JPS6130684B2 - - Google Patents
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- JPS6130684B2 JPS6130684B2 JP54041332A JP4133279A JPS6130684B2 JP S6130684 B2 JPS6130684 B2 JP S6130684B2 JP 54041332 A JP54041332 A JP 54041332A JP 4133279 A JP4133279 A JP 4133279A JP S6130684 B2 JPS6130684 B2 JP S6130684B2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 9
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 8
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims 1
- 239000002775 capsule Substances 0.000 description 54
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 38
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 4
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 206010058109 Hangnail Diseases 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/04—Sorting according to size
- B07C5/10—Sorting according to size measured by light-responsive means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V20/00—Scenes; Scene-specific elements
- G06V20/60—Type of objects
- G06V20/66—Trinkets, e.g. shirt buttons or jewellery items
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07C—TIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- G07C3/00—Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles
- G07C3/14—Quality control systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9508—Capsules; Tablets
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
本発明は、直線部を有している物体の直線部の
形状を検査する形状検査方式に関するものであ
る。 直線部を有する物体には、第１図Ａに示すカプ
セル剤が同図Ｂに示す半導体基板等がある。 例えばカプセル剤に於いては、その製造工程中
に第２図Ａ，Ｂに示すように不良カプセル剤が含
まれることがある。同図Ａはカプセル剤のボデー
とキヤツプの継目が一部欠けているか、またはボ
デーの一部がキヤツプに逆に喰い込んでいるもの
であり、同図Ｂは継目の部分がめくれている一般
に“ささくれ”と言われてるものである。このよ
うな不良カプセル剤の検査は通常目視検査によつ
て行なわれているが、検査作業は神経の緊張を強
制する単調なものであるので、長時間続けること
は困難であり、また検査ラインの高速化に伴つ
て、正確な検査が行なえななくなつて来ている。
そこで自動的に形状検査を行なう形状検査方式が
種々提案されている。 例えば、被検査物体の外形パターンと標準パタ
ーンとを重合わせることにより、被検査物体が正
常であるか否かを判断するパターンマツチングを
用いる方式が提案されているが、位置決めを正確
に行なわなければならないので検査速度が遅くな
る欠点があつた。又、被検査物体の位置決めを必
要としない方式として被検査物体の周囲長を計測
し、この計測値と標準値との差を求め、この差に
よつて正常であるか否かを判定する周囲長差方式
も提案されているが、欠けている部分が僅かしか
ない物体の形状不良の判断を行なうことは困難で
あつた。 又、カプセル剤の直線部の座標を求め、この座
標から最小二乗法を用いて直線を近似し、この近
似した直線と求めた座標とを比較することによ
り、正常であるか否かを判定する方式も提案され
ている。しかし、最小二乗法で直線を近似するに
は、複雑な計算を行なう必要があるので、検査速
度が遅くなると言う欠点があつた。 本発明は前述の如き欠点を改善したものであ
り、被検査物体の位置決めを行なう必要がなく、
且つ迅速に直線部を有する物体の直線部の形状を
自動的に検査することができる形状検査方式を提
供することを目的とするものである。以下実施例
について詳細に説明する。 第３図は本発明の実施例のブロツク線図であ
り、カプセル剤の継目の部分に欠陥がある不良品
を検出する場合についてのものである。同図に於
いて１，１′はカプセル剤、２はコンベア、３は
カプセル剤の通過を検出する位置センサ、４はラ
スタ走査を行ないカプセル剤のパターンを電気信
号に変換する例えばITVカメラ等の光電変換装
置、５は光電変換装置からの複合映像信号から水
平、垂直同期信号を分離する同期信号分離回路、
６は同期信号分離回路からの信号を背景領域、カ
プセル剤の部分、カプセル剤の継目の部分に対応
して２値化信号に変換する２値化回路、７は２値
化回路６からの２値化信号を基にして、カプセル
剤の継目の部分の座標、カプセル剤の先頭Ｙ座
標、及びカプセル剤の長さを求め、これらを記憶
する直線部座標記憶回路、８はアドレスバス、９
はデータバス、１０は直線部座標記憶回路に記憶
されたデータを処理してカプセル剤が不良品であ
