JPS63238265A - 高融点金属シリサイドタ−ゲツトとその製造方法 - Google Patents

高融点金属シリサイドタ−ゲツトとその製造方法

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JPS63238265A
JPS63238265A JP7028987A JP7028987A JPS63238265A JP S63238265 A JPS63238265 A JP S63238265A JP 7028987 A JP7028987 A JP 7028987A JP 7028987 A JP7028987 A JP 7028987A JP S63238265 A JPS63238265 A JP S63238265A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は高融点金属(M)とケイ素(Si)とのシリサ
イド合金(MSin:n≧2)から成るスパッタターゲ
ットとその製造方法に関し。
更に詳しくは、高純度、とりわけ酸素不純物が極めて少
なくまたアルカリ金属も少ないMSinターゲットとそ
の製造方法に関する。
(従来の技術) 各種の半導体素子の表面には、その使用目的に応じて、
導電性金属材料を用いて複雑模様の配線網が形成されて
いる。この配線網を形成するためには、通常、まず、半
導体素子の表面に例えばスパッタ法を適用してa−5t
、Anなどの導電性金属の薄膜を形成し、その後この薄
膜に所定のエツチング処理を施して所望する配線回路以
外の部分を除去して配線網を残置せしめるのである。
ところで、最近は、素子の軽薄短小化が進められている
が、その−環として配線網を濃密に形成する、つまり回
路幅を狭小にしたり回路の厚みを薄くしたりする努力が
なされている。
このように半導体素子における集積度が向上していくと
、用いた配線材料の配線抵抗による信号の遅延問題が生
起したり、または、その材料が低融点材料であった場合
には素子の作動時に配線網における抵抗発熱によって結
、晶欠陥の移動が拡散により配線の破断現象が起こると
いう問題が生じはじめる。
このようなことから、配線材料としては、高融点である
と同時に低抵抗であり、またLSI。
VLS I 、ULS Iのプロセスを大幅に変更する
ことが不要である材料が強く要望されているが、そのよ
うな材料としては、Mo、W、Ti。
Ta、Zrなどの高融点金属(M)と°並んでこれらM
のシリサイドが注目を集めている。
とくに、シリサイ−の場合は、M: S iがモル比で
1:2〜3(すなわち、 M S inで表わした場合
、n=2〜3)の組成のとき、半導体素子表面の薄膜は
優れた低抵抗値とプロセス整合性を示すことが知られて
いる。
一方、半導体素子の表面に配線網を形成する前段の工程
である導電性金属薄膜の形成工程には、スパッタ法が主
に適用されている。
この方法は、半導体素子の表面に形成すべき薄膜の構成
材料から成るターゲットに所定のイオン種を入射してタ
ーゲット構成材料を叩き出しこれを半導体素子表面に被
着せしめる方法である。
このスパッタ法の適用に際しては、上記したような金属
材料でスパッタ用のターゲットを製造することが必要で
ある。
すなわち、例えば上記したMSf2〜.の配線網を形成
するときには、そのターゲットとしてMSi2〜3の材
料を用いるのでる。
この場合、MSi2〜3材は高純度であることが必要で
ある。
例えば、MS12〜3材に不純物として酸素が含有され
ている場合には、形成された薄膜の電気抵抗が大きくな
り、またもろさも増加し、配線網の破断等の事故が多発
しはじめ、Fe、NL。
Crのような重金属はVLS Iなどと形成された薄膜
との界面接合部におけるリーク現象の原因を構成し、N
a、にのようなアルカリ金属はVLS I等の上を容易
に遊動して素子特性を劣化させるからである。また、U
、Thはそれらの放射するα線により素子の誤動作をま
ねき、結局は素子の動作信頼性が著しく低下するのであ
る。
