CH646515A5 - Vorrichtung und verfahren zur automatischen untersuchung des aeusseren eines produkts. - Google Patents

Vorrichtung und verfahren zur automatischen untersuchung des aeusseren eines produkts. Download PDF

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CH646515A5
CH646515A5 CH265080A CH265080A CH646515A5 CH 646515 A5 CH646515 A5 CH 646515A5 CH 265080 A CH265080 A CH 265080A CH 265080 A CH265080 A CH 265080A CH 646515 A5 CH646515 A5 CH 646515A5
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Kunihiko Edamatsu
Takayoshi Makabe
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Fuji Electric Co Ltd
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Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruches 1 bzw. ein Verfahren nach dem Ober-
30 begriff des Anspruchs 5.
In der Vergangenheit wurden Produkte durch Vergleich von Mustern automatisch untersucht bzw. geprüft. Hierbei wurden Masken oder ähnliches verwendet, und es war eine exakte Ausrichtung der Prüflinge erforderlich. Diese Ausrich-35 tung ist zeitraubend und schwierig. Eine Sichtprüfung, die in der Vergangenheit für Arzneimittelkapseln und Halbleiterchipprodukte ausgeführt wurde, ist langsam, monoton und ungenau. Die Prüfer ermüden schnell, und die Fehler nehmen unannehmbare Werte an.
40 Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung und ein Verfahren der eingangs genannten Art zu schaffen, die von solchen Problemen frei sind, wie sie sich beim Stand der Technik ergeben haben, und insbesondere eine Prüfung von Prüflingen daraufhin zulassen, ob diese geraden Kanten einer bestimmten Länge besitzen, ohne dass eine exakte Ausrichtung der Prüflinge erforderlich wäre.
Diese Aufgabe wird erflndungsgemäss durch die Merkmale in den Patentansprüchen 1 bzw. 5 gelöst.
Kurz gesagt ist vorgesehen, dass eine Abtasteinrichtung, das heisst ein fotoelektrischer Wandler, bei dem es sich beispielsweise um eine Fernsehkamera handeln kann, die Prüflinge, beispielsweise Arzneimittelkapseln, die mit minimal kontrollierter Ausrichtung auf einem Förderband transportiert werden, sieht bzw. abtastet. Das Videosignal, das entsteht, wenn die Prüflinge in das Sichtfeld der Rasterabtast-Fernsehkamera bewegt werden (und gleichzeitig, etwa mittels einer Blitzlichtlampe, beleuchtet werden) wird von seinen Synchronimpulsen befreit und in ein binäres Signal umgeformt. Die Signalübergänge von «0» zu «1» und von «1» zu «0» werden längs jeder horizontalen Abtastzeile festgestellt. Diese Übergänge deuten auf eine Änderung in dem von der Kamera gesehenen Bild hin. Genauer gesagt wird dadurch ein Punkt längs irgendeiner Kante gekennzeichnet.
Die Länge irgendeiner Kante wird durch Auszählen der Anzahl horizontaler Abtastintervalle, die sieumfasst, bestimmt. Ist diese Länge kürzer als eine gespeicherte Bezugslänge, dann wird ein Ausstossignal erzeugt. Ist die Länge akzeptabel, dann erfolgt eine weitere Prüfung zur Bestimmung,
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ob die Kante gekrümmt oder zerrissen ist. Diese Prüfung um- Fehler können mit Hilfe von Vorrichtung und Verfahren der fasst das Subtrahieren der minimalen «X»-Koordinate von Erfindung mit grosser Geschwindigkeit und grosser Genauig-der maximalen «X»-Koordinate längs der in «Y»-Richtung keit festgestellt werden.
gemessenen maximalen Zeilenlänge. Das Ergebnis wird mit Fig. 3 zeigt ein Blockschaltbild der erfmdungsgemässen einem Bezugswert verglichen. Falls Xmax - Xmin diesen Be- 5 Prüfvorrichtung. Bei der in Fig. 3 gezeigten Anordnung wer-zugswert nicht überschreitet, wird der Prüfling durchgelassen, den als Prüflinge Kapseln 1 und 1' in Mulden auf einem För-während, falls die Differenz den Bezugswert überschreitet, ei- derband 2 transportiert. Die Mulden bewirken nur eine grobe ne weitere Prüfung vorgenommen wird. Ausrichtung der Prüflinge. Eine exakte Ausrichtung, wie sie
Hierbei wird eine Summe von inkrementalen Y-Längen bei einem Mustererkennungssystem erforderlich wäre, wird innerhalb eines Bereichs mit einer Reihe von inkrementalen io bei der Erfindung nicht benötigt.
