JPS6113177B2 - - Google Patents
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- JPS6113177B2 JPS6113177B2 JP51143329A JP14332976A JPS6113177B2 JP S6113177 B2 JPS6113177 B2 JP S6113177B2 JP 51143329 A JP51143329 A JP 51143329A JP 14332976 A JP14332976 A JP 14332976A JP S6113177 B2 JPS6113177 B2 JP S6113177B2
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- Japan
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- target object
- circuit
- frame
- picture elements
- signal
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Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 12
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 10
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 10
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 5
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
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- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
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- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
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- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はリレーの接点等の外観不良を自動的に
検査する外観自動検査装置に関するものである。
検査する外観自動検査装置に関するものである。
ここで対象となる接点において、外観不良は外
形寸法の不足、接点表面のキズ、異物付着、側面
から周囲に広がる溶接チリ、つぶれ等である。
形寸法の不足、接点表面のキズ、異物付着、側面
から周囲に広がる溶接チリ、つぶれ等である。
従来この種の外観検査は目視により行なわれて
いるが、微小な部品であるので長時間の安定した
検査結果を得ることは不可能であつた。
いるが、微小な部品であるので長時間の安定した
検査結果を得ることは不可能であつた。
本発明の目的は、従来技術の欠点をなくし、撮
像装置に対して対象物の位置がずれたとしても、
更に対象物の大きさが変化したとしても対象物の
輪郭を欠陥と見なすことなく、対象物体の表面に
欠陥が存在するか否かを安定して自動的に検査す
ることができるようにした外観自動検査装置を提
供することにある。
像装置に対して対象物の位置がずれたとしても、
更に対象物の大きさが変化したとしても対象物の
輪郭を欠陥と見なすことなく、対象物体の表面に
欠陥が存在するか否かを安定して自動的に検査す
ることができるようにした外観自動検査装置を提
供することにある。
ところで対象物体が接点である場合には接点が
閉じた時の電気的接触性ないし導通性を左右する
のは、接点自身の外形寸法の不足と接点表面にあ
るキズや異物である。したがつて接点表面として
は、最低限の面積を確保すればよく、さらにその
面積内にキズや異物がなければよい。又一方、開
いた時の絶縁性を疎外するのは、接点周囲にある
溶接チリや接点のつぶれである。溶接チリやつぶ
れは長さが短かければ絶縁性に影響を及ぼさな
い。したがつて接点周囲から一定値離れた場所に
おいて、溶接チリやつぶれがあるか検査すればよ
い。
閉じた時の電気的接触性ないし導通性を左右する