るか否かを判断するマイクロコンピユータ、１１
はストロボ１２、排出部１３等の制御を行なう制
御回路である。尚、コンベア２にはカプセル剤と
同じ程度の大きさのポケツトが設けられており、
カプセル剤が傾いて搬送されないようになつてい
る。 コンベア２によつて搬送されているカプセル剤
１，１′をITVカメラ等の光電変換装置４でラス
タ走査して得られた複合映像信号は同期信号分離
回路５に加えられ、複合映像信号に含まれている
水平同期信号HDと垂直同期信号VDとが複合映像
信号から分離され、映像信号のみが２値化回路６
に加えられる。２値化回路６は、同期信号分離回
路５から加えられた映像信号を２値化信号に変換
して直線部座標記憶回路７に加える。又、同期信
号分離回路５で分離した水平同期信号HDは直線
部座標記憶回路７に加えられており、垂直同期信
号VDは制御回路１１に加えられている。 位置センサ３はカプセル剤１，１′が所定の位
置を通過したことを検出すると、第４図Ａに示す
検出信号を出力して制御回路１１に加える。前述
したように、制御回路１１には同期信号分離回路
５から第４図Ｂに示す垂直同期信号VDが加えら
れており、制御回路１１は第４図Ａに示す検出信
号を受けると同図Ｂに示す垂直同期信号HDに同
期して同図Ｃに示すストロボ点弧信号STを出力
し、これをストロボ１２に加えて発光させる。制
御回路１１はストロボ点弧信号STを発生させる
タイミングと同じタイミングでホールド信号をマ
イクロコンピユータ１０に加えてマイクロコンピ
ユータ１０を第４図Ｅに示す期間T1に於いてホ
ールド状態にすると共に、直線部座標記憶回路７
に制御信号を加えて直線部座標記憶回路７内に設
けられている２つのメモリ（図示せず）にDMA
モードでカプセル剤の継目の部分の座標、カプセ
ル剤のＹ方向長さ、カプセル剤の先頭Ｙ座標を記
憶させる。即ち、直線部座標記憶回路７は、第４
図Ｄに示す垂直同期期間T1に、２値化回路６か
ら加えられた２値化信号を基にして前述したデー
タを求めてDMAモードで直接メモリに記憶する
ものである。 DMAモードで必要なデータを直線部座標記憶
回路７内のメモリ（図示せず）に記憶した後、即
ち第４図Ｅに示す期間T2となつたなら、制御回
路１１からマイクロコンピユータ１０に割込信号
を与える。マイクロコンピユータ１０は、割込信
号により、直線性判断プログラムの実行を開始
し、直線部座標記憶回路７に記憶されたデータを
用いてカプセル剤が不良品であるか否かを判断
し、この判断結果を制御回路１１に送る。制御回
路１１は、この判断結果に基づいて、排出部１３
の制御を行ない不良カプセル剤を除去する。 次に直線部座標記憶回路７に記憶されるデータ
について具体的に説明する。第４図Ｄに示す垂直
走査期間T1に２値化回路６から直線部座標記憶
回路７に加えられた２値化信号の２値化パターン
が例えば第５図に示すように、光電変換装置４の
視野内に上下２個のカプセル剤１，１′があつた
場合のものとする。一画面240本の水平走査線に
よつて構成されており、この水平走査線を基にし
てＹ座標を定めている。又、水平走査線を320等
分し、これを基にしてＸ座標を定めている。 第５図に示した２値化パターンの水平方向に連
続してつらなつた絵素の列は、一般にセグメント
と言われているものであり、直線部座標記憶回路
７は、一方のメモリ（図示せず）に水平方向の第
１セグメントの立下りのＸ座標を、或は水平走査
期間にセグメントがない場合は“０”を、Ｙ座標
をアドレスとして第６図Ａに示すメモリマツプの
ように記憶させる。即ち、カプセル剤１に於いて
はＸU1〜ＸUNを、カプセル剤１′に於いてはＸD1
〜ＸDMを、カプセル剤１，１′が無い場合は
“０”を、それぞれのＹ座標をアドレスとして記
憶させる。又、他方のメモリ（図示せず）には、
カプセル剤１，１′の先頭Ｙ座標YB1，YB2、及び
カプセル剤１，１′の長さYL1，YL2を第６図Ｂに
示すメモリマツプのように記憶させる。 第７図は直線部座標記憶回路７の構成を示した
ブロツク線図であり、１４はセツトリセツトフリ
ツプフロツプ、１５はＤフリツプフロツプ、１６
は立上り検出回路、１７は立下り検出回路、１８
はアンドゲート、１９はオアゲート、２０はＹ方
向長さカウンタ、２１はカプセル数カウンタ、２
２はフリツプフロツプ、２３は1/2分周回路、２
４は入出力装置、２５〜２７はゲート回路等によ
り構成された切換回路、２８はメモリ、２９はＹ
座標カウンタ、３０は切換回路、３１は第１セグ
メントの立下り検出回路、３２はオアゲート、３
３は水平分割信号発生回路、３４はＸ座標カウン
タ、３５は切換回路、３６はメモリであり、第３
図と同一符号は同一部分を表わす。 ２値化回路６には、第８図Ａに示す各垂直走査
期間T1〜ＴN毎に、１画面を走査した映像信号が
加えられており、２値化回路６はこの映像信号を
２値化信号に変換して点線で囲んだ直線座標記憶
回路７に加える。前述したように、直線部座標記
憶回路７は、第８図Ｂに示すストロボ点弧信号
STが発生した直後の垂直走査期間T2に２値化回
路６から加えられた信号を基にして必要なデータ
を求め、これをDMAモードでメモリ２８，３６
に記憶させるものである。即ち、第８図Ｃに示し
た映像信号のうち、垂直走査期間T2に於ける映
像信号を２値化した信号を基にして必要なデータ
を求め、これをDMAモードで記憶させるもので
あるから、垂直走査期間T2に於ける影像信号の
一部を第８図Ｄに示すように拡大して、直線部座
標記憶回路７の垂直走査期間T2に於ける動作を
説明する。尚、垂直走査期間T2に於いては、切
換回路２６，２７，３０，３５は実線で示すよう
に接続されている。 ２値化回路６は、第８図Ｄに示す映像信号を同
図Ｅに示す２値化信号ａに変換してセツトリセツ
ト・フリツプフロツプ１４、及び第１セグメント
の立下り検出回路３１に加える。セツトリセツ
ト・フリツプフロツプ１４は２値化信号ａの立上
りでセツトされ、第８図Ｆに示す水平同期信号
HDの立下りでリセツトされ、同図Ｇに示す信号
ｂを出力してＤフリツプフロツプ１５のデータ端
子に加え、そのクロツク端子に水平同期信号HD
を加え、それによつて第８図Ｈに示す信号ｃを出
力し、立上り検出回路１６、立下り検出回路１
７、アンドゲート１８に加える。 立上り検出回路１６は、Ｄフリツプフロツプ１
５からの出力信号の立上りを検出して第８図Ｉに
