DE3012559A1 - Vorrichtung und verfahren zur automatischen untersuchung von produkten - Google Patents
Vorrichtung und verfahren zur automatischen untersuchung von produktenInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 2
- 235000010724 Wisteria floribunda Nutrition 0.000 claims 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 claims 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 35
- 239000002775 capsule Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 3
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 235000015108 pies Nutrition 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 241001137251 Corvidae Species 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003909 pattern recognition Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/04—Sorting according to size
- B07C5/10—Sorting according to size measured by light-responsive means
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V20/00—Scenes; Scene-specific elements
- G06V20/60—Type of objects
- G06V20/66—Trinkets, e.g. shirt buttons or jewellery items
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07C—TIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- G07C3/00—Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles
- G07C3/14—Quality control systems
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9508—Capsules; Tablets
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Multimedia (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Analysis (AREA)
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Description
Vorrichtung und Verfahren zur automatischen Untersuchung von Produkten
Die Erfindung betrifft eine.Vorrichtung nach dem Oberbegriff
des Anspruchs 1 bzw. ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 5.
In der Vergangenheit wurden Produkte durch Vergleich von Mustern automatisch untersucht bzw. geprüft. Hierbei wurden
Masken oder ähnliches verwendet, und es war eine exakte Ausrichtung der Prüflinge erforderlich. Diese Ausrichtung
ist zeitraubend, und schwierig. Eine Sichtprüfung, die in
der,Vergangenheit für Arzneimittelkapseln und Halbleiterchipprodukte
ausgeführt wurde, ist langsam, monoton und ungenau. Die Prüfer ermüden schnell, und die Fehler nehmen
unannehmbare Werte an.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung und ein Verfahren der eingangs genannten Art zu schaffen, die von
solchen Problemen frei sind, wie sie sich beim Stand der Technik ergeben haben, und insbesondere eine Prüfung von
Prüflingen daraufhin zulassen, ob diese gerade Kanten einer bestimmten Länge besitzen, ohne daß eine exakte Ausrichtung
der Prüflinge erforderlich wäre.
Diese Aufgabe wird er-findungsgemäß durch die Merkmale in
den Patentansprüchen 1 bzw. 5 gelöst.
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Kurz gesagt ist vorgesehen, daß eine Abtasteinrichtung, das hei.ßt ein fotoelektrischer Wandler, bei dem es sich
beispielsweise um. eine Fernsehkamera handeln kann, die Prüflinge, beispielsweise Arzneimittelkapseln, die mit
minimal kontrollierter Ausrichtung auf einem Förderband transportiert werden, sieht bzw. abtastet. Das Videosignal,
das ensteht, wenn die Prüflinge in das Sichtfeld der Rasterabtast-Fernsehkamera bewegt werden (und
gleichzeitig, etwa mittels einer Blitzlichtlampe, beleuchtet werden) wird,von seinen Synchronimpulsen befreit
und. in ein binäres. Signal umgeformt. Die Signalübergänge ",von "0" zu "1." und von "t" zu "0" werden längs jeder
horizontalen Abtastzeile festgestellt. Diese übergänge deuten auf eine Änderung in dem von der Kamera gesehenen
Bild hin. Genauer gesagt wird dadurch ein Punkt längs irgendeiner Kante gekennzeichnet.
Pie Länge irgendeiner Kante wird, durch Auszählen der Anzahl
horizontaler Abtastintervalle, die sie umfaßt, be-
2.0 stimmt. Ist. diese Länge kürzer als eine gespeicherte Bezugslänge, dann wird ein Ausstoßsignal erzeugt. Ist
die Länge akzeptabel, dann erfolgt eine weitere Prüfung zur Bestimmung, ob die Kante gekrümmt oder zerrissen ist.
