Patents

縮小読取光学系

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JPS63284964A
JPS63284964A JP62118813A JP11881387A JPS63284964A JP S63284964 A JPS63284964 A JP S63284964A JP 62118813 A JP62118813 A JP 62118813A JP 11881387 A JP11881387 A JP 11881387A JP S63284964 A JPS63284964 A JP S63284964A
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JP
Japan
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pattern
sensor
optical system
output
reading
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Application number
JP62118813A
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Inventor
Takashi Iwadate
岩舘 隆
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、一次元固定走査素子(センサ)、レンズ及び
センサ位置調整用パターンからなる縮小読取光学系に関
するものである。
〔従来の技術〕
従来、ファクシミリ、OCR及びイメージスキャナなど
に用いられている固体走査原稿読取方式では5例えば特
開昭54−53184号及び同56−136077号公
報に記載されているように、原稿をレンズにより縮小し
、この縮小された結像の位置に一次元固体走査素子(C
CDセンサ)を配設し、該センサにより前記結像を読み
取るようになっている。
この場合、原稿はCCDセンサと直角方向に搬送され、
原稿面が顆次にCCDセンサで走査されることにより、
該原−稿面全体が読み取られる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来例では、CCDセンサの部品精度、すなわち、
センサの受光部及びパッケージ外形の寸法精度が1組立
後の所要精度より劣るため、CCDセンサの位置調整が
必要である。
そこで、副走査方向(原稿の搬送方向)の位置調整作業
は、主走査方向(原稿の幅方向)に伸びる細線を設けた
調整用パターンを正規位置(原稿位置)に配置し、該パ
ターンの細線をセンサにより読み取り、#センサの出力
信号を利用して副走査方向の位置ずれを検出することに
より行われていた。
ところが、上記作業では、わずかの位置ずれでセンサ出
力は大きく変化するが、上記調整用パターンの副走査方
向位置ずれの検出範囲がせまいために該検出範囲外とな
るので、調整作業が困難となる場合をしばしば生ずると
いう問題があった。
本発明は、副走査方向位置ずれを広範囲に検出すること
ができるセンサ位置調整用パターンを適用した縮小読取
光学系を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点は、センサ位置調整用パターンとして、2本
の斜線を互に交叉させてなる形状を、1個所又は複数個
所そなえるものを用いることにより解決される。
〔作用〕
副走査方向の正規位置において互に交叉する2本の斜線
は、該正規位置から任意の位置まで延長することが可能
であるので、前記斜線を読み取るセンサ内の位置が移動
する範囲を、位置ずれ量に比例して十分に広くすること
が可能である。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面について説明する。第1
図は、本実施例を適用した縮小読取光学系の斜視図であ
る。
第1図において、1は矢印S方向に搬送される原稿4の
位置、すなわち副走査方向の正規位置に配置された本実
施例のセンサ位置調整用パターン(以下、パターンと称
す)で、該パターン1は第2図に示すように正規位置で
交叉する2本の斜線IA、IBで形成されている。2は
該パターン1に対設した縮小用レンズ、6は該縮小用レ
ンズ2に対し、前記パターン1と反対側に配設された一
次元固体走査素子(センサ)である。
上記のような構成からなる縮小読取光学系では。
センサ3はレンズ2により縮小された原稿4を読み取る
。このような縮小読取光学系の位置調整作業は、原稿4
の位置にパターン1を設置し、該パターン1の副走査方
向位置をセンサ3の出力で検出して調整することにより
行われる。
第2図に示すパターン1の中心O(直線IA。
1Bの交叉点)がO’に変位して位置ずれ量Hを生じた
場合、センサ3の出力波形は第3図に示す状態となる。
同図において、5はパターン1の直線IA、IBを読み
取ったセンサの出力波形、6はパターン1の白地、すな
わち、直線IA、IB以外の部分を読み取ったセンサの
出力波形である。
上記出力波形5のピッチPは、第2図に示す位置ずれ量
Hに比例するので、該ピッチPを読み取ることにより該
位置ずれ量Hを容易に検出することができる。又、直線
I A、IBの下半部(第2図のL)を任意に延長させ
ることにより、副走査方向位置の検出範囲を任意に拡大
することが可能である。したがって、前記位置ず□れ量
が大きい場合でも容易に調整することができる。
上述した本実施例では、白地に交叉する2本の黒色斜線
を1個所設けた場合について説明したが、本発明はこれ
に限定されず、黒地に交叉する2本の白色斜線を複数個
所設けてもよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、副走査方向位置
ずれを広範囲に検出することが可能となるので、縮小読
取光学系における位置調整作業の能率を向上させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例であるセンサ位置調整用パタ
ーンを適用した縮小読取光学系の斜視図、第2図は第1
図に示すセンサ位置調整用パターンの拡大説明図、第6
図は第2図に示すパターンを読み取ったセンサの出力波
形を示す説明図である。 符号の説明 1・・・・・・センサ位置調整用バター7、IA、IB
・・・・・・Mi、2・・・・・・レンズ、5・・・・
・・センサ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、一次元固体走査素子(センサ)、レンズ及びセンサ
    位置調整用パターンからなる縮小読取光学系において、
    該センサ位置調整パターンは、2本の斜線を互に交叉さ
    せてなる形状を、1個所又は複数個所そなえることを特
    徴とする縮小読取光学系。
JP62118813A 1987-05-18 1987-05-18 縮小読取光学系 Pending JPS63284964A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62118813A JPS63284964A (ja) 1987-05-18 1987-05-18 縮小読取光学系

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JP62118813A JPS63284964A (ja) 1987-05-18 1987-05-18 縮小読取光学系

Publications (1)

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JPS63284964A true JPS63284964A (ja) 1988-11-22

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ID=14745769

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62118813A Pending JPS63284964A (ja) 1987-05-18 1987-05-18 縮小読取光学系

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JP (1) JPS63284964A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6288802B1 (en) 1997-09-26 2001-09-11 Nec Corporation Image scanner

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6288802B1 (en) 1997-09-26 2001-09-11 Nec Corporation Image scanner

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