示す信号ｄを出力し、オアゲート１９の一方の入
力端子に加え、立下り検出回路１７は、信号ｃの
立下りを検出して第８図Ｊに示す信号ｅを出力
し、オアゲート１９の他方の入力端子、及びＹ方
向長さカウンタ２０のリセツト信号として加え
る。オアゲート１９は信号ｄと信号ｅとの論理和
を取り第８図Ｋに示す信号ｆを出力してカプセル
数カウンタ２１、フリツプフロツプ２２、及びメ
モリ２８にライト信号として加える。カプセル数
カウンタ２１は信号ｆのパルスの数をカウント
し、このカウント値を1/2分周回路２３及び切換
回路２７を介してメモリ２８にアドレスとして加
えるものであり、ストロボ点弧信号STによつて
リセツトされる。1/2分周回路２３は実際のカプ
セル数をカウントするためにカウンタ出力を分周
する。フリツプフロツプ２２は、信号ｆが加えら
れると第８図Ｌに示す信号ｇを出力して切換回路
２５に加える。切換回路２５は信号ｇが“１”の
時実線で示した側に接続され、“０”の時点線で
示した側に接続され、Ｙ方向長さカウンタ２０、
Ｙ座標カウンタ２９の出力信号を交互にメモリ２
８に加えるものである。 Ｙ方向長さカウンタ２０は、信号ｃと水平同期
信号HDとが加えられているアンドゲート１８か
らの第８図Ｍに示す信号ｈをカウントするもの、
即ち何本の水平走査にわたつて２値化信号ａが
“１”となつているかカウントするものであり、
信号ｅによつてリセツトされる。又Ｙ座標カウン
タ２９は水平同期HDをカウントするものであ
り、ストロボ点弧信号STをリセツト信号として
いる。切換回路２５は、信号ｇが“１”である期
間は実線で示されているように接続され、Ｙ座標
カウンタ２９のカウント値を切換回路２６を介し
てメモリ２８に加える。メモリ２８には、前述し
たように、信号ｆがライト信号として、カプセル
数カウンタ２１からの出力信号がアドレスとして
それぞれ加えられているので、信号ｆが加えられ
た時のＹ座標カウンタ２９のカウント値がＹ座標
としてメモリ２８の指定されたアドレスに記憶さ
れる。即ち、カプセル剤１の先頭Ｙ座標が記憶さ
れたことになる。 次にフリツプフロツプ２２からの出力信号ｇが
“０”となると、切換回路２５は点線で示した側
に接続され、Ｙ方向長さカウンタ２０のカウント
値をメモリ２８に加える。この時カプセル数カウ
ンタ２１のカウント値は＋１されるので、Ｙ方向
長さカウンタ２０のカウント値は、Ｙ座標カウン
タ２９のカウント値を記憶したアドレスの次のア
ドレスに記憶される。即ち、何本の水平走査線に
わたつて２値化信号ａが“１”となつているかを
カウントするＹ方向長さカウンタ２０のカウント
値がカプセル剤１の長さとして記憶されたことに
なる。 又、第１セグメントの立下り検出回路３１は、
２値化回路６から加えられた２値化信号ａの第１
セグメントの立下りを検出して第８図Ｎに示す信
号ｉを出力し、オアゲート３２に加える。オアゲ
ート３２には水平同期信号HDも加えられてお
り、第８図Ｏに示す信号ｊを出力し、ライト信号
としてメモリ３６に加える。又、水平分割信号発
生回路３３は、第８図Ｐに示すように、１水平走
査期間に320個のパルスｋを発生してＸ座標カウ
ンタ３４に加えるものであり、Ｘ座標カウンタ３
４はこのパルスの数をカウントし、カウント値を
メモリ３６に切換回路３５を介して加える。メモ
リ３６は、信号ｊが加えられた時のＸ座標カウン
タ３４のカウント値をＸ座標として記憶するもの
であり、アドレスはＹ座標カウンタ２９のカウン
ト値によつて指定される。 以上述べたように、メモリ２８にはカプセル剤
の先頭Ｙ座標、及びカプセル剤のＹ方向長さが、
第６図Ｂに示したメモリマツプのように記憶さ
れ、メモリ３６には、カプセル剤の継目の部分の
座標が第６図Ａに示したメモリマツプのように記
憶される。 メモリ２８，３６に上記したデータが記憶され
たならば、前述したように、制御回路１１からマ
イクロコンピユータ１０に割込信号を加えて直線
性判断プログラムの実行を開始させると共に切換
回路２６，２７，３０，３５を点線に示した側に
接続し、マイクロコンピユータ１０からアドレス
を指定してメモリ２８，３６に記憶されたデータ
を読出す。 まず、マイクロコンピユータ１０は、メモリ２
８をアクセスする。メモリ２８には、第６図Ｂに
示すメモリマツプのように、カプセル剤１，１′
の先頭Ｙ座標YB1，YB2、及びカプセル剤１，
１′の長さYL1，YL2が記憶されており、メモリ３
６には第６図Ａのメモリマツプに示すように、カ
プセル剤１，１′の継目の部分のＸ座標をアドレ
スとして記憶されている。従つて、メモリ２８を
アクセスしてカプセル剤１，１′の先頭Ｙ座標
YB1，YB2、及びカプセル剤１，１′の長さを
YL1，YL2求めることにより、マイクロコンピユ
ータ１０は、メモリ３６の有効データが記憶され
ているアドレスを知ることができるので、直線性
判断を行なう為に必要なデータのみをメモリ３６
から読出すことができる。従つて処理速度を向上
させることができる。このようにして読出された
メモリ３６に記憶されていたデータは第９図のフ
ローチヤートに示すように、マイクロコンピユー
タ１０で処理され、不良品カプセル剤の検出を行
なう。以下第９図に示したフローチヤートについ
て説明する。 まず、メモリ３６に記憶されているカプセル剤
１の継目の部分のＸ座標を読出し、 ｜Ｘi−Ｘi+1｜≦１ ……(1) を満足するＹ方向長さYLを求める。｜Ｘi−Ｘi+1
｜＞１となつた時は、Ｘi+1以降について新たに
式(1)を満足するＹ方向長さYLを求める。従つて
Ｙ方向長さYLは第１０図Ａ，Ｂに示すように１
カプセルについて２つ以上ある場合もあるので、
その中の最大値YLnaxを求め、この最大値YLnax
と基準値LVL１とを比較する。YLnax＜LVL１の
時は不合格とする。YLnax≧LVL１の時は、第１
０図Ｃに示すようにYLnaxの範囲でｘnio、ｘnax
を求める。ｘnio、ｘnaxを求めたら、次にｘnaxと
ｘnioの差を求め、この差を基準値LVL２と比較
する。 ｘnax−ｘnio≦LVL２ならば直線部はＸ軸に対
してほぼ垂直であると判断し合格とする。 ｘnax−ｘnio＞LVL２の時は直線部が、第１０
図Ｄに示すように、Ｘ軸に対して傾いていると判
断して、直線部のｘ座標の増減の割の増減の割合
から合否を判断する。まず第１０図Ｅに示すよう
