JPS5930213B2 - 機器分析方法 - Google Patents
機器分析方法Info
- Publication number
- JPS5930213B2 JPS5930213B2 JP9316177A JP9316177A JPS5930213B2 JP S5930213 B2 JPS5930213 B2 JP S5930213B2 JP 9316177 A JP9316177 A JP 9316177A JP 9316177 A JP9316177 A JP 9316177A JP S5930213 B2 JPS5930213 B2 JP S5930213B2
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- JP
- Japan
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- sample
- analysis
- computer
- type
- code
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、計算機と接続された分析装置を用いて試料中
の元素を定量分析する機器分析方法に係ヤ、特に、多種
類の試料を分析する分析装置に用いるに好適な、予め正
しい分析条件、検出系或るいはデータ処理条件を設定す
ることな〈分析装置を作動させても、正確な定量分析値
が得られる機器分析方法に関する。
の元素を定量分析する機器分析方法に係ヤ、特に、多種
類の試料を分析する分析装置に用いるに好適な、予め正
しい分析条件、検出系或るいはデータ処理条件を設定す
ることな〈分析装置を作動させても、正確な定量分析値
が得られる機器分析方法に関する。
発光分光分析、螢光Ｘ線分析等の機器分析方法は、単一
の分析装置で、多種類の元素を定量分析できるため、広
く用いられている。
の分析装置で、多種類の元素を定量分析できるため、広
く用いられている。
一般に機器分析は、分析試料の対象等により、装置の分
析条件及び各種セレクタの切換えと共存元素含有率なら
びに定量元素の含有率に応じて検出系ど検量線の選択を
必要とする。又、このような分析装置は通常データ処理
が極めて複雑となるため、単独で用いられることは少な
く、第１図に示す如＜、分析装置１０に計算機１２が接
続されて用いられることが多い。
析条件及び各種セレクタの切換えと共存元素含有率なら
びに定量元素の含有率に応じて検出系ど検量線の選択を
必要とする。又、このような分析装置は通常データ処理
が極めて複雑となるため、単独で用いられることは少な
く、第１図に示す如＜、分析装置１０に計算機１２が接
続されて用いられることが多い。
１４は、オペレータである。
このような機器分析装置における分析手順は、第２図に
示すごとくである。即ち、試料を採取し、次いで該試料
を分析装置に合つた形に試料調製し、分析装置にセット
する。又、試料種類に応じて、分析条件、検出系、デー
タ処理条件等の最適設定をオペレータ１４が行ない、分
析装置１０で機器分析を行なう。分析装置１０から出力
された生データは、計算機１２に送ら’れ、ここで検量
線等を用いてデータ処理され、必要に応じてｌイプライ
タ或るいは陰極線管表示装置（以下ＣＲＴと称す）等に
より外部に出力するようにされている。ところが、例え
ば製鉄所における機器分析のように、その分析対象が、
製鉄、鋼、鉱石、焼結鉱、スラグ等の極めて多品種、多
種別にわたるものにおいては、その各々について精度良
〈定量分析を行なうためには、各種試料ごとに分析条件
、検出系、検量線等を設定する必要がある。
示すごとくである。即ち、試料を採取し、次いで該試料
を分析装置に合つた形に試料調製し、分析装置にセット
する。又、試料種類に応じて、分析条件、検出系、デー
タ処理条件等の最適設定をオペレータ１４が行ない、分
析装置１０で機器分析を行なう。分析装置１０から出力
された生データは、計算機１２に送ら’れ、ここで検量
線等を用いてデータ処理され、必要に応じてｌイプライ
タ或るいは陰極線管表示装置（以下ＣＲＴと称す）等に
より外部に出力するようにされている。ところが、例え
ば製鉄所における機器分析のように、その分析対象が、
製鉄、鋼、鉱石、焼結鉱、スラグ等の極めて多品種、多
種別にわたるものにおいては、その各々について精度良
〈定量分析を行なうためには、各種試料ごとに分析条件
、検出系、検量線等を設定する必要がある。
そのため、従来は、分析開始前に予め当該分析試料に合
致した分析条件等を、オペレータが一々設定していたが
、このようにオペレータの作業に頼る方法では、特に多
種類の試料を分析する装置においては、設定ミス或いは
操作ミスが生じやすいという問題があつた。オペレータ
