JPS63107129A - チツプキヤリア - Google Patents
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- JPS63107129A JPS63107129A JP61251870A JP25187086A JPS63107129A JP S63107129 A JPS63107129 A JP S63107129A JP 61251870 A JP61251870 A JP 61251870A JP 25187086 A JP25187086 A JP 25187086A JP S63107129 A JPS63107129 A JP S63107129A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 18
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路、特に超高速論理素子を搭載す
るためのチップキャリアに関する。
るためのチップキャリアに関する。
半導体集積回路は一般に、チップキャリアに搭載して密
閉され、各種外部回路に実装される。このチップキャリ
アには、外部回路との電気接続に必要な外部電極が取り
付けられている。
閉され、各種外部回路に実装される。このチップキャリ
アには、外部回路との電気接続に必要な外部電極が取り
付けられている。
ここで従来、チップキャリア上に搭載される半導体集積
回路チップの端子電極と、チップキャリアの外B電極と
の間は、ボンディングワイヤで接続されていた。その外
部電極やボンディングワイヤ等は、外部回路に実装され
たとき、その回路中の伝送線路として、その特性インピ
ーダンスを見た場合、全く不整合であった。従ってこれ
らは、浮遊したインダクタンスおよびキャパシタンスと
なっていた。しかし、従来これは無視できる程度のもの
で、特に問題とされていなかった。
回路チップの端子電極と、チップキャリアの外B電極と
の間は、ボンディングワイヤで接続されていた。その外
部電極やボンディングワイヤ等は、外部回路に実装され
たとき、その回路中の伝送線路として、その特性インピ
ーダンスを見た場合、全く不整合であった。従ってこれ
らは、浮遊したインダクタンスおよびキャパシタンスと
なっていた。しかし、従来これは無視できる程度のもの
で、特に問題とされていなかった。
ところが、半導体集積回路技術の発達、並びにGaAs
(ガリウムヒ素)など新素子の開発にょリ、最近の論
理素子は超高速化されてきている。
(ガリウムヒ素)など新素子の開発にょリ、最近の論
理素子は超高速化されてきている。
従って、従来の半導体集積回路に用いられていたような
、比較的遅いスイッチング速度の論理回路の場合には問
題とならなかった、チップキャリアの浮遊インダクタン
スやキャパシタンスが問題となってきている。
、比較的遅いスイッチング速度の論理回路の場合には問
題とならなかった、チップキャリアの浮遊インダクタン
スやキャパシタンスが問題となってきている。
一般に、論理回路の出力端子は低インピーダンスであり
、入力端子は高インピーダンスであり、論理回路相互間
を接続する配線基板の信号線は、論理回路の出力端子の
インピーダンスに整合がとられている。従って、超高速
論理回路の出力端子から信号パルスが出力され配線基板
の信号線を伝送線路として受端の論理回路の入力端子ま
で伝送される場合、まずチップキャリアの外部電極に至
るまでのボンディングワイヤや、これと外部電極とを結
ぶ接続導体のインピーダンスの不整合ニより波形歪を生
じる。それが伝搬されると、受端の論理回路の入力端子
でも波形歪とインピーダンス不整合による反射を生じ、
信号遅延や誤動作、あるいは発振を起こしたりしてしま
う。
、入力端子は高インピーダンスであり、論理回路相互間
を接続する配線基板の信号線は、論理回路の出力端子の
インピーダンスに整合がとられている。従って、超高速
論理回路の出力端子から信号パルスが出力され配線基板
の信号線を伝送線路として受端の論理回路の入力端子ま
で伝送される場合、まずチップキャリアの外部電極に至
るまでのボンディングワイヤや、これと外部電極とを結
ぶ接続導体のインピーダンスの不整合ニより波形歪を生
じる。それが伝搬されると、受端の論理回路の入力端子
でも波形歪とインピーダンス不整合による反射を生じ、
信号遅延や誤動作、あるいは発振を起こしたりしてしま
う。
本発明は、以上の点に着目してなされたもので、周辺回
路とのインピーダンスの整合性の良いチップキャリアを
提供することを目的とするものである。
路とのインピーダンスの整合性の良いチップキャリアを
提供することを目的とするものである。
本発明のチップキャリアは、半導体集積回路チップを載
せる基盤と、その基板に設けられて外部回路との接続を
行う外部電極と、この外部電極から上記半導体集積回路
に向かって上記基板上を延長された接続電極と、この接
続電極と上記半導体集積回路の端子電極との間を接続す
るボンディングワイヤと、上記基板に上記接続電極と電
気的に絶縁されて設けられ、その接続電極との間に所定
の特性インピーダンスを形成するグランド層と、上記特
性インピーダンスに整合する抵抗値を持つ抵抗層と、こ
の抵抗層の一端と前記接続電極との間およびこの抵抗層
の他端と前記グランド層との間をそれぞれ電気接続する
手段を設けたことを特徴とするものである。
せる基盤と、その基板に設けられて外部回路との接続を
行う外部電極と、この外部電極から上記半導体集積回路
に向かって上記基板上を延長された接続電極と、この接
続電極と上記半導体集積回路の端子電極との間を接続す
るボンディングワイヤと、上記基板に上記接続電極と電
気的に絶縁されて設けられ、その接続電極との間に所定
の特性インピーダンスを形成するグランド層と、上記特
性インピーダンスに整合する抵抗値を持つ抵抗層と、こ
の抵抗層の一端と前記接続電極との間およびこの抵抗層
