JPS5821143A - 螢光測定装置 - Google Patents
螢光測定装置Info
- Publication number
- JPS5821143A JPS5821143A JP56119920A JP11992081A JPS5821143A JP S5821143 A JPS5821143 A JP S5821143A JP 56119920 A JP56119920 A JP 56119920A JP 11992081 A JP11992081 A JP 11992081A JP S5821143 A JPS5821143 A JP S5821143A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensitivity
- photometric
- fluorescence
- excitation
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は螢光測定装置の自動化に関する。分光螢光光度
計で未知試料の螢光測定を行う場合、まず試料を励起す
る励起波長を決める必要があり、従来は測定者が経験的
に適当な波長の光を励起光として試料の螢光スペクトル
を測定していたが、励起光の波長の選択が不適当である
と試料の螢光が観測されなかったシ或は極めて弱いこと
になシ、励起波長を変えて再度螢光スペクトルを測定す
る必要が生じ、場合によっては同様の操作を何回も繰返
して適当な励起波長を探索しなければならないこともあ
った。本発明は励起波長の探索を測定者の経験とか勘に
頼ることなく系統化し自動化して誰でも容易にかつ能率
的に螢光の測定ができるようにすることを目的としてな
された。
計で未知試料の螢光測定を行う場合、まず試料を励起す
る励起波長を決める必要があり、従来は測定者が経験的
に適当な波長の光を励起光として試料の螢光スペクトル
を測定していたが、励起光の波長の選択が不適当である
と試料の螢光が観測されなかったシ或は極めて弱いこと
になシ、励起波長を変えて再度螢光スペクトルを測定す
る必要が生じ、場合によっては同様の操作を何回も繰返
して適当な励起波長を探索しなければならないこともあ
った。本発明は励起波長の探索を測定者の経験とか勘に
頼ることなく系統化し自動化して誰でも容易にかつ能率
的に螢光の測定ができるようにすることを目的としてな
された。
本発明は励起光波長を成る値に設定し、螢光検出回路を
最高感度に設定して螢光の波長走査を行い、螢光検出出
力が測定レンジを超えたときは螢光検出回路の感度を一
段切下げると云う手順によって螢光スペクトルを測定し
て測定値を記憶すると云う操作を励起波長を適当幅で変
えて繰返し、次に上記記憶されたデータを上記全測定中
の最低感度における測定値に換算して出力させ、複数の
励起波長に対する螢光スペクトルを一つのチャ゛−ト上
に重ねて画かせるようにした螢光測定装置を提供するも
のである。
最高感度に設定して螢光の波長走査を行い、螢光検出出
力が測定レンジを超えたときは螢光検出回路の感度を一
段切下げると云う手順によって螢光スペクトルを測定し
て測定値を記憶すると云う操作を励起波長を適当幅で変
えて繰返し、次に上記記憶されたデータを上記全測定中
の最低感度における測定値に換算して出力させ、複数の
励起波長に対する螢光スペクトルを一つのチャ゛−ト上
に重ねて画かせるようにした螢光測定装置を提供するも
のである。
第]−図a、 b、 cは励起波長をλ]−2λ礼
λ3の3通りに変えて螢光スペクト)しを記録したもの
で、螢光の波長走査は測定感度最高の状態でスタートさ
せる。第コ図aの場合終始最高感度で測定したが強い螢
光は認められない。第1図すは最高感度でスタートした
所途中で測定値が測定レンジを超えだので、そこで感度
を一段下げてスペクトルの記録を行った。第1図Cは再
び最高感度で終始測定したが顕著表螢光が認められ々か
った。本発明においては第1図に示したような測定結果
がディジタルデータとしてメモリに格納される。次に第
1図a、’b、cの測定結果をその測定中の最低感度、
図の場合第]−図すのdの範囲の測定感度による測定値
に換算して一つのチャー1・に記録したものを第1図d
に示す。本発明装置はメモリに格納されたデータから第
1図dのようなチャートを作成する機能を有する。この
チャートから励起波長はλ2の付近が適当で螢光のピー
ク波長はλ1と判定できる。そこで測定者は螢光分光器
の波長をλ°にセットし、励起光分光器をλ1からλ3
′!!で走査すると励起光スペクトルが求まり、λ2の
付近にピークがあることが判る。この場合の測定感度の
設定は第1図すのdの範囲の測定感度に設定しておくの
が妥当である。上のようにして励起光の波長が決められ
たら最後にその励起光によって螢光スペクトルの測光を
