JPS62141729A - ワイヤボンデイング方法 - Google Patents

ワイヤボンデイング方法

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Publication number
JPS62141729A
JPS62141729A JP60281991A JP28199185A JPS62141729A JP S62141729 A JPS62141729 A JP S62141729A JP 60281991 A JP60281991 A JP 60281991A JP 28199185 A JP28199185 A JP 28199185A JP S62141729 A JPS62141729 A JP S62141729A
Authority
JP
Japan
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detection
wire bonding
semiconductor devices
good
semiconductor device
Prior art date
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Pending
Application number
JP60281991A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Hayakawa
和宏 早川
Takashi Endo
孝志 遠藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinkawa Ltd
Original Assignee
Shinkawa Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Shinkawa Ltd filed Critical Shinkawa Ltd
Priority to JP60281991A priority Critical patent/JPS62141729A/ja
Publication of JPS62141729A publication Critical patent/JPS62141729A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
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    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は半導体デバイスの良、不良を検出して良品の半
導体デバイスのみをワイヤボンディングするワイヤボン
ディング方法に関する。
[従来の技術] リードフレームに固着された半導体デバイスは検出セン
サーにより良、不良が検出され、良品の半導体デバイス
のペレット電極とリードフレームのリード電極とにワイ
ヤボンディング装置によってワイヤが接続される。
従来、前記半導体デバイスの良、不良検出は、ボンディ
ングステーション又はボンディングステーション手前で
半導体デバイスを停止させて行っている。
[発明が解決しようとする問題点] ボンディングステーションで検出を行うと、この検出の
ための時間を必要とし、検出後にワイヤボンディング動
作に移ることになるので、生産性に劣る。
この点、ワイヤボンディング中にボンディングステーシ
ョンの手前の検出ステーションで検出を行わせると、ワ
イヤボンディング時間の外に特別に検出時間を必要とし
ないので、生産性の点では優れている。しかし、この方
法は、ワイヤボンディング制御と別に検出制御回路が必
要となり、高価格及び機構が複雑となる。
本発明の目的は、検出のための時間を特別に必要としな
く、また制御回路が単純化されるワイヤボンディング方
法を提供することにある。
[問題点を解決するための手段1 上記従来技術の問題点は、半導体デバイスをボンディン
グステーションに搬送中に検出センサーで前記半導体デ
バイスの良、不良を検出することにより解消される。
[作用] 半導体デバイスをボンディングステーションに搬送中に
検出センサーで前記半導体デバイスの良、不良を検出す
るので、特別に検出時間を設ける必要がなく、生産性が
向上すると共に、1つの制御部で検出及びワイヤボンデ
ィングの制御が可能となり、装置が低価格で単純制御が
できる。
[実施例] 以下、本発明の一実施例を第1図及び第2図により説明
する。半導体デバイス1が複数個固着されたリードフレ
ーム2は、相対向して配置されたガイドレール3にガイ
ドされ、図示しない周知の搬送手段で矢印A方向に搬送
される。前記ガイドレール3間にはヒートブロック4が
配設されている。
前記ヒートブロック4の上方には、ワイヤボンディング
装置lOのキャピラリ11が配設されており、このキャ
ピラリllにはワイヤ12が挿通されている。前記キャ
ピラリ11はポンディングヘッド13に上下動可能に設
けられたポンディングアーム14の先端に固定されてい
る。かかる構成よりなるワイヤボンディング装置lOは
、周知の構造よりなるので、その詳細な説明は省略する
。前記キャピラリ11の上下動及びポンディングヘッド
13を載置したxYテーブル15のXY方向駆動等は、
コンピュータを含む制御部16によって制御される。
前記キャピラリ11でワイヤボンディングを行うボンデ
ィングステーションの手前には、半導体デバイスlの良
、不良を検出する光検出器、工業用テレビカメラ等の検
出センサー20が配設されている。検出センサー20は
アンプ21を介して検出判定回路22に接続されている
。また検出判定回路22には検出タイミングパルス23
が入力されており、検出判定回路22の検出結果の信号
22aは制御部16に入力される。更にリードフレーム
2の送り信号24も制御部16に入力されている。
次に作用について説明する。リードフレーム2は図示し
ない周知の搬送手段で第1番目の半導体デバイスlがボ
ンディングステーションに位置するように矢印A方向に
送られる。この時、半導体デバイスlは検出センサー2
0の下方を通過し、この通過時に検出センサー20によ
って半導体デバイスlが検出される。この検出センサー
20の検出信号は、検出判定回路22により検出タイミ
ングパルス23と同期を取って半導体デバイ、スlの良
、不良が検出される。前記検出判定回路22による検出
結果の信号22aは制御部16に入力され、この制御部
16により不良の半導体デバイス1は飛ばして良品の半
導体デバイス1のみにワイヤボンディング装置10によ
りワイヤボンディングが行われる。
このように、リードフレーム2、即ち半導体デバイスl
の搬送中に半導体デバイスlの良、不良の検出を行うの
で、特別に検出時間を設ける必要がなく、生産性が向上
する。またワイヤボンディング動作は、必ずリードフレ
ーム2の搬送とワイヤボンディングとが交互に行われ、
リードフレーム2の搬送中にはワイヤボンディングがで
きないので、リードフレーム2の搬送中に検出センサー
20によって半導体デバイス1の良、不良を検出するこ
とにより、1つの制御部16で検出及びワイヤボンディ
ングの制御が可能となり、装置が低価格で単純制御がで
きる。
[発明の効果] 以上の説明から明らかなように1本発明によれば、半導
体デバイスをボンディングステーションに搬送中に検出
センサーで半導体デバイスの良、不良を検出するので、
生産性の向上、制御部の低価格化及び単純制御が図れる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略説明正面図、第2
図は第1図のワイヤボンディング装置部の概略説明側面
図である。 l:半導体デバイス、 2:リードフレーム。 lO:ワイヤボンディング装置、 16:制御部、 20:検出センサー。 第1内 第2図 1^

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ボンディングステーションの手前に半導体デバイスの良
    、不良を検出する検出センサーを配置し、この検出セン
    サーで検出された良品の半導体デバイスのみをワイヤボ
    ンディングするワイヤボンディング方法において、前記
    半導体デバイスを前記ボンディングステーションに搬送
    中に前記検出センサーで前記半導体デバイスの良、不良
    を検出することを特徴とするワイヤボンディング方法。
JP60281991A 1985-12-17 1985-12-17 ワイヤボンデイング方法 Pending JPS62141729A (ja)

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JP60281991A JPS62141729A (ja) 1985-12-17 1985-12-17 ワイヤボンデイング方法

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JP60281991A JPS62141729A (ja) 1985-12-17 1985-12-17 ワイヤボンデイング方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62141729A true JPS62141729A (ja) 1987-06-25

Family

ID=17646706

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JP60281991A Pending JPS62141729A (ja) 1985-12-17 1985-12-17 ワイヤボンデイング方法

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5314467A (en) * 1976-07-27 1978-02-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Filter frame for membrane type pressure filter compresser

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5314467A (en) * 1976-07-27 1978-02-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Filter frame for membrane type pressure filter compresser

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