X-Änderungen in gleicher Richtung mit einem dritten Be- Die Prüflinge 1 und 1 ' werden von einer Blitzlichtquelle 3
zugswert verglichen. Ist die Summe kleiner als der dritte Be- beleuchtet, wenn sie durch das Gesichtsfeld eines Bildwandzugswert, dann deutet dies auf eine gekrümmte Linie oder lers 4 laufen, bei dem es sich um eine Industriefernsehkamera Kante hin, so dass ein Ausstossignal erzeugt wird, Ist die mit herkömmlicher Rasterabtastung handeln kann.
Summe nicht kleiner als der dritte Bezugswert, dann findet ei- « Das Fernsehsignalgemisch vom Bildwandler 4 durchläuft ne weitere Prüfung statt. eine Impulsabtrennstufe 5, in der die Horizontalsynchronim-
Hierbei wird die Differenz zwischen dem Mittelwert der pulse HD und die Vertikalsynchronimpulse VD abgetrennt Y-Inkremente innerhalb jenes Bereichs und jedem einzelnen werden. Das dabei zurückbleibende Videosignal bzw. die Vi-Y-Inkrement mit einem weiteren Bezugswert verglichen. deosignalumhüllende wird an einen Signalformer 6 angelegt,
Übersteigt diese Differenz den Bezugswert, dann wird ein 20 den ein Rechteck- oder Binärsignal verlässt, das an eine Si-Ausstossignal erzeugt, während, falls alle Bezugswerte erfüllt gnalverarbeitungs-und Speicherschaltung 7 angelegt wird, sind, der Prüfling (in diesem Fall eine Arzneimittelkapsel) Die Funktion der Schaltung 7 geht im einzelnen aus Fig. 7 durchgelassen wird. hervor. Ein Mikrocomputer 10 nimmt über einen
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der beiliegenden Adressenbus 8 Zugriff zum Speicher in der Schaltung 7 und Zeichnungen an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert. 25 entnimmt zur Verarbeitung Daten von einem Datenbus 9. Ei-Es zeigen: ne Steuerschaltung 11 nimmt verarbeitete Datensignale vom
Fig. 1 eine Umrisszeichnung, die das Profil zweier Pro- Mikrocomputer 10 auf und liefert ihm Steuersignale. Die dukte mit geraden Kanten erkennen lässt, die mit Hilfe des Steuerschaltung 11 empfangt ausserdem von der Impulsab-Verfahrens und der Vorrichtung gemäss der Erfindung ge- trennstufe 5 die Vertikalsynchronimpulse VD sowie von ei-prüft werden könnten, • 30 nem Positionsgeber 12 in Form einer fotoelektrischen Zelle ei-
Fig. 2 eine Umrisszeichnung, die die Fehlerart erkennen ne Information über die Position der Prüflinge. Die Steuer-lässt, welche mittels der Erfindung festgestellt werden kann, Schaltung 11 liefert an die Blitzlichtquelle 3 einen Blitzauslö-
Fig. 3 ein Blockschaltbild der erfmdungsgemässen Prüf- seimpuls ST sowie ein Annahme-Ausschuss-Signal an eine Vorrichtung, Ausstosssteuerschaltung 13. Der Zeitverlauf (A) in Fig. 4 ent-
Fig. 4 ein Diagramm, das den zeitlichen Zusammenhang 35 hält den Impuls, der vom Positionsgeber 12 an die Steuer-zwischen verschiedenen Impulsen in der Vorrichtung von Fig. Schaltung 11 geliefert wird, wenn sich der Prüfling 1 innerhalb 3 zeigt, des Gesichtsfeldes des Bildwandlers 4 befindet. Dieser Impuls
Fig. 5 eine schematische Darstellung des bei der Erfin- führt dazu, dass die Steuerschaltung 11, die ausserdem die dung verwendeten Abtastmusters, die binäre Übergangs- Vertikalsynchronimpulse VD, deren Zeitverlauf bei (B) in punkte erkennen lässt, 40 Fig. 4 gezeigt ist, empfängt, den Blitzauslöseimpuls ST, der
Fig. 6 eine Speicherkarte gewisser Koordinaten und Län- bei (C) in Fig. 4 gezeigt ist, synchron mit dem Beginn eines genwerte, die für ein bestimmtes Produkt von der Vorrrich- vertikalen Abtastintervalls T] an die Blitzlichtquelle 3 liefert, tung gemäss Fig. 3 bestimmt wurden, Das Vertikalabtastintervall T, ist bei (D) in Fig. 4 gezeigt.
