JPS59182323A - ライブラリーサーチ装置 - Google Patents
ライブラリーサーチ装置Info
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- JPS59182323A JPS59182323A JP5655683A JP5655683A JPS59182323A JP S59182323 A JPS59182323 A JP S59182323A JP 5655683 A JP5655683 A JP 5655683A JP 5655683 A JP5655683 A JP 5655683A JP S59182323 A JPS59182323 A JP S59182323A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 23
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 abstract 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 235000002492 Rungia klossii Nutrition 0.000 description 1
- 244000117054 Rungia klossii Species 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001028 reflection method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、異なった測定法によって得られるスベク１−
ルデータであっＣも正確なサーチ結果が得られるライブ
ラリーサーヂ方式口する。
ルデータであっＣも正確なサーチ結果が得られるライブ
ラリーサーヂ方式口する。
分光光度計が非常に広い応用分野で利用されるのに伴な
って、未知化合物や未知成分の同定や検索を迅速且つ確
実に行うことが要望されているが、てれに応えるものと
して、分光光度計で測定した多数の既知物質のスペクト
ルデータを予めライブラリーノアイルに登録しておき、
未知成分のスペク１〜ルデータをそれと比較して類似ス
ペクトルをサーチし、未知成分の同定を行うライブラリ
ーサーチが既に知られている。
って、未知化合物や未知成分の同定や検索を迅速且つ確
実に行うことが要望されているが、てれに応えるものと
して、分光光度計で測定した多数の既知物質のスペクト
ルデータを予めライブラリーノアイルに登録しておき、
未知成分のスペク１〜ルデータをそれと比較して類似ス
ペクトルをサーチし、未知成分の同定を行うライブラリ
ーサーチが既に知られている。
従来、ライブラリーファイルには、広く行われている透
過測定法でできるだけ正確に測定したスペクトルを、生
データのままの形又は特徴のあるピークの横軸位置（波
長、波数等）とピーク強度を抜出した形で格納している
。イして１ノ−−チの際には、測定した未知成分のスペ
クトルを生データのままの形で、又はピークの横軸位置
とピーク強度を抜出してからライブラリーファイル内の
データと比較することにより、類似したスペクＩ〜ルを
持った既知成分を捜し出りようにしている。
過測定法でできるだけ正確に測定したスペクトルを、生
データのままの形又は特徴のあるピークの横軸位置（波
長、波数等）とピーク強度を抜出した形で格納している
。イして１ノ−−チの際には、測定した未知成分のスペ
クトルを生データのままの形で、又はピークの横軸位置
とピーク強度を抜出してからライブラリーファイル内の
データと比較することにより、類似したスペクＩ〜ルを
持った既知成分を捜し出りようにしている。
ところで、赤外分光においＣは、近時ＲＡＳ（Ｐ ＋ｌ
（ｌ ｔ （ｌ Δｃｏｕｓｔｔｃ ３ｐｅｃｔｒｏ
ｓｃｏｐｙ ）測定法。
（ｌ ｔ （ｌ Δｃｏｕｓｔｔｃ ３ｐｅｃｔｒｏ
ｓｃｏｐｙ ）測定法。
Ａ’ＴＲ（Ａｔ、ｔｅｎｕａｔ、ｅｄ Ｔｏｔａｌ
Ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ ）測定法或いは拡散反射測定法
管種々の測定法が行われている。これらの測定法で得ら
