JPH043490B2 - - Google Patents
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- JPH043490B2 JPH043490B2 JP58056556A JP5655683A JPH043490B2 JP H043490 B2 JPH043490 B2 JP H043490B2 JP 58056556 A JP58056556 A JP 58056556A JP 5655683 A JP5655683 A JP 5655683A JP H043490 B2 JPH043490 B2 JP H043490B2
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- data
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 36
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 23
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 238000004867 photoacoustic spectroscopy Methods 0.000 description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001028 reflection method Methods 0.000 description 3
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
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- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、異なつた測定法によつて得られるス
ペクトルデータであつても正確なサーチ結果が得
られるライブラリーサーチ装置に関する。
ペクトルデータであつても正確なサーチ結果が得
られるライブラリーサーチ装置に関する。
分光光度計が非常に広い応用分野で利用される
のに伴なつて、未知化合物や未知成分の同定や検
索を迅速且つ確実に行うことが要望されている
が、それに応えるものとして、分光光度計で測定
した多数の既知物質のスペクトルデータを予めラ
イブラリーフアイルに登録しておき、未知成分の
スペクトルデータをそれと比較して類似スペクト
ルをサーチし、未知成分の同定を行うライブラリ
ーサーチが既に知られている。
のに伴なつて、未知化合物や未知成分の同定や検
索を迅速且つ確実に行うことが要望されている
が、それに応えるものとして、分光光度計で測定
した多数の既知物質のスペクトルデータを予めラ
イブラリーフアイルに登録しておき、未知成分の
スペクトルデータをそれと比較して類似スペクト
ルをサーチし、未知成分の同定を行うライブラリ
ーサーチが既に知られている。
従来、ライブラリーフアイルには、広く行われ
ている透過測定法でできるだけ正確に測定したス
ペクトルを、生データのままの形又は特徴のある
ピークの横軸位置（波長、波数等）とピーク強度
を抜出した形で格納している。そしてサーチの際
には、測定した未知成分のスペクトルを生データ
をままの形で、又はピークの横軸位置とピーク強
度を抜出してからライブラリーフアイル内のデー
タと比較することにより、類似したスペクトルを
持つた既知成分を捜し出すようにしている。
ている透過測定法でできるだけ正確に測定したス
ペクトルを、生データのままの形又は特徴のある
ピークの横軸位置（波長、波数等）とピーク強度
を抜出した形で格納している。そしてサーチの際
には、測定した未知成分のスペクトルを生データ
をままの形で、又はピークの横軸位置とピーク強
度を抜出してからライブラリーフアイル内のデー
タと比較することにより、類似したスペクトルを
持つた既知成分を捜し出すようにしている。
ところで、赤外分光においては、近時PAS
（Photo Acoustic Spectroscopy）測定法、ATR
（Attenuated Total Reflection）測定法或いは
拡散反射測定法等種々の測定法が行われている。
これらの測定法で得られるスペクトルは、従来行
われて来た透過測定法で得られるスペクトルとは
異なつた特性を持つ。例えば、PAS測定法では
強い吸収に飽和現象が起こり、ATR測定法では
測定波長によりその波長に略比例して吸収深さ
（吸光度）が変わり、更に拡散反射測定法でも飽
和現象が起こる。
（Photo Acoustic Spectroscopy）測定法、ATR
（Attenuated Total Reflection）測定法或いは
拡散反射測定法等種々の測定法が行われている。
これらの測定法で得られるスペクトルは、従来行
われて来た透過測定法で得られるスペクトルとは
異なつた特性を持つ。例えば、PAS測定法では
強い吸収に飽和現象が起こり、ATR測定法では
