JPH0572141A - 円形容器内面検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】従来のビール缶の内面検査では微分法等による
黒汚れ及び白汚れの検出を行うのみであるため、対象画
像を多数のウィンドウ領域に分け、夫々にしきい値を設
定して検査する必要があり、時間がかかりかつ検査精度
が低かったことを改善する。 【構成】従来の黒汚れ、白汚れの検査手段としての不良
検出回路７，不良検出判定回路１２のほかに缶内面高輝
度部の外周および内周の円形性を検査する手段としての
画像エッジ検出回路６，高輝度部判定回路１１を設け、
この円形性検査手段６，１１に高輝度部における缶のへ
こみ，ゆがみのほか、汚れ検査を兼ね行わせることでウ
ィンドウ領域数を減ずる。なお円形性検出検査に先立ち
画像エッジ検出回路６を介し缶口部高輝度部の２値画像
走査線上の最初の立上り点と最後の立下り点の中点座標
の平均値を求め缶位置を特定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は例えばコンベアなどで搬
送されるビール缶などの円形容器内面を検査し、異物・
ゴミ・傷などを検出する画像処理装置としての円形容器
内面検査装置に関する。なお以下各図において同一の符
号は同一もしくは相当部分を示す。

【０００２】

【従来の技術】図１２は一例としてビール用アルミ缶の
容器を上面より観測した場合の高輝度部の説明図で、同
図（Ａ）は缶容器の上面（画像）図、同図（Ｂ）は側断
面図である。そして１０２は容器、１０１はこの容器１
０２を上方から照らすリング状の照明器、１０３は口部
の高輝度部、１０４は底部の高輝度部である。このよう
にリング照明器１０１を用いて容器１０２の内面に光線
を照射することにより、容器内部の口部と底部に夫々１
０３，１０４のような高輝度部が発生する。特に缶など
のように容器内部に金属光沢のある場合は顕著である。

【０００３】図１３（Ｂ）は容器１０２の上面画像（図
１３（Ａ））に対する走査線Ｑ−Ｑ１上の濃度変化を示
したものであるが、濃度変化の特徴よりＷ１〜Ｗ５の５
つの領域に分類される。第１の領域Ｗ１は口部高輝度部
１０３であり、第２の領域Ｗ２は濃度変化が比較的小さ
い容器側面上中部であり、第３の領域Ｗ３は図１２で述
べた照明１０１による光線があまり届かないため、他の
領域より暗い容器側面下部であり、第４の領域Ｗ４は底
部高輝度部１０４であり、第５の領域Ｗ５は底部であ
る。

【０００４】従来はこれらの領域Ｗ１〜Ｗ５にそれぞれ
ウィンドウを設け、領域の光学的な特性に応じて黒汚れ
（黒点）や白汚れ（白点）の不良を検出するためのしき
い値を設定していた。不良検出の方法としては例えば対
象画像の走査によって得られたアナログのビデオ信号
（アナログ濃淡画像信号）をＡ／Ｄ変換してなる８ビッ
トなどの多値の濃淡画像信号を所定のしきい値で２値化
する方法や、前記のビデオ信号を微分して欠陥信号を抽
出する微分法などが知られている。この微分法の場合、
対象物の外形の輪郭部でも微分信号が出るが輪郭部では
微分によって正方向パルス，負方向パルスのいずれか一
方が発生するのに対し、微小欠陥部では正方向パルスと
負方向パルスが同時に発生することを利用して欠陥部を
抽出することができる。