ところで、MSi2〜3のターゲットには、現在法のよ
うな態様がある。すなわち、第1は、Ti、Ta、W、
Moなどの高純度粉末と高純度St粉末とを所定量比(
モル比l:2〜3)で混′合し、この混合粉を常法によ
り焼結し、得られた焼結体を使用する場合である。第2
は、高融点金属(M)と高純度Siとのそれぞれ又はそ
れぞれの金属塊を別々にモザイク状に配置してターゲッ
トにするという態様である。
しかしながら前者のターゲットの場合、いわゆる粉末冶
金法で製造されているため、各粉末の比表面積が大きく
なることによって例えば製造中に酸素を約200pp−
以上吸着して純度低下を招き易い、その結果、半導体素
子の表面にスパッタ法で形成された薄膜の抵抗値が高く
なり易くまたもろくなり易い。
また、後者の場合は、モザイク片の加工を必要とするた
め全体のコストが上昇し、しかも形成される薄膜の抵抗
値も若干高いという問題がある。
このようなことから、MとSiとを溶融法で合金化する
ことも試みられているが、しかし、この方法で製造され
たMSin粉末はルツボとの反応がはげしく汚染も生じ
かつ一般に脆弱であり、溶融状態から凝固する過程で随
所にクラックが発生して、スパッタ装置に配設すること
は事実上不可能である。
このようなことから、出願人は上記溶融法の問題点を解
決したMSinターゲットとその製造方法を開発し、そ
れを特願昭81−221912号として既に特許出願し
た。
出願人がここで開示した方法は、例えばエレクトロンビ
ーム(E B)溶解法を適用してSiリッチのMSin
合金を調製し、ついでこの合金インゴットを粉砕したの
ち、得られた粉末中の化学量論的に過剰な遊111st
+または合金調製時に副生するMSi2とSiとの共晶
成分を例えばフッ硝酸で溶出除去してその組成がMSi
2である粉末にし、その後、このMSi2粉末に所定量
のSi粉末を更に添加して混合粉とし、この混合粉をM
から成る有底容器に充填し所定条件で溶融・凝固せしめ
るという方法である。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、その後の研究において上記方法には以下
のような更に改善すべき問題点の存在することが見出さ
れた。
第1の改善すべき問題点は、MSin粉末から例えばフ
ッ硝酸を用いて過剰の遊離S【や共晶成分を溶出除去す
る際に、遊離Stや共晶成分のみならず、MSi、も侵
蝕されてMが多量に溶出されてくるという点である。こ
れは、MSi2粉末の得率を低下せしめ工業的には極め
て不都合な事態である。
第2の改善すべき問題点は、遊離Siが溶出除去された
MSI2粉末にSi粉末を添加して再度MとSiのモル
比を再調整する過程で、Sl粉末の表面活性は比較的大
きいので、得られた再調整粉末には膜特性に悪影響を与
える酸素が取り込まれるという点である。すなわち、得
られたターゲットでは酸素不純分が多くなるのである。
肉粉末の混合直前においてSiブロックを粉砕してSi
粉末とし、これを用いればたしかに取り込まれる酸素量
は減少することは事実であるが、しかしこのような対処
の方法では到底工業的とはいいがたく、実際の生産ライ
ンに採用することはできない。
第3の改善すべき問題点(溶解・凝固に関する点)は、
モル比を再調製したシリサイド粉末を溶解・凝固せしめ
てターゲットブロックを製造した場合、この凝固過程で
表面部及び中心部における冷却状態が相違することによ
って偏析が起り再び共晶成分が生成するという点である
。このようなターゲットを用いてスパッタを行なうと、
この共、  晶成分がチャンバ内に飛散し、かつ成膜さ
れつつある高融点金属シリサイドの薄膜に付着してその
特性が低下する。
第4の改善すべき問題点は、通常のアルカリ溶液による
Siの溶出処理ではターゲットがアルカリ金属によって
汚染され、実用に供することができないという点である
本発明は上記したような改善点を解決し、酸素不純分が
極めて少なくしかも共晶成分も含まない高融点金属シリ
サイドターゲットとそれを工業的に製造する方法の提供