のは、接点自身の外形寸法の不足と接点表面にあ
るキズや異物である。したがつて接点表面として
は、最低限の面積を確保すればよく、さらにその
面積内にキズや異物がなければよい。又一方、開
いた時の絶縁性を疎外するのは、接点周囲にある
溶接チリや接点のつぶれである。溶接チリやつぶ
れは長さが短かければ絶縁性に影響を及ぼさな
い。したがつて接点周囲から一定値離れた場所に
おいて、溶接チリやつぶれがあるか検査すればよ
い。
本発明はこのような観点から撮像装置から得ら
れる映像信号を２値化する２値化回路と、２値化
信号にもとづいて画面の縦及び横方向について頻
度分布を求め、この頻度分布をもとにして対象物
体の中心位置を検出する中心位置検出回路と、こ
の中心位置座標にもとづいて対象物体の輪郭によ
つて示される大きさと異なつた内枠と外枠を設定
して、それら内枠と外枠に相当した信号を発生す
る枠信号発生回路を設け、２値絵素化信号をｎ×
ｍ（但し、ｎ、ｍは各々整数。ｎ、ｍが同じでも
よい）の絵素に順次切出す切出回路を設け、上記
枠信号発生回路で設定された内枠と外枠との間を
不感帯にして上記切出回路によつて切出された絵
素の組合わせをもつて対象物体に欠陥が存在する
か否かを判定する判定手段を設け、撮像装置に対
して対象物体の位置がずれても、更に対象物体の
大きさが変化しても対象物体の輪郭を欠陥とみな
すことなく、安定して対象物体の表面を検査する
ことができるようにしたことに特徴を有する外観
自動検査装置である。
れる映像信号を２値化する２値化回路と、２値化
信号にもとづいて画面の縦及び横方向について頻
度分布を求め、この頻度分布をもとにして対象物
体の中心位置を検出する中心位置検出回路と、こ
の中心位置座標にもとづいて対象物体の輪郭によ
つて示される大きさと異なつた内枠と外枠を設定
して、それら内枠と外枠に相当した信号を発生す
る枠信号発生回路を設け、２値絵素化信号をｎ×
ｍ（但し、ｎ、ｍは各々整数。ｎ、ｍが同じでも
よい）の絵素に順次切出す切出回路を設け、上記
枠信号発生回路で設定された内枠と外枠との間を
不感帯にして上記切出回路によつて切出された絵
素の組合わせをもつて対象物体に欠陥が存在する
か否かを判定する判定手段を設け、撮像装置に対
して対象物体の位置がずれても、更に対象物体の
大きさが変化しても対象物体の輪郭を欠陥とみな
すことなく、安定して対象物体の表面を検査する
ことができるようにしたことに特徴を有する外観
自動検査装置である。
以下本発明を図に示す実施例にもとづいて具体
的に説明する。第１図は本発明による接点外観自
動検査装置の全体概略構成を示した図である。即
ち接点パネ２に溶接された接点１に光源３、集光
レンズ４、ハーフミラー５により落射照明し、レ
ンズ６によりTVカメラ２１の撮像面に結像す
る。該TVカメラ２１で検出された映像信号を２
値化回路７で２値化し、中心位置検出回路８で上
記接点１の輪郭１ａから中心位置を検出する。こ
の中心位置検出回路８は第２図に示すように構成
されている。
的に説明する。第１図は本発明による接点外観自
動検査装置の全体概略構成を示した図である。即
ち接点パネ２に溶接された接点１に光源３、集光
レンズ４、ハーフミラー５により落射照明し、レ
ンズ６によりTVカメラ２１の撮像面に結像す
る。該TVカメラ２１で検出された映像信号を２
値化回路７で２値化し、中心位置検出回路８で上
記接点１の輪郭１ａから中心位置を検出する。こ
の中心位置検出回路８は第２図に示すように構成
されている。
即ちTVカメラ２１からの映像信号を２値化回
路７により２値化し、クロツク２３と共にゲート
２４に入力することにより分割してサンプリング
する。ところで第３図に示す如くサンプル数は横
方向（走査線方向）にｍ個とし、走査線数は縦方
向にｎ本とする。そこでまず、縦方向の中心座標
を検出するためには、走査線方向に“黒”の絵素
数を計数して縦方向頻度分布曲線を求めることに
よつて行なわれる。
路７により２値化し、クロツク２３と共にゲート
２４に入力することにより分割してサンプリング
する。ところで第３図に示す如くサンプル数は横
方向（走査線方向）にｍ個とし、走査線数は縦方
向にｎ本とする。そこでまず、縦方向の中心座標
を検出するためには、走査線方向に“黒”の絵素
数を計数して縦方向頻度分布曲線を求めることに
よつて行なわれる。
即ちカウンタ２５により一本の走査線について
サンプリング部分の“黒”の絵素の個数をカウン
トする。このカウンタ２５の内容は水平同期信号