【０００５】即ちラスタ走査に基づくアナログ濃淡画像
信号を微分してなる信号Ｐ（ｘ，ｙ）についての着目点
（座標値ｘ＝ｉ，ｙ＝ｊ）における値Ｐ（ｉ，ｊ）と、
この着目点よりｘ方向走査線上の前，後に夫々所定の微
小のα画素，β画素だけ離れた点における値Ｐ（ｉ−
α，ｊ）、Ｐ（ｉ＋β，ｊ）との間に、 Ｐ（ｉ，ｊ）−Ｐ（ｉ−α，ｊ）＞ＴＨ１ であって
且つ、Ｐ（ｉ＋β，ｊ）−Ｐ（ｉ，ｊ）＞ＴＨ１ の
関係があれば、（但しＴＨ１は所定のしきい値（正値）
とする） 着目点における不良検出のための二値化関数値ＰＤ
（ｉ，ｊ）＝１としてこの着目点を黒レベル不良の点と
し、それ以外の場合はＰＤ（ｉ，ｊ）＝０としてこの着
目点を正常な点とするものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら前述した
欠陥判別方法では容器内面の光学的特性により与えるべ
きしきい値ＴＨ１の最適値は変化する。従って従来手法
においては図１３のウィンドウＷ１〜Ｗ５のように多く
の（この場合５つの）同心円状のウィンドウが必要であ
ると同時に、このウィンドウ別に異なるしきい値ＴＨ１
（さらには座標値α，β）を与える必要があり、ラスタ
走査を用いた場合、無駄走査時間が大きく、欠陥検査の
高速化のための支障となっていた。そこで本発明はこの
問題を解消できる円形容器内面検査装置を提供すること
を課題とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項１の円形容器内面検査装置は、所定の方向
（水平方向など）に相互に連接し得る軸対称の円形容器
（１０２など）の前記軸方向から（リング照明器１０１
などを介し）この円形容器の内面側を照明したうえ、Ｔ
Ｖカメラを介しこの軸方向からこの円形容器の照明面を
撮像し、不良検査手段（不良検出回路７、不良検出判定
回路１２など）を介しこの撮像された画像を解析して前
記円形容器の内面の黒汚れおよび白汚れを検査する円形
容器内面検査装置において、前記撮像の画面走査によっ
て得られる画像信号（多値濃淡画像信号ＰＯなど）を前
記円形容器の口部高輝度部（１０３など）の２値画像を
得るように２値化してなる２値化画像信号のうち、前記
連接の影響を受けない領域（領域Ｅを除く領域など）に
ついての２値化画像信号の同一走査ライン上での最初の
立上り点（Ａ０，Ｂ０など）と最後の立下り点（Ａ１，
Ｂ１など）との中点（ＭＡ，ＭＢなど）の座標値を用い
て対象とする円形容器の前記走査ライン方向の位置を特
定する手段（画像エッジ検出回路６など）を備えたもの
とし、また

【０００８】請求項２に記載の円形容器内面検出装置で
は、請求項１に記載の円形容器内面検査装置において、
前記位置を特定する手段は複数の前記走査ライン上の中
点の座標値の平均値を、前記位置の特定値とするもので
あるようにする。

【０００９】

【作用】高輝度部を２値化により切り出し、この切り出
しパターンの円形性を検査することにより、容器の変
形、へこみ等のほか、付着したゴミ等の高輝度部の黒点
も併せ検出し得るようにして不良検出の高精度化を行
う。そして同一のウィンドウ領域でこの円形性検査と従
来の不良検査手段による黒点，白点の検査とを並行して
実行する。これによりウィンドウ領域数を減じ処理を高
速化する。なおこの円形性検査に先立ち円形容器の位置
を特定するこめに、容器の口部高輝度部の容器連接の影
響のない領域の２値化画像信号の同一走査ライン上での
最初の立上り点と最後の立下り点との中点座標の平均値
を用いる。

【００１０】

【実施例】以下図１ないし図１７に基づいて本発明の実
施例を説明する。図１は本発明の一実施例としてのハー
ドウェアのブロック図である。同図においてＰＯは図外
のＴＶカメラの画面をラスタ走査して得られるビデオ信
号をＡＤ変換してなる多値（例えば８ビット）の濃淡画
像信号、１はこの多値濃淡画像信号ＰＯを入力し、多値
画面データとして記憶するフレームメモリ、３はこのフ
レームメモリに対するアドレス発生回路である。２はウ
ィンドウ別のマスクパターンが格納されているウィンド
ウメモリ、４はこのウィンドウメモリに対するアドレス
発生回路である。５はウィンドウゲート回路で、多値濃
淡画像信号ＰＯまたはフレームメモリ１から読出された
画像信号１ａをウィンドウメモリ２からのマスクパター
ンデータ２ａでマスクし、指定されたウィンドウ領域の
みの画像信号ＰＯまたは１ａを通過させる回路である。