Diese Prüfung umfaßt das Subtrahieren der minimalen "X"-Koordinate von der maximalen "X"-Koordinate längs der in
"Y"-Richtung gemessenen maximalen Zeilenlänge. Das Ergebnis wird mit einem Bezugswert verglichen. Falls Xmax - Xmin
diesen Bezugswert nicht überschreitet, wird der Prüfling durchgelassen, während, falls die Differenz den Bezugswert
überschreitet, eine weitere Prüfung vorgenommen wird.
Hierbei wird eine Summe von inkrementalen Y-Längen innerhalb eines. Bereichs mit einer Reihe von inkrementalen
X-Änderungen in gleicher Richtung mit einem dritten Be-35. zugswert verglichen. Ist die Summe kleiner als der dritte
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Bezugswert, dann deutet dies auf eine gekrümmte Linie oder Kante hin, so daß ein Ausstoßsignal erzeugt wird.
Ist die Summe nicht kleiner als der dritte Bezugswert, dann findet eine weitere Prüfung statt.
Hierbei wird die Differenz zwischen dem Mittelwert der
Y-Inkremente innerhalb jenes Bereichs und jedem einzelnen
Y-Inrekment mit einem weiteren Bezugswert verglichen.
Übersteigt diese Differenz den Bezugswert, dann wird ein Ausstoßsignal erzeugt, während, falls alle Bezugswerte
erfüllt sind, der Prüfling (in diesem Fall eine Arznei-■ mittelkapsel) durchgelassen wird.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der beiliegenden
Zeichnungen an einem. Ausführungsbeispiel näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1. eine Umrißzeichnung, die das Profil
zweier Produkte mit geraden Kanten erkennen läßt, die mit Hilfe des Ver
fahrens und der Vorrichtung gemäß der Erfindung geprüft werden könnten,
Fig. 2 eine Umrißzeichnung, die die Fehlerart
erkennen läßt, welche mittels der Er
findung festgestellt werden kann,
Fig. 3 ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung,
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Fig. 4 ein Diagramm, das den zeitlichen Zusammenhang
zwischen verschiedenen Impulsen in der Vorrichtung von Fig. 3 zeigt/
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Fig. 5 eine schematische Darstellung des
bei der Erfindung verwendeten Abtastmusters, die binäre übergangspunkte
erkennen läßt,
Fig. 6 eine Speicherkarte gewisser Koordinaten und Längenwerte, die für
ein bestimmtes Produkt von der Vorrichtung gemäß Fig. 3 bestimmt wurden,
. Fig. 7 ein Blockschaltbild eines Teils der Vorrichtung.von Fig. 3,
^ Fig. 8 Zeitverläufe.von Signalen, die im
VQrrichtungsteil von FIg. 6 auftreten,
Fig. 9 ein Flußdiagramm des Mikrocomputer"
Arbeitsablaufs in der Vorrichtung von FIg. 3 und * "'
Fig. 1.0A
bis 10E eine Reihe.von Diagrammen, die verschiedene
Koordinaten- und Längendaten zeigen, die bei. dem vom Mikrocomputer
ausgeführten Prüf-Analyseverfahren .verwendet werden.
Fig. 1A zeigt eine Kapsel 100 mit einer Kante 102 die,
damit diese Kapsel als gut angenommen wird, in der gezeigten Weise gerade sein muß. Bei dem in Fig. 1B gezeigten
Produkt kann es sich um ein Halbleitersubstrat öder -chip mit mehreren Kanten 1.06, 108, 110, 112 handeln, die
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bei einem als gut annehmbaren Produkt gerade sein müssen. Es handelt sich hierbei um Kanten, die automatisch zu
prüfen mit Hilfe von Vorrichtung und Verfahren der Erfindung beabsichtigt ist. Auch Pappschachteln kommen als
zu prüfende Produkte, das heißt als Prüflinge, in Frage. Die Projektionen der Kanten auf die X-Achse und die Y-Achse
sind gerade Linien.
