JPS6247897A - 読み出し増幅器 - Google Patents

読み出し増幅器

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JPS6247897A
JPS6247897A JP60188896A JP18889685A JPS6247897A JP S6247897 A JPS6247897 A JP S6247897A JP 60188896 A JP60188896 A JP 60188896A JP 18889685 A JP18889685 A JP 18889685A JP S6247897 A JPS6247897 A JP S6247897A
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Japan
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constant current
signal
transistors
transistor
differential amplifier
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Kazuo Watanabe
和雄 渡辺
Masatoshi Yano
矢野 正敏
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Sony Corp
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Sony Corp
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    • G11INFORMATION STORAGE
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    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
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    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/419Read-write [R-W] circuits

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 以下の順序で本発明を説明する。
A 産業上の利用分野 B 発明の概要 C従来の技術 D 発明が解決しようとする問題点 E 問題点を解決するための手段(第1図)F 作用 G 実施例 G1一実施例(第1図) G2他の実施例(第2図) G3更に他の実施例(第3図) H発明の効果 A 産業上の利用分野 本発明はメモリからの読み出し信号の増幅に用いて好適
な読み出し増幅器に関する。
B 発明の概要 本発明は、読み出し増幅器において、初段差動増幅回路
等に複数の定電流回路を設け、このうちの少くとも1つ
を反転された書き込み可能(WE)信号で遮断状態とす
るごとにより、書き込みモードにおける消費電力を低減
するようにしたものである。
C従来の技術 従来、電子計算機の内部記憶装置または外部記憶袋W(
メモリ)からの微小な読み出し信号を論理回路の電圧レ
ベルまで増幅するために読み出し増@器が使用されてい
る。
まず、第4図を参照しながら、従来の読み出し増幅器に
ついて説明する。
第4図に従来の読み出し増幅器の構成例をボす。
この第4図において、(10)はメモリマトリクスを全
体として示し、その構成要素である任意のメモリセル(
11)がワード線(12)に接続されると共に、1対の
ビット線(13)及びビット線(14)に接続されてい
る。
このメモリセル(11)は、図示を省略した負荷抵抗器
及びMO8I−ランジスタから成るフリップフロップ回
路を有し、電流のオン・オフによつ゛ζ情報を記憶する
スタティック型である。ビット線(13)及びビット線
(14)の各一端はNチャンネルMO3I−ランジスタ
(15)及び(16)のソースにそれぞれ接続され、肉
MO3I−ランジスタ(15)及び(16)のゲート及
びドレインは共に電源端子Pに接続される。ビット線(
13)及びビット線(14)の他端はNチャンネルMO
Sトランジスタ(17)及び(18)のドレインにそれ
ぞれ接続され、両MOSトランジスタ(17)及び(1
8)のゲートはカラム選択端子(19)に接続される。
(20)は書き込み回路を全体として示し、メモリマト
リクス(10)の選択用トランジスタ(17)及び(1
8)の各ソースに接続された一対のデータ線(21)及
びデータ線(22)がそれぞれNチャンネルMOSトラ
ンジスタ(23)及び(24)のソース・ドレインを介
して電源端子Pに接続されると共に、他の1対のNチャ
ンネルMO3I−ランジスタ(25)及び(26)のド
レインにそれぞれ接続され墨。一方のMO3I−ランジ
スタ(25)のソースはデータ入力端子りに直接に接続
され、他方のMOSトランジスタ(26)のソースはイ
ンバータ(27)を介してデータ入力端子りに接続され
る。
MO3I−ランジスタ(23)及び(24)のゲートは
共にWE信号入力端子(28)に接続され、MOSトラ
ンジスタ(25)及び(26)のゲートは共にWE信号
入力端子(29)に接続される。
