JPS6348299B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6348299B2 JPS6348299B2 JP18309980A JP18309980A JPS6348299B2 JP S6348299 B2 JPS6348299 B2 JP S6348299B2 JP 18309980 A JP18309980 A JP 18309980A JP 18309980 A JP18309980 A JP 18309980A JP S6348299 B2 JPS6348299 B2 JP S6348299B2
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- JP
- Japan
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- memory
- light emission
- conditions
- light emitting
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- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000011002 quantification Methods 0.000 claims 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
- G01J3/36—Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は鋼などの金属試料中に含有されている
元素を定量分析する発光分光分析装置に関するも
のである。
元素を定量分析する発光分光分析装置に関するも
のである。
金属試料中の元素の含有量は数ppmから数10％
とその範囲が広く、一方火花放電による発光条件
は通常分析対象および分析濃度範囲によつて最適
の発光条件があるので、測定しようとする元素及
びその濃度範囲に応じて、いくつかの発光条件あ
るいは発光装置が使い分けられている。したがつ
て一つの分析装置、一つの発光条件で多種類の元
素を含む多種の鋼のような多種の試料を分析する
場合には、高濃度域または低濃度域の一方の精度
を犠牲にしなければ生産ラインと直結した連続定
量分析を行うことができず、精度を要するときは
複数の発光装置あるいは発光条件で各濃度域の元
素を別々に分析しなければならなかつた。
とその範囲が広く、一方火花放電による発光条件
は通常分析対象および分析濃度範囲によつて最適
の発光条件があるので、測定しようとする元素及
びその濃度範囲に応じて、いくつかの発光条件あ
るいは発光装置が使い分けられている。したがつ
て一つの分析装置、一つの発光条件で多種類の元
素を含む多種の鋼のような多種の試料を分析する
場合には、高濃度域または低濃度域の一方の精度
を犠牲にしなければ生産ラインと直結した連続定
量分析を行うことができず、精度を要するときは
複数の発光装置あるいは発光条件で各濃度域の元
素を別々に分析しなければならなかつた。
本発明は上述の問題点を解決することを目的と
するもので、試料中の全ての元素についてのデー
タ列を発光条件を順次変更しながら複数組作成し
てメモリに記憶させ、各元素毎に最適発光条件を
指定するパターンデータを参照することにより１
組の最適データの組合わせを選択してメモリから
読出しデータ処理することにより精度の高い同時
定量分析を可能にしたものである。即ち発光条件
１、２、…を用意しておき、元素Ａ，Ｂ，…に対
し一律に各発光条件でのデータA1，A2，…，
B1，B2…を採取し、別に各元素の予想濃度範囲
から各元素についての最適発光条件のパターンデ
ータ例えばＡは２、Ｂは１、Ｃは３等を定めてお
き、上記データ列A1，A2，…，B1，B2，…から
A2，B1，C3…を取出すようにしたものである。
するもので、試料中の全ての元素についてのデー
タ列を発光条件を順次変更しながら複数組作成し
てメモリに記憶させ、各元素毎に最適発光条件を
指定するパターンデータを参照することにより１
組の最適データの組合わせを選択してメモリから
読出しデータ処理することにより精度の高い同時
定量分析を可能にしたものである。即ち発光条件
１、２、…を用意しておき、元素Ａ，Ｂ，…に対
し一律に各発光条件でのデータA1，A2，…，
B1，B2…を採取し、別に各元素の予想濃度範囲
から各元素についての最適発光条件のパターンデ
ータ例えばＡは２、Ｂは１、Ｃは３等を定めてお
き、上記データ列A1，A2，…，B1，B2，…から
A2，B1，C3…を取出すようにしたものである。
以下本発明を実施例図に基づいて詳述する。第
１図において、P1，P2，…Pnは分光計の光電子
増倍管セルで、それぞれ含有されていることが予
知されていて分析しようとしている元素及び内部
標準元素の輝線位置に設置されており、その出力
は制御回路１によつて開閉制御される入力リレー
接点γ1，γ2，…γnを介して積分器I1，I2，…Inに
接続されている。各セルの出力によつて一定時間
充電された積分器I1，I2，…の出力電圧がアナロ
グマルチプレクサ２により順次Ａ／Ｄ変換器３に
入力され、ｎ個のデイジタルデータとしてランダ
ムアクセスメモリ４の所定の番地に格納される。
次に積分器のコンデンサの充電電荷がデイスチヤ
ージリレーd1，d2，…dnによつて一旦放電された
のち、発光条件を変えてさらにｎ個のデータがメ
モリ４に格納される。メモリ４には各輝線毎に一
定のエリヤが割当てゝあり、各エリヤには端から
順に発光条件１、２、３…に対応させたアドレス
が設けてある。従つて一回目の発光条件による各
元素のデータは夫々対応エリヤの一番目のアドレ
スに記憶せしめられ、２回目の発光条件による各
元素のデータは対応エリヤの二番目のアドレスに
記憶せしめられると云うようになつている。逆に
発光条件毎にエリヤを割当て、各エリヤに夫々元
素対応アドレスを設けてもよい。図示のメモリ４
はこの形式になつている。データ選択回路５に
は、ｎ個のデータについてそれぞれいずれの発光
条件を採るかを予め定めたパターンデータが記憶
されている。例えば発光条件が高濃度元素用と低
濃度元素用の２種類の場合には、パターンデータ
はｎビツトのビツトパターンとなりデイツプスイ
ツチなどを用いて簡単に設定できる。またデータ
選択回路５は等価的にソフトウエアで構成するこ
ともできる。このパターンデータに基いて各元素
毎に最も適した発光条件によるデータが読出され
る。パターンデータは予め各元素の各濃度につい
て最も適当な発光条件（測定結果安定、直線性良
好）を実験的に求めて作つておくものである。
１図において、P1，P2，…Pnは分光計の光電子
増倍管セルで、それぞれ含有されていることが予
知されていて分析しようとしている元素及び内部
標準元素の輝線位置に設置されており、その出力
は制御回路１によつて開閉制御される入力リレー
接点γ1，γ2，…γnを介して積分器I1，I2，…Inに
接続されている。各セルの出力によつて一定時間
充電された積分器I1，I2，…の出力電圧がアナロ
グマルチプレクサ２により順次Ａ／Ｄ変換器３に
入力され、ｎ個のデイジタルデータとしてランダ
ムアクセスメモリ４の所定の番地に格納される。
次に積分器のコンデンサの充電電荷がデイスチヤ
ージリレーd1，d2，…dnによつて一旦放電された
のち、発光条件を変えてさらにｎ個のデータがメ
モリ４に格納される。メモリ４には各輝線毎に一
定のエリヤが割当てゝあり、各エリヤには端から
順に発光条件１、２、３…に対応させたアドレス
が設けてある。従つて一回目の発光条件による各
元素のデータは夫々対応エリヤの一番目のアドレ
スに記憶せしめられ、２回目の発光条件による各
元素のデータは対応エリヤの二番目のアドレスに
記憶せしめられると云うようになつている。逆に
発光条件毎にエリヤを割当て、各エリヤに夫々元
素対応アドレスを設けてもよい。図示のメモリ４
はこの形式になつている。データ選択回路５に
は、ｎ個のデータについてそれぞれいずれの発光
条件を採るかを予め定めたパターンデータが記憶
されている。例えば発光条件が高濃度元素用と低
濃度元素用の２種類の場合には、パターンデータ
はｎビツトのビツトパターンとなりデイツプスイ
ツチなどを用いて簡単に設定できる。またデータ
選択回路５は等価的にソフトウエアで構成するこ
ともできる。このパターンデータに基いて各元素
毎に最も適した発光条件によるデータが読出され
る。パターンデータは予め各元素の各濃度につい
て最も適当な発光条件（測定結果安定、直線性良
好）を実験的に求めて作つておくものである。
第２図は２種類の発光条件を用いた場合のフロ
ーチヤートを示すもので、試料面を浄化するため
の予備放電および試料を気化励起して発光させる
本発光放電を夫々条件を変更して２組のデータ列
をメモリ４に取り込んだのち、データ選択回路５
にて上述のパターンデータを参照しながら１組の
最適のデータの組合わせを選択してメモリから読
出す。このとき各データを同じくデータ選択回路
で指定される内部標準元素の各組におけるデータ
値により正規化するようにすれば、２組のデータ
列間の発光条件の差による測定値のずれを補正す
ることができる。第１図６はそのための演算回路
で、７は含有量を計算するデータ処理回路８は発
光条件を記憶させておくメモリ、９は発光装置で
ある。
ーチヤートを示すもので、試料面を浄化するため
の予備放電および試料を気化励起して発光させる
本発光放電を夫々条件を変更して２組のデータ列
をメモリ４に取り込んだのち、データ選択回路５
にて上述のパターンデータを参照しながら１組の
最適のデータの組合わせを選択してメモリから読
出す。このとき各データを同じくデータ選択回路
で指定される内部標準元素の各組におけるデータ
値により正規化するようにすれば、２組のデータ
列間の発光条件の差による測定値のずれを補正す
ることができる。第１図６はそのための演算回路
で、７は含有量を計算するデータ処理回路８は発
光条件を記憶させておくメモリ、９は発光装置で
ある。
本発明は上述のように、発光条件を順次変更し
ながら複数組のデータ列を一旦メモリに取り込ん
だのち、各データ毎に最適の発光条件を予め指定
したパターンデータにより、上記複数組のデータ
列から１組の最適データの組合わせを選択するも
のであるから、例えば数ppmから数10％の広い含
有量範囲の定量分析を１回の分析操作で精度よく
行うことができ、従来のように精度を犠牲にした
り、２回や３回に分けて分析を行う必要がないと
いう利点がある。
ながら複数組のデータ列を一旦メモリに取り込ん
だのち、各データ毎に最適の発光条件を予め指定
したパターンデータにより、上記複数組のデータ
列から１組の最適データの組合わせを選択するも
のであるから、例えば数ppmから数10％の広い含
有量範囲の定量分析を１回の分析操作で精度よく
行うことができ、従来のように精度を犠牲にした
り、２回や３回に分けて分析を行う必要がないと
いう利点がある。
第１図は本発明方法の一実施例を示す概略ブロ
ツク図、第２図は同上の動作を説明するためのフ
ローチヤートである。 １…制御回路、２…マルチプレクサ、３…Ａ／
Ｄ変換器、４…メモリ、５…データ選択回路、６
…演算回路、７…データ処理回路、P1，P2…Pn
…光電子倍増管セル、I1，I2…In…積分器。
ツク図、第２図は同上の動作を説明するためのフ
ローチヤートである。 １…制御回路、２…マルチプレクサ、３…Ａ／
Ｄ変換器、４…メモリ、５…データ選択回路、６
…演算回路、７…データ処理回路、P1，P2…Pn
…光電子倍増管セル、I1，I2…In…積分器。
Claims (1)
- １ 多元素同時定量を行う発光分光分析装置の分
光計の各輝線位置に設置された光電子増倍管セル
にそれぞれ積分器を接続し、各積分器の出力をマ
ルチプレクサにより順次選択して出力されるデー
タ列を発光条件を順次変更しながら複数組作成し
てメモリに格納したのち、各元素毎に予め定めら
れた最適発光条件を指定するパターンデータを参
照することにより上記複数組のデータ列から１組
の最適データの組合わせを選択してメモリから読
出しデータ処理することを特徴とする発光分光分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18309980A JPS57106845A (en) | 1980-12-23 | 1980-12-23 | Apparatus for emission spectrochemical analysis |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18309980A JPS57106845A (en) | 1980-12-23 | 1980-12-23 | Apparatus for emission spectrochemical analysis |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57106845A JPS57106845A (en) | 1982-07-02 |
| JPS6348299B2 true JPS6348299B2 (ja) | 1988-09-28 |
Family
ID=16129742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18309980A Granted JPS57106845A (en) | 1980-12-23 | 1980-12-23 | Apparatus for emission spectrochemical analysis |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57106845A (ja) |
-
1980
- 1980-12-23 JP JP18309980A patent/JPS57106845A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57106845A (en) | 1982-07-02 |
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