JPH0864630A - ワイヤボンディング方法 - Google Patents

ワイヤボンディング方法

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JPH0864630A
JPH0864630A JP6219562A JP21956294A JPH0864630A JP H0864630 A JPH0864630 A JP H0864630A JP 6219562 A JP6219562 A JP 6219562A JP 21956294 A JP21956294 A JP 21956294A JP H0864630 A JPH0864630 A JP H0864630A
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JP
Japan
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lead
bonding
wire
wire bonding
amount
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Withdrawn
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JP6219562A
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English (en)
Inventor
Takeyuki Shinkawa
雄之 新川
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Toshiba Mechatronics Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Seiki Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toshiba Seiki Co Ltd filed Critical Toshiba Seiki Co Ltd
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Publication of JPH0864630A publication Critical patent/JPH0864630A/ja
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
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  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ボンディング点の位置検出時間に影響される
ことなく、迅速なワイヤボンディング処理を実施できる
ようにすること。 【構成】 リードフレーム3にマウンドされた半導体ペ
レット2の電極13及び上記リードフレーム3のリード
14をカメラ12を用いて検出し、これらの電極13及
びリード14上に設定されたボンディング点の基準位置
からの位置ずれ量を求め、求めたずれ量を用いて算出し
た実際のボンディング点位置にワイヤボンディングを施
すワイヤボンディング方法において、−の電極13aと
リード14a間とのワイヤボンディング中に、それ以後
にワイヤボンディングされる他のリード14bをカメラ
12を用いて検出して、そのリード14b上に設定され
たボンディング点の基準位置からの位置ずれ量を求める
ものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ペレットの電極
とリードフレームのリードとをワイヤボンディングする
ワイヤボンディング方法に係り、特に、ワイヤボンディ
ング動作に先立つボンディング点の位置検出を良好に実
施できるワイヤボンディング方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のワイヤボンディング動作は、以下
のように実施される。 まず、半導体ペレットの対角位置にある2つのコーナ
部をカメラで撮像し、画像処理装置を用いて、このコー
ナ画像と画像処理装置に予め記憶されている基準画像と
をパターンマッチング法にて比較し、半導体ペレットの
基準位置に対する位置ずれ量を求める。この半導体ペレ
ットの位置ずれ量に基づいて、半導体ペレット上個々の
電極上にそれぞれ設定されたボンディング点の位置ずれ
量を演算する。
【0003】次に、リードフレームに設けられた2つ
の位置合わせマークを順次カメラで撮像し、と同様に
画像処理装置を用いてリードフレームの基準位置に対す
る位置ずれ量を求める。このリードフレームの位置ずれ
量に基づいて、予め設定されている各リード上のボンデ
ィング点の基準位置座標を補正し、この補正位置に順次
カメラを移動させる。そして、各リードを順次カメラで
撮像し、画像処理装置を用いて各リード画像を特徴抽出
法にて処理し、上記で求めたリード上のボンディング点
の補正位置からの実際のボンディング点の位置ずれ量を
算出し、この位置ずれ量から各リード上に設定されたボ
ンディング点の基準位置に対する位置ずれ量を算出す