に、YLnaxの範囲でｘi＝ｘi+1となる。Ｙ方向長さ
YPk（ｋ＝１、２、……、ｎ）を求め、ｘi＜ｘi+
１の時は増加であるので正の極性を付け、ｘi＞ｘi
＋１の時は減少であるので負の極性を付ける。次に
同じ極性がつけられ、且つ連続したＹ方向長さ
YP1〜YPoを積算して、極性付Ｙ方向長さYL′を
求め、基準値LVL３と比較する。
形状を検査する形状検査方式に関するものであ
る。 直線部を有する物体には、第１図Ａに示すカプ
セル剤が同図Ｂに示す半導体基板等がある。 例えばカプセル剤に於いては、その製造工程中
に第２図Ａ，Ｂに示すように不良カプセル剤が含
まれることがある。同図Ａはカプセル剤のボデー
とキヤツプの継目が一部欠けているか、またはボ
デーの一部がキヤツプに逆に喰い込んでいるもの
であり、同図Ｂは継目の部分がめくれている一般
に“ささくれ”と言われてるものである。このよ
うな不良カプセル剤の検査は通常目視検査によつ
て行なわれているが、検査作業は神経の緊張を強
制する単調なものであるので、長時間続けること
は困難であり、また検査ラインの高速化に伴つ
て、正確な検査が行なえななくなつて来ている。
そこで自動的に形状検査を行なう形状検査方式が
種々提案されている。 例えば、被検査物体の外形パターンと標準パタ
ーンとを重合わせることにより、被検査物体が正
常であるか否かを判断するパターンマツチングを
用いる方式が提案されているが、位置決めを正確
に行なわなければならないので検査速度が遅くな
る欠点があつた。又、被検査物体の位置決めを必
要としない方式として被検査物体の周囲長を計測
し、この計測値と標準値との差を求め、この差に
よつて正常であるか否かを判定する周囲長差方式
も提案されているが、欠けている部分が僅かしか
ない物体の形状不良の判断を行なうことは困難で
あつた。 又、カプセル剤の直線部の座標を求め、この座
標から最小二乗法を用いて直線を近似し、この近
似した直線と求めた座標とを比較することによ
り、正常であるか否かを判定する方式も提案され
ている。しかし、最小二乗法で直線を近似するに
は、複雑な計算を行なう必要があるので、検査速
度が遅くなると言う欠点があつた。 本発明は前述の如き欠点を改善したものであ
り、被検査物体の位置決めを行なう必要がなく、
且つ迅速に直線部を有する物体の直線部の形状を
自動的に検査することができる形状検査方式を提
供することを目的とするものである。以下実施例
について詳細に説明する。 第３図は本発明の実施例のブロツク線図であ
り、カプセル剤の継目の部分に欠陥がある不良品
を検出する場合についてのものである。同図に於
いて１，１′はカプセル剤、２はコンベア、３は
カプセル剤の通過を検出する位置センサ、４はラ
スタ走査を行ないカプセル剤のパターンを電気信
号に変換する例えばITVカメラ等の光電変換装
置、５は光電変換装置からの複合映像信号から水
平、垂直同期信号を分離する同期信号分離回路、
６は同期信号分離回路からの信号を背景領域、カ
プセル剤の部分、カプセル剤の継目の部分に対応
して２値化信号に変換する２値化回路、７は２値
化回路６からの２値化信号を基にして、カプセル
剤の継目の部分の座標、カプセル剤の先頭Ｙ座
標、及びカプセル剤の長さを求め、これらを記憶
する直線部座標記憶回路、８はアドレスバス、９
はデータバス、１０は直線部座標記憶回路に記憶
されたデータを処理してカプセル剤が不良品であ
るか否かを判断するマイクロコンピユータ、１１
はストロボ１２、排出部１３等の制御を行なう制
御回路である。尚、コンベア２にはカプセル剤と
同じ程度の大きさのポケツトが設けられており、
カプセル剤が傾いて搬送されないようになつてい
る。 コンベア２によつて搬送されているカプセル剤
１，１′をITVカメラ等の光電変換装置４でラス
タ走査して得られた複合映像信号は同期信号分離
回路５に加えられ、複合映像信号に含まれている
水平同期信号HDと垂直同期信号VDとが複合映像
信号から分離され、映像信号のみが２値化回路６
に加えられる。２値化回路６は、同期信号分離回
路５から加えられた映像信号を２値化信号に変換
して直線部座標記憶回路７に加える。又、同期信
号分離回路５で分離した水平同期信号HDは直線
部座標記憶回路７に加えられており、垂直同期信
号VDは制御回路１１に加えられている。 位置センサ３はカプセル剤１，１′が所定の位
置を通過したことを検出すると、第４図Ａに示す
検出信号を出力して制御回路１１に加える。前述
したように、制御回路１１には同期信号分離回路
５から第４図Ｂに示す垂直同期信号VDが加えら
れており、制御回路１１は第４図Ａに示す検出信
号を受けると同図Ｂに示す垂直同期信号HDに同
期して同図Ｃに示すストロボ点弧信号STを出力
し、これをストロボ１２に加えて発光させる。制
御回路１１はストロボ点弧信号STを発生させる
タイミングと同じタイミングでホールド信号をマ
イクロコンピユータ１０に加えてマイクロコンピ
ユータ１０を第４図Ｅに示す期間T1に於いてホ
ールド状態にすると共に、直線部座標記憶回路７
に制御信号を加えて直線部座標記憶回路７内に設
けられている２つのメモリ（図示せず）にDMA
モードでカプセル剤の継目の部分の座標、カプセ
ル剤のＹ方向長さ、カプセル剤の先頭Ｙ座標を記
憶させる。即ち、直線部座標記憶回路７は、第４
図Ｄに示す垂直同期期間T1に、２値化回路６か
ら加えられた２値化信号を基にして前述したデー
タを求めてDMAモードで直接メモリに記憶する
ものである。 DMAモードで必要なデータを直線部座標記憶
回路７内のメモリ（図示せず）に記憶した後、即
ち第４図Ｅに示す期間T2となつたなら、制御回
路１１からマイクロコンピユータ１０に割込信号
を与える。マイクロコンピユータ１０は、割込信
号により、直線性判断プログラムの実行を開始
し、直線部座標記憶回路７に記憶されたデータを
用いてカプセル剤が不良品であるか否かを判断
し、この判断結果を制御回路１１に送る。制御回
路１１は、この判断結果に基づいて、排出部１３
の制御を行ない不良カプセル剤を除去する。 次に直線部座標記憶回路７に記憶されるデータ
について具体的に説明する。第４図Ｄに示す垂直
走査期間T1に２値化回路６から直線部座標記憶
回路７に加えられた２値化信号の２値化パターン
が例えば第５図に示すように、光電変換装置４の