Fig. 7 ein Blockschaltbild eines Teils der Vorrichtung von Während dieses Intervalls wird der Mikrocomputer 10 in ei-Fig. 3, 45 nem Haltezustand gehalten, wie bei (E) in Fig. 4 gezeigt.
Fig. 8 Zeitverläufe von Signalen, die im Vorrichtungsteil Während der Zeit T2 (Fig. 4(E)) führt der Mikrocomputer 10 von Fig. 7 auftreten, die Analyse der in der Schaltung 7 gespeicherten Daten aus.
Fig. 9 ein Flussdiagramm des Mikrocomputer-Arbeitsab- In Fig. 5 ist das Videomuster der Prüflinge 1 und 1' in bi-laufs in der Vorrichtung von Fig. 3 und närer Form, das heisst nach der Formung im Signalformer 6
Fig. 10A bis 10E eine Reihe von Diagrammen, die ver- 50 Horizontalzeile für Horizontalzeile gezeigt. Wie zu erkennen, schiedene Koordinaten- und Längendaten zeigen, die bei dem beginnt der Prüfling 1 bei der Y-Koordinate YB! und besitzt vom Mikrocomputer ausgeführten Prüf-Analyseverfahren ausgedrückt durch die Anzahl der Horizontalzeilen einen verwendet werden. Durchmesser XUN, der als YLj dargestellt ist.
Das Profil des Prüflings 1' besitzt sein erstes Videosegment Fig. 1A zeigt eine Kapsel 100 mit einer Kante 102, die, da-55 bei der Y-Koordinate YB2 und hat gemessen in der Anzahl mit diese Kapsel als gut angenommen wird, in der gezeigten horizontaler Zeilen eine Breite (Durchmesser des Prüflings 1 ') Weise gerade sein muss. Bei dem in Fig. 1B gezeigten Produkt XDM, die als YL2 in Fig. 5 dargestellt ist. Die Übergangs-kann es sich um ein Halbleitersubstrat oder -chip 104 mit punkte im geformten Videosignal sind ausgerichtet und lassen mehreren Kanten 106,108,110,112 handeln, die bei einem eine unverstümmelte und annehmbare Kapselkante an der als gut annehmbaren Produkt gerade sein müssen. Es handelt 60 Verbindung zwischen den beiden Hälften einer jeden die Prüf-sich hierbei um Kanten, die automatisch zu prüfen mit Hilfe linge darstellenden Kapsel erkennen.
von Vorrichtung und Verfahren der Erfindung beabsichtigt ist. Auch Pappschachteln kommen als zu prüfende Produkte, Wie aus Fig. 5 zu ersehen, beträgt die vertikale Auflösung das heisst als Prüflinge, in Frage. Die Projektionen der Kan- bei dieser Anordnung 240 Zeilen und die horizontale Auflöten auf die X-Achse und die Y -Achse sind gerade Linien. 65 sung 320 Zeilen.
Fig. 2A zeigt eine Kapsel, von deren Kappe 116 ein Ab- In Fig. 6 ist die in Fig. 5 enthaltene Information in Form schnitt 114 verloren gegangen ist. In Fig. 2B ist eine Kappe einer Speicherkarte mit den Y-Koordinaten als Adressen dar-118 aufgerissen und bei 120 nach hinten umgefaltet. Beide gestellt. Bis die Y-Koordinate YB] erreicht wird, sind die an
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den einzelnen Adressen eingespeicherten Daten eine binäre «0». Nachdem die Koordinate YB! erreicht ist, wird das geformte Videosignal «1», da von dem Bildwandler 4 die obere Kante der äusseren Kappe des Prüflings 1 erfasst wird. Die nun an den jeweiligen Adressen gespeicherten Daten sind X^ bis XUN, wobei das Ausmass bzw. die Anzahl der Horizontalzeilen Xu! bis XUN die Quer- oder Breitenabmessung des Prüflings 1 ausgedrückt durch Horizontalzeilen, deren Trennung oder Abstand durch die Vertikalablenkschaltungen des Bildwandlers 4 bestimmt wird, ist.
Das binäre Signal fällt auf «0» zurück, wenn der Bildwandler den Bereich zwischen den Prüflingen 1 und 1' abtastet. Bei YB2 ruft die Oberkante des Prüflings 1' eine binäre «1» des videoausgangssignals hervor, die für M Horizontalzeilen von XD1 bis XDM bestehen bleibt, was einen Durchmesser von YL2 ergibt. Danach kehren die Video- und Binärsignale auf Null zurück. Diese Information wird im Y-Koordi-naten-Speicher gespeichert.