(30)は読み出し増幅器の初段増幅回路であって、カ
レントミラー型差動増幅回路となっている。
即ち、入力端子fl)、!21を介して、初段増幅回路
(30)のNチャンネルの差動入力MO3I−ランジス
タ(31)及び(32)の各ゲートにデータ線(21)
及びデータ線(22)がそれぞれ接続される。両Nチャ
ンネルMO5I−ランジスタ(31)及び(32)の各
ドレインは能動負荷としての1対のPチャンネルMO3
I−ランジスタ(33)及び(34)の各ドレインにそ
れぞれ接続される。一方のPチャンネルMOSトランジ
スタ(33)はそのゲートとドレインが直結されてダイ
オード接続とされ、他方のPチャンネルMO3)ランジ
スタ(34)のゲートはMO3I−ランジスタ(33)
のゲートに接続される。両PチャンネルMO3I−ラン
ジスタ(33) 。
(34)の各ソースが電源端子Pに接続され゛ζカレン
トミラー回路が構成され、NチャンネルMOSトランジ
スタ(32)及びPチャンネルMO3I−ランジスタ(
34)の各ドレインの接続中点が出力端子(3)に接続
される。両NチャンネルMO5I−ランジスタ(31)
及び(32)の各ソースは定電流源としての第3のNチ
ャンネルMOSトランジスタ(35)のドレインに共に
接続される。このMOSトランジスタ(35)のゲート
にはダイオード接続されたPチャンネルMO3I−ラン
ジスタ(33)からバイアス電圧が供給され、MO3I
−ランジスタ(35)のソースはスイッチとしての第4
のNチャンネルMO3I−ランジスタ(36)のドレイ
ン・ソースを介して接地されて、定電流回路CGを有す
る差動増幅回路が構成される。MO3I−ランジスタ(
36)のゲートはGE信号入力端子(5)に接続される
。差動増幅回路(30)の出力端子(3)に反転増幅回
路(4)が接続される。
また、上述の差動増幅回路(30)は、第5図に示すよ
うに、その電流源部分のMOSトランジスタ(35)を
スイッチングMO3I−ランジスタ(36)と兼用して
、定電流特性が幾分劣るものの、構成を簡単化した差動
増幅回路(30Δ)に置換することもできる。
読み出しの場合、書き込み回路(20)の端子(29)
に供給されるWE (ライトエネイブル)信号が“Lo
”とされて、両MO3I−ランジスタ(25) 、  
(26)がオフ状態とされ、データ線(21)及びデー
タ線(22)がデータ入力端子りから遮断されると共に
、端子(28)に供給されるW〒(反転ライトエネイブ
ル)信号が“Hi ”とされて両MO3I−ランジスタ
(23) 、  (24)がオン状態とされる。また、
端子(5)から差動増幅回路(3o)に供給されるCE
(チップエネイブル)信号力げHiとされて、スイッチ
ングトランジスタ(36)がオン状態となり、差動増幅
回路(3o)が動作状態とされる。
図ボを省略したXデコーダによってワード線(12)が
選択され、このワード線(12)に接続されたずべての
メモリセルが活性化されると共に、図示を省略したYデ
コーダから所定の一対のビット線(13)及びビット線
(14)に対するカラム選択信号が端子(19)を介し
てMO3I−ランジスタ(17)及び(18)のゲート
に供給される。そうすると、両MOSトランジスタ(1
7) 、  (1B)がオン状態となって、所望のメモ
リセル(11)の情報がデータ線(21)及びデータ線
(22)を通って読み出し増幅器の初段差動増幅回路(
30)の肉入力MOSトランジスタ(31)及び(32
)のゲートに供給される。この入力信号の差信号が増幅
されて、差動増幅回路(30)の不平衡出力信号が出力
端子(3)から反転増幅回路(4)に供給される。
書き込みの場合、書き込み回I+!3(20)の端子”
 (28)に供給されるWE倍信号“Lo”とされて、
両MO3I−ランジスタ(23) 、  (24)がオ
フ状態とされると共に、端子(29)に供給されるWE
倍信号“Hi ”とされて、両MO3I−ランジスタ(
25) 、  (26)がオン状態とされ、データ線(
21)及びデータ線(22)がそれぞれデータ入力端子
り及びインバータ(27)に接続される。このとき、メ
モリマトリクス(10)のMOSトランジスタ(15)
〜(18)はすべてオン状態にあり、データ入力端子り
からMO3I−ランジスタ(25)、データ線(21)
 、MOS !−ランジスタ(17)及びビット線(1
3)を経て所望のメモリセル(11)に達する第1の書
き込み経路が形成されると共に、インバータ(27) 
、MOS l−ランジスタ(26)、デー7線(22)
 、MOS トランジスタ(1日)及び百ト線(14)
を経てメモリセル(11)に達する第2の書き込み経路
が形成されて、メモリセル(11)にデータが書き込ま
れる。
このとき、CB倍信号“Hi”とされており、差動増幅
回路(30)は動作状態にある。
D 発明が解決しようとする問題点 ところが、上述のような書き込みモードにおいて、“0
”側のデータが書き込まれる時、インバータ(27)の
出力端子はアース電位となり、電源端子PからMOSト
ランジスタ(16)、ビット線(14) 、MOS l
−ランジスタ(18) 、データ線(22)及びMO3
I−ランジスタ(26)を通って書き込み電流■−が流
れてしまう。
一方、差動増幅回路(30)の定電流源のMOSトラン
ジスタ(36)にはCE倍信号供給されているため、書
き込みモード、読み出しモードに拘らず、CE倍信号“
Hi ″であれば差動増+lQ回路(30)に動作電流