【００１１】１８は多値濃淡画像信号ＰＯまたはフレー
ムメモリ画像信号１ａを切替え選択する画像入力切替ス
イッチであり、このスイッチ１８は後述の位置ズレ量決
定回路１３を動作させるために、最新の多値濃淡画像信
号ＰＯを該信号ＰＯのフレームメモリ１への入力と並行
して画像エッジ検出回路６へ与える役割を持つ。１７は
画像出力切替スイッチで、ウィンドウゲート回路５を通
過した画像入力切替スイッチ１８の出力画像信号を画像
エッジ検出回路６または不良検出回路７へ切替えて与え
るスイッチである。画像エッジ検出回路６は画像のエッ
ジ、具体的にはリング状の高輝度部の外端（外周点）と
内端（内周点）を検出する機能を持ち、この場合、後述
のように入力した画像信号を対象画像の位置検出や円形
性検査等のための所定のしきい値で２値化したうえ、画
像エッジとしてのこの２値化信号の立上り点の座標と立
下り点の座標とを自身内のメモリ（図８で後述する６Ａ
〜６Ｄ）に格納する。１１はこの画像エッジ検出回路６
によって検出された外周点または内周点の座標値に対し
後述のように円形性検査を行う回路である。

【００１２】１３は対象画像に対して正しい位置にウィ
ンドウが発生するように、画像エッジ検出回路６が最新
の多値画像信号ＰＯを入力して検出した現実の対象画像
の中心の位置と予め設定されているウィンドウの中心の
位置とのズレを検出する回路である。７は従来の技術で
述べた微分法などで不良個所（黒点，白点など）を検出
し面積などを計数する不良検出回路、１２はこの回路７
の検出結果を設定値と比較して良否を判定する不良検出
判定回路である。９はウィンドウゲート回路５を通過し
た多値画像信号ＰＯを用いて対象画像のＸ方向投影パタ
ーンを求めるＸ投影回路、１０は同じく対象画像のＹ方
向投影パターンを求めるＹ投影回路、１４はこの２つの
投影回路９，１０の出力データを用いて他の容器画像と
連接していない対象容器画像の領域のみを求める回路で
ある。また１５は高輝度部判定回路１１および不良検出
判定回路１２の判定結果を入力し総合的な判定を行う回
路、１６はこの総合判定回路１５の出力判定信号によっ
て良否の出力を行う出力回路である。

【００１３】最初に画像エッジ検出回路６による対象画
像の位置検出動作について説明する。図１４は画像エッ
ジ検出回路６にて高輝度部を２値化した画像である。な
お同図において２０１はマスクパターン、１０２−２は
対象の容器１０２（１０２−１）に連接している容器で
ある。即ちこの場合底部高輝度部１０４は図１のウィン
ドウゲート回路５を介しマスクパターン２０１によりマ
スクされているものとする。このような２値画像におい
て走査方向にＡ０，Ｂ０のような最初の立上がり点とＡ
１，Ｂ１のような最後の立下がり点を検出すると図１４
の太線部の座標点が得られる。しかし容器の連接がある
場合はＥの領域で座標点が不正確となってしまう。従っ
てこの領域Ｅに含まれない前記太線部の座標点を水平走
査線で結ぶ線分のうち、なるべく長い線分Ａ０−Ａ１，
Ｂ０−Ｂ１附近の線分に着目して容器の位置検出を行う
必要がある。