Hsyncによりクリアするようにし、クリアされる
直前のカウンタの内容をメモリ２６に入れる。一
方別のカウンタ２７により水平同期信号Hsyncの
数をカウントし、番地選択２８を通してメモリさ
れる内容と走査線の順序とを対応づける。このよ
うにしてカウンタ２５は一本の走査線中の“黒”
の絵素数をカウントし、その個数はその走査線の
番号と対応づけられてメモリ２６に記憶される。
サンプリング部分の“黒”の絵素の個数をカウン
トする。このカウンタ２５の内容は水平同期信号
Hsyncによりクリアするようにし、クリアされる
直前のカウンタの内容をメモリ２６に入れる。一
方別のカウンタ２７により水平同期信号Hsyncの
数をカウントし、番地選択２８を通してメモリさ
れる内容と走査線の順序とを対応づける。このよ
うにしてカウンタ２５は一本の走査線中の“黒”
の絵素数をカウントし、その個数はその走査線の
番号と対応づけられてメモリ２６に記憶される。
一方カウンタ２５は水平同期信号Hsyncにより
クリアされ、つぎの走査線について新たなカウン
トを行なう。従つてカウンタ２５のカウントする
最大値は、一本の走査線がすべて“黒”の場合、
すなわちｍ個であり、メモリ２６は最大ｍ個まで
の値を走査線の本数ｎ本分記憶できればよい。
クリアされ、つぎの走査線について新たなカウン
トを行なう。従つてカウンタ２５のカウントする
最大値は、一本の走査線がすべて“黒”の場合、
すなわちｍ個であり、メモリ２６は最大ｍ個まで
の値を走査線の本数ｎ本分記憶できればよい。
つぎに横方向の中心座標を検出するためには画
面中の“黒”の絵素数を縦方向に計数して横方向
頻度分布曲線を求めることによつて行なわれる。
面中の“黒”の絵素数を縦方向に計数して横方向
頻度分布曲線を求めることによつて行なわれる。
即ちクロツク信号２３でサンプリングした信号
をフルアダー３１の桁上がりに入れる。そしてフ
ルアダー３１の内容とたし合わされた後の値をた
だちにシフトレジスタ３２に入れる。今、例えば
ｎ＝１、ｍ＝１すなわち第１番目の走査線の最初
のサンプリング値が“黒”（＝１）であるとする
と、フルアダー３１は最初にクリアされているの
で、たし合わせ結果はそのまま“１”がシフトレ
ジスタ３２に入る。
をフルアダー３１の桁上がりに入れる。そしてフ
ルアダー３１の内容とたし合わされた後の値をた
だちにシフトレジスタ３２に入れる。今、例えば
ｎ＝１、ｍ＝１すなわち第１番目の走査線の最初
のサンプリング値が“黒”（＝１）であるとする
と、フルアダー３１は最初にクリアされているの
で、たし合わせ結果はそのまま“１”がシフトレ
ジスタ３２に入る。
シフトレジスタ３２に入れられた内容はサンプ
リング周期と同じクロツク信号によりシフトされ
る。ここでフルアダー３１は最大ｎ個のカウント
ができる２進ビツト数をもつていればよい。同様
にシフトレジスタ３２は最大ｎ個の数を同時に記
憶できるだけのものを並列に組み、シフト方向に
はｍビツトとする。例えばサンプリング数ｍ＝
100、走査線数ｎ＝128とするとフルアダー３１は
ｋビツト、例えばｋ＝７、シフトレジスタ３２は
シフト方向に100ビツト分つなげたものをｋ＝７
個並列にすればよい。このようにしてフルアダー
３１に新たなサンプリング結果が入ると、加算後
の値はシフトレジスタ３２に移され、同時にそれ
までのシフトレジスタ３２中の内容は１ビツト右
に送られる。順次この操作をくりかえすと、一本
走査線が終了した時、最初のサンプリング結果
（ｎ＝１、ｍ＝１）はｍビツトシフトされてシフ
トレジスタ３２の端末に出る。これを再びフルア
ダー３１にもどすと、新たにフルアダー３１に入
つて来た信号とたし合わせることができる。とこ
ろでこの時新たに入つて来た信号は、ｎ＝２、ｍ
＝１すなわち第２本目の走査線の最初の番地のサ
ンプリング結果である。これが再び“１”であれ
ば、前記例では加算結果は２個、“０”であれば
そのまま１個になり、これに相当する２進数がシ
フトレジスタ３２に入る。
リング周期と同じクロツク信号によりシフトされ
る。ここでフルアダー３１は最大ｎ個のカウント
ができる２進ビツト数をもつていればよい。同様
にシフトレジスタ３２は最大ｎ個の数を同時に記
憶できるだけのものを並列に組み、シフト方向に
はｍビツトとする。例えばサンプリング数ｍ＝
100、走査線数ｎ＝128とするとフルアダー３１は
ｋビツト、例えばｋ＝７、シフトレジスタ３２は
シフト方向に100ビツト分つなげたものをｋ＝７
個並列にすればよい。このようにしてフルアダー