る。
【0004】上述のようにして、全ての電極上のボン
ディング点についての位置ずれ量と、全てのリード上の
ボンディング点についての位置ずれ量とを求めた後、こ
れらの位置ずれ量に基づいて、ボンディング装置に予め
設定されているボンディング座標、即ち両ボンディング
点の位置を補正した位置にボンディング装置のキャピラ
リを移動制御してワイヤボンディングする。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
ワイヤボンディング方法では、ボンディング動作に先
立って、電極及びリードにおけるボンディング点の位置
ずれ量検出動作を実施している。このため、この位
置ずれ量検出動作中はボンディング動作を実施できず、
この位置ずれ量検出動作が待ち時間となって、ボンディ
ング処理時間を短縮することができない。
【0006】しかもリード側のボンディング点の位置ず
れ量検出動作は、リード個々に対して行なっているの
で、この待ち時間はリードの数が増加する程長くなるの
で、半導体ペレット1個あたりのワイヤ配線数が多い、
いわゆる多ピン化傾向の製品(IC等)の場合には、上
記待ち時間が増大してしまう。
【0007】本発明は、上述の事情を考慮してなされた
ものであり、ボンディング点の位置検出時間に影響され
ることなく迅速なワイヤボンディング処理を実施できる
ワイヤボンディング方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、リードフレー
ムにマウントされた半導体ぺレットの電極及び上記リー
ドフレームのリードをカメラを用いて検出し、これらの
電極及びリード上に設定されたボンディング点の基準位
置からの位置ずれ量を求め、求めたずれ量を用いて算出
した実際のボンディング点位置にワイヤボンディングを
施すワイヤボンディング方法において、一の電極とリー
ド間とのワイヤボンディング中に、それ以後にワイヤボ
ンディングされる他のリードを上記カメラを用いて検出
して、そのリード上に設定されたボンディング点の基準
位置からの位置ずれ量を求めるものである。
【0009】
【作用】従って、本発明に係るワイヤボンディング方法
によれば、−の電極とリード間とのワイヤボンディング
を施しながら、それ以後にワイヤボンディングされる他
のリードをカメラを用いて検出して、そのリード上に設
定されたボンディング点の基準位置からの位置ずれ量を
求め、この動作の繰り返しによって、全ての電極とリー
ド間にワイヤボンディングを施す。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は、本発明に係るワイヤボンディング方法の
一実施例が実施されるワイヤボンディング装置を示す構
成図である。図2は、図1のカメラにて撮像された半導
体ペレットの電極周りを示す画像図である。図3は、図
1のカメラにて撮像されたリードフレームのリード周り
を示す画像図である。
【0011】ワイヤボンディング装置1は、前工程にて
半導体ペレット2がマウントされたリードフレーム3の
搬送を案内する一対の搬送レール4を有し、この搬送レ
ール4の側方に、搬送レール4の搬送方向及びこれと直
交する方向に移動可能なXYテーブル5が配置され、こ
のXYテーブル5上にボンディングヘッド6が載置され
て構成される。ボンディングヘッド6には、ボンディン
グアーム9とトーチ電極10とが支持され、ボンディン
グアーム9の先端に装着されたキャピラリ8には、ワイ
ヤ7が挿通される。ボンディングアーム9は、図示しな
いアーム駆動機構により上下動させられる。また、トー
チ電極10は、その先端がキャピラリ8の直下に移動可
能とされて、キャピラリ8から突出したワイヤ7とトー
チ電極10との間に放電を生じさせ、ワイヤ7の先端に
ボール11を形成する。
【0012】ボンディングヘッド6にはカメラ12が固
定支持される。このカメラ12は、キャピラリ8の上方
に位置されて、半導体ペレット2やリードフレーム3上
を撮像可能とする。このカメラ12の視野A中心は、キ
ャピラリ8の直下に設定(カメラオフセット0という)
され、カメラ12の視野Aは、図2及び図3に示すよう
に、半導体ペレット2の複数の電極13やリードフレー
ム3の複数のリード14を一度に撮像(取込み)可能な
大きさに設定される。
【0013】カメラ12により撮像された画像は、画像
処理装置15のA/D(アナログ・デジタル)変換器1
6へ出力される。この画像処理装置15は、上記A/D
変換器16の他、画像メモリ17、基準画像メモリ18
及び演算部19を有して構成される。
【0014】A/D変換器16が、カメラ12にて取込
まれた画像をデジタル信号に変換し、画像メモリ17が
このデジタル信号化された画像データを記憶する。演算
部19は、後述のように基準画像メモリ18に予め記憶
された基準画像データ(半導体ペレット2、リードフレ
ーム3、電極13及びリード14の各基準画像データ)
と、画像メモリ17の画像データとを比較して、半導体
ペレット2及びリードフレーム3の基準位置に対する位
置ずれ量、ならびに電極13及びリード14上に設定さ
れたボンディング点の基準位置に対する位置ずれ量を算
出する。
【0015】制御装置20は、不図示のフレーム送り装