Fig. 2A zeigt eine Kapsel, von deren Kappe 116 ein Abschnitt
114 verloren gegangen ist. In Fig. 2B ist eine Kappe 118
aufgerissen und bei 120 nach hinten umgefaltet. Beide
• Fehler können mit Hilfe von Vorrichtung und Verfahren der Erfindung mit großer Geschwindigkeit und großer Genauigkeit
festgestellt werden.
15
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Fig. 3 zeigt ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen
Prüfvorrichtung. Bei der in Fig. 3 gezeigten Anordnung werden als Prüflinge Kapseln 1 und 1' in Mulden auf einem
Förderband 2 transportiert. Die Mulden bewirken nur eine grobe Ausrichtung der Prüflinge. Eine exakte Ausrichtung,
wie sie bei einem Mustererkennungssystem erforderlich wäre, wird. bei. der Erfindung nicht benötigt.
Die Prüflinge 1 und 1.J werden, von einer Blitzlichtquelle
3 beleuchtet, wenn sie durch das Gesichtsfeld eines Bildwandlers 4 laufen, bei dem es sich um eine Industrieferns.ehkamera
mit herkömmlicher Rasterabtastung handeln kann.
Das Fernsehsignalgemisch vom Bildwandler 4 durchläuft
eine Impulsabtrennstufe 5, in der die Horizontalsynchronimpulse HD und die Vertikalsynchronimpulse VD abgetrennt
werden. Das dabei^zurückbleibende.Videosignal bzw. die
Videosignalumhüllende wird an einen Signalformer 6 ange-
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legt, den ein Rechteck- oder Binärsignal verläßt, das an eine Signalverarbeitungs- und Speicherschaltung 7 an-.
gelegt wird. Die Funktion der Schaltung 7 geht im einzelnen aus Fig. 7 hervor. Ein Mikrocomputer 10 nimmt über
einen Adressenbus 8 Zugriff zum Speicher in der Schaltung 7 und entnimmt zur Verarbeitung Daten von einem Datenbus
9. Eine Steuerschaltung 11 nimmt verarbeitete Datensignale vom Mikrocomputer 10 auf und liefert ihm Steuersignale.
Die Steuerschaltung 11 empfängt außerdem von der Impulsabtrennstufe
5 die Vertikalsynchronimpulse VD sowie von einem Positionsgeber 12 in Form einer fotoelektrischen
Zelle eine Information über die Positon der Prüflinge. Die Steuerschaltung 11 liefert an die Blitzlichtquelle
einen Blltzauslöseimpuls ST sowie ein Annahme-Ausschuß-
1;5 Signal an eine Ausstoßsteuerschaltung 13. Der Zeitverlauf
(A) in Fig. 4 enthält den Impuls, der vom Positionsgeber
1.2 an die Steuerschaltung 11 geliefert wirdr wenn sich
der Prüfling 1 innerhalb des Gesichtsfeldes des Bildwandlers 4 befindet. Dieser Impuls führt dazu, daß die Steuerschaltung
1.1, die außerdem die Vertikalsynchronimpulse VD,
deren Zeitverlauf bei (B) in Fig. 4 gezeigt ist, empfängt,
den Blitzauslöseimpuls ST, der bei (C) in Fig. 4 gezeigt ist, synchron mit dem. Beginn eines, vertikalen Abtastintervalls
T1 an die Blitzlichtquelle 3 liefert. Das Vertikalabtastintervall
T1 1st bei (D) in Fig. 4 gezeigt.
Während dieses Intervalls wird der Mikrocomputer 10 in einem Haltezustand gehalten, wie bei (E) in Fig. 4
gezeigt. Während der Zeit T^ (Fig. 4(E)) führt der Mikrocomputer
1.0 die Analyse der in der Schaltung 7 gespeicherten Daten aus.
In Fig. 5 ist das Videomuster der Prüflinge 1 und 11 in
binärer Form, das heißt nach der Formung im Signalformer 6 Rorizontalzeile für Horizontalzeile gezeigt. Wie zu er-
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kennen7 beginnt der Prüfling 1. bei der Y-Koordinate YB.
und besitzt ausgedrückt durch die Anzahl der Horizontalzeilen einen Durchmesser X1Jn/ der als YL1 dargestellt
ist.