+aが流れており、一定の電力が消費される。
従って、メモリの/l!4費電力は、書き込みモードに
おいて、より大きくなる。
なお、上述の書き込み電流Iw及び差動増’NSi回路
(30)の動作電流1aは、メモリの動作速度によって
異なるが、例えばそれぞれ1ビツトあたりimA及び3
mAのように、比較的大きなものとなる。
か\る点に鑑み、本発明の目的は、書き込みモードにお
ける消費電力を低減した読み出し増幅器を提供するとこ
ろにある。
E 問題点を解決するための手段 本発明は、メモリからの読み出し信号が供給される1対
の差動入力トランジスタと、定電流回路とを有する差動
増幅回路を含む読み出し増幅器において、定電流回路を
複数個設けると共に、この複数個の定電流回路の少(と
も1個に反転された書き込みrIJ能信号により遮断さ
れるスイッチング手段を設けた読み出し増幅器である。
F 作用 か\る構成によれば、書き込みモードにおいて定電流回
路のスイッチング手段が遮断状態となって、読み出し増
幅器の消費電力が低減される。
G 実施例 G1一実施例 以下、第1図を参照しながら、本発明による読み出し増
幅器の一実施例について説明する。
本発明の一実施例の構成を第1図に示す。この第1図に
おいて、(40)は読み出し増幅器の初段増幅回路を全
体として示し、Nチャンネルの差動入力MOSトランジ
スタ(41)及び(42)の各ソースは互に接続され、
各ゲートはそれぞれ入力端子(1)及び(2)に接続さ
れ、各ドレインはそれぞれ能動負荷としてのPチャンネ
ルMO3I−ランジスタ(43)及び(44)の各ドレ
イン・ソースを介して電源端子Pに接続される。両MO
Sトランジスタ(42)及び(44)のドレインの接続
中点が出力端子<3)に接続される。一方のPチャンネ
ルMOSトランジスタフ43)のゲートはそのドレイン
に接続されると共に、他方のPチャンネルMOSトラン
ジスタ(44)のゲートに接続されて、カレントミラー
回路が構成される。上述の接続は前出第5図のMO3I
−ランジスタ(31)〜(34)の接続と同様である。
本実施例においては、差動入力MoSトランジスタ(4
1)及び(42)の相互接続されたソースに、第1の定
電流源兼スイッチとしての小型(幅狭)のNチャンネル
MOSトランジスタ(46)のドレインが接続されると
共に、第2の定電流源兼スイッチとしての大型(幅広)
のNチャンネルMOSトランジスタ(48)のドレイン
が接続される。両MOSトランジスタ(46)及び(4
8)の面積(幅)は第5図の定電流源用MOSトランジ
スタ(36)の面積(幅)の例えば115及び415に
設定される。小型のMOSトランジスタ(46)のゲー
トがCE信号入力端子(5)に接続され、大型のMOS
トランジスタ(48)のゲートがCE−WE信号入力端
子(6)に接続されると共に、両MO3I−ランジスタ
(46) 、  (48)の各ソースが接地されて、第
1及び第2の定電流回路が構成される。
本実施例の動作は次のとおりである。
読み出しモードにおいては、CB倍信号H1′″とされ
ると共に、WE倍信号Hi”とされる。
従って、両信号の積であるGE−WE倍信号“Hi ”
となる。このようなCE倍信号びCE−WE倍信号端子
(5)及び(6)から各ゲートに供給されて、MOSト
ランジスタ(46)及び(48)は共にオン状態となり
、読み出し増幅器の初段差動増幅回路(40)は正規の
動作状態にあり、例えば3mAの正規の動作電流1aが
流れる。
書き込みモードにおいては、CE倍信号Hi”とされる
と共に、WE倍信号“Lo”とされる。
従って、両信号の積であるCE−WE倍信号”Lo″と
なる。このようなCE倍信号びCE−WE倍信号端子(
5)及び(6)から各ゲートに供給されて、MOSトラ
ンジスタ(46)はオン状態となり、MOSトランジス
タ(48)はオフ状態となる。このため、読み出し増幅
器の初段差動増幅回路(40)は、動作電流1aが例え
ば3mAの正規の値の175の0、6mAに制限された
限流動作状態となり、例えば1mAの書き込み電流I−
を上進る動作電流の低減が行われる。
これにより、書き込みモードにおける差動増幅回路(4
0)の消費電力が低減され、結局メモリ全体の消費電力
が低減される。
なお、上述のような限流動作状態にある読み出し増幅器
の出力には、書き込みモードにおいても、データ線に書
き込まれた信号と同相の信号が出力されるため、外部書
き込み回路に妨害を与えることがない。
G2他の実施例 次に、第2図を参照しながら、本発明の他の実施例につ
いて説明する。
本発明の他の実施例の構成を第2図にボす。この第2図
において、(50)は読み出し増幅器の初段差動増幅回
路を全体として示し、前出!81図に示した初段差動増
幅回路(40)と類似の構成となっている。よって、対
応する部分には、1の桁の数字を同じくし、10の桁の
数字を5とする符号を付して、重複説明を省略する。
(55)及び(57)は第1及び第2の定電流源用MO
3I−ランジスタであって、各ドレインが差動入力MO
Sトランジスタ(51)及び(52)の相互に接続され
たソースに接続されると共に、各ソースがスイッチング
用MO3I−ランジスタ(56)及び(58)の各ドレ
イン・ソースを介して接地されて、第1及び第2の定電
流回路CC1及びCC2が構成される。定電流源用MO
Sトランジスタ(55)及び(57)のゲートには、ダ
イオード接続されたPチャンネルMO3)ランジスタ(
53)からバイアス電圧が供給される。第1の定電流源