３１に新たなサンプリング結果が入ると、加算後
の値はシフトレジスタ３２に移され、同時にそれ
までのシフトレジスタ３２中の内容は１ビツト右
に送られる。順次この操作をくりかえすと、一本
走査線が終了した時、最初のサンプリング結果
（ｎ＝１、ｍ＝１）はｍビツトシフトされてシフ
トレジスタ３２の端末に出る。これを再びフルア
ダー３１にもどすと、新たにフルアダー３１に入
つて来た信号とたし合わせることができる。とこ
ろでこの時新たに入つて来た信号は、ｎ＝２、ｍ
＝１すなわち第２本目の走査線の最初の番地のサ
ンプリング結果である。これが再び“１”であれ
ば、前記例では加算結果は２個、“０”であれば
そのまま１個になり、これに相当する２進数がシ
フトレジスタ３２に入る。
このようにして縦方向に等しい番地同志のサン
プリング結果が順次たし合わされ、その結果がシ
フトレジスタ３２に記憶されて行く。シフトレジ
スタ３２の内容はVsync（垂直同期信号）により
１フレーム終了時クリアされるが、その直前の内
容をメモリ３３に移し変える。なお、カウンタ３
４によりクロツク信号をカウントし、番地選択３
５を通してサンプリング番地とシフトレジスタの
内容を対応づける。
プリング結果が順次たし合わされ、その結果がシ
フトレジスタ３２に記憶されて行く。シフトレジ
スタ３２の内容はVsync（垂直同期信号）により
１フレーム終了時クリアされるが、その直前の内
容をメモリ３３に移し変える。なお、カウンタ３
４によりクロツク信号をカウントし、番地選択３
５を通してサンプリング番地とシフトレジスタの
内容を対応づける。
以上のようにして、メモリ２９，３３の中にそ
れぞれ縦方向および横方向の“黒”の絵素数の頻
度分布が第４図に示すように求まつた。以後この
メモリの内容を１つづつ読出し、コンパレータ
（図示せず）を用い両サイドの最大値を示す番地
（lx1、lx2、ly1、ly2）を検出し、演算回路（図示せ
ず）により両側の番地を平均して縦、横の中心位
置座標（X0＝ｌｘ１＋ｌｘ２／２、Y0＝ｌｙ１＋ｌｙ２
／２）を求め る。
れぞれ縦方向および横方向の“黒”の絵素数の頻
度分布が第４図に示すように求まつた。以後この
メモリの内容を１つづつ読出し、コンパレータ
（図示せず）を用い両サイドの最大値を示す番地
（lx1、lx2、ly1、ly2）を検出し、演算回路（図示せ
ず）により両側の番地を平均して縦、横の中心位
置座標（X0＝ｌｘ１＋ｌｘ２／２、Y0＝ｌｙ１＋ｌｙ２
／２）を求め る。
次に枠発生回路９は第４図に示す如く、上記中
心位置検出回路８で求められた中心位置座標
（X0、Y0）を原点にして、水平同期信号Hsyncと
サンプリングするクロツク信号にもとづいて各々
の信号をカウンタ（図示せず）によつて計数し
て、接点表面に予め大きさを設定した内枠１９の
内側において全て“１”なるゲート信号３６及び
接点周囲に予め大きさを設定した外枠の外側にお
いて全て“１”なるゲート信号３７を出力するも
のである。即ち接点の大きさは予め定められてい
るので、輪郭の非直線性及びバラツキを考慮すれ
ば、自ら枠を設定するための値H1、H2、H3、H4
が定まる。この値H1、H2、H3、H4を指定するこ
とによつて、例えば第４図に示す如く上記中心位
置座標（X0、Y0）を基準にして接点の周囲に設定
された外枠２０（縦方向についてはX1＝X0−
H1、X2＝X0＋H1、横方向についてはY1＝Y0−
H2、Y2＝Y0＋H2）については、水平同期信号
Hsyncの数（即ち走査線の数）を第１のカウンタ
により計数して該第１のカウンタの内容がX1に
なるまで走査線全て“１”なるゲート信号３７を
出力し、該第１のカウンタの内容がX1からX2の
間は、サンプリングするクロツク信号を第２のカ
ウンタにより計数して第２のカウンタの内容が
Y1以前とY2以後について“１”なるゲート信号
３７を出力し、上記第１のカウンタの内容がX2
以後については走査線全て“１”なるゲート信号
３７を出力するようにしたフリツプフロツプ（図
示せず）を有している。内枠１９（X3＝X0−
H3、X4＝X0＋H3、Y3＝Y0−H4、Y4＝Y0＋H4）に
ついても上記外枠２０と同様にゲート信号３６を
形成するフリツプフロツプ（図示せず）を備えて
いる。なお、上記外枠２０も内枠１９も中心座標
（X0、Y0）から設定しているが、中心座標はX0＝
ｌｘ１＋ｌｘ２／２、Y0＝ｌｙ１＋ｌｙ２／２から検出
しているので lx1、lx2、ly1、ly2から枠を設定しても同じである
ことは明らかである。
