JPS6231288B2 - - Google Patents
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- JPS6231288B2 JPS6231288B2 JP53066718A JP6671878A JPS6231288B2 JP S6231288 B2 JPS6231288 B2 JP S6231288B2 JP 53066718 A JP53066718 A JP 53066718A JP 6671878 A JP6671878 A JP 6671878A JP S6231288 B2 JPS6231288 B2 JP S6231288B2
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- Japan
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- fluorescence
- spectrometer
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- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 24
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 14
- 238000000695 excitation spectrum Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、分光けい光光度計に関する。
分光けい光光度計は、光源からの光を励起側分
光器により単色光にした上で試料に照射し、試料
から放射されるけい光をけい光側分光器により単
色光にした上で検知されるものである。ここで、
けい光側分光器の波長を固定し、励起側分光器の
波長走査を行うことにより、励起スペクトルが測
定される。また、励起側分光器の波長を固定し、
けい光側分光器の波長走査を行うことにより、け
い光スペクトルが測定される。従来、これらのス
ペクトルの測定に際しては、種々の煩雑な調整が
必要であつた。例えば、励起スペクトルの測定に
際しては、励起側分光器の波長走査に先立つて、
けい光側分光器を手動にて波長を変え、最適けい
光波長であるスペクトルのピーク波長を探し出
し、そのピーク波長位置にけい光側分光器の波長
を設定するという調整が必要である。その上で、
励起側分光器の波長走査を行い、励起スペクトル
を測定している。この調整は、同様にしてけい光
スペクトルの測定においても行われるが、極めて
煩雑である。
光器により単色光にした上で試料に照射し、試料
から放射されるけい光をけい光側分光器により単
色光にした上で検知されるものである。ここで、
けい光側分光器の波長を固定し、励起側分光器の
波長走査を行うことにより、励起スペクトルが測
定される。また、励起側分光器の波長を固定し、
けい光側分光器の波長走査を行うことにより、け
い光スペクトルが測定される。従来、これらのス
ペクトルの測定に際しては、種々の煩雑な調整が
必要であつた。例えば、励起スペクトルの測定に
際しては、励起側分光器の波長走査に先立つて、
けい光側分光器を手動にて波長を変え、最適けい
光波長であるスペクトルのピーク波長を探し出
し、そのピーク波長位置にけい光側分光器の波長
を設定するという調整が必要である。その上で、
励起側分光器の波長走査を行い、励起スペクトル
を測定している。この調整は、同様にしてけい光
スペクトルの測定においても行われるが、極めて
煩雑である。
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、スペクトル測定に際して調
整の容易な分光けい光光度計を提供するにある。
であり、その目的は、スペクトル測定に際して調
整の容易な分光けい光光度計を提供するにある。
本発明は、スペクトルの測定に際して、一方の
分光器の波長走査してピーク波長を検出し、該分
光器をピーク波長に設定した後、他方の分光器を
波長走査してスペクトルの測定を行うものであ
る。
分光器の波長走査してピーク波長を検出し、該分
光器をピーク波長に設定した後、他方の分光器を
波長走査してスペクトルの測定を行うものであ
る。
本発明の一実施例について第１図を用いて説明
する。光源４６からの光は励起側分光器３１によ
り単色光にされた後試料（図示せず）に照射され
る。励起側分光器３１の中の回折格子等の分散素
子は、パルスモータにより駆動され、パルスモー
タは、パルスモータ駆動回路３２を介して与えら
れた中央演算処理部２２の指示に基づいて駆動さ
れる。試料から発せられたけい光は、けい光側分
光器３４により分光され、検知器３５により検知
される。けい光側分光器３４は、パルスモータ駆
動回路３３を介して、中央演算処理部２２により
制御される。検知器３５の出力信号は、前置増巾
器３６により増巾された後、アナログ・デイジタ
ル変換器３７にてデイジタル量に変換され、中央