れるスペク１−ルは、従来行われて来た透過測定法′Ｃ
得られるスペクＩ・ルとは異なった特性を持つ。例えば
、ＲＡＳ測定法では強ＣＸ吸収に飽和現象が起こり、△
−１−Ｒ測定法では測定波長によりその波長に略比例し
て吸収深さく吸光度）が変わり、更に拡散反射測定法で
も飽和現象が起こる。
Ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ ）測定法或いは拡散反射測定法
管種々の測定法が行われている。これらの測定法で得ら
れるスペク１−ルは、従来行われて来た透過測定法′Ｃ
得られるスペクＩ・ルとは異なった特性を持つ。例えば
、ＲＡＳ測定法では強ＣＸ吸収に飽和現象が起こり、△
−１−Ｒ測定法では測定波長によりその波長に略比例し
て吸収深さく吸光度）が変わり、更に拡散反射測定法で
も飽和現象が起こる。
イのため、これらの測定法で得られたスペク１ヘルにつ
いて従来のライブラリーファイルでサーチを行うと、正
解を得る確率が非常に低くなってしまう。従って、各測
定法で測定したデータを集めて各測定法毎にライブラリ
ーファイルを作成づるのが望ましいが、非常に多大な労
力が必要となるし、これまで蓄積されて来た従来のデー
タが使用できないという問題がある。
いて従来のライブラリーファイルでサーチを行うと、正
解を得る確率が非常に低くなってしまう。従って、各測
定法で測定したデータを集めて各測定法毎にライブラリ
ーファイルを作成づるのが望ましいが、非常に多大な労
力が必要となるし、これまで蓄積されて来た従来のデー
タが使用できないという問題がある。
本発明は、上述した問題点に鑑みＣなされたものであり
、各種測定法によって得られたデータについても従来の
ライブラリーファイルを使用して極めて高い精度でリー
チを行うことが出来るライブラリーサーブ方式を提供す
ることを目的としている。
、各種測定法によって得られたデータについても従来の
ライブラリーファイルを使用して極めて高い精度でリー
チを行うことが出来るライブラリーサーブ方式を提供す
ることを目的としている。
本発明にかかるライブラリーサーブ方式は、既知成分の
スペクトルデータを記憶するライブラリーノアイルと、
測定により得られた未知成分のスペクトルデータを記憶
する記憶手段と、前記ライブラリーファイルに含まれる
既知成分のスペクトルデータを順次読出す手段と、読出
された既知成分のスペクトルデータ又は前記記憶手段に
記憶されている未知成分のスペクトルデータに測定法に
応じて予め定められた処理を施す処理手段と、該処理手
段によって処理されたスペクトルデータと前記記憶手段
に記憶されている未知成分のスペクトルデータ又は前記
ライブラリーファイルから読出された既知成分のスペク
１〜ルデータとを比較し類似性を判断する比較判別手段
とを備えることを特徴としている。以下、本発明の一実
施例を添付図面に基づき詳述する。
スペクトルデータを記憶するライブラリーノアイルと、
測定により得られた未知成分のスペクトルデータを記憶
する記憶手段と、前記ライブラリーファイルに含まれる
既知成分のスペクトルデータを順次読出す手段と、読出
された既知成分のスペクトルデータ又は前記記憶手段に
記憶されている未知成分のスペクトルデータに測定法に
応じて予め定められた処理を施す処理手段と、該処理手
段によって処理されたスペクトルデータと前記記憶手段
に記憶されている未知成分のスペクトルデータ又は前記
ライブラリーファイルから読出された既知成分のスペク
１〜ルデータとを比較し類似性を判断する比較判別手段
とを備えることを特徴としている。以下、本発明の一実
施例を添付図面に基づき詳述する。
第り図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図ぐあ
り、図においＵｌはフーリエ変換赤外分光光度計Ｃある
。２は該分光光瓜副１から得られたスペクトルデータを
格納するためのメモリ、３は多数の既知物質のスペクト
ルデータを例えば生データの形で蓄積したライブラリー
ファイル、４は該ファイルからデータを読出づための胱
出し回路、５．６．７は続出されたデータに各測定法に
応じた処理を施で処理回路、８は各処理回路５゜６．７