の他端と前記グランド層との間をそれぞれ電気接続する
手段を設けたことを特徴とするものである。
本発明おいては、チップキャリアの基板に、接続電極と
電気的に絶縁されて設けられ、その接続電極との間に所
定の特性インピーダンスを形成するグランド層を設けた
ので、チップキャリア内の信号伝送線路のインピーダン
ス整合を行うことができる。
電気的に絶縁されて設けられ、その接続電極との間に所
定の特性インピーダンスを形成するグランド層を設けた
ので、チップキャリア内の信号伝送線路のインピーダン
ス整合を行うことができる。
さらに、上記接続電極と上記グランド層との間に、スル
ーホールを介して、上記特性インピーダンスに整合する
抵抗値を持つ抵抗層を接続したので、基板を大型化する
ことなく信号伝送線路の整合終端を実現することができ
る。
ーホールを介して、上記特性インピーダンスに整合する
抵抗値を持つ抵抗層を接続したので、基板を大型化する
ことなく信号伝送線路の整合終端を実現することができ
る。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明のチップキャリアの一実施例を示す部
分断面図で、第2図はその外観斜視図である。
分断面図で、第2図はその外観斜視図である。
本発明のチップキャリアは、第2図に示すように、基板
1上に半導体集積回路チップを搭載して気密封止したも
のである。この基板1の側面には、多数の凹溝が形成さ
れ、外部回路との接続を行う外部電極2が設けられてい
る。また、基板1の上面には、半導体集積回路チップを
気密に覆う蓋3が取り付けられている。
1上に半導体集積回路チップを搭載して気密封止したも
のである。この基板1の側面には、多数の凹溝が形成さ
れ、外部回路との接続を行う外部電極2が設けられてい
る。また、基板1の上面には、半導体集積回路チップを
気密に覆う蓋3が取り付けられている。
さて、第1図の断面図に示すように、基板1は多層構造
とされ、中央の凹部に半導体集積回路チップ4が接着固
定されている。基板1の周縁部において、その最上層5
は、蓋3を接着固定するための上部絶縁層で、その下側
に、接続電極6と、中間絶縁層7と、グランドB8と、
底部絶縁層9が順に設けられている。また、底部絶縁層
9の下面には、抵抗層12が形成されている。外部電極
2は、この基板1の側面から下面に回り込むように形成
された導電体層からなり、これから半導体集積回路チッ
プ4に向かって、接続電極6が延長されている。接続電
極6の一端は、ボンディングワイヤ10によって、半導
体集積回路チップ4の端子電極11と接続されている。
とされ、中央の凹部に半導体集積回路チップ4が接着固
定されている。基板1の周縁部において、その最上層5
は、蓋3を接着固定するための上部絶縁層で、その下側
に、接続電極6と、中間絶縁層7と、グランドB8と、
底部絶縁層9が順に設けられている。また、底部絶縁層
9の下面には、抵抗層12が形成されている。外部電極
2は、この基板1の側面から下面に回り込むように形成
された導電体層からなり、これから半導体集積回路チッ
プ4に向かって、接続電極6が延長されている。接続電
極6の一端は、ボンディングワイヤ10によって、半導
体集積回路チップ4の端子電極11と接続されている。
グランド層8は、中間絶縁層7と底部絶縁層9との間に
形成された導体層である。このグランド層8と接続電極
6との間には、これらによって、実装される外部回路と
整合する所定の特性インピーダンスが形成されている。
形成された導体層である。このグランド層8と接続電極
6との間には、これらによって、実装される外部回路と
整合する所定の特性インピーダンスが形成されている。
そこで、所定の厚さの中間絶縁層7が設けられ、グラン
ド層8の面積もこれに対応するように選定されている。
ド層8の面積もこれに対応するように選定されている。
一方、このグランド層8と、接続電極6とは、スルーホ
ール13と14を介して抵抗層12と電気接続されてい
る。この抵抗層12は、上記特性インピーダンスに整合
する抵抗値を有する抵抗体により形成されている。この
抵抗層12の両端に接続されたスルーホール13.14
の抵抗値は十分低いものとする。なお、この抵抗層12
は、上部絶縁層5の内部に埋設されていても、また、中
間絶縁層7の上面に形成されていてもよく、その他適当
なスペースに形成されていればよい。この場合、抵抗層
12と接続電極6やグランド層8の間は適当な手段で電
気接続される。
ール13と14を介して抵抗層12と電気接続されてい
る。この抵抗層12は、上記特性インピーダンスに整合
する抵抗値を有する抵抗体により形成されている。この
抵抗層12の両端に接続されたスルーホール13.14
の抵抗値は十分低いものとする。なお、この抵抗層12
は、上部絶縁層5の内部に埋設されていても、また、中
間絶縁層7の上面に形成されていてもよく、その他適当
なスペースに形成されていればよい。この場合、抵抗層
12と接続電極6やグランド層8の間は適当な手段で電
気接続される。
以上の構成のチップキャリアの、外部電極2を、図示し
ない外部回路の配線基板上の回路パタンに電気接続する
と、この外部回路の特性インピーダンスと、チップキャ
リアの接続電極6の特性インピーダンスが整合する。ま
た、抵抗層12は、接続電極6を特性インピーダンスで
終端する。このため、この部分でのインピーダンスミス
マツチによる反射波の発生等が抑制される。
ない外部回路の配線基板上の回路パタンに電気接続する
と、この外部回路の特性インピーダンスと、チップキャ
リアの接続電極6の特性インピーダンスが整合する。ま
た、抵抗層12は、接続電極6を特性インピーダンスで
終端する。このため、この部分でのインピーダンスミス
マツチによる反射波の発生等が抑制される。
また、抵抗層12を設けておけば、##低抵抗外部回路
に設ける必要はない。
に設ける必要はない。
以上説明したように本発明は、チップキャリアの接続電