の設定ミス或いは操作ミスが行なわれると、当然正常な
分析は行なわれず、分析結果も誤まつたものとなシ、特
に製鉄所のように口．ツト単位の大きいものについては
、その損害が莫大なものとなる。本発明は、前記従来の
欠点を解消するべくなされたもので、予め分析条件、検
出系、データ処理条件等を最適設定することなく分析装
置を動作させても、自動的に最適条件で分析或いはデー
タ処理が行なわれる機器分析方法を提供することを目的
とする。
致した分析条件等を、オペレータが一々設定していたが
、このようにオペレータの作業に頼る方法では、特に多
種類の試料を分析する装置においては、設定ミス或いは
操作ミスが生じやすいという問題があつた。オペレータ
の設定ミス或いは操作ミスが行なわれると、当然正常な
分析は行なわれず、分析結果も誤まつたものとなシ、特
に製鉄所のように口．ツト単位の大きいものについては
、その損害が莫大なものとなる。本発明は、前記従来の
欠点を解消するべくなされたもので、予め分析条件、検
出系、データ処理条件等を最適設定することなく分析装
置を動作させても、自動的に最適条件で分析或いはデー
タ処理が行なわれる機器分析方法を提供することを目的
とする。
本発明は、計算機ど接続された分析装置を用いて試料中
の元素を定量分析する機器分析方法において、予め、分
析元素の含有率を元素毎に複数の水準に分類し、試料の
種類毎にコード化して計算機で記憶しておき、まず、仮
分析条件、仮検出系及び仮データ処理条件を用いて予備
分析を行なつて未知試料のコードを知ｂ、前記記憶コー
ドと対照して、未知試料の種類を計算機によシ判定し、
次いで、該試料種類に応じて適切な分析条件・検出系及
びデータ処理条件を自動的に再設定して本分析を行なう
ようにして、前記目的を達成したものである。
の元素を定量分析する機器分析方法において、予め、分
析元素の含有率を元素毎に複数の水準に分類し、試料の
種類毎にコード化して計算機で記憶しておき、まず、仮
分析条件、仮検出系及び仮データ処理条件を用いて予備
分析を行なつて未知試料のコードを知ｂ、前記記憶コー
ドと対照して、未知試料の種類を計算機によシ判定し、
次いで、該試料種類に応じて適切な分析条件・検出系及
びデータ処理条件を自動的に再設定して本分析を行なう
ようにして、前記目的を達成したものである。
又、同じく機器分析方法において、予め、分析元素の含
有率を元素毎に複数の水準に分類し、試料の種類毎にコ
ード化して計算機で記憶しておき、分析を行なつて、ま
ず、仮データ処理条件によシデータ処理して未知試料の
コードを知ｂ１前記記憶コードと対照して未知試料の種
類を計算機によシ判定ム次いで、該試料種類に応じて自
動的に再選定された適切なデータ処理条件を用いて再デ
ータ処理Ｌ元素を定量するようにして、前記目的を達成
したものである。
有率を元素毎に複数の水準に分類し、試料の種類毎にコ
ード化して計算機で記憶しておき、分析を行なつて、ま
ず、仮データ処理条件によシデータ処理して未知試料の
コードを知ｂ１前記記憶コードと対照して未知試料の種
類を計算機によシ判定ム次いで、該試料種類に応じて自
動的に再選定された適切なデータ処理条件を用いて再デ
ータ処理Ｌ元素を定量するようにして、前記目的を達成
したものである。
以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
本実施例が適用される分析装置は、第３図に示すごとく
、分析装置１０と、該分析装置１０に接続された計算機
１２とから構成される。以下前記分析装置を用いた分析
方法の実施例を第４図を参照して詳細に説明する。試料
採取から試料調製し、分析装置に試料をセツトするまで
は第２図の従来方法と同様である。なお前記試料調製に
先立ち、予め必要な分析元素、例えば元素Ａ，Ｂ，Ｃ，
・・・・・・・・・Ｈの８元素について、その含有率を
例えば４水準に分類し、第１表に示すごとく選択表を作
成し、各試料毎に応じて試料の種類をコード番号化して
、各種類に対応する最適分析条件、最適検出系（例えば
使用チヤンネル）、最適データ処理条件（例えば検量線
）を計算機に記憶させておく。まず、適当な仮分析条件
、仮検出系、仮データ処理条件を用いて予備分析を行な
つて未知試料のコード番号を知る。
、分析装置１０と、該分析装置１０に接続された計算機
１２とから構成される。以下前記分析装置を用いた分析
方法の実施例を第４図を参照して詳細に説明する。試料
採取から試料調製し、分析装置に試料をセツトするまで
は第２図の従来方法と同様である。なお前記試料調製に
先立ち、予め必要な分析元素、例えば元素Ａ，Ｂ，Ｃ，
・・・・・・・・・Ｈの８元素について、その含有率を
例えば４水準に分類し、第１表に示すごとく選択表を作
成し、各試料毎に応じて試料の種類をコード番号化して