を目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段・作用)本発明者らは上
記改善点に関して以下のように対処して本発明を開発す
るに到った。すなわち、第1の改善に対しては、MSi
n粉末から遊離Stのみを選択的に溶出する処理液を探
索し、その結果、後述する有機アルカリ溶液が優れた効
果を発揮するとの事実を見出した。また、第2の改善点
に関しては、基本的にはSi粉末を添加しなくても予め
所定モル比に調整されているMSinを用いればよいこ
とを第1の改善の解決策と結合させることにより解消し
た。すなわち、出発点においてSlのモル比が化学量論
量よりも大であるMSin(n≧2)合金を予め調製し
ておき、その粉末を下記有機アルカリ溶液で所定の時間
処理して遊離Siを溶出せしめ、残留する遊離SL量が
再調整時に目的とするモル比n′と同一になった時点で
この溶出処理を停止することにより処理粉末の組成制御
を行なうという方法である。かくして酸素の取り込み現
象は生起しない。
そして第3の改善点に関しては、上記の処理粉末に溶融
法ではなく焼結法を適用して液相焼結し、もってMS+
2とStとの共晶成分を生成せしめないという解決策で
ある。
また、第4の改善点に関しては、後述する有機アルカリ
溶液を使用することによって解消し得た。
したがって、本発明の高融点金属シリサイドターゲット
は、酸素含有量が200pp■以下、好ましくは150
 ppm以下、更に好ましくは1100pp以下であり
、またアルカリ金属がI PpI以下、好ましくは50
Ppb以下であることを特徴とし、その製造方法は、 (A)高融点金属と、該高融点金属に対しモル比でMS
In(ただし1Mは高融点金属を表わし、nはケイ素の
モル数を表わす)となるようにケイ素とを混合する工程
; (B、)得られた混合物を、真空下において溶融・凝固
または反応焼結せしめて合金化する工程; (C)得られた合金を粉砕して粉末とし、該粉末を有機
アルカリ溶液で処理して所定モル比MSin・ (ただ
し、Mは高融点金属を表わし、n′はケイ素のモル数を
表わし、nun ’≧2である)のシリサイド粉末とす
る工程: (D)得られたシリサイド粉末に除染処理を施したのち
、成形、焼結する工程; とを具備することを特徴とする。
まず、Aの工程は、MとSLとからMSi2を骨格成分
とするシリサイドを得るために、組成がMSin(n≧
2)で過剰な遊離Siを含む合金となるような混合比率
で両者を混合する工程である。
ここでMとしては、Ti 、Zr、Ta、Mo 。
Wのいずれか1種であることが好ましい。
このAの工程において、M、Stはいずれも高純度の例
えば顆粒原料が用いられる0例えば1MのうちTiの場
合、常用のクロール法の外、好ましくは溶融塩電解法や
アイオダイド法で精製したTiが用いられる。いずれに
してもMは前記したような不純分すなわち酸素、Fe、
Ni、Crのような重合属、Na、にのようなアルカリ
金属、U、Thなとは可及的に少ないことが好ましい。
MとSiはそれぞれ顆粒の形態で混合されてもよいし、
小塊状で混合されてもよい。
しかしいずれの場合にあっても、MとStとの混合比率
は、目的物がMSin(n≧2)の組成であることから
して1モル比でM:Si =l:2以下とする。
Bの工程は、A工程で調合した混合物を例えば溶解せし
めて合金化する工程である。
溶解は真空中で行なわれ、そのときの真空度は5xto
−’τarr以下であることが好ましい、温度は格別限
定されるものではなく、上記混合物が完全に溶解して合
金化し得る温度であればよい。
このB工程は、通常、EB溶解炉を用いて行なうことが
好ましい。
Cの工程は、B工程で得られその組成がMSin(n≧
2)になっているシリサイド合金のインゴットを所定粒
度に粉砕したのち、得られた粉末から所定量の遊離Si
を溶出除去する、すなわち所定モル数の遊離Stを残置
せしめる工程である。
粉砕の際には、合金の汚染を防止するために、例えば選
定したMと同じ材料の工具を使用するか又は低炭素鋼工