Das Profil des Prüflings 1.' besitzt sein erstes Videosegment bei der Y-Koordinate· YB0 und hat gemessen in
der Anzahl horizontaler Zeilen eine Breite (Durchmesser des Prüflings 1') XDM/ die als YL2 in Fig. 5 dargestellt
ist. Die Übergangspunkte im geformten Videosignal sind ausgerichtet und lassen eine unverstummelte und annehmbare
Kapselkante an der Verbindung zwischen den beiden Hälften einer jeden die Prüflinge darstellenden Kapsel
erkennen.
Wie aus Fi.g. 5 zu ersehen, beträgt die vertikale Auflösung bei dieser Anordnung 240 Zeilen und die horizontale
Auflösung 320 Zellen.
In Fig. 6 ist die in Fig. 5 enthaltene Information in
Form einer Speicherkarte mit den Y-Koordinaten als Adressen dargestellt. Bis die Y-Koordinate YB1 erreicht wird,
.sind die an den einzelnen Adressen gespeicherten Daten
eine binäre "0". Nachdem, die Koordinate YB1 erreicht ist/
wird das geformte Videosignal "1", da von dem Bildwandler 4 die obere Kante der äußeren Kappe des Prüflings 1 erfaßt
wird. Die nun an den jeweiligen Adressen gespeicherten Daten sind X .. bis XUN/ wobei das Ausmaß bzw. die
Anzahl der Horizontalzeilen X1 bis Xn die Quer- oder
Breitenabmessung des Prüflings 1 ausgedrückt durch Horizontalz-eilen/
deren Trennung oder Abstand durch die Vertikalablenkschaltungen des Bildwandlers 4 bestimmt
wird/ ist.
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Das binäre Signal fällt auf "O" zurück, wenn der Bildwandler
den Bereich zwischen den Prüflingen 1 und 1'
abtastet. Bei YB2 ruft die Oberkante des Prüflings 11
eine binäre "1" des Videoausgangssignals hervor, die für M Horizontalzeilen von X . bis XD„ bestehen bleibt, was
einen Durchmesser von YL^ ergibt. Danach kehren die Video- und Binärsignale auf Null zurück. Diese Information
wird im Y-Koordinaten-Speicher gespeichert.
Fig. 6B zeigt die Speicherung von Kantenlängendaten (proj iziert auf die Y-Achse) für die Prüflinge 1 und 1'.
Fig. 7 zeigt die Signalverarbeitungs-und -speicherschaltung
7. Sie enthält ein RS-Flipflop 14 (bei dem es sich um den Typ SN74LS107 mit einem. SN7400 und einem SN7404
handeln kann). Dieses Flipflop wird von der Vorderflanke
des geformten Videosignals a, das in Zeile (E) in Fig. 8 gezeigt ist/.gesetzt. Das Flipflop 14 empfängt außerdem
die Horizontalsynchronimpulse HD und wird von der Rückflanke des nächsten Horizontalsynchronimpulses zurückgesetzt,
wie dies aus den Zeilen (F) und (G) in Fig. 8 hervorgeht/ von denen die Zeile (G) das Signal b am
Ausgang des Flipflops 14 zeigt. Der Impulszug des Signals b wird an ein D-Flipflop 15 geliefert, das außerdem die
Horizontalsynchronimpulse HD empfängt. Die Vorderflanke des Synchronimpulses, der das Flipflop 14 zurücksetzt,
schaltet, das Flipflop 15 ein, das dann in diesem "1"-Zustand.
bleibt, bis die Rückflanke des ersten Horizontalsynchronimpulses auftritt, der einläuft, während das Ausgangssignal
b des Flipflops 14 (Fig. 8(G)) "0" ist. Das resultierende Torsteuersignal ist als. Signal c in Zeile
(H)'in Fig. 8 gezeigt.