視野内に上下２個のカプセル剤１，１′があつた
場合のものとする。一画面240本の水平走査線に
よつて構成されており、この水平走査線を基にし
てＹ座標を定めている。又、水平走査線を320等
分し、これを基にしてＸ座標を定めている。 第５図に示した２値化パターンの水平方向に連
続してつらなつた絵素の列は、一般にセグメント
と言われているものであり、直線部座標記憶回路
７は、一方のメモリ（図示せず）に水平方向の第
１セグメントの立下りのＸ座標を、或は水平走査
期間にセグメントがない場合は“０”を、Ｙ座標
をアドレスとして第６図Ａに示すメモリマツプの
ように記憶させる。即ち、カプセル剤１に於いて
はＸU1〜ＸUNを、カプセル剤１′に於いてはＸD1
〜ＸDMを、カプセル剤１，１′が無い場合は
“０”を、それぞれのＹ座標をアドレスとして記
憶させる。又、他方のメモリ（図示せず）には、
カプセル剤１，１′の先頭Ｙ座標YB1，YB2、及び
カプセル剤１，１′の長さYL1，YL2を第６図Ｂに
示すメモリマツプのように記憶させる。 第７図は直線部座標記憶回路７の構成を示した
ブロツク線図であり、１４はセツトリセツトフリ
ツプフロツプ、１５はＤフリツプフロツプ、１６
は立上り検出回路、１７は立下り検出回路、１８
はアンドゲート、１９はオアゲート、２０はＹ方
向長さカウンタ、２１はカプセル数カウンタ、２
２はフリツプフロツプ、２３は1/2分周回路、２
４は入出力装置、２５〜２７はゲート回路等によ
り構成された切換回路、２８はメモリ、２９はＹ
座標カウンタ、３０は切換回路、３１は第１セグ
メントの立下り検出回路、３２はオアゲート、３
３は水平分割信号発生回路、３４はＸ座標カウン
タ、３５は切換回路、３６はメモリであり、第３
図と同一符号は同一部分を表わす。 ２値化回路６には、第８図Ａに示す各垂直走査
期間T1〜ＴN毎に、１画面を走査した映像信号が
加えられており、２値化回路６はこの映像信号を
２値化信号に変換して点線で囲んだ直線座標記憶
回路７に加える。前述したように、直線部座標記
憶回路７は、第８図Ｂに示すストロボ点弧信号
STが発生した直後の垂直走査期間T2に２値化回
路６から加えられた信号を基にして必要なデータ
を求め、これをDMAモードでメモリ２８，３６
に記憶させるものである。即ち、第８図Ｃに示し
た映像信号のうち、垂直走査期間T2に於ける映
像信号を２値化した信号を基にして必要なデータ
を求め、これをDMAモードで記憶させるもので
あるから、垂直走査期間T2に於ける影像信号の
一部を第８図Ｄに示すように拡大して、直線部座
標記憶回路７の垂直走査期間T2に於ける動作を
説明する。尚、垂直走査期間T2に於いては、切
換回路２６，２７，３０，３５は実線で示すよう
に接続されている。 ２値化回路６は、第８図Ｄに示す映像信号を同
図Ｅに示す２値化信号ａに変換してセツトリセツ
ト・フリツプフロツプ１４、及び第１セグメント
の立下り検出回路３１に加える。セツトリセツ
ト・フリツプフロツプ１４は２値化信号ａの立上
りでセツトされ、第８図Ｆに示す水平同期信号
HDの立下りでリセツトされ、同図Ｇに示す信号
ｂを出力してＤフリツプフロツプ１５のデータ端
子に加え、そのクロツク端子に水平同期信号HD
を加え、それによつて第８図Ｈに示す信号ｃを出
力し、立上り検出回路１６、立下り検出回路１
７、アンドゲート１８に加える。 立上り検出回路１６は、Ｄフリツプフロツプ１
５からの出力信号の立上りを検出して第８図Ｉに
示す信号ｄを出力し、オアゲート１９の一方の入
力端子に加え、立下り検出回路１７は、信号ｃの
立下りを検出して第８図Ｊに示す信号ｅを出力
し、オアゲート１９の他方の入力端子、及びＹ方
向長さカウンタ２０のリセツト信号として加え
る。オアゲート１９は信号ｄと信号ｅとの論理和
を取り第８図Ｋに示す信号ｆを出力してカプセル
数カウンタ２１、フリツプフロツプ２２、及びメ
モリ２８にライト信号として加える。カプセル数
カウンタ２１は信号ｆのパルスの数をカウント
し、このカウント値を1/2分周回路２３及び切換
回路２７を介してメモリ２８にアドレスとして加
えるものであり、ストロボ点弧信号STによつて
リセツトされる。1/2分周回路２３は実際のカプ
セル数をカウントするためにカウンタ出力を分周
する。フリツプフロツプ２２は、信号ｆが加えら
れると第８図Ｌに示す信号ｇを出力して切換回路
２５に加える。切換回路２５は信号ｇが“１”の
時実線で示した側に接続され、“０”の時点線で
示した側に接続され、Ｙ方向長さカウンタ２０、
Ｙ座標カウンタ２９の出力信号を交互にメモリ２
８に加えるものである。 Ｙ方向長さカウンタ２０は、信号ｃと水平同期
信号HDとが加えられているアンドゲート１８か
らの第８図Ｍに示す信号ｈをカウントするもの、
即ち何本の水平走査にわたつて２値化信号ａが
“１”となつているかカウントするものであり、
信号ｅによつてリセツトされる。又Ｙ座標カウン
タ２９は水平同期HDをカウントするものであ
り、ストロボ点弧信号STをリセツト信号として
いる。切換回路２５は、信号ｇが“１”である期
間は実線で示されているように接続され、Ｙ座標
カウンタ２９のカウント値を切換回路２６を介し
てメモリ２８に加える。メモリ２８には、前述し
たように、信号ｆがライト信号として、カプセル
数カウンタ２１からの出力信号がアドレスとして
それぞれ加えられているので、信号ｆが加えられ
た時のＹ座標カウンタ２９のカウント値がＹ座標
としてメモリ２８の指定されたアドレスに記憶さ
れる。即ち、カプセル剤１の先頭Ｙ座標が記憶さ
れたことになる。 次にフリツプフロツプ２２からの出力信号ｇが
“０”となると、切換回路２５は点線で示した側
に接続され、Ｙ方向長さカウンタ２０のカウント
値をメモリ２８に加える。この時カプセル数カウ
ンタ２１のカウント値は＋１されるので、Ｙ方向
長さカウンタ２０のカウント値は、Ｙ座標カウン
タ２９のカウント値を記憶したアドレスの次のア
ドレスに記憶される。即ち、何本の水平走査線に
わたつて２値化信号ａが“１”となつているかを
カウントするＹ方向長さカウンタ２０のカウント
値がカプセル剤１の長さとして記憶されたことに
なる。 又、第１セグメントの立下り検出回路３１は、
２値化回路６から加えられた２値化信号ａの第１
セグメントの立下りを検出して第８図Ｎに示す信