測定波長によりその波長に略比例して吸収深さ
（吸光度）が変わり、更に拡散反射測定法でも飽
和現象が起こる。
そのため、これらの測定法で得られたスペクト
ルについて従来のライブラリーフアイルでサーチ
を行うと、正解を得る確率が非常に低くなつてし
まう。従つて、各測定法で測定したデータを集め
て各測定法毎にライブラリーフアイルを作成する
のが望ましいが、非常に多大な労力が必要となる
し、これまで蓄積されて来た従来のデータが使用
できないという問題がある。
ルについて従来のライブラリーフアイルでサーチ
を行うと、正解を得る確率が非常に低くなつてし
まう。従つて、各測定法で測定したデータを集め
て各測定法毎にライブラリーフアイルを作成する
のが望ましいが、非常に多大な労力が必要となる
し、これまで蓄積されて来た従来のデータが使用
できないという問題がある。
本発明は、上述した問題点に鑑みてなされたも
のであり、各種測定法によつて得られたデータに
ついても従来のライブラリーフアイルを使用して
極めて高い精度でサーチを行うことが出来るライ
ブラリーサーチ装置を提供することを目的として
いる。
のであり、各種測定法によつて得られたデータに
ついても従来のライブラリーフアイルを使用して
極めて高い精度でサーチを行うことが出来るライ
ブラリーサーチ装置を提供することを目的として
いる。
本発明にかかるライブラリーサーチ装置は、特
定の測定法により得られた既知成分のスペクトル
データを記憶するライブラリーフアイルと、該特
定の測定法とは異なる複数の測定法の内の１つの
測定法により得られた未知成分のスペクトルデー
タを記憶する記憶手段と、前記ライブラリーフア
イルに含まれる既知成分のスペクトルデータを順
次読出す手段と、前記複数の測定法に基づくスペ
クトルデータを前記ライブラリーフアイルに記憶
されている既知成分のスペクトルデータと比較可
能なスペクトルデータへ変換する処理を施すため
に各測定法に対応して設けられる複数の異なる処
理手段と、該複数の処理手段の中から未知成分の
スペクトルデータを得た測定法に対応する処理手
段を選択的に指定する指定手段と、該指定手段に
よつて選択された処理手段によつて処理された未
知成分のスペクトルデータと前記読出し手段によ
つてライブラリーフアイルから読出された既知成
分のスペクトルデータとを比較し類似性を判断す
る比較判別手段とを備えることを特徴としてい
る。以下、本発明の一実施例を添付図面に基づき
詳述する。
定の測定法により得られた既知成分のスペクトル
データを記憶するライブラリーフアイルと、該特
定の測定法とは異なる複数の測定法の内の１つの
測定法により得られた未知成分のスペクトルデー
タを記憶する記憶手段と、前記ライブラリーフア
イルに含まれる既知成分のスペクトルデータを順
次読出す手段と、前記複数の測定法に基づくスペ
クトルデータを前記ライブラリーフアイルに記憶
されている既知成分のスペクトルデータと比較可
能なスペクトルデータへ変換する処理を施すため
に各測定法に対応して設けられる複数の異なる処
理手段と、該複数の処理手段の中から未知成分の
スペクトルデータを得た測定法に対応する処理手
段を選択的に指定する指定手段と、該指定手段に
よつて選択された処理手段によつて処理された未
知成分のスペクトルデータと前記読出し手段によ
つてライブラリーフアイルから読出された既知成
分のスペクトルデータとを比較し類似性を判断す
る比較判別手段とを備えることを特徴としてい
る。以下、本発明の一実施例を添付図面に基づき
詳述する。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロツ
ク図であり、図において１はフーリエ変換赤外分
光光度計である。２は該分光光度計１から得られ
たスペクトルデータを格納するためのメモリ、３
は多数の既知物質のスペクトルデータを例えば生
データの形で蓄積したライブラリーフアイル、４
は該フアイルからデータを読出すための読出し回
路、５，６，７は読出されたデータに各測定法に
応じた処理を施す処理回路、８は各処理回路５，
６，７を選択する選択スイツチ、９は処理回路
５，６，７で処理されたデータとメモリ２に格納
されている未知成分のスペクトルデータとを比較
し類似度を演算する比較判別装置、１０はサーチ
結果を表示する表示装置である。
ク図であり、図において１はフーリエ変換赤外分
光光度計である。２は該分光光度計１から得られ
たスペクトルデータを格納するためのメモリ、３
は多数の既知物質のスペクトルデータを例えば生
データの形で蓄積したライブラリーフアイル、４
は該フアイルからデータを読出すための読出し回
路、５，６，７は読出されたデータに各測定法に
応じた処理を施す処理回路、８は各処理回路５，
６，７を選択する選択スイツチ、９は処理回路
５，６，７で処理されたデータとメモリ２に格納
されている未知成分のスペクトルデータとを比較
し類似度を演算する比較判別装置、１０はサーチ
結果を表示する表示装置である。
上述の如き構成において、今分光光度計１にお
いてPAS法による測定が行われているとすれば、