Fig. 6B zeigt die Speicherung von Kantenlängendaten (projiziert auf die Y-Achse) für die Prüflinge 1 und 1'.
Fig. 7 zeigt die Signalverarbeitungs- und -speicherschal-tung 7.. Sie enthält ein RS-Flipflop 14 (bei dem es sich um den Typ SN74LS107 mit einem SN7400 und einem SN7404 handeln kann). Dieses Flipflop wird von der Vorderflanke des geformten Videosignals a, das in Zeile (E) in Fig. 8 gezeigt ist, gesetzt. Das Flipflop 14 empfängt ausserdem die Horizontalsynchronimpulse HD und wird von der Rückflanke des nächsten Horizontalsynchronimpulses zurückgesetzt, wie dies aus den Zeilen (F) und (G) in Fig. 8 hervorgeht, von denen die Zeile (G) das Signal b am Ausgang des Flipflops 14 zeigt. Der Impulszug des Signals b wird an ein D-Flipflop 15 geliefert, das ausserdem die Horizontalsynchronimpulse HD empfangt. Die Vorderflanke des Synchronimpulses, der das Flipflop 14 zurücksetzt, schaltet das Flipflop 15 ein, das dann in diesem «1»-Zustand bleibt, bis die Rückflanke des ersten Horizontalsynchronimpulses auftritt, der einläuft, während das Ausgangssignal b des Flipflops 14 (Fig. 8(G)) «0» ist. Das resultierende Torsteuersignal ist als Signal c in Zeile (H) in Fig. 8 gezeigt.
Das Signal c wird einem Anstiegsflankendetektor 16 zugeführt (bei dem es sich um ein SN74LS107 mit einem SN7400 handeln kann). Das Ergebnis ist das Signal d in Fig. 8(1).
Das Signal c wird ausserdem einem Abfallflankendetektor 17 geliefert (bei dem es sich um ein SN74LS107 mit einem SN7400 handeln kann). Das resultierende Signal e ist in Zeile (J) von Fig. 8 gezeigt.
Die Signale d und e werden einem ODER Glied 19 (bei dem es sich um ein SN7400 handeln kann) zugeführt und zu dem Signal f von Fig. 8(K) gemacht.
Das Signal f steuert ein Flipflop 22, um das Signal g von Fig. 8 (L) zu erzeugen. Das Signal g schaltet einen Schalter 25 in die in ausgezogenen Linien gezeigte Stellung, wenn es «1» ist; in dieser Stellung des Schalters 25 werden Daten über Y-Koordinaten von einem Zähler 29 in den Speicher 28 eingespeichert. Wenn das Signal g «0» ist, nimmt der Schalter 25 die gestrichelt gezeichnete Stellung ein, bei der Y-Längenda-ten von einem Zähler 20 in den Speicher 28 gelangen.
Das Signal c wird auch noch einem UND Glied 18 zugeführt, das ausserdem die Horizontalsynchronimpulse HD empfängt (und bei dem es sich um ein SN74161N handeln kann). Das Signal h am Ausgang des UND Glieds 18 ist in Fig. 8 (M) gezeigt und enthält die Anzahl von Horizontalintervallen, die in das Torsteuersignal c fallen. Das Signal h wird dem Y-Längen-Zähler 20 geliefert (der einSN74161N sein kann). Auf diese Weise wird die Länge einer Kante als Anzahl der Horizontalzeilen, die sie überspannt, bestimmt.
Das Signal f am Ausgang des ODER Gliedes 19, wird nicht nur dem Flipflop 22, sondern auch einem Prüflingsnummer-Zähler 21 (der ein SN74161N sein kann) zugeführt. Der Zähler 21 erhält den Blitzauslöseimpuls ST, der mit ei-5 nem Vertikalsynchronimpuls zusammenfällt und gibt ein Prüflingszählsignal als Adressensignal an den Speicher 28.
Das Prüflingszählsignal vom Zähler 21 wird über einen 2:1 Teiler 23 (der ein SN74161N sein kann) und über eine Ein-gabe/Ausgabe-Einrichtung 24 (die ein SN74367N sein kann) 10 zum Datenbus 9 geführt.