Das Signal c wird einem. Anstiegsflankendetektor 16 züge-
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führt (bei dem es sich um ein SN74LS107 mit einem SN7400
handeln kann). Das Ergebnis ist das Signal d in Fig. 8(1)
Das Signal c wird außerdem einem Abfallflankendetektor
17 geliefert (bei dem es sich um ein SN74LS107 mit einem SN7400 handeln kann). Das resultierende Signal
e ist in Zeile (J) von Fig. 8 gezeigt.
Die Signale d und e werden einem ODER Glied 19 (bei dem es sich um ein SN74 00 handeln kann) zugeführt und zu
dem Signal f von Fig. 8 (K) gemacht.
Das Signal f steuert ein Flipflop 22, um das Signal g von Fig. 8 (L) zu erzeugen. Das Signal g schaltet einen
Schalter 25 in die in ausgezogenen Linien gezeigte Stellung, wenn es "1" ist; in dieser Stellung des Schalters
25 werden Daten über Y-Koordinaten von einen Zähler 29 in den Speicher 28 eingespeichert. Wenn das Signal g "0" ist, nimmt
der Schalter 25 die gestrichelt gezeichnete Stellung ein, bei
der Y-Längendaten von einem Zähler 20 in den Speicher 28 gelangen .
Das Signal c wird auch noch einem UND Glied 18 zugeführt, das außerdem die Horizontalsynchronimpulse HD
empfängt (und bei dem. es sich um ein SN74161N handeln kann). Das Signal h am Ausgang des UND Glieds 18 ist in
Fig. 8 (M) gezeigt und enthält die Anzahl von Horizontalintervallen, die in das Torsteuersignal c fallen. Das
Signal h wird dem Y-Längen-Zähler 20 geliefert (der ein SN74161N sein kann). Auf diese Weise wird die Länge
einer Kante als Anzahl der Horizontalzeilen, die sie überspannt, bestimmt.
Das Signal f am Ausgang des ODER Glieds 19, wird nicht nur
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dem Flipflop 22, sondern auch einem. Prüflingsnummer-Zähler
21 (der ein SN74161N sein kann) zugeführt. Der Zähler 21 erhält den Blitzauslöseimpuls ST, der mit
einem Vertikalsynchronimpuls zusammenfällt und gibt ein Prüflingszählsignal als Adressensignal an den Speicher
28.
Das Prüflingszählsignal vom Zähler 21 wird über einen 2:1 Teiler 23 (der ein SN741.61N sein kann) und über eine
tO Eingabe/Ausgabe-Einrichtung 24 (die ein SN74367N sein
kann) zum Datenbus 9 geführt.
Das Signal a wird außer an das RS-Flipflop 14 an einen
Abfallflankendetektor 31 angelegt, der die erste Abfall-IS flanke im. Signal a während jedes Horizontalintervalls
feststellt. Der Abfallflankendetektor 31 erzeugt das bei (N) in Fig. 8 dargestellte Signal i, das zu einem ODER-Glied
32 gelangt, welches außerdem Horizontalsynchronimpülse
HD empfängt (das ODER-Glied 32 kann ein SN7400 sein). Das. Ausgangssignal des ODER-Glieds 32 ist das Signal j,
das in Flg. 8 (O) gezeigt ist.
Pieses Signal j wird, einem. Speicher 36 geliefert, dem
außerdem Impulse mit einer Folge.von 320 Impulsen pro Horizontal zeile aus. einem X-Koordinaten-Zähler 34 geliefert
werden, der ebenfalls die Horizontalsynchronimpulse empfängt. Der Zähler 34 bestimmt die X-Koordinate
jedes Y-Inkrements, wie dies in Verbindung mit Fig. 10(E)
noch erläutert wird.