心位置検出回路８で求められた中心位置座標
（X0、Y0）を原点にして、水平同期信号Hsyncと
サンプリングするクロツク信号にもとづいて各々
の信号をカウンタ（図示せず）によつて計数し
て、接点表面に予め大きさを設定した内枠１９の
内側において全て“１”なるゲート信号３６及び
接点周囲に予め大きさを設定した外枠の外側にお
いて全て“１”なるゲート信号３７を出力するも
のである。即ち接点の大きさは予め定められてい
るので、輪郭の非直線性及びバラツキを考慮すれ
ば、自ら枠を設定するための値H1、H2、H3、H4
が定まる。この値H1、H2、H3、H4を指定するこ
とによつて、例えば第４図に示す如く上記中心位
置座標（X0、Y0）を基準にして接点の周囲に設定
された外枠２０（縦方向についてはX1＝X0−
H1、X2＝X0＋H1、横方向についてはY1＝Y0−
H2、Y2＝Y0＋H2）については、水平同期信号
Hsyncの数（即ち走査線の数）を第１のカウンタ
により計数して該第１のカウンタの内容がX1に
なるまで走査線全て“１”なるゲート信号３７を
出力し、該第１のカウンタの内容がX1からX2の
間は、サンプリングするクロツク信号を第２のカ
ウンタにより計数して第２のカウンタの内容が
Y1以前とY2以後について“１”なるゲート信号
３７を出力し、上記第１のカウンタの内容がX2
以後については走査線全て“１”なるゲート信号
３７を出力するようにしたフリツプフロツプ（図
示せず）を有している。内枠１９（X3＝X0−
H3、X4＝X0＋H3、Y3＝Y0−H4、Y4＝Y0＋H4）に
ついても上記外枠２０と同様にゲート信号３６を
形成するフリツプフロツプ（図示せず）を備えて
いる。なお、上記外枠２０も内枠１９も中心座標
（X0、Y0）から設定しているが、中心座標はX0＝
ｌｘ１＋ｌｘ２／２、Y0＝ｌｙ１＋ｌｙ２／２から検出
しているので lx1、lx2、ly1、ly2から枠を設定しても同じである
ことは明らかである。
内枠内側２値化回路１０は上記TVカメラ２１
から得られる映像信号を所定の閾値で２値化し、
この２値化された信号と、枠発生回路９から得ら
れるゲート信号３６とをゲート（図示せず）にお
いてANDを取り、その信号３８を判定回路１２
ａに入力する。この判定回路１２ａは、第６図に
示す如く一走査線のサンプリングされた数だけ順
次シフトして記憶するシフトレジスタ３９を７個
並列に設置し、各々シフトレジスタ３９から出力
される絵素毎の信号を記憶する７×７の絵素を有
するメモリ４０と、各絵素の各列毎及び各行毎に
論理和否定をとる論理和否定回路４１，４２と、
該論理和否定回路４１，４２の出力信号の論理積
否定をとる論理積否定回路４３，４４と、該論理
積否定回路４３，４４の出力信号の論理和否定を
とる論理和否定回路４５と、上記メモリ４０の各
全ての絵素に亘つて“０”なる信号の数を計数
し、その数が例えば16未満のときは“０”なる信
号を、16以上のときは“１”なる信号を出力する
カウンタ回路４６と、該カウンタ回路４６の出力
と論理和否定回路４５と出力との論理積とする論
理積回路４７とによつて構成されている。また外
枠外側２値化回路１１は、上記TVカメラ２１か
ら得られる映像信号を所定の閾値で２値化し、こ
の２値化された信号と、枠発生回路９から得られ
るゲート信号３７とをゲート（図示せず）におい
てANDを取り、その信号４８を判定回路１２ｂ
に入力する。この判定回路１２ｂは第５図に示す
如く、一走査線のサンプリングされた数だけ順次
シフトして記憶するシフトレジスタ４９を３個並
列に設置し、各々シフトレジスタ４９から出力さ
れる絵素毎の信号を記憶する３×３の絵素を有す
るメモリ５０と、該メモリ５０の全ての絵素につ
いて信号を反転させるインバータ５１と、該イン
バータ５１の全ての出力の論理積をとる論理積回
路５２とから構成されている。
から得られる映像信号を所定の閾値で２値化し、
この２値化された信号と、枠発生回路９から得ら
れるゲート信号３６とをゲート（図示せず）にお
いてANDを取り、その信号３８を判定回路１２
ａに入力する。この判定回路１２ａは、第６図に
示す如く一走査線のサンプリングされた数だけ順
次シフトして記憶するシフトレジスタ３９を７個
並列に設置し、各々シフトレジスタ３９から出力
される絵素毎の信号を記憶する７×７の絵素を有
するメモリ４０と、各絵素の各列毎及び各行毎に
論理和否定をとる論理和否定回路４１，４２と、
該論理和否定回路４１，４２の出力信号の論理積
否定をとる論理積否定回路４３，４４と、該論理