Das Signal a wird ausser an das RS-Flipflop 14 an einen Abfallflankendetektor 31 angelegt, der die erste Abfallflanke im Signal a während jedes Horizontalintervalls feststellt. Der Abfallflankendetektor 31 erzeugt das bei (N) in Fig. 8 darge-15 stellte Signal i, das zu einem ODER-Glied 32 gelangt, welches ausserdem Horizontalsynchronimpulse HD empfangt (das ODER-Glied 32 kann ein SN7400 sein). Das Ausgangssignal des ODER-Glieds 32 ist das Signal j, das in Fig. 8 (O) gezeigt ist.
20 Dieses Signal j wird einem Speicher 36 geliefert, dem ausserdem Impulse mit einer Folge von 320 Impulsen pro Horizontalzeile aus einem X-Koordinaten-Zähler 34 geliefert werden, der ebenfalls die Horizontalsynchronimpulse empfängt. Der Zähler 34bestimmt c e X-Koordinate jedes Y-Inkre-25 ments, wie dies in Verbindung mit Fig. 10 (E) noch erläutert wird.
Nachdem das Signal g auf «0» zurückgekehrt ist, schaltet ' die Steuerschaltung 11 Umschalter 25,26,27,30 und 35 von
Schreib- auf Lesebetrieb, während der Mikrocomputer 10 die 30 gespeicherten Daten verarbeitet, um festzustellen, ob alle ermittelten Kanten gerade und frei von Fehlern sind und die richtige Länge besitzen. Sind diese Kriterien erfüllt, dann wird der Prüfling angenommen, andernfalls mittels der Aus-stosssteuerschaltung bzw. dem Annahme/Ausstoss-Mecha-35 nismus 13 ausgestossen.
(Bei den Umschaltern 25,27 und 30 kann es sich um den Typ SM74157N handeln. Der Umschalter 26 kann ein SN74368N sein. Der Umschalter 35 kann ein Intel 8216 sein. Der Speicher 36 kann ein 2112A-4 von Intel sein).
40 Fig. 9 zeigt die Berechnung, die vom Mikrocomputer 10 ausserhalb der Haltezeit Ti (Fig. 4) ausgeführt wird, wenn das Signal g «0» wird.
Fig. 9 wird am besten in Verbindung mit Fig. 10 erörtert. Zunächst werden aus dem Speicher 36 X-Koordinaten ausge-45 lesen, die eine Kante des Prüflings darstellen. Es wird die Querabmessung YL der Ausdehnung gefunden, innerhalb derer irgendeine Differenz zwischen X-Koordinaten der Kante auf zwei benachbarten horizontalen Abtastzeilen nicht grösser als 1 ist (die X-Koordinaten sind in ganzen Zahlen gege-50 ben). Gemäss Fig. 10(A) sieht der Bildwandler 4 zwei Kanten. Die eine ist die Kante 110, die andere die Kante 112. In der Projektion auf die Y-Achse hat die Kante 110 die Länge YLb die Kante 112 die Länge YL2. Der Mikrocomputer 10 wird entscheiden, dass die Kante 112 die maximale Länge YLmax 55 besitzt und wird diese Länge mit einer Bezugslänge LVL1 vergleichen. Falls YLmax klei ner als LVL1 sein sollte, wird ein Austossignal an den Mechanismus 13 (Fig. 3) gesendet. Ist
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YLmax > LVL1 (1)
dann wird die Analyse dadurch fortgesetzt, dass längs YLmax Xmin von Xmax subtrahiert wird. Ist die Gleichung
Xmax-Xmin ^ LVL2 (2)
erfüllt, dann zeigt dies, dass die betrachtete Kante relativ gerade und unzerrissen ist. Ist beispielsweise der Prüfling richtig
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ausgerichtet und die Kante gerade, dann wird Xmax - Xmin YL' > LVL3 (3) = 0 sein und damit die zweite Prüfung erfüllt sein. Hat jedoch die äussere Kappe einen Schlitz, wie es bei 120 an der Kante nicht erfüllt ist, wird an den Mechanismus 13 (Fig.3) ein Ausin Fig. 2 (B) der Fall ist, dann könnte zwar die erste Prüfung stossignal geliefert. Ist die Gleichung (3) erfüllt, findet eine der Länge zufriedenstellend ausfallen, die zweite Prüfung von s weitere Analyse statt, bei der jeder Wert YPK mit dem Mittel-Xmax - Xmin über die Länge YLmax wäre jedoch nicht zu- wert YF*aller YPk verglichen wird. Falls die folgende Gleich-friedenstellend. Xmax und Xmin sind in Fig. 10(C) gezeigt. ung (4)
Wird die Gleichung (2) nicht erfüllt, dann wird die Analyse fortgesetzt um festzustellen, ob der Grund hierfür der ist, dass [YF-YPk] < LVL4 (4)
der Prüfling gekippt ist, wie es in Fig. 10(D) gezeigt ist. Die in- io teressierende Kante 120' würde die erste Prüfung bestehen, erfüllt ist, wird der Prüfling angenommen. LVL4 ist ein vier-
nicht aber die zweite. ter Bezugswert. Falls die einzelnen Werte YPK deutlich vom
Wie aus Fig. 10(E) zu ersehen, können zur Bildung von Mittelwert YP abweichen, deutet dies auf eine Krümmung
Werten YL' die Y-Inkremente YP].. .YPN eines Bereichs in- oder andere von einer geraden Linie abweichende Form der nerhalb YLmax, in dem sich die X-Koordinaten Xi, Xi +1, 15 Kante hin. Ist die Gleichung (4) nicht erfüllt, dann wird der
Xi+2 ... in einer Richtung ändern, also zunehmen oder ab- Prüfling ausgestossen.