、各種類に対応する最適分析条件、最適検出系（例えば
使用チヤンネル）、最適データ処理条件（例えば検量線
）を計算機に記憶させておく。まず、適当な仮分析条件
、仮検出系、仮データ処理条件を用いて予備分析を行な
つて未知試料のコード番号を知る。
今試料●、×、Δのそれぞれにつき予備分析を行なつた
結果が第２表のごとくであつたとする。すると前記各試
料につき、第３表に示すようなコード番号が得られる。
計算機においては、予備分析結果から得られた試料コー
ドと予め記憶されている試料コードとを対照し、計算機
に記憶されているコード中に未知試料コードと一致する
ものがあれば、これによシ未知試料の種類を判定し、コ
ード番号に応じて予め計算機に記憶されている最適分析
条件、最適検出系、最適データ処理条件を自動的に再設
定して、本分析を行なう。分析結果は、従来と同様に、
計算機１２においてデータ処理され、必要に応じてタイ
プアウト又はＣＲＴ等で表示される。もし予備分析によ
つて得られた試料コードが、予め計算機内に記憶されて
いるコードと一致しなｂ場合には、その旨を何らかの手
段によシオペレータに表示する。
結果が第２表のごとくであつたとする。すると前記各試
料につき、第３表に示すようなコード番号が得られる。
計算機においては、予備分析結果から得られた試料コー
ドと予め記憶されている試料コードとを対照し、計算機
に記憶されているコード中に未知試料コードと一致する
ものがあれば、これによシ未知試料の種類を判定し、コ
ード番号に応じて予め計算機に記憶されている最適分析
条件、最適検出系、最適データ処理条件を自動的に再設
定して、本分析を行なう。分析結果は、従来と同様に、
計算機１２においてデータ処理され、必要に応じてタイ
プアウト又はＣＲＴ等で表示される。もし予備分析によ
つて得られた試料コードが、予め計算機内に記憶されて
いるコードと一致しなｂ場合には、その旨を何らかの手
段によシオペレータに表示する。
オペレータは、手動により最適条件を設定して、従来と
同様の分析、データ処理が行なわれる。この手動分析し
た場合の試料コードは、将来、該試料について最適条件
を計算機に記憶させるための誂料として用いられる。前
記実施例においては、計算機によジ判定された試料種類
に応じて、適切な分析条件、検出系及びデータ処理条件
が自動的に再設定され、本分析が行なわれるので、オペ
レータは通常、単に試料を分析装置にセツトするのみで
良い。
同様の分析、データ処理が行なわれる。この手動分析し
た場合の試料コードは、将来、該試料について最適条件
を計算機に記憶させるための誂料として用いられる。前
記実施例においては、計算機によジ判定された試料種類
に応じて、適切な分析条件、検出系及びデータ処理条件
が自動的に再設定され、本分析が行なわれるので、オペ
レータは通常、単に試料を分析装置にセツトするのみで
良い。
前記選択表における元素毎に選定される複数の水素は、
分析条件、検出系、データ処理条件が異なる試料につい
ては、コード番号が重複されないように選定されている
。
分析条件、検出系、データ処理条件が異なる試料につい
ては、コード番号が重複されないように選定されている
。
前記実施例のように、８元素につき判定し、各元素の強
度レベルを４水準とすると、６×１０４種類の選択が可
能である。実際上は、８元素の全てにつき４水準を設定
する必要はなく、又強度レベルの２〜３水準でまたがる
場でもあるが、１０２種類程度の選択は容易であシ、実
用上もこの程度で十分満足できるものとなる。前記実施
例においては、予備分析による判定結果が、予め記憶さ
れたコードにない場合は、判定不能内容のコメントを表
示し、オペレータに当該試料に対する手動設定を促すと
共に、選択表の充実化の指標とするようにしているので
、極めて効率が良い。なお、前記予備分析は、通常試料
の種類が判定できる程度の精度で行なえば追いため、本
分析よシも短か渇間で行なうことが可能である。
度レベルを４水準とすると、６×１０４種類の選択が可
能である。実際上は、８元素の全てにつき４水準を設定
する必要はなく、又強度レベルの２〜３水準でまたがる
場でもあるが、１０２種類程度の選択は容易であシ、実
用上もこの程度で十分満足できるものとなる。前記実施
例においては、予備分析による判定結果が、予め記憶さ
れたコードにない場合は、判定不能内容のコメントを表
示し、オペレータに当該試料に対する手動設定を促すと
共に、選択表の充実化の指標とするようにしているので
、極めて効率が良い。なお、前記予備分析は、通常試料
の種類が判定できる程度の精度で行なえば追いため、本
分析よシも短か渇間で行なうことが可能である。
前記実施例においては、本分析の前に予備分析を行なう
ようにしていたが、各試料間の共通性が高く、試料毎に