積否定回路４３，４４の出力信号の論理和否定を
とる論理和否定回路４５と、上記メモリ４０の各
全ての絵素に亘つて“０”なる信号の数を計数
し、その数が例えば16未満のときは“０”なる信
号を、16以上のときは“１”なる信号を出力する
カウンタ回路４６と、該カウンタ回路４６の出力
と論理和否定回路４５と出力との論理積とする論
理積回路４７とによつて構成されている。また外
枠外側２値化回路１１は、上記TVカメラ２１か
ら得られる映像信号を所定の閾値で２値化し、こ
の２値化された信号と、枠発生回路９から得られ
るゲート信号３７とをゲート（図示せず）におい
てANDを取り、その信号４８を判定回路１２ｂ
に入力する。この判定回路１２ｂは第５図に示す
如く、一走査線のサンプリングされた数だけ順次
シフトして記憶するシフトレジスタ４９を３個並
列に設置し、各々シフトレジスタ４９から出力さ
れる絵素毎の信号を記憶する３×３の絵素を有す
るメモリ５０と、該メモリ５０の全ての絵素につ
いて信号を反転させるインバータ５１と、該イン
バータ５１の全ての出力の論理積をとる論理積回
路５２とから構成されている。
第４図には内枠内側２値化回路１０及び外枠外
側２値化回路１１により２値化した接点の映像と
枠発生回路９により作成した内枠及び外枠との関
係を示す２値化映像画面２２の一例をあげる。こ
の図に示す如く中心位置検出回路８は縦及び横の
頻度分布を求め、輪郭１４の黒の部分に生じる頻
度分布の最大値にもとづいて求められた中心位置
１５のまわりに枠発生回路９は内枠１９、外枠２
０に相当するゲート信号３６，３８を形成する。
ところで接点１の２値化映像にはキズ１６、溶接
チリ１７、つぶれ１８が現われている。ここで判
定回路１２ａにより、内枠内側では検出したいキ
ズや異物の大きさにあわせた例えば７×７絵素数
のマス目で走査し、16以上黒の絵素数が存在し、
且全ての行または列に亘つて黒の絵素がつながつ
ている場合には不良として判定し、また外枠外側
でも検出したいチリやつぶれの大きさにあわせた
例えば３×３の絵素数のマス目で走査し、この全
ての絵素が黒として存在したとき不良として判定
を行なう。なお内枠内側は全面走査であるが、外
枠外側では事情が許せば外周沿いの走査でもい
い。また上記実施例では内枠内側２値化回路１０
及び外枠外側２値化回路１１にTVカメラ２１か
ら得られる映像信号を入力したが、２値化回路７
の出力をそのまま入力してもよい。
側２値化回路１１により２値化した接点の映像と
枠発生回路９により作成した内枠及び外枠との関
係を示す２値化映像画面２２の一例をあげる。こ
の図に示す如く中心位置検出回路８は縦及び横の
頻度分布を求め、輪郭１４の黒の部分に生じる頻
度分布の最大値にもとづいて求められた中心位置
１５のまわりに枠発生回路９は内枠１９、外枠２
０に相当するゲート信号３６，３８を形成する。
ところで接点１の２値化映像にはキズ１６、溶接
チリ１７、つぶれ１８が現われている。ここで判
定回路１２ａにより、内枠内側では検出したいキ
ズや異物の大きさにあわせた例えば７×７絵素数
のマス目で走査し、16以上黒の絵素数が存在し、
且全ての行または列に亘つて黒の絵素がつながつ
ている場合には不良として判定し、また外枠外側
でも検出したいチリやつぶれの大きさにあわせた
例えば３×３の絵素数のマス目で走査し、この全
ての絵素が黒として存在したとき不良として判定
を行なう。なお内枠内側は全面走査であるが、外
枠外側では事情が許せば外周沿いの走査でもい
い。また上記実施例では内枠内側２値化回路１０
及び外枠外側２値化回路１１にTVカメラ２１か
ら得られる映像信号を入力したが、２値化回路７
の出力をそのまま入力してもよい。
さらにノイズの影響を除去し、しかも接点表面
と接点バネとの明るさに相異による影響、及びノ
イズの影響をできるだけ少なくするためには、内
枠内側と外枠外側で異なる閾値で２値化処理を行
なうことが必要で、各々内枠内側２値化回路１０
及び外枠外側２値化回路１１で２値化を行なう方
が良好な２値化映像信号を得ることができる。
と接点バネとの明るさに相異による影響、及びノ
イズの影響をできるだけ少なくするためには、内
枠内側と外枠外側で異なる閾値で２値化処理を行
なうことが必要で、各々内枠内側２値化回路１０
及び外枠外側２値化回路１１で２値化を行なう方
が良好な２値化映像信号を得ることができる。
以上説明したように本発明によれば、画面の縦
方向及び横方向に求められた頻度分布から対象物