【００１４】図１５は図１４で述べた線分Ａ０−Ａ１，
Ｂ０−Ｂ１附近の領域Ｅに含まれない同様な線分Ａ０１
−Ａ１１，…，Ａ０４−Ａ１４よりそれぞれの中点ＭＡ
（ＭＡ１…ＭＡ４）を求め、同様に線分Ｂ０１−Ｂ１
１，…，Ｂ０４−Ｂ１４よりそれぞれの中点ＭＢ（ＭＢ
１…ＭＢ４）を求め、この中点ＭＡ１…ＭＡ４，ＭＢ１
…ＭＢ４の平均値を算出して容器中心の水平走査方向に
対する位置（Ｘ座標）を求めることを示したものであ
る。なおこの場合、容器中心のＹ座標は例えば図１のＸ
投影回路９によって求められたＸ方向投影パターンの
（上下の）両端の座標の平均値を求めることによって得
られる。

【００１５】図１６は画像をフレームメモリ１ａに入力
した後の処理として、走査方向を垂直（Ｙ）方向に変え
前記と同様の方法にて位置検出を行った例である。即ち
容器の搬送方向が左右（Ｘ）方向であれば、上下（Ｙ）
方向の走査に対しては容器が連接することがなく、図１
４のＥに相当する領域を配慮する必要がなくなる。な
お、図１５では直接、多値濃淡画像信号ＰＯを利用し得
るのに対して、図１６の場合にはフレームメモリ１から
の画像信号１ａを使用する必要があるため処理時間が遅
れ、対象画像の位置検出が不正確となる惧れがあるが、
図１６の走査領域を局部に限定すれば、この遅れ時間を
最小限度に留めることができる。

【００１６】図１７は高輝度部に着目した容器の位置検
出方法の他の例の説明図である。この例は同図（Ｂ）の
ようにカメラ２０３により斜め上部より容器１０２を撮
像したものであり、この場合、同図（Ａ）のように口部
高輝度部１０３が２値画像として観測される。この検出
画像において同一水平走査ライン上での最初の立上がり
座標点Ａ０１…Ａ０４及び最後の立下がり点Ａ１１…Ａ
１４を求め、各線分Ａ０１−Ａ１１，…，Ａ０４−Ａ１
４の中点の平均ＭＡを求めて水平方向の容器の位置を特
定し、さらにこの線分長がある設定値以下となる、限界
ラインＬを求めて垂直方向の容器の位置（上端）２０４
を特定するものである。このような位置検出方法は容器
の上端を予め位置決め用の点に選んだ場合に適用するこ
とができる。

【００１７】図４は容器内面に欠陥を持つ缶容器を上面
から観測した場合に高輝度部に表れる欠陥の影響を示す
図で、同図（Ａ）は上面図、同図（Ｂ）は側断面図であ
る。容器１０２の口部に１１１のようなゴミが付着した
場合は同図（Ａ）のように口部高輝度部１０３において
も円周のカケとなって検出される。また側面部に大きな
ヘコミ１１２がある場合は底部高輝度部１０４のゆがみ
として検知できる場合があり、一般にヘコミの場合はゴ
ミ付着等と異なりコントラスト差が小さいため、底部高
輝度部１０４の円形性検査により、ヘコミ１１２を検出
する方法は非常に有効である。