Nachdem, das Signal g auf "0" zurückgekehrt ist, schaltet
die Steuerschaltung 11. Umschalter 25, 26, 27, 30 und 35
.von Schreib- auf Lesebetrieb, während der Mikrocomputer 1.0 die gespeicherten Daten, verarbeitet, um festzustellen,
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ob alle ermittelten Kanten gerade und frei von Fehlern sind und die richtige Länge besitzen. Sind diese Kriterien
erfüllt, dann wird der Prüfling angenommen, andernfalls mittels der Ausstoßsteuerschaltung bzw. dem Annahme/Ausstoß-Mechanis.mus
13 ausgestoßen.
(Bei den Umschaltern 25, 27 und 30 kann es sich um den Typ SM74157N handeln. Der Umschalter 26 kann ein SN74368N
sein. Der Umschalter 35 kann ein Intel8216 sein. Der Speicher 36 kann ein 2112A-4 von Intel sein.)
Fig. 9 zeigt die Berechnung, die vom Mikrocomputer 10
außerhalb der Haltezeit T1 (Fig. 4) ausgeführt wird,
wenn das Signal g "0" wird.
Fig. 9 wird am. besten in. Verbindung mit Fig. 10 erörtert.
Zunächst werden aus dem Speicher 36 X-Koordinaten ausgelesen, die eine Kante des Prüflings darstellen. Es wird
die Querabmessung YL der Ausdehnung gefunden, innerhalb derer irgendeine Differenz zwischen X-Koordinaten der
Kante auf zwei benachbarten horizontalen Abtastzeilen nicht größer als. 1 ist (die X-Koordinaten sind in ganzen
Zahlen gegeben). Gemäß Fig. 10(A) sieht der Bildwandler 4 zwei Kanten. Die eine ist die Kante 110, die andere
die Kante 112. In der Projektion auf die Y-Achse hat die Kante 110 die Länge YL1, die Kante 112 die Länge YL0.
Der Mikrocomputer 10 wird entscheiden, daß die Kante die maximale Länge YLmax besitzt und wird diese Länge
mit einer Bezaigslänge LVL1 vergleichen. Falls YLmax
kleiner als LVL1 sein sollte, wird ein Austoßsignal an den Mechanismus 13 (Fig. 3) gesendet. Ist
YLmax ^ LVLl (1)
dann wird die Analyse dadurch fortgesetzt, daß längs YLmax
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Xmin von Xmax subtrahiert wird. Ist die Gleichung
Xmax - Xmin £ LVL2 (2)
erfüllt, dann zeigt dies, daß die betrachtete Kante relativ gerade und unzerrissen ist. Ist beispielsweise
der Prüfling richtig ausgerichtet und die Kante gerade, dann wird Xmax - Xmin = 0 sein und damit die zweite
Prüfung erfüllt sein. Hat jedoch die äußere Kappe einen Schlitz, wie es bei. 120 an der Kante in Fig. 2(B) der
Fall ist, dann könnte zwar die erste Prüfung der Länge zufriedenstellend ausfallen, die zweite Prüfung von
Xmax - Xmin über die Länge YLmax wäre jedoch nicht zufriedenstellend. Xmax und Xmin sind in Fig. 10.(C) gezeigt.
1,5 Wird die Gleichung (2) nicht erfüllt, dann wird die
Analyse fortgesetzt um festzustellen, ob der Grund hierfür der ist, daß der Prüfling gekippt ist, wie es in
Fig. 10(D) gezeigt ist. Die interessierende Kante 120' würde die erste Prüfung bestehen, nicht aber die zweite.