MO3I−ランジスタ(55)は、直列接続された小型
スイッチングMOSトランジスタ(56)と等面積とさ
れると共に、第2の定電流源MOSトランジスタ(57
)は、直列接続された大型スイッチングMOSトランジ
スタ(58)と等面積とされる。
その余の構成は前述の第1図の実施例と同様である。
本実施例も、前述の第1図の実施例と全く同様に、読み
出しモードにおいて正規の動作状態になると共に、書き
込みモードにおいて限流動作状態になり、書き込みモー
ドにおける消費電力が低減される。
なお、画定電流源MO3I−ランジスタ(55)及び(
57)は両者の面積の和と等しい面積を有する単一のM
O3I−ランジスタと置換することができる。
G3・更に他の実施例 次に、第3図を参照しながら、本発明の更に他の実施例
について説明する。
本発明の更に他の実施例の構成を第3図に示す。
この第3図において、(60)及び(70)はそれぞれ
差動増幅回路を全体として示し、両差動増幅回路(60
)及び(70)は、それぞれ前出第2図に示した差動増
幅回路(50)と同様に構成される。よって、対応する
部分には、1の桁の数字を同じくし、10の桁の数字を
6または7とする符号を付して重複説明を省略する。ま
た、(40)は第3の差動増幅回路を全体として示し、
前出第1図に示した差動増幅回路(40)と全く同一の
構成である。
なお、両差動増幅回路(60)及び(70)により平衡
型初段増幅回路が構成されて同相ノイズ抑圧比の向上が
図られている。
第3図において、一方の入力端子(1)が第1の差動増
幅回路(60)の一方の入力MOSトランジスタ(61
)及び第2の差動増幅回路(70)の他方の入力MO3
I−ランジスタ(72)の各ゲートに共通に接続される
と共に、他方の入力端子(2)が第1の差動増幅回路(
60)の他方の入力MO3I−ランジスタ(62)及び
第2の差動増幅回路(70)の一方の入力MO3)ラン
ジスタ(71)の各ゲートに共通に接続される。
第1及び第2の差動増幅回路(60)及び(70)のそ
れぞれ他方の入力MOSトランジスタ(62)及び(7
2)の各ドレインが第3の差動増幅回路(40)の肉入
力MO3I−ランジスタ(41)及び(42)の各ゲー
トにそれぞれ接続される。
また、第1及び第2の差動増幅回路(60)及び(70
)の各小型定電流源MOSトランジスタ(65)及び(
75)の各ソースが小型スイッチングMOSトランジス
タ(66)のドレイン・ソースを介して接地されて、第
1の定電流回路CC1が構成されると共に、各大型定電
流源MO3)ランジスタ(67)及び(77)の各ソー
スが大型スイッチングMO3I−ランジスタ(68)の
ドレイン・ソースを介して接地されて、第2の定電流目
Il!&CC2が構成される。なお、小型スイッチング
MOSトランジスタ(66)の面積は両手型定電流源M
OSトランジスタ(65)及び(75)の面積の和に等
しく設定され、大型スイッチングMOSトランジスタ(
68)の面積は両人型定電流源Mosトランジスタ(6
7)及び(77)の面積の和に等しく設定される。
両スイッチングMO3I−ランジスタ(66)及び(6
8)の各ゲートは、第3の差動増幅回路(40)の定電
流源兼用のスイッチングMO3I−ランジスタ(46)
及び(48)の各ゲートと共に、CE信号入力端子(5
)及びCE−WE信号入力端子(6)にそれぞれ接続さ
れる。
本実施例も、前述の第1図及び第2図の実施例と全く同
様に、読み出しモードにおいて正規の動作状態になると
共に、書き込みモードにおいて限流動作状態になるが、
本実施例においては3つの差動増幅回路(60) 、 
 (70)及び(40)が同時に制御されるので、書き
込みモードにおける消費電力が一層低減される。
H発明の効果 以上詳述のように、本発明によれば、読み取り増幅器に
含まれる差動増幅回路に複数の定電流回路を設け、少く
とも1 ivAの定電流回路を反転された書き込み可能
信号WEによって遮断するようにしたので、書き込みモ
ードにおける消費電力を低減した読み出し増幅器が得ら
れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による読み出し増幅器の一実施例の構成
を示す結線図、第2図は本発明の他の実施例の構成を示
す結線図、第3図は本発明の更に他の実施例の構成を示
す結線図、第4図は従来のメモリの要部の構成例を示す
結線図、第5図は従来の読み出し増幅器の他の構成例を
示す結線図である。 (40)、(50) 、  (60) 、  (70)
は差動増幅回路、(48)は定電流源兼用のスイッチン
グMOSトランジスタ、(58) 、  (68)はス
イッチングトランジスタ、CCI、CC2は定電流回路
、WEは反転ライトエネイブル信号である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 メモリからの読み出し信号が供給される1対の差動入力
    トランジスタと、定電流回路とを有する差動増幅回路を
    含む読み出し増幅器において、上記定電流回路を複数個
    設けると共に、 該複数個の定電流回路の少くとも1個に反転された書き
    込み可能信号により遮断されるスイッチング手段を設け
    たことを特徴とする読み出し増幅器。
JP60188896A 1985-08-28 1985-08-28 読み出し増幅器 Pending JPS6247897A (ja)