演算処理部２２に取り込まれる。取り込まれたデ
ータに所望の演算処理が施された後、デイジタ
ル・アナログ変換器３９を介して、Ｘ―Ｙ記録計
４５のＹ軸入力となる。また、波長に関するデー
タは、デイジタル・アナログ変換器３８を介し
て、Ｘ―Ｙ記録計４５のＸ軸入力となる。
する。光源４６からの光は励起側分光器３１によ
り単色光にされた後試料（図示せず）に照射され
る。励起側分光器３１の中の回折格子等の分散素
子は、パルスモータにより駆動され、パルスモー
タは、パルスモータ駆動回路３２を介して与えら
れた中央演算処理部２２の指示に基づいて駆動さ
れる。試料から発せられたけい光は、けい光側分
光器３４により分光され、検知器３５により検知
される。けい光側分光器３４は、パルスモータ駆
動回路３３を介して、中央演算処理部２２により
制御される。検知器３５の出力信号は、前置増巾
器３６により増巾された後、アナログ・デイジタ
ル変換器３７にてデイジタル量に変換され、中央
演算処理部２２に取り込まれる。取り込まれたデ
ータに所望の演算処理が施された後、デイジタ
ル・アナログ変換器３９を介して、Ｘ―Ｙ記録計
４５のＹ軸入力となる。また、波長に関するデー
タは、デイジタル・アナログ変換器３８を介し
て、Ｘ―Ｙ記録計４５のＸ軸入力となる。
次いで、励起スペクトルあるいはけい光スペク
トルの測定の際の最適けい光波長あるいは励起波
長を得る走査（以下サーベイ波長走査と称する）
について説明する。このサーベイ波長走査のため
のプログラムは、記憶装置であるリード・オン
リ・メモリ（以下ROMと略す）２３内に収納さ
れており、該プログラムのフローチヤートは第２
図に示すとおりである。すなわち、操作パネル１
０の上には、励起側サーベイ波長走査キー１４お
よびけい光側サーベイ波長走査キー１７が配置さ
れている。ここで、励起スペクトルの測定に先立
つて、けい光側サーベイ波長走査キー１７が押さ
れると、キー入力インターフエース４４を介し
て、中央演算処理部２２においてサーベイ波長走
査指示がなされ、けい光側分光器３４の波長走査
が開始される。励起側分光器３１およびけい光側
分光器３４は、それぞれ中央演算処理部２２によ
り制御されているため、それぞれの分光器が選択
する単色光の波長はランダム・アクセス・メモリ
（以下RAMと略す）２４の励起波長記憶部２５お
よびけい光波長記憶部２６に記憶されている。そ
こで、サーベイ波長走査指示に従つて、励起波長
記憶部２５とけい光波長記憶部２６の記憶内容、
すなわち、励起波長とけい光波長が比較される。
この比較は、散乱光の影響を除去するために行わ
れる。サーベイ波長走査の目的は、けい光のピー
ク波長を得ることにあるため、散乱光のピークを
けい光のピークから識別する必要がある。波長走
査に伴つて変化する検出器３５の出力信号の最大
値が、RAM２４の最大信号記憶部２７に記憶さ
れる。したがつて、波長走査に伴つて新たに中央
演算処理部２２に取り込まれた検知器３５の出力
信号は、最大信号記憶部２７の内容と比較され
る。新たに取り込まれた信号が記憶されていた信
号より大きい場合には、最大信号が書き換えられ
る。すなわち、新たに取り込まれた信号が最大信
号記憶部２７に記憶されるとともに、その時の波
長が励起ピーク波長記憶部２９若しくはけい光ピ
ーク波長記憶部３０に記憶される。そして、サー
ベイ波長走査の終了まで、順次波長走査が行わ
れ、最大波長およびピーク値が測定される。サー
ベイ波長走査の終了とともに、最大信号記憶部２
７の内容がピーク値記憶部２８に記憶される。ま
た、けい光側をサーベイ波長走査している場合に
は、けい光ピーク波長記憶部３０の内容を読み出
すとともに、その波長になるように、中央演算処
理部２２が指示し、けい光側分光器３４が制御さ
れる。
トルの測定の際の最適けい光波長あるいは励起波
長を得る走査（以下サーベイ波長走査と称する）
について説明する。このサーベイ波長走査のため
のプログラムは、記憶装置であるリード・オン
リ・メモリ（以下ROMと略す）２３内に収納さ
れており、該プログラムのフローチヤートは第２
図に示すとおりである。すなわち、操作パネル１
０の上には、励起側サーベイ波長走査キー１４お
よびけい光側サーベイ波長走査キー１７が配置さ
れている。ここで、励起スペクトルの測定に先立
つて、けい光側サーベイ波長走査キー１７が押さ
れると、キー入力インターフエース４４を介し
て、中央演算処理部２２においてサーベイ波長走
査指示がなされ、けい光側分光器３４の波長走査
が開始される。励起側分光器３１およびけい光側
分光器３４は、それぞれ中央演算処理部２２によ
り制御されているため、それぞれの分光器が選択
する単色光の波長はランダム・アクセス・メモリ
（以下RAMと略す）２４の励起波長記憶部２５お
よびけい光波長記憶部２６に記憶されている。そ
こで、サーベイ波長走査指示に従つて、励起波長
記憶部２５とけい光波長記憶部２６の記憶内容、
すなわち、励起波長とけい光波長が比較される。
この比較は、散乱光の影響を除去するために行わ
れる。サーベイ波長走査の目的は、けい光のピー
ク波長を得ることにあるため、散乱光のピークを
けい光のピークから識別する必要がある。波長走
査に伴つて変化する検出器３５の出力信号の最大
値が、RAM２４の最大信号記憶部２７に記憶さ
れる。したがつて、波長走査に伴つて新たに中央
演算処理部２２に取り込まれた検知器３５の出力
信号は、最大信号記憶部２７の内容と比較され
る。新たに取り込まれた信号が記憶されていた信
号より大きい場合には、最大信号が書き換えられ
る。すなわち、新たに取り込まれた信号が最大信
号記憶部２７に記憶されるとともに、その時の波
長が励起ピーク波長記憶部２９若しくはけい光ピ
ーク波長記憶部３０に記憶される。そして、サー
ベイ波長走査の終了まで、順次波長走査が行わ
れ、最大波長およびピーク値が測定される。サー
ベイ波長走査の終了とともに、最大信号記憶部２
７の内容がピーク値記憶部２８に記憶される。ま
た、けい光側をサーベイ波長走査している場合に
は、けい光ピーク波長記憶部３０の内容を読み出
すとともに、その波長になるように、中央演算処
理部２２が指示し、けい光側分光器３４が制御さ
れる。
ここで、励起スペクトルを測定する場合に、励
起側をサーベイ波長走査した場合には、励起側分
光器３１がピーク波長に設定された後か途中にお
いて励起側波長セツトキー１３を押すことによ
り、励起設定波長記憶部４７に記憶された最初の
スタート波長まで、励起側分光器３１の波長が戻
される。同様にして、けい光側波長セツトキー１
６を押すことにより、けい光側分光器３４は、け
い光設定波長記憶部４８に記憶されたスタート波
長まで戻される。
起側をサーベイ波長走査した場合には、励起側分
光器３１がピーク波長に設定された後か途中にお
いて励起側波長セツトキー１３を押すことによ
り、励起設定波長記憶部４７に記憶された最初の
スタート波長まで、励起側分光器３１の波長が戻
される。同様にして、けい光側波長セツトキー１
６を押すことにより、けい光側分光器３４は、け
い光設定波長記憶部４８に記憶されたスタート波
長まで戻される。
以上のサーベイ波長走査を完了した段階で、測
定波長走査を行う。この走査は、操作パネル１０
の上の励起側測定波長走査キー１５あるいはけい
光側測定波長走査キー１８を押すことにより開始
される。このとき、検出器３５から中央演算処理
部２２に取り込まれたデータに対しては、ピーク
値記憶部２８に記録されたピーク値がＸ―Ｙ記録
計４５のフルスケールの範囲に納まるようにする
ための係数が乗ぜられる。その結果として、けい
光強度が強い場合には、スペクトルが一様に縮小
し、けい光強度が弱い場合には、スペクトルが拡
大し、Ｘ―Ｙ記録計４５に記録される。
定波長走査を行う。この走査は、操作パネル１０
の上の励起側測定波長走査キー１５あるいはけい
光側測定波長走査キー１８を押すことにより開始
される。このとき、検出器３５から中央演算処理
部２２に取り込まれたデータに対しては、ピーク
値記憶部２８に記録されたピーク値がＸ―Ｙ記録
計４５のフルスケールの範囲に納まるようにする
ための係数が乗ぜられる。その結果として、けい
光強度が強い場合には、スペクトルが一様に縮小
し、けい光強度が弱い場合には、スペクトルが拡
大し、Ｘ―Ｙ記録計４５に記録される。
尚、励起波長記憶部２５、けい光波長記憶部２
６に記憶された波長は、中央演算処理部２２、デ
イスプレイインターフエース４０，４２を介し
て、波長表示器４１，４３に表示される。
６に記憶された波長は、中央演算処理部２２、デ
イスプレイインターフエース４０，４２を介し
て、波長表示器４１，４３に表示される。
本発明の一実施例によれば、励起スペクトルあ
るいはけい光スペクトルの測定に際して、けい光
あるいは励起側分光器を最適波長に容易に調整で
きる。
るいはけい光スペクトルの測定に際して、けい光
あるいは励起側分光器を最適波長に容易に調整で
きる。
また、スペクトルを記録計に表示する場合、ス
ペクトルをフルスケール内に納めるための増巾器
の利得調整も不要となる。
ペクトルをフルスケール内に納めるための増巾器
の利得調整も不要となる。
また、スペクトル測定の際におけるスペクトル
のピーク検出において散乱光によるピークを誤認
識することがなくなる。
のピーク検出において散乱光によるピークを誤認
識することがなくなる。
本発明によれば、分光けい光光度計におけるス
ペクトル測定時における調整が容易となる。
ペクトル測定時における調整が容易となる。
第１図は、本発明の一実施例のブロツク図であ
り、第２図は、本発明の一実施例におけるサーベ
イ波長走査のフローチヤート図である。 ２２……中央演算処理部、３１……励起側分光
器、３４……けい光側分光器、３５……検知器、
４６……光源。
り、第２図は、本発明の一実施例におけるサーベ
イ波長走査のフローチヤート図である。 ２２……中央演算処理部、３１……励起側分光
器、３４……けい光側分光器、３５……検知器、
４６……光源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光源と、この光源からの光を分光し単色光を
試料に照射する励起側分光器と、前記試料から発
せられたけい光を分光するけい光側分光器と、こ
のけい光側分光器の出射光を検知する検知器と、
前記２つの分光器の一方をデイジタル波長制御し
他方を波長固定したときの前記検出器の出力信号
のピーク波長及びピーク値を検出する手段と、検
出されたピーク波長及びピーク値を記憶する手段
と、前記一方の分光器の波長制御後前記一方の分
光器を前記記憶されたピーク波長に設定して前記
他方の分光器をデイジタル波長制御する手段と、
前記ピーク値が一定範囲内となるように制御され
て前記試料のスペクトルの記録を行なう記録部と
を備えたことを特徴とする分光けい光光度計。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の分光けい光光度
計において前記ピーク波長を検出する手段は、前
記励起側およびけい光側分光器の選択する波長が
略一致しているとき以外におけるピーク波長を検
出することを特徴とする分光けい光光度計。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6671878A JPS54158288A (en) | 1978-06-05 | 1978-06-05 | Spectroscopic fluorescent photometer |
| GB7918009A GB2024412B (en) | 1978-06-05 | 1979-05-23 | Fluorescence spectrophotometer |
| DE2922788A DE2922788C2 (de) | 1978-06-05 | 1979-06-05 | Fluoreszenzspektrometer |
| US06/045,630 US4330207A (en) | 1978-06-05 | 1979-06-05 | Fluorescence spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6671878A JPS54158288A (en) | 1978-06-05 | 1978-06-05 | Spectroscopic fluorescent photometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54158288A JPS54158288A (en) | 1979-12-13 |
| JPS6231288B2 true JPS6231288B2 (ja) | 1987-07-07 |
Family
ID=13323956
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6671878A Granted JPS54158288A (en) | 1978-06-05 | 1978-06-05 | Spectroscopic fluorescent photometer |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4330207A (ja) |
| JP (1) | JPS54158288A (ja) |
| DE (1) | DE2922788C2 (ja) |
| GB (1) | GB2024412B (ja) |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2113831B (en) * | 1982-01-19 | 1985-10-02 | Philips Electronic Associated | Method of analysis using atomic absorption spectrophotometry |
| JPS59120844A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-12 | Shimadzu Corp | 分光分析装置 |
| US4681444A (en) * | 1984-09-14 | 1987-07-21 | The Perkin-Elmer Corporation | Automatic wavelength calibration apparatus |
| JPS6212842A (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-21 | Hitachi Ltd | 螢光分析装置 |
| US4732476A (en) * | 1985-07-26 | 1988-03-22 | Barspec Ltd. | Continuously rotating grating rapid-scan spectrophotometer |
| DE3542167A1 (de) * | 1985-11-29 | 1987-06-04 | Wolfgang Prof Dr Lohmann | Verfahren zur messung der augen-linsen-truebung und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
| US4855930A (en) * | 1987-03-27 | 1989-08-08 | Chimerix Corporation | Method and appartatus for improved time-resolved fluorescence spectroscopy |
| US5253183A (en) * | 1988-01-06 | 1993-10-12 | Hitachi, Ltd. | Obtaining a spectrogram from a single scanning of interference fringes |
| JPH073366B2 (ja) * | 1988-02-24 | 1995-01-18 | 株式会社日立製作所 | 分光蛍光光度計 |
| DE3938142A1 (de) * | 1989-11-16 | 1991-05-29 | Mak Maschinenbau Krupp | Verfahren und vorrichtung zur qualitativen und quantitativen bestimmung von inhaltsstoffen |
| US5128882A (en) * | 1990-08-22 | 1992-07-07 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Device for measuring reflectance and fluorescence of in-situ soil |
| JPH0718796B2 (ja) * | 1990-10-19 | 1995-03-06 | 株式会社島津製作所 | 蛍光測定装置 |
| US5177560A (en) * | 1991-11-06 | 1993-01-05 | Hewlett-Packard Company | Optical spectrum analyzer having adjustable sensitivity |
| US5784152A (en) * | 1995-03-16 | 1998-07-21 | Bio-Rad Laboratories | Tunable excitation and/or tunable detection microplate reader |
| US5863504A (en) * | 1995-03-16 | 1999-01-26 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Fluorescence imaging instrument utilizing fish |
| US6043506A (en) * | 1997-08-13 | 2000-03-28 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Multi parameter scanner |
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|---|---|---|---|---|
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-
1978
- 1978-06-05 JP JP6671878A patent/JPS54158288A/ja active Granted
-
1979
- 1979-05-23 GB GB7918009A patent/GB2024412B/en not_active Expired
- 1979-06-05 US US06/045,630 patent/US4330207A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-06-05 DE DE2922788A patent/DE2922788C2/de not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5853748A (ja) * | 1981-09-25 | 1983-03-30 | Toshiba Corp | 気体検出素子及びその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54158288A (en) | 1979-12-13 |
| GB2024412A (en) | 1980-01-09 |
| GB2024412B (en) | 1982-10-13 |
| DE2922788A1 (de) | 1979-12-06 |
| DE2922788C2 (de) | 1986-12-04 |
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