JPH04138343A

JPH04138343A - 分光螢光光度計

Info

Publication number: JPH04138343A
Application number: JP2262003A
Authority: JP
Inventors: Tsutomu Hayashi; 努林
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1990-09-28
Filing date: 1990-09-28
Publication date: 1992-05-12
Also published as: GB2248687B; GB2248687A; US5194916A; GB9120438D0

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（イ）産業上の利用分野この発明は、分光螢光光度計、特に定量測定の精度を落
とすことなく　Ｓ／Ｎ比を向上し得る分光螢光光度計に
関する。

（ロ）従来の技術一般に分光螢光光度計による定量測定は、光源からの光
を励起分光器で分光して単色光を得、この単色光を濃度
が既知のいくつかの標準試料に照射し、試料からの光を
螢光分光器に通して螢光を得、この螢光強度を検出器で
検出し、予め検量線を得ておき、次に濃度が未知の試料
の螢光強度を検出し、検量線と検出した螢光強度により
未知試料を定量している。この種の分光螢光光度計では
、信号のノイズ成分等を除去するために、検出器の出力
をそのまま出力せず、フィルタを介し、いわゆるレスポ
ンスを設定するようにしている。ここにレスポンスとは
装置の信号変化に対する応答性であり、波長スキャンの
際にスキャン速度に応してレスポンスを自動設定し、ス
ペクトルのピークのズレを抑える機能を持たせたものは
あるが、定量測定では、レスポンスを人手によって適当
な値に設定していた。

（ハ）発明が解決しようとする課題上記した分光螢光光度計で、レスポンスの設定値が小さ
いと、信号変化に対する応答性が良くなるが、ノイズが
充分除去し得ずＳ／Ｎ比が悪くなる。逆にレスポンスが
大きいとＳ／Ｎ比は良くなるが、信号変化に対する応答
性が悪くなり、測定に要する時間が長くなるという問題
がある。また、同じレスポンスに設定すると、レスポン
スが小さい場合は、螢光強度が十分に高ければ問題ない
が、螢光強度が弱い時には、ノイズの影響で定量結果に
バラツキが生じるという問題があり、逆にレスポンスが
大きい場合には、螢光強度が弱い時のノイズの問題は解
決されるが、螢光強度が十分大きい時には、必要以上に
測定時間を要するという問題がある。

この発明は、上記問題点に着目してなされたものであっ
て、定量測定の精度を落とさずにＳ／Ｎ比を向上し得る
分光螢光光度計を提供することを目的としている。

（ニ）課題を解決するための手段及び作用この発明の分
光螢光光度計は、光源と、この光源からの光を励起分光
して単色光を得る分光器と、この励起分光器から試料に
照射された励起光により生じた螢光を受け、これを分光
する螢光分光器と、この螢光分光器からの螢光を検出す
る検出器と、この検出された螢光強度から定量測定を行
う手段とを備えるものにおいて、定量測定前に、前記試
料よりの螢光強度を検出する螢光強度検出手段と、検出
された螢光強度に対応したレスポンスを抽出し、自動設
定するレスポンス設定手段とを備えたことを特徴的に備
えている。

この分光螢光光度計は、−船釣に試料の螢光強度が小さ
くなると、信号のＳ／Ｎ比が低下することに着目して螢
光強度に応じてレスポンスを可変にするようにしたもの
である。定量測定に際し、先ず前段階として試料の螢光
強度を検出する。検出した螢光強度から、例えば螢光強
度に対応して、予め記憶しであるレスポンス値に対応す
るものを抽出し、そのレスポンス値を、装置（分光螢光
光度計）のレスポンス値として設定する。設定後、その
レスポンスを通して、試料の螢光強度を再度検出し、そ
の螢光強度から試料の定量を行う。