nehmen, aufsummiert und YL' mit einem dritten Bezugswert LVL3 verglichen werden. Wenn die Gleichung (3)
C
7 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

  1. 646515
    PATENTANSPRÜCHE
    1. Vorrichtung zur automatischen Untersuchung des Äusseren eines Produktes zur Feststellung, ob dieses eine gerade Kante einer bestimmten Mindestlänge aufweist, gekennzeichnet durch:
    eine Abtasteinrichtung (4), durch die das Produkt (1,1') fotoelektrisch abtastbar ist und die ein elektrisches Signal erzeugt, das proportional einer Lichtaus - bzw. -rückstrahlung vom Körper des Produktes ist und dessen Intensität sich an der Kante ändert,
    eine Impulsabtrennstufe (5) zum Abtrennen von Horizontal- und Vertikalsynchronimpulsen, die der Abtastung dienen, von dem elektrischen Signal,
    einen Signalformer (6), der das Ausgangssignal der Impulsabtrennstufe (5) in ein binäres Signal (a) formt,
    eine Einrichtung (31 bis 36) zum Ermitteln und Speichern der Koordinaten einer Stelle einer jeden Horizontalabtastzeile, an der das binäre Signal einen Anstieg oder Abfall aufweist, und eine Einrichtung, die für jede Horizontalabt astzeile die Differenz zwischen diesen Koordinaten und denen der benachbarten Horizontalabtastzeile feststellt und entscheidet, dass die Kante gerade ist, wenn alle Differenzen kleiner als ein vorgegebener Wert sind, und die anhand der Anzahl von Ho-rizontalbtastzeilen, für die diese Voraussetzung erfüllt ist, die Länge der geraden Kante bestimmt, wobei das Produkt als annehmbar gewertet wird, wenn die Länge der geraden Kante grösser als eine Bezugslänge ist und wenn durch Vergleich in-krementaler Änderungen der Koordinaten eine vorausbestimmte Linearität der geraden Kante festgestellt wird.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Einrichtung (10) zur Prüfung der Linearität die minimale von der maximalen Koordinate in Zeilenrichtung, d.h. die X-Koordinate, innerhalb des Bereichs der untersuchten Kante, die als gerade beurteilt wurde, subtrahiert und die Linearität als gegeben ausgibt, wenn die Differenz einen bestimmten Wert nicht überschreitet.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet, durch eine Einrichtung (10), die, falls die Differenz den bestimmten Wert überschreitet, in einem Bereich, in dem eine Reihe in gleicher Richtung zu- oder abnehmender inkrementaler X-Koordinatenänderungen auftritt, die Y-Inkremente, d.h. in der Y-Koordinate senkrecht zur Zeilenrichtung, aufsummiert und mit einem Bezugswert vergleicht, wobei eine das Produkt als Ausschuss kennzeichnende Information erzeugbar ist, wenn die Summe der Y-Inkremente kleiner als der Bezugswert ist.
  4. 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (10), die, wenn die Summe der Y-Inkremen-te grösser oder gleich dem Bezugswert ist, innerhalb jenes Bereichs den Durchschnittswert der Y-Inkremente, die je mit einer Änderungsstufe der X-Koordinate verbunden sind, ermittelt und die Differenzen zwischen dem Durchschnittswert und den jeweiligen Y-Inkrementen mit einem weiteren Bezugswert vergleicht und eine das Produkt als annehmbar ausgebende Information erzeugt, wenn keine dieser Differenzen den weiteren Bezugswert übersteigt.