選択スイツチ８はPAS測定法用処理回路５側へ
倒される。そして、PAS法によるスペクトルデ
ータがメモリ２に格納されると、比較判別装置９
は読出し回路４へ指令信号を送り、ライブラリー
フアイル３から格納されている全データを順次読
出させる。順次読出された既知物質のスペクトル
データは処理回路５において以下の様な処理を受
けた後、比較判別装置９へ送られる。
いてPAS法による測定が行われているとすれば、
選択スイツチ８はPAS測定法用処理回路５側へ
倒される。そして、PAS法によるスペクトルデ
ータがメモリ２に格納されると、比較判別装置９
は読出し回路４へ指令信号を送り、ライブラリー
フアイル３から格納されている全データを順次読
出させる。順次読出された既知物質のスペクトル
データは処理回路５において以下の様な処理を受
けた後、比較判別装置９へ送られる。
即ち、PAS法では、試料の吸光度Ｃとピーク
強度Ｉとの間に第２図に示す関係があり、Ｃが小
さな場合は影響を殆んど受けないが、Ｃが大きい
場合には極めて強く圧縮されてしまう。第２図に
おいては破線ｌは、通常の透過測定法における特
性で、略リニアである。そこで処理回路５では、
第３図に示す様にスレツシヨルドレベルI1、I2を
設定し、ライブラリーフアイルから読出したデー
タのピーク強度Ｐが、I1＜Ｐ≦I2の時には直線L1
に従つてピークを圧縮し、I2＜Ｐの時には直線L2
に従つてピークを圧縮するようにして、読出した
スペクトルデータをPAS法によつて得られるで
あろう形に変換している。
強度Ｉとの間に第２図に示す関係があり、Ｃが小
さな場合は影響を殆んど受けないが、Ｃが大きい
場合には極めて強く圧縮されてしまう。第２図に
おいては破線ｌは、通常の透過測定法における特
性で、略リニアである。そこで処理回路５では、
第３図に示す様にスレツシヨルドレベルI1、I2を
設定し、ライブラリーフアイルから読出したデー
タのピーク強度Ｐが、I1＜Ｐ≦I2の時には直線L1
に従つてピークを圧縮し、I2＜Ｐの時には直線L2
に従つてピークを圧縮するようにして、読出した
スペクトルデータをPAS法によつて得られるで
あろう形に変換している。
この様にして変換された既知成分のスペクトル
データは、順次比較判別装置９へ送られ、PAS
法で測定された未知成分のスペクトルデータと比
較される。該比較判別装置９における比較は、例
えば各ピークの出現する波長（波数）及び各ピー
クの強度比の関係等に着目して行われ、類似の程
度が各既知物質について採点される。そして、ラ
イブラリーフアイルに格納されている既知物質す
べての比較が終了すると、比較判別装置９は類似
度の高い順に既知物質名を例えば10個表示装置１
０の画面に表示するため、オペレータは未知成分
がどの既知物質にどの程度類似しているかを的確
に知ることができる。
データは、順次比較判別装置９へ送られ、PAS
法で測定された未知成分のスペクトルデータと比
較される。該比較判別装置９における比較は、例
えば各ピークの出現する波長（波数）及び各ピー
クの強度比の関係等に着目して行われ、類似の程
度が各既知物質について採点される。そして、ラ
イブラリーフアイルに格納されている既知物質す
べての比較が終了すると、比較判別装置９は類似
度の高い順に既知物質名を例えば10個表示装置１
０の画面に表示するため、オペレータは未知成分
がどの既知物質にどの程度類似しているかを的確
に知ることができる。
分光光度計１において拡散反応測定が行われて
いるとすれば、選択スイツチ８は拡散反射法用処
理回路６側へ倒される。該処理回路６は上記
PAS法の場合の処理回路５と略同様の折線近似
によつて既知物質データを拡散反射法によつて得
られるであろう形に変換して比較判別装置９へ送
る。該比較判別装置９は同様に類似度を判定し、
類似度の高いものを表示装置１０の画面に表示す
るため、同じライブラリーフアイルを用いて拡散
反射測定で得られたデータについても同定を行う
ことができる。
いるとすれば、選択スイツチ８は拡散反射法用処
理回路６側へ倒される。該処理回路６は上記
PAS法の場合の処理回路５と略同様の折線近似
によつて既知物質データを拡散反射法によつて得
られるであろう形に変換して比較判別装置９へ送
る。該比較判別装置９は同様に類似度を判定し、
類似度の高いものを表示装置１０の画面に表示す
るため、同じライブラリーフアイルを用いて拡散
反射測定で得られたデータについても同定を行う
ことができる。
次に、分光光度計１においてATR法による測
定が行われているとすれば、選択スイツチ８は
ATR法用処理回路７側へ倒される。ATR法で得
られるスペクトルは、波長に略比例してピーク強
度が伸長したものとなる。例えば、通常の透過法
によるスペクトル（第４図ａ）が、ATR法では
同図ｂの様に長波長側になるに従つてピーク強度
が伸長する。そこで処理回路７に、第５図におい
て実線で示す様な波長に応じたゲイン特性を与
え、波長の短いもの程大きく増幅することによ
り、透過法で得られるであろう形（同図ｂ）に変
換する。この様にしてATR法によつて得られる
であろう形に変換された既知物質のデータを用い