号ｉを出力し、オアゲート３２に加える。オアゲ
ート３２には水平同期信号HDも加えられてお
り、第８図Ｏに示す信号ｊを出力し、ライト信号
としてメモリ３６に加える。又、水平分割信号発
生回路３３は、第８図Ｐに示すように、１水平走
査期間に320個のパルスｋを発生してＸ座標カウ
ンタ３４に加えるものであり、Ｘ座標カウンタ３
４はこのパルスの数をカウントし、カウント値を
メモリ３６に切換回路３５を介して加える。メモ
リ３６は、信号ｊが加えられた時のＸ座標カウン
タ３４のカウント値をＸ座標として記憶するもの
であり、アドレスはＹ座標カウンタ２９のカウン
ト値によつて指定される。 以上述べたように、メモリ２８にはカプセル剤
の先頭Ｙ座標、及びカプセル剤のＹ方向長さが、
第６図Ｂに示したメモリマツプのように記憶さ
れ、メモリ３６には、カプセル剤の継目の部分の
座標が第６図Ａに示したメモリマツプのように記
憶される。 メモリ２８，３６に上記したデータが記憶され
たならば、前述したように、制御回路１１からマ
イクロコンピユータ１０に割込信号を加えて直線
性判断プログラムの実行を開始させると共に切換
回路２６，２７，３０，３５を点線に示した側に
接続し、マイクロコンピユータ１０からアドレス
を指定してメモリ２８，３６に記憶されたデータ
を読出す。 まず、マイクロコンピユータ１０は、メモリ２
８をアクセスする。メモリ２８には、第６図Ｂに
示すメモリマツプのように、カプセル剤１，１′
の先頭Ｙ座標YB1，YB2、及びカプセル剤１，
１′の長さYL1，YL2が記憶されており、メモリ３
６には第６図Ａのメモリマツプに示すように、カ
プセル剤１，１′の継目の部分のＸ座標をアドレ
スとして記憶されている。従つて、メモリ２８を
アクセスしてカプセル剤１，１′の先頭Ｙ座標
YB1，YB2、及びカプセル剤１，１′の長さを
YL1，YL2求めることにより、マイクロコンピユ
ータ１０は、メモリ３６の有効データが記憶され
ているアドレスを知ることができるので、直線性
判断を行なう為に必要なデータのみをメモリ３６
から読出すことができる。従つて処理速度を向上
させることができる。このようにして読出された
メモリ３６に記憶されていたデータは第９図のフ
ローチヤートに示すように、マイクロコンピユー
タ１０で処理され、不良品カプセル剤の検出を行
なう。以下第９図に示したフローチヤートについ
て説明する。 まず、メモリ３６に記憶されているカプセル剤
１の継目の部分のＸ座標を読出し、 ｜Ｘi−Ｘi+1｜≦１ ……(1) を満足するＹ方向長さYLを求める。｜Ｘi−Ｘi+1
｜＞１となつた時は、Ｘi+1以降について新たに
式(1)を満足するＹ方向長さYLを求める。従つて
Ｙ方向長さYLは第１０図Ａ，Ｂに示すように１
カプセルについて２つ以上ある場合もあるので、
その中の最大値YLnaxを求め、この最大値YLnax
と基準値LVL１とを比較する。YLnax＜LVL１の
時は不合格とする。YLnax≧LVL１の時は、第１
０図Ｃに示すようにYLnaxの範囲でｘnio、ｘnax
を求める。ｘnio、ｘnaxを求めたら、次にｘnaxと
ｘnioの差を求め、この差を基準値LVL２と比較
する。 ｘnax−ｘnio≦LVL２ならば直線部はＸ軸に対
してほぼ垂直であると判断し合格とする。 ｘnax−ｘnio＞LVL２の時は直線部が、第１０
図Ｄに示すように、Ｘ軸に対して傾いていると判
断して、直線部のｘ座標の増減の割の増減の割合
から合否を判断する。まず第１０図Ｅに示すよう
に、YLnaxの範囲でｘi＝ｘi+1となる。Ｙ方向長さ
YPk（ｋ＝１、２、……、ｎ）を求め、ｘi＜ｘi+
１の時は増加であるので正の極性を付け、ｘi＞ｘi
＋１の時は減少であるので負の極性を付ける。次に
同じ極性がつけられ、且つ連続したＹ方向長さ
YP1〜YPoを積算して、極性付Ｙ方向長さYL′を
求め、基準値LVL３と比較する。
【式】の時不合格とする。
YL′＞LVL３の時は、Ｙ方向長さYPkの平均値
を求め、この平均値とＹ方向長さYPkとの
差を求め、これを基準値LVL４と比較する。平
均値は＝ＹＰ１＋……＋ＹＰｏ／ｎで表わされ
る。 ｜−YPk｜＞LVL４（ｋ＝１、２、……、
ｎ） の時は、ｘ座標の増減の割合が一定でないと判定
して不合格とし、｜−YPk｜≦LVL４の場合
は合格とする。カプセル剤１′についても同様に
合否を判断する。 尚、実施例に於いては、カプセル剤の継目の部
分に欠陥がある不良品を検出する場合についての
み述べたが、正方形、長方形の半導体チツプやダ
ンボールの外形検査用としても用いることができ
る。 以上説明したように、本発明は、被検査物体の
検査対象となる直線部の座標を求め、この座標の
隣り合う座標を相互比較して直線性の判断を行な
つているので、被検査物体の位置決めを行なう必
要がなく、又直線性の判定を行なう為の演算が、
大小比較、加減算、及び簡単な除算ですむので処
理時間が短くて済むと言う利点がある。
を求め、この平均値とＹ方向長さYPkとの
差を求め、これを基準値LVL４と比較する。平
均値は＝ＹＰ１＋……＋ＹＰｏ／ｎで表わされ
る。 ｜−YPk｜＞LVL４（ｋ＝１、２、……、
ｎ） の時は、ｘ座標の増減の割合が一定でないと判定
して不合格とし、｜−YPk｜≦LVL４の場合
は合格とする。カプセル剤１′についても同様に
合否を判断する。 尚、実施例に於いては、カプセル剤の継目の部
分に欠陥がある不良品を検出する場合についての
み述べたが、正方形、長方形の半導体チツプやダ
ンボールの外形検査用としても用いることができ
る。 以上説明したように、本発明は、被検査物体の
検査対象となる直線部の座標を求め、この座標の
隣り合う座標を相互比較して直線性の判断を行な
つているので、被検査物体の位置決めを行なう必
要がなく、又直線性の判定を行なう為の演算が、
大小比較、加減算、及び簡単な除算ですむので処
理時間が短くて済むと言う利点がある。
第１図は、直線部を有する物体の説明図、第２
図は不良カプセル剤の説明図、第３図は本発明の
実施例のブロツク線図、第４図はその動作説明
図、第５図は２値化信号の２値化パターンを示し
た説明図、第６図はメモリマツプ、第７図は本発
明の実施例の直線座標部記憶回路の構成を示した
ブロツク線図、第８図はその動作説明図、第９図
はマイクロコンピユータの処理動作のフローチヤ