具で粉砕する。しかし、Mと同じ工具は高価であるため
、工業的には通常、低炭素鋼の工具を用いる。このとき
、得られたMSin粉末はFeによって汚染されるが、
しかし、後述の処理によって容易に除染することができ
る。
溶出処理に用いる有機アルカリ溶液としては、水酸化第
四アンモニウム化合物であり、下記の一般式で表わされ
るものである。
(但し、上記においてR,、R2,R3,R4はアルキ
ル基、アラルキシル基、ヒドロキシアルキル基を表し、
特にR1,R2,R,の炭素数は1〜4、R4の炭素数
は1〜12である)0例えば、市阪品としては。
トリメチルエタノールアンモニウムハイドロオキサイド
、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、テト
ラエチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラプロ
ピルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラブチルア
ンモニウムハイドロオキサイド、ジメチルジェタノール
アンモニウムハイドロオキサイド(いずれも多摩化学■
製)をあげることができる。
有機アルカリ溶液の濃度があまりに希薄である場合は、
*離Stの選択的溶出は円滑に進行せず、逆に濃度が高
すぎる場合はSiが急激に溶解し、Stの溶解量を調整
することが困難になるような問題が生じはじめるので、
溶液濃度は5〜50%の範囲内に設定されることが好ま
しい。
処理操作は、所定粒径のMSiH粉末を上記有機アルカ
リ溶液に投入し、室温下において攪拌すればよい、粉末
の投入量は格別限定されるものではない6例えば1fL
の溶液に粉末5〜500g程度である。
この処理によって、MSiH中に存在していたVi@S
Eは時間とともに処理液中に溶出していく、すなわち、
MSIn中の遊離Siの存在量は時間とともに減少して
いく、シたがって、ある時間経過後に得られたシリサイ
ド粉末の組成をMSi、1〜と標記すると、n 、 n
 ”間ではn > n ”≧2の関係が成立する。
それゆえ、従来の方法におけるモル比再調整の工程で目
的とする組成が仮にMSIn・であるとすれば、上記n
″がn′になるような時点で溶出処理を停止すれば、処
理後の粉末の組成を目的組成に近似せしめた状態に調節
することができ°る。
なお、この処理液は、遊離StのみならずMSi2 と
SIとの共晶成分も選択的に溶出し得るので、B工程の
溶融φ凝固時に生成した共晶成分もこのC工程で除去さ
れて、得られた処理粉末は目的組成のみを有することに
なる。
Dの工程は、C工程で得られた処理粉末のFe成分を除
染したのち、これを成形、焼結してターゲットを製造す
る工程である。
除染は、通常酸洗によって行ない、用いる酸液としては
王水が好適である。
除染後、処理粉末を例えばラバープレスによって所定形
状に成形し、ついで、得られた成形体に真空ホットプレ
スを施して仮焼結し吸蔵ガスを除去する0例えば、真空
度104Torr以下、約1000℃1時間約30分が
好適である。その後の真空ホットプレスの条件としては
、例えば温度1380〜1400℃で真空ホットプレス
処理またはHP無処理施す0部分液相焼結反応が進行し
て、ターゲット素材が製造される。最後にこの素材に研
削加工を施せば、目的とするターゲットが得られる。
(発明の実施例) 溶融塩電解法で製造した高純度Ti粉(酸素含有量22
0−150pp 、Fe  4PPIl以下、Cr3p
pm以下、Ni  2PPII以下、Na0・1 pp
m以下、K  O,ippm+以下)1.37kgと、
多結晶Siブロック2.63kgとを混合した。この混
合割合はシリサイド組成: T t S i 3.3に
相当する。この混合粉をEB溶解炉に装入して10−5
Torrの真空下で溶解し、直径150am厚み50m
■の合金インゴットを調製した。
得られたインゴットを低炭素鋼のショークラッシャーで
粉砕して約150メツシユ(タイラー篩)通過の粉末と
した。