置、XYテーブル5、ボンディングアーム9及び画像処
理装置15を制御する。つまり、制御装置20は、フレ
ーム送り装置を制御して、リードフレーム3の所定の半
導体ペレット2をワイヤボンディング装置1のボンディ
ング位置に位置決めする。また、制御装置20は、XY
テーブル5及びボンディングアーム9を制御して、キャ
ピラリ8を半導体ペレット2における電極13のボンデ
ィング点とリードフレーム3におけるリード14のボン
ディング点との間で移動させて、両ボンディング点間に
ワイヤボンディングを実施させる。更に、制御装置20
は、画像処理装置15を制御して、上記キャピラリ8に
おけるワイヤボンディング開始前に全ての電極13の基
準位置に対する位置ずれ量を算出させるとともに、キャ
ピラリ8が一のリード14(例えばリード14a)をワ
イヤボンディングしてから、この一のリード14の隣り
のリード14(例えば14b)へワイヤボンディングを
開始するまでの間に、この隣りのリード14におけるボ
ンディング点の基準位置からの位置ずれ量を算出させ
る。
【0016】次に、作用を説明する。フレーム送り装置
にて搬送レール4上を搬送されるリードフレーム3は、
リードフレーム3上の所定(例えば最初)の半導体ペレ
ット2が、ワイヤボンディング装置1のボンディングヘ
ッド6におけるボンディング位置となるように位置決め
される。
【0017】リードフレーム3が位置決めされると、X
Yテーブル5の駆動によってカメラ12が半導体ペレッ
ト2の2つのコーナ部上に順次移動し、半導体ペレット
2の2つのコーナ部を撮像する。撮像されたコーナ画像
は、A/D変換器16にてデジタル信号に変換され、画
像メモリ17に記憶される。そして画像処理装置15の
演算部19は、画像メモリ17に記憶されたコーナ画像
と基準画像メモリ18に予め記憶された基準画像データ
とを比較し、半導体ペレット2の基準位置に対する位置
ずれ量を求める。そして、この位置ずれ量から、全ての
電極13上に設定されたボンディング点の基準位置に対
する位置ずれ量を算出する。尚、上記位置ずれ量検出動
作は、従来例におけるパターンマッチング法による位置
ずれ量検出動作と同様に行なわれる。
【0018】次にカメラ12は、リードフレーム3に設
けられた2つの位置合わせマーク上に順次移動し、位置
合わせマークを撮像する。そして、画像処理装置15の
演算部19は、上記と同様にパターンマッチング法にて
リードフレーム3の基準位置に対する位置ずれ量を求め
る。このリードフレーム3の位置ずれ量に基づいて、最
初にボンディングされるリード14aのボンディング点
の基準位置座標が補正され、補正されたボンディング点
上にカメラ12が移動し、リード14aを撮像する。撮
像されたリード画像は、A/D変換器16を介して画像
メモリ17に記憶される。画像処理装置15の演算部1
9は、画像メモリ17に記憶されたリード画像から、リ
ード14aの実際のボンディング位置の上記補正された
ボンディング点位置からの位置ずれ量を求め、この位置
ずれ量に基づいてリード14a上の実際のボンディング
点位置の基準位置に対する位置ずれ量を算出する。
【0019】この後、上記で求めた位置ずれ量に基づい
て、実際のボンディング位置座標を演算によって求め、
求めた位置にキャピラリ8を移動させることによってワ
イヤボンディング動作が行なわれる。即ち、放電にて先
端にボール11が形成されたワイヤ7を挿通したキャピ
ラリ8は、補正された電極13aのボンディング点座標
位置に下降し、ワイヤ7のボール11を電極13a上に
ボンディングする。この後、キャピラリ8は、所定の奇
跡を描いて補正されたリード14aのボンディング点座
標位置に移動し、このリード14a上にワイヤ7の他端
をボンディングする。そして、キャピラリ8を所定量上
昇させた後、ワイヤ7を切断する。
【0020】このリード14aのボンディング時、次回
ワイヤボンディングが実施される隣のリード14bのボ
ンディング点の位置ずれ量の検出動作が次のように行な
われる。
【0021】リード14aにワイヤボンディングが実施
されているとき、カメラ12の視野A内には、リード1
4aを含めた複数のリード14b及び14cが同時に撮
像されている(図3参照)。そこで画像処理装置15
は、カメラ12の視野A内から次回ワイヤボンディング
が実施されるリード14bに画像を取り込み、キャピラ
リ8がこのリード14bに対してワイヤボンディングを
開始するまでの間に、前述したリード14aのボンディ
ング点の位置ずれ量検出動作と同様に特徴抽出法を用い
て、リード14bにおけるボンディング点の基準位置か
らの位置ずれ量を算出する。
【0022】この後、電極13bへのワイヤボンディン
グ終了後、このキャピラリ8は、上記位置ずれ量に基づ
いて補正されたリード14bのボンディング点座標位置
に移動し、ワイヤボンディングを実施する。このとき、
リード14bの隣のリード14cがカメラ12の視野A
内に同時に撮像されているので、上記と同様にして、リ
ード14cのボンディング点の基準位置からの位置ずれ
量を算出する。
【0023】上述のようにして、キャピラリ8によるワ
イヤボンディング動作を行ないながら、現在ワイヤボン
ディングが実施されているリード14の次にワイヤボン