ート、第１０図Ａ〜Ｅはフローチヤートの説明に
利用する説明図である。 １，１′はカプセル剤、２はコンベア、３は位
置センサ、４は光電変換装置、５は同期信号分離
回路、６は２値化回路、７は直線部座標記憶回
路、８はアドレスバス、９はデータバス、１０は
マイクロコンピユータ、１１は制御回路、１２は
ストロボ、１３は排出部、１４はセツト・リセツ
トフリツプフロツプ、１５はＤフリツプフロツ
プ、１６は立上り検出回路、１７は立下り検出回
路、１８はアンドゲート、１９，３２はオアゲー
ト、２０はＹ方向長さカウンタ、２１はカプセル
数カウンタ、２２はフリツプフロツプ、２３は1/
２分周回路、２４は入出力装置、２５〜２７，３
０，３５は切換回路、２８，３６はメモリ、２９
はＹ座標カウンタ、３１は第１セグメントの立下
り検出回路、３３は水平分割信号発生回路、３４
はＸ座標カウンタである。
図は不良カプセル剤の説明図、第３図は本発明の
実施例のブロツク線図、第４図はその動作説明
図、第５図は２値化信号の２値化パターンを示し
た説明図、第６図はメモリマツプ、第７図は本発
明の実施例の直線座標部記憶回路の構成を示した
ブロツク線図、第８図はその動作説明図、第９図
はマイクロコンピユータの処理動作のフローチヤ
ート、第１０図Ａ〜Ｅはフローチヤートの説明に
利用する説明図である。 １，１′はカプセル剤、２はコンベア、３は位
置センサ、４は光電変換装置、５は同期信号分離
回路、６は２値化回路、７は直線部座標記憶回
路、８はアドレスバス、９はデータバス、１０は
マイクロコンピユータ、１１は制御回路、１２は
ストロボ、１３は排出部、１４はセツト・リセツ
トフリツプフロツプ、１５はＤフリツプフロツ
プ、１６は立上り検出回路、１７は立下り検出回
路、１８はアンドゲート、１９，３２はオアゲー
ト、２０はＹ方向長さカウンタ、２１はカプセル
数カウンタ、２２はフリツプフロツプ、２３は1/
２分周回路、２４は入出力装置、２５〜２７，３
０，３５は切換回路、２８，３６はメモリ、２９
はＹ座標カウンタ、３１は第１セグメントの立下
り検出回路、３３は水平分割信号発生回路、３４
はＸ座標カウンタである。
Claims (1)
- １ 直線部を含む被検査物体を走査して光電変換
する光電変換装置、該光電変換装置からの出力信
号から水平及び垂直同期信号を分離する同期信号
分離回路、該同期信号分離回路から水平及び垂直
同期信号を分離して出力された映像信号を２値化
する２値化回路、該２値化回路の出力信号の各水
平走査線毎の立上り、又は立下りの座標値を記憶
する記憶手段、該記憶手段から読取つた前記座標
値のそれぞれを隣接する一水平走査線前の座標値
と比較し、その差が所定値以内の時直線部と判断
する手段とを備え、前記直線部と判断された長さ
が前記被検査物体の直線部に対応する長さであ
り、且つ前記記憶手段から読取つた座標値の増減
の割合が所定値以内の時、前記被検査物体を良品
と判断することを特徴とする形状検査方式。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4133279A JPS55132904A (en) | 1979-04-05 | 1979-04-05 | Shape inspection system |
| DE19803012559 DE3012559A1 (de) | 1979-04-05 | 1980-03-31 | Vorrichtung und verfahren zur automatischen untersuchung von produkten |
| CH265080A CH646515A5 (de) | 1979-04-05 | 1980-04-03 | Vorrichtung und verfahren zur automatischen untersuchung des aeusseren eines produkts. |
| US06/137,548 US4446481A (en) | 1979-04-05 | 1980-04-04 | Automatic product inspection system |
| GB8011510A GB2051350B (en) | 1979-04-05 | 1980-04-08 | System for and a method of automatic inspection of products |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4133279A JPS55132904A (en) | 1979-04-05 | 1979-04-05 | Shape inspection system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55132904A JPS55132904A (en) | 1980-10-16 |
| JPS6130684B2 true JPS6130684B2 (ja) | 1986-07-15 |
Family
ID=12605558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4133279A Granted JPS55132904A (en) | 1979-04-05 | 1979-04-05 | Shape inspection system |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4446481A (ja) |
| JP (1) | JPS55132904A (ja) |
| CH (1) | CH646515A5 (ja) |
| DE (1) | DE3012559A1 (ja) |
| GB (1) | GB2051350B (ja) |
Families Citing this family (39)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4394683A (en) * | 1980-06-26 | 1983-07-19 | Diffracto Ltd. | New photodetector array based optical measurement systems |