分析条件及び検出系を変える必要がない場合には、必ず
しも本分析を再び行なう必要はなく、第５図に示すごと
く、試料判別によジ検量線等のデータ処理条件のみを再
設定し、データ処理精度を高めることも可能である。
ようにしていたが、各試料間の共通性が高く、試料毎に
分析条件及び検出系を変える必要がない場合には、必ず
しも本分析を再び行なう必要はなく、第５図に示すごと
く、試料判別によジ検量線等のデータ処理条件のみを再
設定し、データ処理精度を高めることも可能である。
本実施例においては、分析が１回で良いため、分析所要
時間が短かくできる。
時間が短かくできる。
以上説明した通Ｄ１本発明は、計算機と接続された分析
装置を用いて試料中の元素を定量分析する機器分析方法
において、予め、分析元素の含有率を元素毎に複数の水
準に分類し、試料の種類毎にコード化しで計算機で記憶
しておき、まず、仮分析条件、仮検出系及び仮データ処
理条件を用いて予備分析を行なつて未知試料のコードを
知り、前記記憶コードと対照して、未知試料の種類を計
算機によ）判定し、次いで、該試料種類に応じて適切な
分析条件、検出系及びデータ処理条件を自動的に再設定
して本分析を行なうようにしたので、オペレータの手を
煩わせることなく各試料毎に最適条件を設定して本分析
でき、分析操作が極めて容易となるだけでなく、オペレ
ータの設定ミスによる誤分析も防止できる。
装置を用いて試料中の元素を定量分析する機器分析方法
において、予め、分析元素の含有率を元素毎に複数の水
準に分類し、試料の種類毎にコード化しで計算機で記憶
しておき、まず、仮分析条件、仮検出系及び仮データ処
理条件を用いて予備分析を行なつて未知試料のコードを
知り、前記記憶コードと対照して、未知試料の種類を計
算機によ）判定し、次いで、該試料種類に応じて適切な
分析条件、検出系及びデータ処理条件を自動的に再設定
して本分析を行なうようにしたので、オペレータの手を
煩わせることなく各試料毎に最適条件を設定して本分析
でき、分析操作が極めて容易となるだけでなく、オペレ
ータの設定ミスによる誤分析も防止できる。
又、分析前の手動設定が不要となるため、分析所要時間
が短縮されるという優れた効果を有する。叉、同じく機
器分析方法において、予め、分析元素の含有率を元素毎
に複数の水準に分類し、試料の種類毎にコード化して計
算機で記憶しておき、分析を行なつて、まず、仮データ
処理条件により１データ処理して未知試料のコードを知
力、前記記憶コードと対照して未知試料の種類を計算機
により判定し、次いで、該試料種類に応じて自動的に再
選定された適切なデータ処理条件を用いて再デー汐処理
し、元素を定量するようにしたので、オペレ一汐の手を
煩わせることなく各試料毎に最適データ処理条件を使用
してデータ処理でき、デ一汐処理が極めて容易となるだ
けでなく、オペレータの設定ミスによる誤処理も防止で
きるという優れた効果を有する。
が短縮されるという優れた効果を有する。叉、同じく機
器分析方法において、予め、分析元素の含有率を元素毎
に複数の水準に分類し、試料の種類毎にコード化して計
算機で記憶しておき、分析を行なつて、まず、仮データ
処理条件により１データ処理して未知試料のコードを知
力、前記記憶コードと対照して未知試料の種類を計算機
により判定し、次いで、該試料種類に応じて自動的に再
選定された適切なデータ処理条件を用いて再デー汐処理
し、元素を定量するようにしたので、オペレ一汐の手を
煩わせることなく各試料毎に最適データ処理条件を使用
してデータ処理でき、デ一汐処理が極めて容易となるだ
けでなく、オペレータの設定ミスによる誤処理も防止で
きるという優れた効果を有する。
第１図は、従来の計算機と接続された分析装置の構成を
示すプロツク線図、第２図は、第１図の分析装置を用い
た機器分析方法を示す流れ図、第３図は、本発明が適用
される計算機と接続された分析装置を示すプロツク線図
、第４図は、第３図の装置を用いた本発明に係る分析方
法の実施例を示す流れ図、第５図は、本発明の他の実施
例を示す流れ図である。 １０・・・・・・分析装置、１２・・・・・・計算機。
示すプロツク線図、第２図は、第１図の分析装置を用い
た機器分析方法を示す流れ図、第３図は、本発明が適用
される計算機と接続された分析装置を示すプロツク線図
、第４図は、第３図の装置を用いた本発明に係る分析方
法の実施例を示す流れ図、第５図は、本発明の他の実施
例を示す流れ図である。 １０・・・・・・分析装置、１２・・・・・・計算機。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 計算機と接続された分析装置を用いて試料中の元素
を定量分析する機器分析方法において、予め、分析元素
の含有率を元素毎に複数の水準に分類し、試料の種類毎