この粉末3.7kgをテトラメチルアンモニウムハイド
ロオキサイドの25%水溶液3041に投入し、約48
時間攪拌した。得られた粉末の組成はT i S i 
2.Bであった。このTiSi24粉末を王水で洗浄し
て除染した。その結果、Fe量は130 ppmからS
Pp腸に減少した。
つぎに、この粉末をプレス成形し、得られた成形体にt
ooo℃、20分間真空ホットプレスを施して脱ガス処
理をしたのち、1280℃で2時間、圧400 ton
/c+s” cy)HI P処理を施して焼結した。焼
結体を250φ×1stに機械加工し、目的とするター
ゲットが得られた。
このターゲット中の酸素含有量は180PP層であった
。また、このターゲットを実機に組込み、Stウェハー
表面にVSLI用の薄膜を形成し。
その抵抗値を測定したところ、本来のlΩ/口の低抵抗
値が実測された。
比較のために、遊離Siの溶出除去をフー/′f14酸
で行なって組成がTiSi2のみである粉末とし、つぎ
に合金組成がT i S i 2.5となるように目標
を定めてSi粉末を混合したのち、この混合粉末にEB
溶解法を適用してターゲットを製造した。このターゲッ
ト中の酸素含有量は6109P■であった。
これら2種類のターゲットの組織を示す電子顯m鏡写真
を第1図(倍率50倍)、第2図(倍率400倍)に示
した。第1図が本発明のターゲットに関するものであり
、第2図は比較例のものである。
図から明らかなように、第2図の従来例にみられるT 
i S t 2とStとの共晶成分(図中の黒い部分に
散在する筋状の白い部分)が、第1図の本発明組織にお
いては存在しない、これは、従来例が溶融法で製造され
たターゲットであり、本発明のターゲットがC工程の溶
出処理でこの共晶成分をも除去したのち、共晶成分を含
まないMSi2.6粉末を焼結して製造したターゲット
であるからである。
[発明の効果] 以上の説明で明らかなように、本発明の高融点シリサイ
ドターゲットは遊離Siが選択的にかつ任意量溶出除去
されたシリサイド粉末それ自体を原料粉とするので、従
来に比べて酸素含有量が少なく、また共晶成分量も抑制
されているので、ズパッタ時には特性の優れたシリサイ
ド薄膜を形成することができその工業的価値は大である
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法で製造したターゲットの金属組織を
示す走査電子顕微鏡写真であり、第2図は従来ターゲッ
トの金属組織の走査電子顕微鏡写真である。 第1図 第2図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)酸素含有量が200ppm以下である高融点金属
    シリサイドターゲット。
  2. (2)高融点金属は、アルカリ金属が1ppm以下であ
    る特許請求の範囲第1項記載の高融点金属シリサイドタ
    ーゲット。
  3. (3)高融点金属が、チタン、ジルコニウム、タンタル
    、モリブデン、タングステンのいずれかである特許請求
    の範囲第1項又は第2項記載の高融点金属シリサイドタ
    ーゲット。(4)(A)高融点金属と、該高融点金属に
    対しモル比でMSi_n(ただし、Mは高融点金属を表
    わし、nはケイ素のモル数を表わす)となるようにケイ
    素とを混合する工程;(B)得られた混合物を、真空下
    において溶融・凝固または反応焼結せしめて合金化する
    工程; (C)得られた合金を粉砕して粉末とし、該粉末を有機
    アルカリ溶液で処理して所定モル比MSi_n(ただし
    、Mは高融点金属を表わし、n′はケイ素のモル数を表
    わし、n>n′≧2である)のシリサイド粉末とする工
    程; (D)得られたシリサイド粉末に除染処理を施したのち
    、成形、焼結する工程; とを具備することを特徴とする高融点シリサイドターゲ
    ットの製造方法。
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