体の輪郭を示す領域座標を求め、この領域座標か
ら輪郭の内側と外側とに設定された内枠と外枠と
の間を不感帯にして対象物の表面を判定する判定
法を導入したことにより、撮像装置に対する対象
物の位置ずれが生じても、対象物の大きさが変動
しても、対象物の輪郭部のノイズの発生や反射率
の変動にともなつて欠陥としてみなすことなく、
対象物の表面に欠陥が存在するか否かを安定して
自動的に検査することができる効果を有する。
方向及び横方向に求められた頻度分布から対象物
体の輪郭を示す領域座標を求め、この領域座標か
ら輪郭の内側と外側とに設定された内枠と外枠と
の間を不感帯にして対象物の表面を判定する判定
法を導入したことにより、撮像装置に対する対象
物の位置ずれが生じても、対象物の大きさが変動
しても、対象物の輪郭部のノイズの発生や反射率
の変動にともなつて欠陥としてみなすことなく、
対象物の表面に欠陥が存在するか否かを安定して
自動的に検査することができる効果を有する。
第１図は本発明の外観自動検査装置の概要構成
を示す図、第２図は第１図に示す中心位置検出回
路を具体的に示したブロツク図、第３図はTVカ
メラでモニタされた画面を示した図、第４図は黒
の絵素の縦、横方向の頻度分布とそれら頻度分布
の最大値から得られる対象物体の中心位置座標
と、TVカメラでモニタされる画面に内枠及び外
枠を設定した状態とを示す図、第５図は外枠外側
を判定する判定回路を具体的に示した構成図、第
６図は内枠内側を判定する判定回路を具体的に示
した構成図である。 符号の説明、１……接点、２……接点バネ、３
……光源、４……集光レンズ、６……レンズ、７
……２値化回路、８……中心位置検出回路、９…
…枠発生回路、１０……内枠内側２値化回路、１
１……外枠外側２値化回路、１２ａ，１２ｂ……
判定回路、２１……TVカメラ。
を示す図、第２図は第１図に示す中心位置検出回
路を具体的に示したブロツク図、第３図はTVカ
メラでモニタされた画面を示した図、第４図は黒
の絵素の縦、横方向の頻度分布とそれら頻度分布
の最大値から得られる対象物体の中心位置座標
と、TVカメラでモニタされる画面に内枠及び外
枠を設定した状態とを示す図、第５図は外枠外側
を判定する判定回路を具体的に示した構成図、第
６図は内枠内側を判定する判定回路を具体的に示
した構成図である。 符号の説明、１……接点、２……接点バネ、３
……光源、４……集光レンズ、６……レンズ、７
……２値化回路、８……中心位置検出回路、９…
…枠発生回路、１０……内枠内側２値化回路、１
１……外枠外側２値化回路、１２ａ，１２ｂ……
判定回路、２１……TVカメラ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 対象物体と背景との間に輪郭を有し、対象物
体の表面と背景とは共に明部または暗部になるよ
うに形成すると共に欠陥部分及び対象物体の輪郭
は暗部または明部になるように形成し、上記対象
物体及び背景を拡大結像する光学系を設け、該光
学系によつて拡大された対象物体及び背景の像を
撮像して映像信号を検出する撮像装置を設け、該
撮像装置から得られる映像信号を所定の閾値で２
値化すると共に絵素化する２値化回路を設け、該
２値化回路から得られる２値絵素化信号にもとづ
いて画面の縦方向及び横方向の頻度分布を求め、
この頻度分布に応じて上記対象物体の輪郭によつ
て示される領域座標を求める検出回路を設け、該
検出回路から得られる領域座標にもとづいて対象
物体の輪郭によつて示される大きさと異なつた内
枠と外枠を設定してそれら内枠と外枠に相当した
信号を発生する枠信号発生回路を設け、２値絵素
化信号をｎ×ｍ（但し、ｎ、ｍは各々整数。ｎ、
ｍは同じ場合も含む。）の絵素に順次切出す切出
回路を設け、上記枠信号発生回路で設定された内
枠と外枠との間を不感帯にして、上記切出回路に
よつて切出された絵素の組合わせをもつて対象物
体に欠陥が存在するか否かを判定する判定手段を
設けたことを特徴とする外観自動検査装置。 ２ 上記切出回路は、上記内枠の内側及び外枠の
外側において、映像信号を互いに異なつた値で２
値化すると共に絵素化して各２値絵素化信号を各
n1×n1、n2×n2（但し、n1、n2は各々異なつた整
数。）の絵素に切出すように構成したことを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の外観自動検査
装置。 ３ 上記判定手段は、内枠の内側においてｎ×ｎ
の絵素に亘つて欠陥に相当する絵素数が所定の値