極を所定の特性インピーダンスに整合させ、さらに、基
板の所定個所に形成した終端抵抗で入力端子を整合終端
したので、波形歪や反射をなくし、信号遅延や誤動作を
なくした超高速論理回路を実現できる効果がある。
極を所定の特性インピーダンスに整合させ、さらに、基
板の所定個所に形成した終端抵抗で入力端子を整合終端
したので、波形歪や反射をなくし、信号遅延や誤動作を
なくした超高速論理回路を実現できる効果がある。
また、基板下面に終端抵抗を設けると、その形成が容易
で、トリミング等により高精度の整合終端が形成できる
。さらに、この抵抗は、スペースをとらず、外部回路の
簡素化を図ることもできる。
で、トリミング等により高精度の整合終端が形成できる
。さらに、この抵抗は、スペースをとらず、外部回路の
簡素化を図ることもできる。
第1図は本発明のチップキーr’)アの要部断面図、第
2図は本発明のチップキャリアの外部斜視図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・外部電極、3・・
・・・・蓋、4・・・・・・半導体集積回路チップ、6
・・・・・・接続電極、8・・・・・・グランド層、1
0・・・・・・ボンディングワイヤ、11・・・・・・
端子電極、12・・・・・・抵抗層、13.14・・・
・・・スルーホール。 出 願 人 日本電気株式会社 代 理 人
2図は本発明のチップキャリアの外部斜視図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・外部電極、3・・
・・・・蓋、4・・・・・・半導体集積回路チップ、6
・・・・・・接続電極、8・・・・・・グランド層、1
0・・・・・・ボンディングワイヤ、11・・・・・・
端子電極、12・・・・・・抵抗層、13.14・・・
・・・スルーホール。 出 願 人 日本電気株式会社 代 理 人
Claims (1)
- 半導体集積回路チップを載せる基板と、その基板に設け
られて外部回路との接続を行う外部電極と、この外部電
極から前記半導体集積回路に向かって前記基板上を延長
された接続電極と、この接続電極と前記半導体集積回路
の端子電極との間を接続するボンディングワイヤと、前
記基板に前記接続電極と電気的に絶縁されて設けられ、
その接続電極との間に所定の特性インピーダンスを形成
するグランド層と、前記特性インピーダンスに整合する
抵抗値を持つ抵抗層と、この抵抗層の一端と、前記接続
電極との間およびこの抵抗層の他端と、前記グランド層
との間をそれぞれ電気接続する手段とを設けたことを特
徴とするチップキャリア。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61251870A JPH0746711B2 (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | チツプキヤリア |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61251870A JPH0746711B2 (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | チツプキヤリア |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63107129A true JPS63107129A (ja) | 1988-05-12 |
JPH0746711B2 JPH0746711B2 (ja) | 1995-05-17 |
Family
ID=17229157
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61251870A Expired - Lifetime JPH0746711B2 (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | チツプキヤリア |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0746711B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5140407A (en) * | 1989-12-25 | 1992-08-18 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit devices |
JPH0574972A (ja) * | 1991-09-13 | 1993-03-26 | Nippon Avionics Co Ltd | Icパツケージ |
EP0923277A2 (en) * | 1997-12-12 | 1999-06-16 | Fujitsu Limited | Printed circuit board |
-
1986
- 1986-10-24 JP JP61251870A patent/JPH0746711B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPH0574972A (ja) * | 1991-09-13 | 1993-03-26 | Nippon Avionics Co Ltd | Icパツケージ |
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EP0923277A3 (en) * | 1997-12-12 | 2000-12-06 | Fujitsu Limited | Printed circuit board |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0746711B2 (ja) | 1995-05-17 |
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