JPS6165500A - 集積回路のテ−プキヤリヤ構造 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、Ｉｃｅマウントし、自動機によるプリント基
板への実装、または検査などの工程に使用されるテープ
キャリヤの構造に関するものである。

従来の技術 従来、この種のＩＣのテープキャリヤの構造は、第２図
に示すように、１組のスプロケットホールＳを両側にも
うけ、これを案内としてＩＣ２がマウントされる構造に
なっていた。

したがって、スプロケットホールが破れたシ傷ついてい
ると、自動機の送夛のピッチずれが起こシ、切断再接続
が必要となる欠点があった。さらにＩＣの高密度化によ
ｆｉ、ＩＣのパターンの端子の寸法精度が著しく正確に
要求されるため、不用意に自動検査を行うことによって
、僅かな損傷がおこってもプリント基板への自動装着時
に微細な位置ずれが起シ易いという欠点があった。

発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、上記の欠点、すなわちスプロケットホ
ールの破損や損傷の問題点を解決するＩＣのテープキャ
リヤ構造を提供することにある。

問題点を解決するための手段 本発明は上述の問題点を解決するために、ＩＣＱ長尺の
テープキャリヤの構造において、ＩＣの両側にもうけら
れたスプロケットホール列ｉ　Ｉ　Ｃのある同一基準軸
上でそれぞれ同一の複数列にした構成を採用するもので
ある。

作用 本発明は上記のように構成したので、テープキャリヤの
複数のスプロケットホール列のうち成る列のスプロケッ
トホールに損傷が発生した場合においても、他の任意の
完全な列のスプロケットホールを使用することによって
、自動送シが可能となる作用がある。

実施例 次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。

本発明の一実施例を示す第１図を参照すると、本発明の
テープキャリヤ１は、　　ＩＣ２’を中央にマウントし
、その両側におのおの複数のｎ個のスプロケットホール
列Ｓ１　＋　”’２　＋　ＳＩ　Ｈ・・５ｏを有してい
る。

次に本実施例の動作について説明する。一般に自動化さ
れた工程、すなわちＩＣ２のテストおよび基板への実装
などは、通常スプロケットホールＳの認識によって行わ
れる。したがってスプロケットホールＳが破損すると、
その位置以降の工程のピッチがずれ、ＩＣのテストおよ
び実装ができなくなる。

しかし本実施例ではＩＣ２のある基準軸３上の両側に更
に複数のスズロケットホール列”’１＋Ｓ、。

Ｓ３．・・・Ｓ、を設けているので、何等かの原因でス
プロケットホールＳｌの列に損傷が生じた場合にも、他
の正常なスプロケットホールＳ１　＋　８３　＋・・・
８ｎ　を使用して自動化工程をすすめることができる０ なお、この場合自動機のスプロケットホールを認識する
機械的または光学的センサの位置は、使用されるスプロ
ケットホールに合わせて調整されるようＫする。

発明の効果 以上に説明したように、本発明によれば、複数個ノスズ
ロケットホール列を有するため、その１つの列が破損し
ても他の列のものを使用するととによって、自動化工程
が進められるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すＩＣのテープキャリヤ
の構造図、第２図は従来の一例の構造図である。 １・・・テープキャリヤ、２・・・集積回路（ＩＣ）、
３・・・基準軸、Ｓｌ　・・・第１番目のスプロケット
ホール、Ｓ２・・・第２番目のスプロケットホール、Ｓ
３・・第３番目のスプロケットホール、Ｓｎ・・・第ｎ
番目のスプロケットホール。 印：、−・ 冶゛／　図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 中央に集積回路（以下ＩＣという）をマウントしその両
   側にスプロケットホールを配置した長尺のテープキャリ
   ヤにおいて、前記ＩＣの両側に配置されるスプロケット
   ホール列をＩＣのある同一基準軸上でそれぞれ同一の複
   数列にしたことを特徴とするＩＣのテープキャリヤ構造
   。