以上であつて、欠陥に相当する絵素について縦方
向または横方向にｎ数連続した場合、欠陥として
判定するよう構成することを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の外観自動検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14332976A JPS5368847A (en) | 1976-12-01 | 1976-12-01 | Automatic appearance inspecting device |
| US05/856,097 US4242702A (en) | 1976-12-01 | 1977-11-30 | Apparatus for automatically checking external appearance of object |
| DE2753593A DE2753593C2 (de) | 1976-12-01 | 1977-12-01 | Optische Prüfeinrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14332976A JPS5368847A (en) | 1976-12-01 | 1976-12-01 | Automatic appearance inspecting device |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60084479A Division JPS60247143A (ja) | 1985-04-22 | 1985-04-22 | 接点の外観検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5368847A JPS5368847A (en) | 1978-06-19 |
| JPS6113177B2 true JPS6113177B2 (ja) | 1986-04-11 |
Family
ID=15336239
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14332976A Granted JPS5368847A (en) | 1976-12-01 | 1976-12-01 | Automatic appearance inspecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5368847A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55117944A (en) * | 1979-03-05 | 1980-09-10 | Daihen Corp | Pattern automatic check method |
| JPS56164545A (en) * | 1980-05-21 | 1981-12-17 | Hitachi Ltd | Pellet bonding inspection and device therefor |
| JPS5861448A (ja) * | 1981-10-09 | 1983-04-12 | Hitachi Ltd | パタ−ン検査方式 |
| JPS60125547A (ja) * | 1983-12-09 | 1985-07-04 | Fujitsu Ltd | 検査装置 |
| JPS62284267A (ja) * | 1986-06-03 | 1987-12-10 | Anritsu Corp | スペクトラムアナライザ |
| JPH0676969B2 (ja) * | 1986-07-07 | 1994-09-28 | 共同印刷株式会社 | 繰返しパタ−ンをもつ物品の検査方法及びその装置 |
| JP2005345386A (ja) * | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Tdk Corp | チップ部品の検査方法及びその検査装置 |
-
1976
- 1976-12-01 JP JP14332976A patent/JPS5368847A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5368847A (en) | 1978-06-19 |
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