にコード化して計算機で記憶しておき、まず、仮分析条
件、仮検出系及び仮データ処理条件を用いて予備分析を
行なつて未知試料のコードを知り、前記記憶コードと対
照して、未知試料の種類を計算機により判定し、次いで
、該試料種類に応じて適切な分析条件・検出系及びデー
タ処理条件を自動的に再設定して本分析を行なうように
したことを特徴とする機器分析方法。 ２ 計算機と接続された分析装置を用いて試料中の元素
を定量分析する機器分析方法において、予め、分析元素
の含有率を元素毎に複数の水準に分類し、試料の種類毎
にコード化して計算機で記憶しておき、分析を行なつて
、まず、仮データ処理条件によりデータ処理して未知試
料のコードを知り、前記記憶コードと対照して未知試料
の種類を計算機により判定し、次いで、該試料種類に応
じて自動的に再選定された適切なデータ処理条件を用い
て再データ処理し、元素を定量するようにしたことを特
徴とする機器分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9316177A JPS5930213B2 (ja) | 1977-08-03 | 1977-08-03 | 機器分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9316177A JPS5930213B2 (ja) | 1977-08-03 | 1977-08-03 | 機器分析方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5427493A JPS5427493A (en) | 1979-03-01 |
| JPS5930213B2 true JPS5930213B2 (ja) | 1984-07-25 |
Family
ID=14074825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9316177A Expired JPS5930213B2 (ja) | 1977-08-03 | 1977-08-03 | 機器分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5930213B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61144262U (ja) * | 1985-02-27 | 1986-09-05 | ||
| JP2001050917A (ja) * | 1999-08-06 | 2001-02-23 | Rigaku Industrial Co | 蛍光ｘ線分析装置 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57142549A (en) * | 1981-02-27 | 1982-09-03 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Analyzer |
| JPS5979843A (ja) * | 1982-10-29 | 1984-05-09 | Shimadzu Corp | 発光分光分析装置 |
| JPS5999336A (ja) * | 1982-11-30 | 1984-06-08 | Shimadzu Corp | 発光分光分析装置の感度調整装置 |
| JPS63151838A (ja) * | 1986-12-16 | 1988-06-24 | Shimadzu Corp | 発光分析装置 |
| JPH01180643U (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-26 | ||
| JP4631413B2 (ja) * | 2004-11-30 | 2011-02-16 | Ｊｆｅスチール株式会社 | ステンレス鋼中のｓ元素のスパーク放電発光分光分析方法 |
-
1977
- 1977-08-03 JP JP9316177A patent/JPS5930213B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61144262U (ja) * | 1985-02-27 | 1986-09-05 | ||
| JP2001050917A (ja) * | 1999-08-06 | 2001-02-23 | Rigaku Industrial Co | 蛍光ｘ線分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5427493A (en) | 1979-03-01 |
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