| JPS5863838A (ja) * | 1981-10-14 | 1983-04-15 | Fuji Electric Co Ltd | 欠陥検出回路 |
| US4818380A (en) * | 1982-03-13 | 1989-04-04 | Ishida Scales Mfg. Co., Ltd. | Method and apparatus for sorting articles |
| EP0089212B1 (en) * | 1982-03-13 | 1987-10-28 | Kabushiki Kaisha Ishida Koki Seisakusho | Method and apparatus for sorting articles |
| JPS5960505U (ja) * | 1982-10-14 | 1984-04-20 | 株式会社山武 | 形状認識装置 |
| JPS5988608A (ja) * | 1982-11-12 | 1984-05-22 | Nippon Shinyaku Co Ltd | 不良錠検出方法 |
| FR2553914B1 (fr) * | 1983-10-25 | 1986-01-03 | Sumitomo Electric Industries | Procede d'inspection de bornes connectees par sertissage |
| JPS60114748A (ja) * | 1983-11-26 | 1985-06-21 | Takeda Chem Ind Ltd | 固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置 |
| US4686637A (en) * | 1984-09-10 | 1987-08-11 | American Tech Manufacturing, Inc. | Apparatus and method for lead integrity determination for dip devices |
| EP0210278B1 (en) * | 1985-01-25 | 1993-04-14 | Nippon Kokan Kabushiki Kaisha | Apparatus for detecting positions of crack caused by fatigue |
| US4704700A (en) * | 1985-05-20 | 1987-11-03 | American Tech Manufacturing, Inc. | Apparatus and method for lead integrity determination for dip devices |
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| DE3607767C1 (de) * | 1986-03-08 | 1987-04-02 | Wolf Gmbh Richard | Videoendoskop |
| US4915237A (en) * | 1986-09-11 | 1990-04-10 | Inex/Vistech Technologies, Inc. | Comprehensive container inspection system |
| JPH07122569B2 (ja) * | 1986-10-08 | 1995-12-25 | 松下電器産業株式会社 | 表面変位測定装置 |
| US4882498A (en) * | 1987-10-09 | 1989-11-21 | Pressco, Inc. | Pulsed-array video inspection lighting system |
| US5072127A (en) * | 1987-10-09 | 1991-12-10 | Pressco, Inc. | Engineered video inspecting lighting array |
| US5051825A (en) * | 1989-04-07 | 1991-09-24 | Pressco, Inc. | Dual image video inspection apparatus |
| US4972093A (en) * | 1987-10-09 | 1990-11-20 | Pressco Inc. | Inspection lighting system |
| FR2637067B1 (fr) * | 1988-09-23 | 1991-07-05 | Sgn Soc Gen Tech Nouvelle | Dispositif de determination de la forme du bord d'un objet galbe |
| JPH0472554A (ja) * | 1990-07-13 | 1992-03-06 | Hajime Sangyo Kk | 透明容器検査装置 |
| IT1245300B (it) * | 1990-11-26 | 1994-09-19 | Ingramatic Spa | Dispositivo per il controllo di qualita' particolarmente per viti, bulloni e simili |
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- 1980-04-04 US US06/137,548 patent/US4446481A/en not_active Expired - Lifetime
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|---|---|
| US4446481A (en) | 1984-05-01 |
| JPS55132904A (en) | 1980-10-16 |
| GB2051350A (en) | 1981-01-14 |
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| DE3012559C2 (ja) | 1987-11-19 |
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