Wie aus Fig. 1.0(E) zu ersehen, können zur Bildung von
Werten YL1 die Y-Inkremente YP1...YP51 eines Bereichs innerhalb
YLmax, in dem sich die X-Koordinaten Xi, Xi+T, Xi+2... in einer
Richtung ändern, also zunehmen oder abnehmen, aufsummiert und YL1 mit einem
dritten Bezugswert LVL3 verglichen werden. Wenn die Gleichung (3)
YL1 δ LVL3 (3)
nicht erfüllt ist, wird an den Mechanismus T3 (Fig. 3)
ein Ausstoßsignal geliefert. Ist Gleichung (3) erfüllt, findet eine weitere Analyse statt, bei der jeder Wert YP
mit dem Mittelwert YP aller YP verglichen wird. Falls die folgende Gleichung (4)
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ρ - ΥΡΚ] * LVL4 (4)
erfüllt ist, wird der Prüfling angenommen. LVL4 ist ein vierter Bezugswert. Falls die einzelnen Werte YPx,
deutlich vom Mittelwert YP abweichen, deutet dies auf eine Krümmung oder andere von einer geraden Linie abweichende Form der Kante hin. Ist Gleichung (4) nicht erfüllt, dann wird der Prüfling ausgestoßen.
deutlich vom Mittelwert YP abweichen, deutet dies auf eine Krümmung oder andere von einer geraden Linie abweichende Form der Kante hin. Ist Gleichung (4) nicht erfüllt, dann wird der Prüfling ausgestoßen.
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-Al
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Claims (8)
- BLUMBACH . WE3ER · BERGEN · KRAMER ZWIRNER - HOFFMANNPATENTANWÄLTE IN MÜNCHEN UND WIESBADEN 3012659Patentconsult Radeckestraße 43 8000 München 60 Telefon (089) 883603/883604 Telex 05-212313 Telegramme Patentconsult Petentconsult Sonnenberger Straße 43 6200 Wiesbaden Telefon (06121) 562943/561998 Telex 04-186237 Telegramme PalentconsultFuji Electric Company Ltd. 80/8723No. 1-1, Tanabeshinden, Kawasaki-ku, Ho/mü Kawasaki-shi, Kanagawa, JapanPatentansprüche; 1. Vorrichtung z.ur automatischen Untersuchung des Äußeren von Produkten mit einem geraden Kantenabschnitt, gekennzeichnet , durch:eine Abtasteinrichtung (4), durch die die Produkte (1, 1') fotoelektrisch abtastbar sind und die ein elektrisches Signal erzeugt, das proportional einer Lichtaus- bzw. -rückstrahlung vom Körper des Produkts ist und dessen Intensität sich an dem Kantenabschnitt ändert,eine Impulsabtrennstufe (5) zum Abtrennen von Horizontal- und Vertikalsynchronimpulsen, die der Abtastung dienen, von dem elektrischen Signal,einen Signalformer (6), der das Ausgangssignal der Impulsabtrennstufe (5) in ein binäres Signal (a) formt, eine Einrichtung (31 bis 36) zum Ermitteln und Speiehern der Koordinaten einer Stelle einer jeden Horizontalabtastzeile, an der das binäre Signal einen Anstieg030042/0774München: R. Kramer Dipl.-Ing. · W. Weser Dipl.-Phys. Dr. rer. nat. . E. Hoffmann Dipl.-Ing. Wiesbaden: P.G. Btumbach Dipl.-Ing. . P. Bergen Prof.Dr.jur.Dipl.-Ing.,Pat.-Ass, Pat.-Anw.bis 1979 . G.Zwirner Dipl.-Ing. Dipl.-W.-Ing.ORIGINAL INSPECTEDoder Abfall aufweist, undeine Einrichtung, die für jede Horizontalabtastzeile die Differenz zwischen diesen Koordinaten und denen der benachbarten Horizontalabtastzeile festeilt und entscheidet, daß der Kantenabschnitt gerade ist, wenn alle Differenzen kleiner als ein vorgegebener Wert sind, und die anhand der Anzahl von Horizontalabtastzeilen, für die diese Voraussetzung erfüllt ist, die Länge des geraden Kantenabschnitts bestimmt,wobei, das Produkt als annehmbar gewertet wird, wenn die Länge des geraden Kantenabschnitts größer als eine Bezugslänge ist und wenn durch Vergleich inkrementaler Änderungen der Koordinaten eine angemessene Linearetät des geraden Kantenabschnitts festgestellt wird.