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JP60188896A JPS6247897A (ja) 1985-08-28 1985-08-28 読み出し増幅器
DE8686111875T DE3676007D1 (de) 1985-08-28 1986-08-27 Leseverstaerker fuer statischer speicher.
EP86111875A EP0212665B1 (en) 1985-08-28 1986-08-27 Sense amplifier for static memory
KR1019860007161A KR950001126B1 (ko) 1985-08-28 1986-08-28 메모리 회로
US07/212,044 US4845672A (en) 1985-08-28 1988-06-24 Memory circuit with active load

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US (1) US4845672A (ja)
EP (1) EP0212665B1 (ja)
JP (1) JPS6247897A (ja)
KR (1) KR950001126B1 (ja)
DE (1) DE3676007D1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01158692A (ja) * 1987-09-04 1989-06-21 Hitachi Ltd 半導体メモリ
JPH0352195A (ja) * 1989-07-20 1991-03-06 Toshiba Corp センス回路

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4954992A (en) * 1987-12-24 1990-09-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Random access memory having separate read out and write in bus lines for reduced access time and operating method therefor
US5132576A (en) * 1990-11-05 1992-07-21 Ict International Cmos Technology, Inc. Sense amplifier having load device providing improved access time
US5222039A (en) * 1990-11-28 1993-06-22 Thunderbird Technologies, Inc. Static random access memory (SRAM) including Fermi-threshold field effect transistors
US5384730A (en) * 1991-05-31 1995-01-24 Thunderbird Technologies, Inc. Coincident activation of pass transistors in a random access memory
US5305269A (en) * 1991-05-31 1994-04-19 Thunderbird Technologies, Inc. Differential latching inverter and random access memory using same
US5304874A (en) * 1991-05-31 1994-04-19 Thunderbird Technologies, Inc. Differential latching inverter and random access memory using same
US5341333A (en) * 1992-08-11 1994-08-23 Integrated Device Technology, Inc. Circuits and methods for amplification of electrical signals
JPH0685564A (ja) * 1992-09-01 1994-03-25 Mitsubishi Electric Corp 増幅器回路
DE19713833C1 (de) * 1997-04-03 1998-10-01 Siemens Ag Eingangsverstärker für Eingangssignale mit steilen Flanken, insbesondere High-Low-Flanken
JP3022410B2 (ja) * 1997-06-17 2000-03-21 日本電気株式会社 インタフェース回路およびその判定レベル設定方法
US6064613A (en) * 1998-12-28 2000-05-16 Etron Technology, Inc. Pre-sense amplifier with reduced output swing
KR100360405B1 (ko) * 2000-08-09 2002-11-13 삼성전자 주식회사 출력 안정도를 개선하는 반도체 장치의 데이터 출력용증폭 회로 및 이를 구비하는 반도체 장치
US6429735B1 (en) * 2001-08-29 2002-08-06 National Semiconductor Corporation High speed output buffer
US7218564B2 (en) * 2004-07-16 2007-05-15 Promos Technologies Inc. Dual equalization devices for long data line pairs
US7579898B2 (en) * 2006-07-31 2009-08-25 Freescale Semiconductor, Inc. Temperature sensor device and methods thereof
US8705304B2 (en) * 2010-03-26 2014-04-22 Micron Technology, Inc. Current mode sense amplifier with passive load
KR101543701B1 (ko) * 2014-12-22 2015-08-12 연세대학교 산학협력단 감지 증폭기 및 그를 이용한 반도체 메모리 장치

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56105389A (en) * 1980-01-22 1981-08-21 Fujitsu Ltd Potential difference detecting circuit
JPS6246486A (ja) * 1985-08-23 1987-02-28 Hitachi Ltd ダイナミツク型ram

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52111341A (en) * 1976-03-16 1977-09-19 Toshiba Corp Semiconductor memory device
US4272834A (en) * 1978-10-06 1981-06-09 Hitachi, Ltd. Data line potential setting circuit and MIS memory circuit using the same
JPS6027113B2 (ja) * 1980-02-13 1985-06-27 日本電気株式会社 プリチャ−ジ装置
JPS57127989A (en) * 1981-02-02 1982-08-09 Hitachi Ltd Mos static type ram
US4412143A (en) * 1981-03-26 1983-10-25 Ncr Corporation MOS Sense amplifier
JPS57208690A (en) * 1981-06-19 1982-12-21 Hitachi Ltd Semiconductor storage device
US4421996A (en) * 1981-10-09 1983-12-20 Advanced Micro Devices, Inc. Sense amplification scheme for random access memory
JPS5891591A (ja) * 1981-11-27 1983-05-31 Toshiba Corp 半導体メモリのパワ−セ−ブ方式
US4639900A (en) * 1984-02-22 1987-01-27 U.S. Philips Corporation Method and a system for monitoring a sea area
US4665507A (en) * 1984-04-20 1987-05-12 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory having load devices controlled by a write signal
JPH0770222B2 (ja) * 1984-06-04 1995-07-31 株式会社日立製作所 Mosスタテイツク型ram
GB2172761B (en) * 1985-03-18 1988-11-09 Texas Instruments Ltd Random access memory using semiconductor data storage elements

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56105389A (en) * 1980-01-22 1981-08-21 Fujitsu Ltd Potential difference detecting circuit
JPS6246486A (ja) * 1985-08-23 1987-02-28 Hitachi Ltd ダイナミツク型ram

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01158692A (ja) * 1987-09-04 1989-06-21 Hitachi Ltd 半導体メモリ
JPH0352195A (ja) * 1989-07-20 1991-03-06 Toshiba Corp センス回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP0212665B1 (en) 1990-12-05
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EP0212665A2 (en) 1987-03-04
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US4845672A (en) 1989-07-04

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