を選択する選択スイッチ、９は処理回路５゜６．７で処
理されたデータとメモリ２に格納され（いる未知成分の
スペクトルデータどを比較し類似度を演紳する比較判別
装置、１０はリーチ結果を表示づる表示装置ぐある。１ 上述の如き構成において、今分光光度計１においｒＰＡ
ｓ法による測定が行われていると、すれば、選択スイッ
チ８はＲＡＳ測定法用処理回路５側へ倒される。イして
、）） Ａ Ｓ法によるスペクトルデータがメモリ２に
格納されると、比較判別装置９は読出し回路４へ指令信
号を送り、ライブラリーファイル３から格納されている
全データを順次続出させる。順次読出された既知物質の
スペク１〜ルデータは処理回路５において以下の様な処
理を受１ノだ後、比較判別装置９へ送られる。
り、図においＵｌはフーリエ変換赤外分光光度計Ｃある
。２は該分光光瓜副１から得られたスペクトルデータを
格納するためのメモリ、３は多数の既知物質のスペクト
ルデータを例えば生データの形で蓄積したライブラリー
ファイル、４は該ファイルからデータを読出づための胱
出し回路、５．６．７は続出されたデータに各測定法に
応じた処理を施で処理回路、８は各処理回路５゜６．７
を選択する選択スイッチ、９は処理回路５゜６．７で処
理されたデータとメモリ２に格納され（いる未知成分の
スペクトルデータどを比較し類似度を演紳する比較判別
装置、１０はリーチ結果を表示づる表示装置ぐある。１ 上述の如き構成において、今分光光度計１においｒＰＡ
ｓ法による測定が行われていると、すれば、選択スイッ
チ８はＲＡＳ測定法用処理回路５側へ倒される。イして
、）） Ａ Ｓ法によるスペクトルデータがメモリ２に
格納されると、比較判別装置９は読出し回路４へ指令信
号を送り、ライブラリーファイル３から格納されている
全データを順次続出させる。順次読出された既知物質の
スペク１〜ルデータは処理回路５において以下の様な処
理を受１ノだ後、比較判別装置９へ送られる。
叩、ち、ＰＡＳ法では、試＄１１の吸光度Ｃとピーク強
Ｆｆｌとの間に第２図に示す関係があり、Ｃが小さな場
合は影響を殆ｌυど受番プないが、Ｃが大きい場合には
極めて強く圧縮されてしまう。第２図において破線込は
、通常の透過測定法にお【ノる特性で、略リニアである
。そこで処理回路５では、第３３図に示り一様にスレッ
ショルドレベルＩ＋＋ｊｚを設定し、ライブラリーファ
イルから読出したデータのピーク強度Ｐが、Ｉ＋ ＜ｐ
≦１２の時には直線Ｌ＋ に従ってピークを圧縮し、１
２ ＜Ｐの時には直線Ｌ２に従ってピークを圧縮りるＪ
、うにして、読出したスペクトルデータをＰＡＳ法によ
って得られるであろう形に変換している。
Ｆｆｌとの間に第２図に示す関係があり、Ｃが小さな場
合は影響を殆ｌυど受番プないが、Ｃが大きい場合には
極めて強く圧縮されてしまう。第２図において破線込は
、通常の透過測定法にお【ノる特性で、略リニアである
。そこで処理回路５では、第３３図に示り一様にスレッ
ショルドレベルＩ＋＋ｊｚを設定し、ライブラリーファ
イルから読出したデータのピーク強度Ｐが、Ｉ＋ ＜ｐ
≦１２の時には直線Ｌ＋ に従ってピークを圧縮し、１
２ ＜Ｐの時には直線Ｌ２に従ってピークを圧縮りるＪ
、うにして、読出したスペクトルデータをＰＡＳ法によ
って得られるであろう形に変換している。
この様にして変換された既知成分のスペク１−ルデータ
は、順次比較判別装置９へ送られ、ＰＡＳ法ぐ測定され
ｌｃ木知知成分スペク（〜ルデータと比較される。該比
較判別装置９にお【プる比較は、例えは各ピークの出現
りる波長（波数）及び各ピークの強度比の関係等に着目
しで行われ、類似の程磨が各既知物質について採点され
る。そして、ライフ゛°フリーファイルに格納されてい
る既知物質すべての比較が終了り′ると、比較判別装置
９は類似度の高い順に既知物質名を例えば１０１１ｉ１
表示装置１０の画面に表示ηるため、Ａベレータは未知
成分がどの既知物質にどの程度類似ｌノーＣいるかを的
確に知ることができる。
は、順次比較判別装置９へ送られ、ＰＡＳ法ぐ測定され
ｌｃ木知知成分スペク（〜ルデータと比較される。該比
較判別装置９にお【プる比較は、例えは各ピークの出現
りる波長（波数）及び各ピークの強度比の関係等に着目
しで行われ、類似の程磨が各既知物質について採点され
る。そして、ライフ゛°フリーファイルに格納されてい
る既知物質すべての比較が終了り′ると、比較判別装置
９は類似度の高い順に既知物質名を例えば１０１１ｉ１
表示装置１０の画面に表示ηるため、Ａベレータは未知
成分がどの既知物質にどの程度類似ｌノーＣいるかを的
確に知ることができる。
分光光度ｈ１１に４３いて拡散反射測定が行われている
と１れば、選択スイッチ８は拡散反則法用処理回路６側
へ倒される。該処理回路６は上記ＰＡＳ法の場合の処理
回路５ど略同杜の折線近似にＪζつ（既知物質データを
拡散反射法によって１ｑられるであろう形に変換して比
較判別装置９へ送る。
と１れば、選択スイッチ８は拡散反則法用処理回路６側
へ倒される。該処理回路６は上記ＰＡＳ法の場合の処理
回路５ど略同杜の折線近似にＪζつ（既知物質データを
拡散反射法によって１ｑられるであろう形に変換して比
較判別装置９へ送る。
該比較判別装置９は同様に類似度を判定し、類似度の＾
いものを表示装＠１０の画面に表示するため、同じライ
ブラリーファイルを用いて拡散反射測定で得られたデー
タについても同定を行うことができる。
いものを表示装＠１０の画面に表示するため、同じライ
ブラリーファイルを用いて拡散反射測定で得られたデー
タについても同定を行うことができる。
次に、分光光度計１においてＡＴＲ法による測定が行わ
れ（いるとすれば、選択スイッチ８はＡＴＲ法用処理回
路７側へ倒される。ＡＴＲ法で得られるスペクトルは、
波長に略比例してピーク強度が伸長したちのどなる。例
えば、通常の透過法によるスペクトル（第４図（ａ））
が、Ａ Ｔ−Ｒ法では同図（ｂ）の様に長波長側になる
に従ってピーク強度が伸長づる。そこで処理回路７に、
第５図におい（実線ｒ示１様な波長に応じ！コゲイン特
性を与え、波長の短いもの程大ぎく増幅することにより
、透過法Ｃ得られるであろう形〈同図（１＋））に変換
する。この様にしてＡＴＲ法によって得られるであろう
形に変換された既知物質のデータを用い（比較判別装置
９はメモリ２に格納されている未知成分のデータとの類
似度を判定覆るため、同じライブラリーファイルを用い
てＡＴＲ法によって得られたスペクトルデータの同定も
行うことがＣ′きる。
れ（いるとすれば、選択スイッチ８はＡＴＲ法用処理回
路７側へ倒される。ＡＴＲ法で得られるスペクトルは、
波長に略比例してピーク強度が伸長したちのどなる。例
えば、通常の透過法によるスペクトル（第４図（ａ））
が、Ａ Ｔ−Ｒ法では同図（ｂ）の様に長波長側になる
に従ってピーク強度が伸長づる。そこで処理回路７に、
第５図におい（実線ｒ示１様な波長に応じ！コゲイン特
性を与え、波長の短いもの程大ぎく増幅することにより
、透過法Ｃ得られるであろう形〈同図（１＋））に変換
する。この様にしてＡＴＲ法によって得られるであろう
形に変換された既知物質のデータを用い（比較判別装置
９はメモリ２に格納されている未知成分のデータとの類
似度を判定覆るため、同じライブラリーファイルを用い
てＡＴＲ法によって得られたスペクトルデータの同定も
行うことがＣ′きる。
第６図は本発明の他の実施例の構成を示し、第１図と同
一構成要素には同一番号が付されている。
一構成要素には同一番号が付されている。
ｆｆＪ １図の実施例（゛は、ライブラリーファイルの
デ □−タを各測定法によるデータの形に変換しく比較
したが、本実施例Ｃはメモリ２に格納されでいる未知成
分のスペクトルデータの方を、選択スイッチ８′を介し
く処理回路５’ 、６’ 、７’のいずれかへ送り、該
処理回路によつ′Ｃ透過測定法によるデータの形に変換
し、その変換された未知成分のデータとライブラリーフ
ァイル３に蓄積されている透過測定法にＪ、つ−Ｃ得ら
れた既知成分のスペク（・ルデータとを、比較判別装置
９において比較りるＪ、うにし−（いる。
デ □−タを各測定法によるデータの形に変換しく比較
したが、本実施例Ｃはメモリ２に格納されでいる未知成
分のスペクトルデータの方を、選択スイッチ８′を介し
く処理回路５’ 、６’ 、７’のいずれかへ送り、該
処理回路によつ′Ｃ透過測定法によるデータの形に変換
し、その変換された未知成分のデータとライブラリーフ
ァイル３に蓄積されている透過測定法にＪ、つ−Ｃ得ら
れた既知成分のスペク（・ルデータとを、比較判別装置
９において比較りるＪ、うにし−（いる。
ＰＡＳ測定法用処理回路５′におＩＪる変換処理は、第
１図の実施例の場合と逆の変換を行えば良い。例えば第
３図に示？１様にスレツショルルベルＩＩ、Ｉ２’ を
設定し、メモリ２に記憶されているデータを１２’ が
１２になる様に直ＩＩ込に従っＣ変換すれば良く、拡散
反則測定法用処坤回路６′による変換も同様に行えば良
い。
１図の実施例の場合と逆の変換を行えば良い。例えば第
３図に示？１様にスレツショルルベルＩＩ、Ｉ２’ を
設定し、メモリ２に記憶されているデータを１２’ が
１２になる様に直ＩＩ込に従っＣ変換すれば良く、拡散
反則測定法用処坤回路６′による変換も同様に行えば良
い。
ΔＴＲ測定法用処理回路７′による変換処理も処理回路
７と逆の変化を行えば良く、第５図において破線で承り
様な之とは逆の傾きを持った波長−ゲイン特性を与えれ
ば良い１゜ 本実施例においても、透過測定法によるデータを蓄積し
た従来のライブラリーファイルを用いＣＰＡＳ法、拡散
反射法、ＡＴＲ法等の各種測定法にＪ、・）で得られた
データの同定を正確に行うことができる。
７と逆の変化を行えば良く、第５図において破線で承り
様な之とは逆の傾きを持った波長−ゲイン特性を与えれ
ば良い１゜ 本実施例においても、透過測定法によるデータを蓄積し
た従来のライブラリーファイルを用いＣＰＡＳ法、拡散
反射法、ＡＴＲ法等の各種測定法にＪ、・）で得られた
データの同定を正確に行うことができる。
尚、上記実施例では生データのままで比較し１＝が、ラ
イブラリーファイル３がピークの波長とピーク強度のみ
を抜出した形で格納されている場合には、未知成分のデ
ータもそれに合わせた変換を行うことが必要であること
はｈうまぐもない。
イブラリーファイル３がピークの波長とピーク強度のみ
を抜出した形で格納されている場合には、未知成分のデ
ータもそれに合わせた変換を行うことが必要であること
はｈうまぐもない。
又、上記実施例では個別の構成要素Ｃ表わしたが、メモ
リ２．読出し回路４．処理回路５へ−７゜５′〜７′、
比較判別装置９等は単−又は複数の］ノビ１−夕によっ
て同じ動作を行わせることが可能である。
リ２．読出し回路４．処理回路５へ−７゜５′〜７′、
比較判別装置９等は単−又は複数の］ノビ１−夕によっ
て同じ動作を行わせることが可能である。
第１図及び第６図は本発明の一実施例の構成を示り図、
第２図乃至第５図はその動作を説明づるための図である
。１ １：ノーリＪ−変換赤外分光光度泪、２：メモリ、３ニ
ライブラリ−ファイル、４：読出し回路、５〜７．５′
へ・７′ ：処理回路、 ８：選択スイッチ、９：比較判別装置、１０：表示装置
。 特ｒ１出願人 ［１木電了株式会ン１ 代表者 イル胛 −大
第２図乃至第５図はその動作を説明づるための図である
。１ １：ノーリＪ−変換赤外分光光度泪、２：メモリ、３ニ
ライブラリ−ファイル、４：読出し回路、５〜７．５′
へ・７′ ：処理回路、 ８：選択スイッチ、９：比較判別装置、１０：表示装置
。 特ｒ１出願人 ［１木電了株式会ン１ 代表者 イル胛 −大
Claims (1)
- 既知成分のスペクｉ・生データを記憶するライブラリー
ファイルと、測定により得られた未知成分のスベク１−
ルデータを記憶づる記憶手段ど、前記ライブラリーフッ
フィルに含まれる既知成分のスペクトルデータを順次読
出す手段と、読出された既知成分のスペク１〜ルデータ
又は前記記憶手段に記□憶され（いる未知成分のスペク
トルデータに測定法に応じて予め定められた処理を施す
処理手段と、該処理手段によ−）て処理されたスペクト
ルデータと前記記憶手段に記憶されている未知成分のス
ペク１〜ルデータ又は前記ライブラリーファイルがら読
出された既知成分のスペクトルデータとを比較し類似性
を判ＰＪｉｔｌる比較判別手段とを備えるライブラリー
サーチ方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5655683A JPS59182323A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | ライブラリーサーチ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5655683A JPS59182323A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | ライブラリーサーチ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59182323A true JPS59182323A (ja) | 1984-10-17 |
| JPH043490B2 JPH043490B2 (ja) | 1992-01-23 |
Family
ID=13030382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5655683A Granted JPS59182323A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | ライブラリーサーチ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59182323A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63111429A (ja) * | 1986-10-29 | 1988-05-16 | Agency Of Ind Science & Technol | 赤外線スペクトルの検索装置 |
| KR19980070850A (ko) * | 1997-01-29 | 1998-10-26 | 가나이쯔도무 | 시료 분석 장치 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53110588A (en) * | 1977-03-08 | 1978-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | Infrared absorption spectrum analysis method |
| JPS56150331A (en) * | 1980-02-07 | 1981-11-20 | Perkin Elmer Corp | Method of and apparatus for determining nature of unknown substance |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP5655683A patent/JPS59182323A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53110588A (en) * | 1977-03-08 | 1978-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | Infrared absorption spectrum analysis method |
| JPS56150331A (en) * | 1980-02-07 | 1981-11-20 | Perkin Elmer Corp | Method of and apparatus for determining nature of unknown substance |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63111429A (ja) * | 1986-10-29 | 1988-05-16 | Agency Of Ind Science & Technol | 赤外線スペクトルの検索装置 |
| KR19980070850A (ko) * | 1997-01-29 | 1998-10-26 | 가나이쯔도무 | 시료 분석 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH043490B2 (ja) | 1992-01-23 |
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