- 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch g e k e η η z:ei. chnet, daß eine Einrichtung (10) zur Prüfung der Linearität die minimale von der maximalen Koordinate in Zeilenrichtung (X-Koordinate) innerhalb des Bereichs des. untersuchten Kantenabschnitts, der als gerade beurteilt wurde, subtrahiert und die Linearität als gegeben ausgibt, wenn die Differenz- einen bestimmten Wert nicht überschreitet.
- 3. Vorrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (1.0) , die, falls die Differenz, den bestimmten Wert überschreitet, in einem Bereich, in dem eine Reihe inkrementaler X-Koordinatenänderungen in gleicher Richtung auftritt, die Y-Inkremente aufsummiert und mit einem Bezugswert vergleicht, wobei eine das Produkt als Ausschuß kennzeichnende Information erzeugbar ist, wenn die Summe der Y-Inkremente kleiner a.ls der Bezugswert, ist. >030042/0 774
- 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (10), die, wenn die Summe der Y-Inkremente größer oder gleich dem Bezugswert ist, innerhalb jenes Bereichs den Durchschnittswert der Y-Inkremente, die je mit einer Änderungsstufe der X-Koordinate verbunden sind, ermittelt und die Differenzen zwischen dem Durchschnittswert und den jeweiligen Y-Inkrementen mit einem weiteren Bezugswert vergleicht und eine das Produkt als annehmbar ausgebende Information erzeugt, wenn keine dieser Differenzen den weiteren Bezugswert übersteigt.
- 5. Verfahren zur automatischen Untersuchung des Äußeren von Produkten zur Feststellung, ob diese eine gerade . Kante einer bestimmten Mindestlänge aufweisen, g e kennz-eichnet durch folgende Schritte:Zeilenweises Abtasten des Produkts und Erzeugen eines der lieuchtdichteverteilung des Produkts entsprechenden Videosignals,Untersuchen des Videosignals auf markante Signaländerungen, wie sie beim Abtasten einer Kante auftreten,Speichern der Abtastraster-Koordinaten solcher Signaländerungen,Bilden der Differenz zwischen den Koordinaten jeweils zweier benachbarter Zeilen,Ermitteln der Anzahl von Abtastzeilen, für die diese Differenz, unter einem, vorgegebenen Grenzwert liegt undVergleichen dieser Anzahl mit einer der Mindestlänge entsprechenden Zeilenanzahl.
30 - 6. Verfahren nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch den weiteren Schritt:Subtrahieren der minimalen.von der maximalen Koordinate in Zeilenrichtung (X-Koordinate) innerhalb eines nach den0 3 0042/077430T2559Schritten des Anspruchs 5 als gerade angenommenen Bereichs der untersuchten Kante und Vergleichen der Differenz mit einem bestimmten Wert wobei, wenn die Differenz den bestimmten Wert nicht überschreitet, das Produkt als annehmbar gilt und im anderen Fall das Verfahren fortgesetzt wird.
- 7. Verfahren nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch den weiteren Schritt:ο Aufsummieren der Y-Inkremente innerhalb eines Bereichs einer Reihe sich in gleicher Richtung ändernder X-Koordinaten und Vergleichen des Summenwerts mit einem Bezugswert, wobei., wenn der Summenwert kleiner als der Bezugswert ist, das Produkt als Ausschuß gilt und andernfalls das Verfahren fortgesetzt wird.
- 8..Verfahren nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch den weiteren Schritt:Ermitteln des Durchschnittswerts der im vorangegangenen Schritt aufsummierten Y-Inkremente und Vergleichen der Differenz zwischen diesem. Durchschnittswert und den einzelnen Y-Inkrementen mit einem weiteren Bezugswert, wobei, wenn keine dieser Differenzen den weiteren Bezugswert übersteigt, das Produkt als annehmbar gilt.030042/0774
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ID=12605558
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Country | Link |
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JPS6130684B2 (de) | 1986-07-15 |
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GB2051350B (en) | 1983-03-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: B07C 5/10 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |