JPS62291924A - 半導体ウエハの乾燥方法 - Google Patents

半導体ウエハの乾燥方法

Info

Publication number
JPS62291924A
JPS62291924A JP61134750A JP13475086A JPS62291924A JP S62291924 A JPS62291924 A JP S62291924A JP 61134750 A JP61134750 A JP 61134750A JP 13475086 A JP13475086 A JP 13475086A JP S62291924 A JPS62291924 A JP S62291924A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
rotor
carrier
cradle
drying
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61134750A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0727884B2 (ja
Inventor
Yoshibumi Hirano
平野 義文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Miyazaki Oki Electric Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Miyazaki Oki Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd, Miyazaki Oki Electric Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP61134750A priority Critical patent/JPH0727884B2/ja
Priority to US07/058,934 priority patent/US4777732A/en
Priority to FR878707983A priority patent/FR2606498B1/fr
Priority to KR1019870005934A priority patent/KR960000951B1/ko
Publication of JPS62291924A publication Critical patent/JPS62291924A/ja
Publication of JPH0727884B2 publication Critical patent/JPH0727884B2/ja
Priority to US09/451,128 priority patent/USRE37627E1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Drying Of Solid Materials (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 (産業上の利用分野) 本発明は、シリコンウェハの洗浄における乾燥工程にお
いて使用する、遠心乾燥装置におけるウェハの乾燥方法
に関するものである。
(従来の技術) 従来のウェハの乾燥方法を第2U!J乃至第4図を用い
て説明する。第2図は従来のウェハ遠心乾燥装置の構成
図、第3図は従来のウェハ遠心乾燥装置のロータ構成図
であり、第3図(a)はその上面図、第3図(b)はそ
の部分側面図である。この第3図(1))においては、
クレードルの垂直回転移動をも示している。第4図は従
来のウェハ乾燥状態の説明図である。
第2図において、1はシリコンウェハであり、このウェ
ハlはキャリア2に彫設されるカギ状のキャリア溝3に
収納される。なお、このキャリア溝3はウェハの厚さ2
乃至3倍の寸法を有しており、ウェハのキャリアへのロ
ード或いはアンロードを容易にするものである。4は円
筒状の容器、5はその容器4の中に設けられるステンレ
ス製のケース(以下、クレードルという)であり、これ
はウェハlが装填されたキャリア2を固定するために設
けられている。6はクレードル5を回転できるようにロ
ータ回転軸7と一体になっているロータであり、この回
転軸7の下にはモータ8があり、このモータ8の駆動に
より、ロータ6が回転し、遠心力によってウェハ上の水
分が飛散するように構成されている。
第3図においてロータ6は容器(第2図参照)4内に収
納され、ロータ6の上部は開口しており、容器の蓋に設
けられたフィルタ(図示なし)を通してクリーンエアー
をロータ6内に取り込み、遠心力と共に気流をガイドと
なる壁6−1に向かわせ脱水する。5−1はクレードル
5をロータに固定するためのクレードル枢支軸であり、
このクレードル枢支軸5−1を回転中心として、クレー
ドル5は約90′回転可能である。即ち、第3図(b)
の点線の位置Aがロータ静止時、つまり、キャリアをク
レードル5に装填する際のクレードルの位置であり、第
3図(b)の実線の位置Bがロータ回転時のクレードル
位置である。このクレードル位WBはクレードルストッ
パ9によって決定されるが、この位置は従来ではウェハ
面とロータ回転面とが平行を成す位置に設定されていた
なお、この種の従来技術として、例えば、特開昭59−
36930号公報、特開昭57−160130号公報、
昭56−8823号公報などが挙げられる。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、以上述べたウェハの遠心乾燥方法では、
第3図及び第4図に示されるように、ウェハ面と略平行
に遠心力が加わるためにウェハはキャリア溝に安定的に
固定されず、ロータ回転によって発生する風、或いはク
レードル振動により第4図の点線に示されるように、ウ
ェハが振動する。このため、ウェハとキャリア溝との接
触部から塵埃が発生する。また、ウェハの振動によって
、ウェハの周辺気流が不安定となり、気流による水分除
去効果が小さくなり、ウェハの乾燥において満足できる
ものではなかった。
本発明は、以上述べたウェハの振動を防止して、塵埃発
生を低下させ、また、水分除去効果を向上し得るウェハ
の乾燥方法を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、上記問題点を解決するために、ウェハの遠心
乾燥方法において、ウェハの遠心乾燥装置のロータ回転
時にロータ回転面とウェハ面とが2.5°〜30″の角
度を成すようにウェハを傾けてスピン乾燥させる。この
ウェハの傾きはウェハキャリアが収納されるクレドール
を傾けることによっても実現することができ、また、出
入口を上方にして、斜めに溝が切られた収納棚を有する
ウェハキャリアを用いることによっても行うことができ
る。
(作用) 本発明によれば、ウェハの遠心乾燥方法において、ウェ
ハの遠心乾燥装置のロータ回転時にロータ回転面とウェ
ハ面とが2.5’〜306の角度を成すようにウェハを
傾けてスピン乾燥させるので、ロータ回転時の遠心力に
よってウェハがキャリア溝に安定的に固定され、ウェハ
の振動が防止される。従って、ウェハ周辺の気流は安定
し、ウェハの水分除去効果を高めることができる。
(実施例) 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳細
に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すウェハの乾燥を行うた
めの乾燥gt置の要部構成図である。
この図において、21はロータ回転時のタレ−ドル位置
決めスペーサであり、このスペーサ21はキャリア2の
底面に固定されており、クレードルストッパに当接し、
ロータ回転軸7°に垂直な面とウェハ面とが角度θ、例
えば、11@の傾きを保ち、ウェハが装填されたキャリ
ア2が保持される。これによってロータ回転時にこの角
度θを保ちつつ、ウェハが回転し脱水乾燥させる。この
実施例においては、このスペーサ21はキャリア2の底
面に固定しておき、クレードルストッパ9に当接するよ
うにしているが、スペーサはロータ側に固定するように
してもよい、また、クレードルストッパの位置を調整で
きるようにして角度θをバリアプルにしたり、クレード
ルの懸垂の仕方を変えたりすることにより、種々の変形
が可能である。
更に、キャリア溝の出入口が上向きになるように傾斜し
た収納棚を有するキャリア(図示なし)を用意し、この
キャリアをクレードルに装着するようにしてもよい。
要するに、ウェハがキャリアの溝内で振動を生じるのを
防止すべき角度にロータ回転面に対してウェハ面を傾斜
させるようにすると良い・この角度θを設けたことで第
5図に示されるように、ウェハ面に対して傾きを持った
遠心力がウェハに加えられ、ウェハがキャリア溝3に安
定に固定されてウェハ1の振動が防止される。その結果
、ウェハ1とキャリア溝3との接触部からの塵埃発生が
低下することになる。また、ウェハの振動が防止される
ことにより、ウェハlの周辺部の気流が安定し、その気
流によるウェハ1の水分除去効果が高まる。
この角度θはロータ回転速度が1000回転/回転子転
軸とウェハ重心との距離が1901の場合は、ウェハに
加わる遠心力でウェハの振動を防止するためには2,5
″以上が必要である。また、30″以上の傾きになると
、気流がブロックされ、ウェハの背面の乾燥状態も悪く
なる(従来のウェハ乾燥装置の寸法では30″以上の傾
きになると、クレードル5が一部装置内壁に接触する)
。従って、角度θは2.5”から30″迄が適当である
なお、実験によれば、ウェハ振動を防止するために必要
な最小角度θwinとロータの回転数は次の通りである
このように、ウェハの遠心乾燥装置を構成した場合、例
えば、第1図に示すロータに125flφのウェハを装
填し、1000回転/回転子70秒間回転する際に、ク
レードル位置決めスペーサ21によってロータ回転面と
ウェハ面とが1ピを成すようにした本発明の実施例の場
合と従来方法の場合とを比較すると以下のようになる。
(a)塵埃効果 ここでは、ウェハ上欠陥検査機によって、0.3μmφ
以上の粒子数を評価した。その結果、(1)従来の方法
においては、 ロータの回転にてウェハ上に付着する粒子平均数=31
.5個/ウェハ(n=12)であり、(2)本発明の方
法においては、 ロータの回転にてウェハ上に付着する粒子平均数=24
.3個/ウェハ(n=12)であった。
なお、傾けるウェハは素子形成面を上向きにすると、こ
の素子形成面に当たる風量が減少するためにそれだけ塵
埃の付着量を減少させることができる。
(b)水分除去効果 第6図及び第7図はロータを5回連続して回転し、その
内の水滴発生残り発生度数をヒストグラム表示したもの
である。その結果、従来方法においては、第6図に示さ
れるように、乾燥に150秒要するのに対し、本発明の
方法によれば、第7図に示されるように、50秒で乾燥
可能である。
従って、上記(a) 、 (b)の理由により半導体=
2の歩留まりの向上、生産性の向上を図ることができる
ものである。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これ
らを本発明の範囲から排除するものではない。
(発明の効果) 以上、詳細に示されるように、本発明によれば、ウェハ
の乾燥方法において、ウェハ乾燥装置のロータ回転時に
ロータ回転面とウェハ面が成す角が2.5’乃至30″
の範囲にあるようにウェハをウェハ乾燥装置に装着し、
該ウェハに遠心力を作用させて乾燥させるようにしたの
で、ロータ回転時の遠心力によってウェハがキャリア溝
に安定的に固定され、ウェハの振動が防止されると共に
、ウェハ周辺の気流は安定し、ウェハの水分除去効果を
高めることができる。従って、半導体装置の歩留まり向
上、生産性の向上に貢献できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すウェハの乾燥を行うた
めの遠心乾燥装置の要部構成図、第2図は従来のウェハ
遠心乾燥装置の構成図、第3図は従来のウェハ遠心乾燥
装置のロータ構成図、第4図は従来のウェハ乾燥状態の
説明図、第5図は本発明のウェハ乾燥状態の説明図、第
6図は従来のウェハ乾燥方法による乾燥能力の説明図−
1第7図は本発明のウェハ乾燥方法による乾燥能力の説
明図である。 1・・・ウェハ、2・・・キャリア、3・・・キャリア
溝、4・・・容器、5・・・クレードル、5−1・・・
クレードル枢支軸、6・・・ロータ、6−1・・・壁、
7・・・ロータ回転軸、θ・・・ロータ回転面とウェハ
面とのなす角度、8・・・モータ、9・・・クレードル
ストッパ、lO・・・ウェハ面、11・・・気流、21
・・・クレードル位置決めスペーサ。 特許出願人 沖電気工業株式会社 (外1名)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ウェハ乾燥装置のロータ回転時にロータ回転面とウェハ
    面とのなす角が2.5°乃至30°の範囲にあるように
    ウェハをウェハ乾燥装置に装着し、該ウェハに遠心力を
    作用させて乾燥させることを特徴とするウェハの乾燥方
    法。
JP61134750A 1986-06-12 1986-06-12 半導体ウエハの乾燥方法 Expired - Lifetime JPH0727884B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61134750A JPH0727884B2 (ja) 1986-06-12 1986-06-12 半導体ウエハの乾燥方法
US07/058,934 US4777732A (en) 1986-06-12 1987-06-05 Wafer centrifugal drying apparatus
FR878707983A FR2606498B1 (fr) 1986-06-12 1987-06-09 Procede et appareil de sechage de plaquettes par centrifugation
KR1019870005934A KR960000951B1 (ko) 1986-06-12 1987-06-11 웨이퍼의 원심건조방법 및 장치
US09/451,128 USRE37627E1 (en) 1986-06-12 1999-11-30 Wafer centrifugal drying apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61134750A JPH0727884B2 (ja) 1986-06-12 1986-06-12 半導体ウエハの乾燥方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62291924A true JPS62291924A (ja) 1987-12-18
JPH0727884B2 JPH0727884B2 (ja) 1995-03-29

Family

ID=15135697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61134750A Expired - Lifetime JPH0727884B2 (ja) 1986-06-12 1986-06-12 半導体ウエハの乾燥方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0727884B2 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6117732U (ja) * 1984-07-07 1986-02-01 関西日本電気株式会社 遠心乾燥機

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6117732U (ja) * 1984-07-07 1986-02-01 関西日本電気株式会社 遠心乾燥機

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0727884B2 (ja) 1995-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960000951B1 (ko) 웨이퍼의 원심건조방법 및 장치
KR100490508B1 (ko) 스핀드라이어및기판건조방법
JP2709568B2 (ja) ダウンフロー型スピンドライヤ
EP0137947A1 (en) Spin dryer
JPH08257469A (ja) 基板回転装置および基板処理装置
JPH07106233A (ja) 回転式基板処理装置
JP2663492B2 (ja) 基板の回転式表面処理装置
JPS62291924A (ja) 半導体ウエハの乾燥方法
JP2604561B2 (ja) ウェーハ乾燥装置
JPS629635A (ja) 半導体ウエハの回転乾燥装置
JPH0727885B2 (ja) 半導体ウエハ遠心乾燥装置
US4735000A (en) Apparatus for drying substrates
JPH07176512A (ja) スピンドライヤー装置
JP3191222B2 (ja) 回転乾燥装置
JPH04343224A (ja) スピンナクランパ
JPS6253942B2 (ja)
JPH0845894A (ja) ウェーハ乾燥装置
JPH0637082A (ja) スピンチャック
KR20180006231A (ko) 박스 클리너 트레이
JPH11219929A (ja) 回転式乾燥装置及び回転式乾燥方法
JPH05299407A (ja) 回転処理装置
JP2913607B2 (ja) 処理方法
JPH0582497A (ja) ウエーハ乾燥機
JPH0377585B2 (ja)
JP2000111249A (ja) 公転式スピン乾燥機

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term