て比較判別装置９はメモリ２に格納されている未
知成分のデータとの類似度を判定するため、同じ
ライブラリーフアイルを用いてATR法によつて
得られたスペクトルデータの同定も行うことがで
きる。
定が行われているとすれば、選択スイツチ８は
ATR法用処理回路７側へ倒される。ATR法で得
られるスペクトルは、波長に略比例してピーク強
度が伸長したものとなる。例えば、通常の透過法
によるスペクトル（第４図ａ）が、ATR法では
同図ｂの様に長波長側になるに従つてピーク強度
が伸長する。そこで処理回路７に、第５図におい
て実線で示す様な波長に応じたゲイン特性を与
え、波長の短いもの程大きく増幅することによ
り、透過法で得られるであろう形（同図ｂ）に変
換する。この様にしてATR法によつて得られる
であろう形に変換された既知物質のデータを用い
て比較判別装置９はメモリ２に格納されている未
知成分のデータとの類似度を判定するため、同じ
ライブラリーフアイルを用いてATR法によつて
得られたスペクトルデータの同定も行うことがで
きる。
第６図は本発明の他の実施例の構成を示し、第
１図と同一構成要素には同一番号が付されてい
る。第１図の実施例では、ライブラリーフアイル
のデータを各測定法によるデータの形に変換して
比較したが、本実施例ではメモリ２に格納されて
いる未知成分のスペクトルデータの方を、選択ス
イツチ８′を介して処理回路５′，６′，７′のいず
れかへ送り、該処理回路によつて透過測定法によ
るデータの形に変換し、その変換された未知成分
のデータとライブラリーフアイル３に蓄積されて
いる透過測定法によつて得られら既知成分のスペ
クトルデータとを、比較判別装置９において比較
するようにしている。
１図と同一構成要素には同一番号が付されてい
る。第１図の実施例では、ライブラリーフアイル
のデータを各測定法によるデータの形に変換して
比較したが、本実施例ではメモリ２に格納されて
いる未知成分のスペクトルデータの方を、選択ス
イツチ８′を介して処理回路５′，６′，７′のいず
れかへ送り、該処理回路によつて透過測定法によ
るデータの形に変換し、その変換された未知成分
のデータとライブラリーフアイル３に蓄積されて
いる透過測定法によつて得られら既知成分のスペ
クトルデータとを、比較判別装置９において比較
するようにしている。
PAS測定法用処理回路５′における変換処理
は、第１図の実施例の場合と逆の変換を行えば良
い。例えば第３図に示す様にスレツシヨルドレベ
ルI1，I2′を設定し、メモリ２に記憶されているデ
ータをI2′がI2になる様に直線ｌに従つて変換すれ
ば良く、拡散反射測定法用処理回路６′による変
換も同様に行えば良い。
は、第１図の実施例の場合と逆の変換を行えば良
い。例えば第３図に示す様にスレツシヨルドレベ
ルI1，I2′を設定し、メモリ２に記憶されているデ
ータをI2′がI2になる様に直線ｌに従つて変換すれ
ば良く、拡散反射測定法用処理回路６′による変
換も同様に行えば良い。
ATR測定法用処理回路７′による変換処理も処
理回路７と逆の変化を行えば良く、第５図におい
て破線で示す様なｌとは逆の傾きを持つた波長−
ゲイン特性を与えれば良い。
理回路７と逆の変化を行えば良く、第５図におい
て破線で示す様なｌとは逆の傾きを持つた波長−
ゲイン特性を与えれば良い。
本実施例においても、透過測定法によるデータ
を蓄積した従来のライブラリーフアイルを用いて
PAS法、拡散反射法、ATR法等の各種測定法に
よつて得られたデータの同定を正確に行うことが
できる。
を蓄積した従来のライブラリーフアイルを用いて
PAS法、拡散反射法、ATR法等の各種測定法に
よつて得られたデータの同定を正確に行うことが
できる。
尚、上記実施例では生データのままで比較した
が、ライブラリーフアイル３がピークの波長とピ
ーク強度のみを抜出した形で格納されている場合
には、未知成分のデータもそれに合わせた変換を
行うことが必要であることは言うまでもない。
が、ライブラリーフアイル３がピークの波長とピ
ーク強度のみを抜出した形で格納されている場合
には、未知成分のデータもそれに合わせた変換を
行うことが必要であることは言うまでもない。
又、上記実施例では個別の構成要素で表わした
が、メモリ２、読出し回路４、処理回路５〜７，
５′〜７′、比較判別装置９等は単一又は複数のコ
ンピユータによつて同じ動作を行わせることが可
能である。
が、メモリ２、読出し回路４、処理回路５〜７，
５′〜７′、比較判別装置９等は単一又は複数のコ
ンピユータによつて同じ動作を行わせることが可
能である。
第１図及び第６図は本発明の一実施例の構成を
示す図、第２図乃至第５図はその動作を説明する
ための図である。 １：フーリエ変換赤外分光光度計、２：メモ
リ、３：ライブラリーフアイル、４：読出し回
路、５〜７，５′〜７：処理回路、８：選択スイ
ツチ、９：比較判別装置、１０：表示装置。
示す図、第２図乃至第５図はその動作を説明する
ための図である。 １：フーリエ変換赤外分光光度計、２：メモ
リ、３：ライブラリーフアイル、４：読出し回