ディングされる隣のリード14のボンディング点の位置
ずれ量の検出動作を行なう。
【0024】上記実施例によれば、リードフレーム3の
一つのリード14aへのボンディング中から隣りのリー
ド14bへワイヤボンディングを開始するまでに、この
隣りのリード14bのボンディング点の基準位置に対す
る位置ずれ量を求め、キャピラリ8の移動位置を補正す
るため、リードフレーム3中の全てのリード14上にお
けるボンディング点の位置ずれ量を検出した後にワイヤ
ボンディングを実施する従来例の場合に比べ、リード1
4上のボンディング点の位置ずれ量検出のための待ち時
間を省略できる。この結果、ワイヤボンディングの処理
時間を短縮でき、リード14上のボンディング点の位置
検出時間に影響されることなく、迅速なワイヤボンディ
ング処理を実施できる。
【0025】尚、上記実施例では、キャピラリ8による
ワイヤボンディング中に、直前にワイヤボンディングが
実施されているリード14aの次にボンディングされる
隣のリード14bのワイヤボンディング点の位置ずれ量
を検出したが、ワイヤボンディングが実施されているリ
ード14aに対し、1つあるいは2つ先のリード14c
等に設置されたワイヤボンディング点の位置ずれ量を検
出するようにしても良い。
【0026】また、2以上のリード14、例えば、複数
のリード14aと14bの位置ずれ量を1回の撮像画像
から求めるようにしても良い。
【0027】また、カメラ12の視野A内には隣接する
リード14b、cしか同時に撮像することができない例
で説明したが、カメラ12の視野A内に電極13とこの
電極13に隣接するリード14とを一度に撮像できる場
合には、例えば、電極13aのワイヤボンディング中に
リード14aの位置ずれ量を検出するようにしても良
い。
【0028】また、カメラ12は、ボンディングヘッド
6上に1台設けた例で説明したが、複数台のカメラを設
けたり、ボンディングヘッド6外にカメラを設置するよ
うにしても良い。
【0029】
【発明の効果】以上のように、本発明に係るワイヤボン
ディング方法によれば、ボンディング点の位置検出時間
に影響されることなく、迅速なワイヤボンディング処理
を実施できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明に係るワイヤボンディング方法
の一実施例が実施されるワイヤボンディング装置を示す
構成図である。
【図2】図2は、図1のカメラにて撮像された半導体ペ
レットの電極周りを示す画像図である。
【図3】図3は、図1のカメラにて撮像されたリードフ
レームのリード周りを示す画像図である。
【符号の説明】
1 ワイヤボンディング装置 2 半導体ペレット 3 リードフレーム 8 キャピラリ 12 カメラ 13 電極 14 リード 15 画像処理装置 18 演算部 19 制御装置 A カメラの視野

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リードフレームにマウントされた半導体
    ぺレットの電極及び上記リードフレームのリードをカメ
    ラを用いて検出し、 これらの電極及びリード上に設定されたボンディング点
    の基準位置からの位置ずれ量を求め、 求めたずれ量を用いて算出した実際のボンディング点位
    置にワイヤボンディングを施すワイヤボンディング方法
    において、 一の電極とリード間とのワイヤボンディング中に、それ
    以後にワイヤボンディングされる他のリードを上記カメ
    ラを用いて検出して、そのリード上に設定されたボンデ
    ィング点の基準位置からの位置ずれ量を求めることを特
    徴とするワイヤボンディング方法。
JP6219562A 1994-08-23 1994-08-23 ワイヤボンディング方法 Withdrawn JPH0864630A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6219562A JPH0864630A (ja) 1994-08-23 1994-08-23 ワイヤボンディング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6219562A JPH0864630A (ja) 1994-08-23 1994-08-23 ワイヤボンディング方法

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JPH0864630A true JPH0864630A (ja) 1996-03-08

Family

ID=16737459

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JP6219562A Withdrawn JPH0864630A (ja) 1994-08-23 1994-08-23 ワイヤボンディング方法

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Date Code Title Description
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20011106