【００１８】図５は高輝度部判定回路１１による具体的
な円形性検出方法の説明図である。この図は良品容器の
高輝度部の外周点の座標の立上り側をｘ０ｊ，立下り側
をｘ１ｊ（但しｊ＝１，２，──、つまりｊはこの各点
の属する水平走査ラインの相対的なｙ座標値に相当する
パラメータである。）として表現したものである。最初
に良品容器の座標変化量ｘ_k+1 −ｘ_k を各々算出し、こ
の許容範囲を与える最大値（後述のｍａｘ（ａ，ｂ））
および最小値（後述のｍｉｎ（ａ，ｂ））を夫々許容値
テーブルＴＢとしての後述（図６）の最大値テーブルＴ
Ｂ１，最小値テーブルＴＢ２に記憶しておく。但しここ
でｋは０ｊまたは１ｊである。この際、上端及び下端の
数ラインは画像の安定度が低いので除外するか若しくは
非常に大きな許容値を与える必要があるが、良品の座標
変化量よりｘ_K+1 −ｘ _K の許容範囲を次のように定め
る。 ｍｉｎ（ａ，ｂ）−α＜ｘ_k+1 −ｘ_k ＜ｍａｘ（ａ，ｂ）＋α ここでｍａｘ（ａ，ｂ）は次に示すａ，ｂの値のうちの
何れか大きい方の値としての最大値を意味し、ｍｉｎ
（ａ，ｂ）は同じくａ，ｂの値のうちの何れか小さい方
の値としての最小値を意味するものである。 ａ＝ｘ_k −ｘ_k-1 ｂ＝ｘ_k+2 −ｘ_k+1 またαはデジタル画像に変換した際の量子化誤差等を考
慮した検出感度を緩和するための固定値である。なお
ａ，ｂの与え方として ａ＝ｘ_k-1 −ｘ_k-2 ｂ＝ｘ_k+3 −ｘ_k+2 とし、２ライン分の許容幅を持たせることも可能であ
る。

【００１９】以上により高輝度部判定回路１１では良品
容器の各ラインにおける許容値を図６に示す最大値テー
ブルＴＢ１および最小値テーブルＴＢ２として記憶して
おき、検査画像の座標変化量とこのテーブルＴＢ１，Ｔ
Ｂ２内の許容値とを遂一比較して円形性の検査を行う。
なお予め記憶した良品容器の走査ライン数と検査画像の
走査ライン数が不一致である対策として、容器上端及び
下端より容器中央まで順番に前記の比較を行い、ライン
数の過不足は変化量の小さい中央部附近にて行う。即ち
良品学習時の許容値テーブルのライン数が少ない場合は
そのまま中央ラインの許容値をひきつづき用いて比較を
行う（図６参照）。なお図６においては上円と下円につ
いては同一の処理を２回行うものとして許容値テーブル
は１／２円周分のみ記憶する方式としている。

【００２０】前記は外周点の検査方法であったが、次に
内周点の検査方法について説明する。図７は高輝度部内
周の座標点の検出方法の説明図で、同図（Ａ）は缶容器
の上面画像、同図（Ｂ）は同図（Ａ）の走査線Ｑ−Ｑ１
上の濃淡画像信号の高輝度部を２値化した信号の変化を
示す。同図（Ｂ）の二値化信号の最初の立下り点１２１
に着目すると同図（Ａ）の太線部１２１ａのような座標
が検出される。内周点の座標はＤ−Ｄ１の区間であるの
で座標の変化量が反転するラインとしてＤ，Ｄ１をそれ
ぞれ求め内周の左半円の座標が求まる。同様にして最後
の立上り点１２２を検出することにより内周の右半円を
求め、以下は外周点と同様の方法で円形性の検査を行
う。

【００２１】図８は図１の画像エッジ検出回路６の構成
をさらに詳しく示したものである。図８において６Ａは
最初の立上り点を記憶するメモリ、６Ｂは最初の立下り
点を記憶するメモリ、６Ｃは最後の立上り点を記憶する
メモリ、６Ｄは最後の立下り点を記憶するメモリであ
る。このメモリ６Ａと６Ｄのデータから外周検出を行う
ことができ、同じくメモリ６Ｂと６Ｃのデータから内周
検出を行うことができる。