行う。上述の測定操作で第]−図dのチャートを作成す
る所載でか本発明装置の機能でこのチャート作成捷でか
自動的に行われる。以下実施例によって本発明を説明す
る。
λ3の3通りに変えて螢光スペクト)しを記録したもの
で、螢光の波長走査は測定感度最高の状態でスタートさ
せる。第コ図aの場合終始最高感度で測定したが強い螢
光は認められない。第1図すは最高感度でスタートした
所途中で測定値が測定レンジを超えだので、そこで感度
を一段下げてスペクトルの記録を行った。第1図Cは再
び最高感度で終始測定したが顕著表螢光が認められ々か
った。本発明においては第1図に示したような測定結果
がディジタルデータとしてメモリに格納される。次に第
1図a、’b、cの測定結果をその測定中の最低感度、
図の場合第]−図すのdの範囲の測定感度による測定値
に換算して一つのチャー1・に記録したものを第1図d
に示す。本発明装置はメモリに格納されたデータから第
1図dのようなチャートを作成する機能を有する。この
チャートから励起波長はλ2の付近が適当で螢光のピー
ク波長はλ1と判定できる。そこで測定者は螢光分光器
の波長をλ°にセットし、励起光分光器をλ1からλ3
′!!で走査すると励起光スペクトルが求まり、λ2の
付近にピークがあることが判る。この場合の測定感度の
設定は第1図すのdの範囲の測定感度に設定しておくの
が妥当である。上のようにして励起光の波長が決められ
たら最後にその励起光によって螢光スペクトルの測光を
行う。上述の測定操作で第]−図dのチャートを作成す
る所載でか本発明装置の機能でこのチャート作成捷でか
自動的に行われる。以下実施例によって本発明を説明す
る。
第2図は本発明の一実施例を示す。Exは励起分光器、
’Jは螢光分光器、Sは試料セルでPは測光回路である
。Cは制御回路、Mは測定データを記憶させるメモリ、
Rは記録装置である。制御回路は下記に示すように励起
波長を5種設定して夫々の励起波長について螢光スペク
トルを測定しその測定データをメモリMに記憶させる動
作プログラムが与えられている。
’Jは螢光分光器、Sは試料セルでPは測光回路である
。Cは制御回路、Mは測定データを記憶させるメモリ、
Rは記録装置である。制御回路は下記に示すように励起
波長を5種設定して夫々の励起波長について螢光スペク
トルを測定しその測定データをメモリMに記憶させる動
作プログラムが与えられている。
測定符号 励起波長F2.x 螢光測定範囲A
2807L7n 300〜550
rbmB 330 3
50〜600C、,380,、400〜700 D 430 ’ 4’
50〜700B 4 B 0
500〜’700上表で測定符号A、 B、’
C・・・は以下の説明の便宜上台励起波長毎の螢光測
定につけた符号である。
2807L7n 300〜550
rbmB 330 3
50〜600C、,380,、400〜700 D 430 ’ 4’
50〜700B 4 B 0
500〜’700上表で測定符号A、 B、’
C・・・は以下の説明の便宜上台励起波長毎の螢光測
定につけた符号である。
メモ17 Mは上記測定A、 B、 C・・・に対
応したエリヤA、l 、 Bl 、 CI・・・を有し
、各測定毎のデータは夫々対応エリヤに格納される。第
3図はメモリM内のAlエリヤの構成を示すメモリマツ
プで同エリヤの先頭アドレスa番地にはその測定におい
て現れた最低感度が記入され、a+1番地以下に螢光の
測定データが格納される。測定は上表に示された波長範
囲をlnm飛びにサンプリングして行われる。
応したエリヤA、l 、 Bl 、 CI・・・を有し
、各測定毎のデータは夫々対応エリヤに格納される。第
3図はメモリM内のAlエリヤの構成を示すメモリマツ
プで同エリヤの先頭アドレスa番地にはその測定におい
て現れた最低感度が記入され、a+1番地以下に螢光の
測定データが格納される。測定は上表に示された波長範
囲をlnm飛びにサンプリングして行われる。
−アドレスのデータは対応波長における螢光の測光値と
そのときの測定感度で測定感度の記録は最高感度をOと
し以下感度を一段下げる毎にlを加え、各アドレスの高
位2桁を使用し、測光値は高位3桁以下に記憶させる。
そのときの測定感度で測定感度の記録は最高感度をOと
し以下感度を一段下げる毎にlを加え、各アドレスの高
位2桁を使用し、測光値は高位3桁以下に記憶させる。
先頭番地にはこの測定感度の記録のうち最低感度(数字
としては最大)のものが記入されている。他のエリヤ1
31. C,1等も同じ構成である。第4図は上述装置
の動作の概要を示すフローチャートである。イ1〜イ5
は夫々上記測定A、Eを行うステップである。第5図は
上記各測定のうちの任意の一つイ1の測定動作の詳細を
示すフローチャートである。まず励起波長Exを28.
.0nynに設定(イ)し、螢光分光器FMを測定波長
範囲の最短側300nmに設定(ロ)し、測光回路Pを
最高感度に設定(ハ)し、測光を行う(ニ)。
としては最大)のものが記入されている。他のエリヤ1
31. C,1等も同じ構成である。第4図は上述装置
の動作の概要を示すフローチャートである。イ1〜イ5
は夫々上記測定A、Eを行うステップである。第5図は
上記各測定のうちの任意の一つイ1の測定動作の詳細を
示すフローチャートである。まず励起波長Exを28.
.0nynに設定(イ)し、螢光分光器FMを測定波長
範囲の最短側300nmに設定(ロ)し、測光回路Pを
最高感度に設定(ハ)し、測光を行う(ニ)。
次に測光値が測光回路の出力レンジを超えているか否か
判定(ホ)し、判定Noならば測定データとそのときの
感度をメモリA1のa+1番地に収納(ト)シ、アドレ
ス指定を一番地進め(チ)、螢光分光器FJの波長をλ
f十Δλ(Δλは今の場合1 ’n m )に設定(す
)シ、新たに設定された波長が螢光測定範囲の終端か否
か判定(ヌ)し、当初は当然判定又はNOで動作は(ニ
)の測光−戻る。このようにして螢光の波長走査が進行
して行き、判定(ホ)がY E Sになったら測定感度
を1段下げ(ノリ、新しい感度がエリヤAtの先頭アド
レスa番地に記入されている感度数値上り犬(感度が低
い)か否かチェック(オ)し、犬ならばYESでa番地
のデータを新しい感度表示に書替え(ワ)で(ニ)の測
光に戻る。以上の動作で1螢光波長を走査して螢光ピー
クがあれば峰度が切−7けられるが以後ピークを過ぎて
も感度は下った壕\となり、最初のピークの後に低いピ
ー9りがあっても見逃す可能性がある。これでもよいが
、各g++定A、B、C・・・のデータを他に利用する
ことも考えられるので、(ホ)と(ト)の間に点線で示
しだステップ(へ)(勾を挿入して測光値が成るレベル
よシ下ったら感度を一段切上げるようにしておくとよい
6、感度切上げの場合a番地のデータは最欲感度の表示
を記入するので書換えの必要はない。以上あ動作で第1
図a−cに示したような測定結果がディジタル−7−− データとしてメモリMの各エリヤA’、Bl ・・・に
格納される。
判定(ホ)し、判定Noならば測定データとそのときの
感度をメモリA1のa+1番地に収納(ト)シ、アドレ
ス指定を一番地進め(チ)、螢光分光器FJの波長をλ
f十Δλ(Δλは今の場合1 ’n m )に設定(す
)シ、新たに設定された波長が螢光測定範囲の終端か否
か判定(ヌ)し、当初は当然判定又はNOで動作は(ニ
)の測光−戻る。このようにして螢光の波長走査が進行
して行き、判定(ホ)がY E Sになったら測定感度
を1段下げ(ノリ、新しい感度がエリヤAtの先頭アド
レスa番地に記入されている感度数値上り犬(感度が低
い)か否かチェック(オ)し、犬ならばYESでa番地
のデータを新しい感度表示に書替え(ワ)で(ニ)の測
光に戻る。以上の動作で1螢光波長を走査して螢光ピー
クがあれば峰度が切−7けられるが以後ピークを過ぎて
も感度は下った壕\となり、最初のピークの後に低いピ
ー9りがあっても見逃す可能性がある。これでもよいが
、各g++定A、B、C・・・のデータを他に利用する
ことも考えられるので、(ホ)と(ト)の間に点線で示
しだステップ(へ)(勾を挿入して測光値が成るレベル
よシ下ったら感度を一段切上げるようにしておくとよい
6、感度切上げの場合a番地のデータは最欲感度の表示
を記入するので書換えの必要はない。以上あ動作で第1
図a−cに示したような測定結果がディジタル−7−− データとしてメモリMの各エリヤA’、Bl ・・・に
格納される。
゛第6図は本発明装置の第2段階の動作のフローチャー
トで第1図dのカーブを記録する動作である。まずメモ
リMの各エリヤAl、 B’等の先頭アドレスを調べて
上述測定動作中に用いられた最低感度を検出しく2))
、エリヤA′から順に測定値を上記最低感度に対応する
値に換算しく司、対応アドレスを螢光波長値に変換しく
夕)、夫々の値を記録装置Rに出力(すする。感度に止
る換算は各アドレスのデータが感度表示と測光値とから
成っているから割算によって直ちに求まる。感度切換え
が1/2四倍の比率で行われるようにしておくと上記割
算は単に測定データを低桁側ヘシフトするだけでよく大
へん簡単になる。アドレスを波長値に換算するのは例え
ば測定Aにおいては螢光は30On’、mから測定され
るからメモリMのA1エリヤのa+1番地が3. OO
,nl、 mであり、以下1番地増す毎に1’nmずつ
加算して行けばよい。以上の動作によって第1図dのよ
うな記録が得られる。この記録によつ8− て測定者は容易に励起波長を設定することができる。以
上A〜Eの測定は1分間で300nmの波長範囲を測定
できるとして、A 、 E全部合せると波長範囲は12
50nmi/ill:々るから全部で4分余りで終了で
きる。
トで第1図dのカーブを記録する動作である。まずメモ
リMの各エリヤAl、 B’等の先頭アドレスを調べて
上述測定動作中に用いられた最低感度を検出しく2))
、エリヤA′から順に測定値を上記最低感度に対応する
値に換算しく司、対応アドレスを螢光波長値に変換しく
夕)、夫々の値を記録装置Rに出力(すする。感度に止
る換算は各アドレスのデータが感度表示と測光値とから
成っているから割算によって直ちに求まる。感度切換え
が1/2四倍の比率で行われるようにしておくと上記割
算は単に測定データを低桁側ヘシフトするだけでよく大
へん簡単になる。アドレスを波長値に換算するのは例え
ば測定Aにおいては螢光は30On’、mから測定され
るからメモリMのA1エリヤのa+1番地が3. OO
,nl、 mであり、以下1番地増す毎に1’nmずつ
加算して行けばよい。以上の動作によって第1図dのよ
うな記録が得られる。この記録によつ8− て測定者は容易に励起波長を設定することができる。以
上A〜Eの測定は1分間で300nmの波長範囲を測定
できるとして、A 、 E全部合せると波長範囲は12
50nmi/ill:々るから全部で4分余りで終了で
きる。
上述実施例では各励起波長において螢光の波長走査を一
回行い、その−回の波長走査において感度を切換え、各
波長毎に感度と測光値とを記憶する構成となっているが
、各励起波長において螢光の波長走査を2回行い、初回
の波長走査では上述実施例と同様にして感度を切換え、
螢光ピークが測定しjジに収丑る最高感度を検出し、2
回目の波長走査はこのようにして検出された感度で螢光
の測光を行って、この2回目の1llll光データをメ
モリに記憶させるようにしてもよい。このようにすると
、メモリは2回目の走査における感度と各波長における
測光データだけを記憶すればよく、各波長毎に測定感度
と測光データの両方を記憶させる必要がないからメモリ
容量が少くてすむ利点がある。
回行い、その−回の波長走査において感度を切換え、各
波長毎に感度と測光値とを記憶する構成となっているが
、各励起波長において螢光の波長走査を2回行い、初回
の波長走査では上述実施例と同様にして感度を切換え、
螢光ピークが測定しjジに収丑る最高感度を検出し、2
回目の波長走査はこのようにして検出された感度で螢光
の測光を行って、この2回目の1llll光データをメ
モリに記憶させるようにしてもよい。このようにすると
、メモリは2回目の走査における感度と各波長における
測光データだけを記憶すればよく、各波長毎に測定感度
と測光データの両方を記憶させる必要がないからメモリ
容量が少くてすむ利点がある。
本発明装置は上述したような構成で、励起波長不明の試
料に対しても試料をセットしスタート操作をするだけで
励起波長を数段階に変えた場合の螢光スペクトルが自動
的に表示され、無経験な測定者でも容易に適切な励起波
長の設定ができ、装置動作には無駄がないから上述結果
が短時間で得られ測定能率の向上に寄与する所太である
。
料に対しても試料をセットしスタート操作をするだけで
励起波長を数段階に変えた場合の螢光スペクトルが自動
的に表示され、無経験な測定者でも容易に適切な励起波
長の設定ができ、装置動作には無駄がないから上述結果
が短時間で得られ測定能率の向上に寄与する所太である
。
第1図は本発明装置による励起波長設定の手段を示すグ
ラフ、第2図は本発明の一実施例装置のブロック図、第
3図は同実施例におけるメモリの要部の構成図、第4乃
至第6図は上記実施例装置の動作のフローチャートであ
る。 Ex・・・励起分光器、Fl・・・螢光分光器、P・・
・測光回路、C・・・制御回路、M・・・メモリ、R・
・・記録装置。 代理人 弁理士 縣 浩 介
ラフ、第2図は本発明の一実施例装置のブロック図、第
3図は同実施例におけるメモリの要部の構成図、第4乃
至第6図は上記実施例装置の動作のフローチャートであ
る。 Ex・・・励起分光器、Fl・・・螢光分光器、P・・
・測光回路、C・・・制御回路、M・・・メモリ、R・
・・記録装置。 代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 励起分光器と螢光分光器と螢光測光回路と制御回路とか
らなり、制御回路は、複数の励起波長を順次設定し、各
励起波長毎に螢光分光器で所定の波長範囲を走査し、測
光回路を最高感度に設定して螢光測光を行い、測光出力
が測定レンジを超えたときは測光回路の感度を一段切下
げ、このようにして得られた測光データとその一波長走
査において使用された最低感度とをメモリに記憶させ、
次にメモリの上記各データに基き上記各測光データを全
測定において用いられた最低感度による測光値に換算し
、この換算された測光値とその測光値に対する螢光波長
とを記録計に出力して複数の励起光による螢光スペクト
ルを−チャート上に重ねて画き出す動作プログラムを設
定したことを特徴とする螢光測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56119920A JPS5821143A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 螢光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56119920A JPS5821143A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 螢光測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5821143A true JPS5821143A (ja) | 1983-02-07 |
JPS6149616B2 JPS6149616B2 (ja) | 1986-10-30 |
Family
ID=14773444