  5. 5. Verfahren zum Betrieb einer Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch folgende Schritte:
    Zeilenweises Abtasten des Produktes und Erzeugen eines der Leuchtdichteverteilung des Produkts entsprechenden Videosignals,
    Untersuchen des Videosignals auf markante Signaländerungen, wie sie beim Abtasten einer Kante auftreten,
    Speichern der Abtastraster-Koordinaten solcher Signaländerungen,
    Bilden der Differenz zwischen den Koordinaten jeweils zweier benachbarter Zeilen,
    Ermitteln der Anzahl von Abtastzeilen, für die diese Differenz unter einem vorgegebenen Grenzwert liegt und
    Vergleichen dieser Anzahl mit einer der Mindestlänge entsprechenden Zeilenanzahl,
    5 Subtrahieren der minimalen von der maximalen Koordinate in Zeilenrichtung, d.h. der X-Koordinate, innerhalb eines nach den vorgängigen Schritten als gerade angenommenen Bereichs der untersuchten Kante und Vergleichen der Differenz mit einem bestimmten Wert wobei, wenn die Diffe-renz den bestimmten Wert nicht überschreitet, das Produkt als annehmbar gilt und im anderen Fall das Verfahren fortgesetzt wird,
    Aufsummieren der Y-Inkremente innerhalb eines Bereichs einer Reihe sich in gleicher Richtung ändernder X-15 Koordinaten und Vergleichen des Summenwertes mit einem Bezugswert, wobei, wenn der Summenwert kleiner als der Bezugswert ist, das Produkt als Ausschuss gilt und andernfalls das Verfahren fortgesetzt wird,
    Ermitteln des Durchschnittswerts der im vorangegange-20 nen Schritt aufsummierten Y-Inkremente und Vergleichen der Differenz zwischen diesem Durchschnittswert und den einzelnen Y-Inkrementen mit einem weiteren Bezugswert, wobei, wenn keine dieser Differenzen den weiteren Bezugswert übersteigt, das Produkt als annehmbar gilt.
    25
CH265080A 1979-04-05 1980-04-03 Vorrichtung und verfahren zur automatischen untersuchung des aeusseren eines produkts. CH646515A5 (de)

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US (1) US4446481A (de)
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4394683A (en) * 1980-06-26 1983-07-19 Diffracto Ltd. New photodetector array based optical measurement systems
JPS5863838A (ja) * 1981-10-14 1983-04-15 Fuji Electric Co Ltd 欠陥検出回路
US4818380A (en) * 1982-03-13 1989-04-04 Ishida Scales Mfg. Co., Ltd. Method and apparatus for sorting articles
EP0089212B1 (de) * 1982-03-13 1987-10-28 Kabushiki Kaisha Ishida Koki Seisakusho Verfahren und Vorrichtung zum Sortieren von Gegenständen
JPS5960505U (ja) * 1982-10-14 1984-04-20 株式会社山武 形状認識装置
JPS5988608A (ja) * 1982-11-12 1984-05-22 Nippon Shinyaku Co Ltd 不良錠検出方法
FR2553914B1 (fr) * 1983-10-25 1986-01-03 Sumitomo Electric Industries Procede d'inspection de bornes connectees par sertissage
JPS60114748A (ja) * 1983-11-26 1985-06-21 Takeda Chem Ind Ltd 固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置
US4686637A (en) * 1984-09-10 1987-08-11 American Tech Manufacturing, Inc. Apparatus and method for lead integrity determination for dip devices
EP0210278B1 (de) * 1985-01-25 1993-04-14 Nippon Kokan Kabushiki Kaisha Anordnung zum nachweis von durch ermüdung verursachten rissen
US4704700A (en) * 1985-05-20 1987-11-03 American Tech Manufacturing, Inc. Apparatus and method for lead integrity determination for dip devices
GB2175396B (en) * 1985-05-22 1989-06-28 Filler Protection Developments Apparatus for examining objects
DE3607767C1 (de) * 1986-03-08 1987-04-02 Wolf Gmbh Richard Videoendoskop
US4915237A (en) * 1986-09-11 1990-04-10 Inex/Vistech Technologies, Inc. Comprehensive container inspection system
JPH07122569B2 (ja) * 1986-10-08 1995-12-25 松下電器産業株式会社 表面変位測定装置
US4882498A (en) * 1987-10-09 1989-11-21 Pressco, Inc. Pulsed-array video inspection lighting system
US5072127A (en) * 1987-10-09 1991-12-10 Pressco, Inc. Engineered video inspecting lighting array
US5051825A (en) * 1989-04-07 1991-09-24 Pressco, Inc. Dual image video inspection apparatus
US4972093A (en) * 1987-10-09 1990-11-20 Pressco Inc. Inspection lighting system
FR2637067B1 (fr) * 1988-09-23 1991-07-05 Sgn Soc Gen Tech Nouvelle Dispositif de determination de la forme du bord d'un objet galbe
JPH0472554A (ja) * 1990-07-13 1992-03-06 Hajime Sangyo Kk 透明容器検査装置
IT1245300B (it) * 1990-11-26 1994-09-19 Ingramatic Spa Dispositivo per il controllo di qualita' particolarmente per viti, bulloni e simili
US5172005A (en) * 1991-02-20 1992-12-15 Pressco Technology, Inc. Engineered lighting system for tdi inspection comprising means for controlling lighting elements in accordance with specimen displacement
FR2690091B1 (fr) * 1992-04-16 1997-11-07 Patrick Rangeard Dispositif de calibrage comportant un systeme de mesure par camera.