路、５〜７，５′〜７：処理回路、８：選択スイ
ツチ、９：比較判別装置、１０：表示装置。
Claims (1)
- １ 特定の測定法により得られた既知成分のスペ
クトルデータを記憶するライブラリーフアイル
と、該特定の測定法とは異なる複数の測定法の内
の１つの測定法により得られた未知成分のスペク
トルデータを記憶する記憶手段と、前記ライブラ
リーフアイルに含まれる既知成分のスペクトルデ
ータを順次読出す手段と、前記複数の測定法に基
づくスペクトルデータを前記ライブラリーフアイ
ルに記憶されている既知成分のスペクトルデータ
と比較可能なスペクトルデータへ変換する処理を
施すために各測定法に対応して設けられる複数の
異なる処理手段と、該複数の処理手段の中から未
知成分のスペクトルデータを得た測定法に対応す
る処理手段を選択的に指定する指定手段と、該指
定手段によつて選択された処理手段によつて処理
された未知成分のスペクトルデータと前記読出し
手段によつてライブラリーフアイルから読出され
た既知成分のスペクトルデータとを比較し類似性
を判断する比較判別手段とを備えるライブラリー
サーチ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5655683A JPS59182323A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | ライブラリーサーチ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5655683A JPS59182323A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | ライブラリーサーチ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59182323A JPS59182323A (ja) | 1984-10-17 |
| JPH043490B2 true JPH043490B2 (ja) | 1992-01-23 |
Family
ID=13030382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5655683A Granted JPS59182323A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | ライブラリーサーチ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59182323A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63111429A (ja) * | 1986-10-29 | 1988-05-16 | Agency Of Ind Science & Technol | 赤外線スペクトルの検索装置 |
| JP3500264B2 (ja) * | 1997-01-29 | 2004-02-23 | 株式会社日立製作所 | 試料分析装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53110588A (en) * | 1977-03-08 | 1978-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | Infrared absorption spectrum analysis method |
| JPS56150331A (en) * | 1980-02-07 | 1981-11-20 | Perkin Elmer Corp | Method of and apparatus for determining nature of unknown substance |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP5655683A patent/JPS59182323A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53110588A (en) * | 1977-03-08 | 1978-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | Infrared absorption spectrum analysis method |
| JPS56150331A (en) * | 1980-02-07 | 1981-11-20 | Perkin Elmer Corp | Method of and apparatus for determining nature of unknown substance |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59182323A (ja) | 1984-10-17 |
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