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56119920A Granted JPS5821143A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 螢光測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5821143A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59182340A (ja) * | 1983-03-31 | 1984-10-17 | Shimadzu Corp | 分光螢光光度計 |
JPS63243843A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-11 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
JPS63243842A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-11 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
JPH01212323A (ja) * | 1988-02-20 | 1989-08-25 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
JPH0385298U (ja) * | 1989-12-22 | 1991-08-29 | ||
WO1997014144A1 (fr) * | 1995-10-09 | 1997-04-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Disque optique, enregistreur optique, dispositif optique de reproduction, systeme crypte de communications et systeme d'autorisations associe |
JP2004347562A (ja) * | 2003-05-26 | 2004-12-09 | Olympus Corp | 測定装置 |
US7456951B2 (en) | 2004-11-25 | 2008-11-25 | Hitachi High-Technologies Corporation | Fluorescence detection method, detection apparatus and fluorescence detection program |
-
1981
- 1981-07-30 JP JP56119920A patent/JPS5821143A/ja active Granted
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59182340A (ja) * | 1983-03-31 | 1984-10-17 | Shimadzu Corp | 分光螢光光度計 |
JPS63243843A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-11 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
JPS63243842A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-11 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
JPH01212323A (ja) * | 1988-02-20 | 1989-08-25 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
JPH0385298U (ja) * | 1989-12-22 | 1991-08-29 | ||
WO1997014144A1 (fr) * | 1995-10-09 | 1997-04-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Disque optique, enregistreur optique, dispositif optique de reproduction, systeme crypte de communications et systeme d'autorisations associe |
JP2004347562A (ja) * | 2003-05-26 | 2004-12-09 | Olympus Corp | 測定装置 |
US7456951B2 (en) | 2004-11-25 | 2008-11-25 | Hitachi High-Technologies Corporation | Fluorescence detection method, detection apparatus and fluorescence detection program |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6149616B2 (ja) | 1986-10-30 |
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