JPH07151701A (ja) * 1993-11-29 1995-06-16 Hajime Sangyo Kk ストロボスコープの光量補正機能を有する検査装置
DE19616708A1 (de) * 1996-04-26 1997-10-30 Wolfgang Hoermle Vorrichtung zur Vermessung und Sortierung von Werkstücken
US5894801A (en) * 1997-09-30 1999-04-20 Ackleey Machine Corporation Methods and systems for sensing and rectifying pellet shaped articles for subsequent processing
US6894772B2 (en) * 2001-02-12 2005-05-17 Analytical Spectral Devices System and method for grouping reflectance data
US6853447B2 (en) * 2001-02-12 2005-02-08 Analytical Spectral Devices, Inc. System and method for the collection of spectral image data
WO2004045031A2 (en) 2002-11-13 2004-05-27 Ackley Machine Corporation Laser unit, inspection unit, method for inspecting pellet-shaped articles and pharmaceutical article
US8121392B2 (en) * 2004-10-25 2012-02-21 Parata Systems, Llc Embedded imaging and control system
US20070189597A1 (en) * 2005-08-23 2007-08-16 Limer Daniel J Machine vision counting system apparatus and method
US7599516B2 (en) * 2005-08-23 2009-10-06 Illinois Tool Works Inc. Machine vision counting system apparatus and method
US7891159B2 (en) * 2008-05-30 2011-02-22 Cryovac, Inc. Method for positioning a loaded bag in a vacuum chamber
CN103210296B (zh) 2010-06-01 2016-08-10 阿克莱机械公司 检查系统
US8976368B2 (en) * 2011-09-15 2015-03-10 Intermec Ip Corp. Optical grid enhancement for improved motor location
US8861816B2 (en) 2011-12-05 2014-10-14 Illinois Tool Works Inc. Method and apparatus for prescription medication verification
US8682047B2 (en) 2011-12-05 2014-03-25 Illinois Tool Works Inc. Method and apparatus for machine vision counting and annotation
US11254457B2 (en) 2015-04-14 2022-02-22 Sealed Air Corporation (Us) Method of positioning and sealing a bag in a vacuum chamber, bag positioning apparatus, and method of manufacturing a patch bag

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4934385A (de) * 1972-07-28 1974-03-29
FR2321229A1 (fr) * 1975-08-13 1977-03-11 Cit Alcatel Procede et appareillage pour controle automatique de graphisme
US4207593A (en) * 1976-07-31 1980-06-10 Karl Deutsch Pruf- Und Messgeratebau Gmbh & Co. Kg Method and apparatus for the automatic recognition and evaluation of optical crack indications on the surface of workpieces
DE2705936B2 (de) * 1977-02-10 1979-11-08 Barry-Wehmiller Co., Saint Louis, Mo. (V.St.A.) Verfahren und Anordnung zur elektronischen Bildanalyse
US4277803A (en) * 1980-05-12 1981-07-07 Fuji Electric Co., Ltd. Automatic product checking system

Also Published As

Publication number Publication date
DE3012559A1 (de) 1980-10-16
GB2051350A (en) 1981-01-14
DE3012559C2 (de) 1987-11-19
JPS55132904A (en) 1980-10-16
JPS6130684B2 (de) 1986-07-15
US4446481A (en) 1984-05-01
GB2051350B (en) 1983-03-16

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