（ホ）実施例以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
。

第２図は、この発明が実施される分光螢光光度計のブロ
ック図である。この分光螢光光度計は、光源１と、この
光源１からの光を励起分光し、単色光を得る励起分光器
２と、ビームスプリンタ３と、このビームスプリッタ３
を経て試料４に照射され、試料４から発せられた光を螢
光分光する螢光分光器５と、この螢光分光器５からの螢
光強度を検出する検出器６と、検出された強度信号を増
幅するアンプ７と、アンプ７の出力をデジタル信号に変
換するＡ／Ｄ変換器８と、ビームスプリッタ３からの光
を参照光として検出する参照光検出器９と、この参照光
信号を増幅するアンプ１０と、このアンプ１０の出力を
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１１と、Ａ／Ｄ変
換器８．１１からの信号を取り込む信号処理部１２とか
ら構成されている。信号処理部は、デジタルフィルタ機
能、取り込まれた螢光強度より定量測定を行う機能等を
備えている。また、信号処理部１２ではＡ／Ｄ変換器８
より取り込まれる試料の検出信号をＡ／Ｄ変換器１１か
ら取り込まれる参照光の検出信号で除算し、光源１の光
強度のフラツキ等の補正を行っている。

また、信号処理部１２には、内蔵のメモリに第３図に示
すテーブルデータを記憶しており、測定前に取り込まれ
た螢光強度に応じ、レスポンスを読み出し、レスポンス
を設定する機能を備えている。この実施例では螢光強度
をＯ〜１０．１１〜１００．１０１〜５００．５０１〜
１０００の４段階にわけ対応して６ｓｅｃ　、２ｓｅｃ
、１　ｓｅｃ、０．５ｓｅｃにレスポンスを選択するよ
うになっている。ここでは、螢光強度とレスポンスの関
係をテーブルに記憶しているが、演算式を記憶しておき
、検出された螢光強度を演算式に入れ、レスポンスを算
出してもよい。

次に、第１図に示すフロー図を参照して、実施例分光螢
光光度計のレスポンスの自動設定動作について説明する
。

先ず、測定すべき試料を試料室にセットする（ステップ
５ＴＩ）。次に、検出器６で試料の螢光強度を測定する
（ステ・ンプ５Ｔ２）。そして、この測定された螢光強
度に適切なレスポンスをメモリのテーブルから求める（
ステップ５Ｔ３）。

例えば螢光強度が２５であるとすると、第３図に示すテ
ーブルよりしてレスポンス２　ｓｅｃが求まる。

この求められたレスポンス値に、装置（信号処理部１２
）を設定する。続いて、設定されたレスポンス値に応じ
た応答時間分を待ち（ステップ５Ｔ５）、応答時間の経
過で再度、検出器６で試料の螢光強度を測定し、その値
で定量を行う（ステップ５Ｔ６）。

なお、上記実施例では、螢光強度に応じ、レスポンスを
テーブルから読み出すようにしているが、感度が変更で
きる分光光度計では、感度によってテーブルを変更する
か、信号のＳ／Ｎ比を求めて、Ｓ　／　Ｎ比に応してレ
スポンスを決めてもよい。

（へ）発明の効果この発明によれば、測定前と試料からの螢光強度を求め
、螢光強度に応じたレスポンスを求め、このレスポンス
を装置に自動設定し、以後、定量測定時は、そのレスポ
ンス値で行うものであるから、定量測定の精度を落とす
ことなく、Ｓ／Ｎ比を向上でき、また、装置のことをよ
く知らない人が使用しても正しい結果を得ることができ
る。またレスポンス値が自動設定されので、操作が簡単
になるという利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の実施例分光螢光光度計のレスポン
スの自動設定動作を説明するためのフロー図、第２図は
、この発明が実施される分光螢光光度計のブロック図、
第３図は、同分光螢光光度計の螢光強度とレスポンス値
の関係を示すテーブル図である。１；光源、４：試料、６：検出器、１２：信号処理部。２：励起分光器、５：螢光分光器、８：Ａ／Ｄ変換器、

Claims

【特許請求の範囲】

（１）光源と、この光源からの光を分光して単色光を得
る励起分光器と、この励起分光器から試料に照射された
励起光によって生じた螢光を受け、これを分光する螢光
分光器と、この螢光分光器からの螢光強度を検出する検
出器と、この検出された螢光強度から定量測定を行う手
段とを備える分光螢光光度計において、定量測定前に、前記試料よりの螢光強度を検出する螢光
強度検出手段と、検出された螢光強度に対応したレスポ
ンスを抽出し、自動設定するレスポンス設定手段とを備
えたことを特徴とする分光螢光光度計。