【００２２】本発明では、上述のような高輝度部内，外
周の円形性検査を行う際、容器の変形，へこみのほか高
輝度部へのゴミ付着等も検出できて不良検出精度が高ま
るので円形性検査と従来の不良検出回路による黒点，白
点の検査を並行実施することでウィンドウの数を削減す
ることができる。図３は本発明に基づくウィンドウの実
施例を示すもので、この図は図１３（Ｂ）に対応する。
即ち図３においては図１３の口部高輝度部１０３を含む
ウィンドウＷ１とこの隣接ウィンドウＷ２とを合わせて
新たな１つのウィンドウＷＮ１とし、同じく図１３の底
部高輝度部１０４を含むウィンドウＷ４とこれに隣接す
るウィンドウＷ３とを合わせて新たな他の１つのウィン
ドウＷＮ２とし、さらに図１３の底面中央部のウィンド
ウＷ５に対応する新符号のウィンドウＷＮ３を合わせ３
つのウィンドウ領域ＷＮ１，ＷＮ２，ＷＮ３に区分して
領域数を減らすことができる。

【００２３】図９は図１の動作手順を示すフローチャー
トである。次に図９を用いて図１の動作を説明する。な
お以下Ｓ１〜Ｓ１３の符号は図９中のステップを示す。
まず画像出力切替スイッチ１７を画像エッジ検出回路６
側に切替えると共に、画像入力切替スイッチ１８をスル
ー側、つまり画像エッジ検出回路６が直接、多値画像信
号ＰＯを入力する側に切替え（Ｓ１）、対象画像の位置
ズレ検出を行う（Ｓ２）。また同時にｘ投影回路９，Ｙ
投影回路１０，処理領域決定回路１４を介して、処理領
域の決定を行う（Ｓ３）。即ちステップＳ２では図１の
位置ズレ量決定回路１３を介して容器画像の位置ズレ量
Δｘ，Δｙを求め、正しい位置にウィンドウが発生でき
るように画像アドレス発生回路３へ平行位置ズレに関す
る補正量を与える。またステップＳ３では処理領域決定
回路１４にて容器画像が他の容器画像に連接した際の分
離を行い、走査領域が連接する容器画像を含まないよう
走査範囲を切取る。

【００２４】次に画像入力切替スイッチ１８をフレーム
メモリ１側に切替え（Ｓ４）、フレームメモリ１の濃淡
画像データ１ａを基に以下の良否判定処理を行うように
する。先ず対象缶の検査対象ウィンドウ領域を口部高輝
度部１０３を含むウィンドウＷＮ１の領域とし、他のウ
ィンドウ領域ＷＮ２，ＷＮ３をマスクする（Ｓ５）。そ
して全てのウィンドウについての検査が終了するまでは
（Ｓ５Ａ，分岐Ｎ）、ステップＳ６へ進む。ステップＳ
６では画像出力切替スイッチ１７を不良検出回路７側に
切換え、不良検出回路７，不良検出判定回路１２を介し
て、不良検出処理を行う（Ｓ７）。ここで不良検出回路
７は微分法などの手法により黒汚れ，白汚れを検出して
不良画素数を計測し、不良検出判定回路１２はこの計測
された不良画素数を所定値と比較して良否の判別を行い
後述のステップで総合判定回路１５へ出力を行う。

【００２５】次に画像出力切替スイッチ１７を画像エッ
ジ検出回路６側に切換えてこの画像エッジ検出回路６を
再び動作させ、前述のように高輝度部の２値化を行って
前述した方法による外周，内周の座標点や外周円，内周
円の面積の計測を行い（Ｓ９）、高輝度部判定回路１１
を介し円形性検査及び基準面積値との比較を行って良否
を判定し、後述のステップで総合判定回路１５に判定結
果の出力を行う。総合判定回路１５では高輝度部判定回
路１１，不良検出判定回路１２の何れかの判定が不良で
あれば（Ｓ１０→Ｓ１１，分岐Ｙ）、出力回路１６へ不
良品出力を指示する（Ｓ１２）。他方、前記ステップＳ
１１で良品であれば、再びステップＳ５へ戻り次の検査
対象領域を底部高輝度部１０４を含むウィンドウ領域Ｗ
Ｎ２とし、他の領域ＷＮ１，ＷＮ３をマスクして以下ス
テップＳ１２までの手順を繰返す。このようにしてウィ
ンドウＷＮ３までの全てのウィンドウについての検査が
終了したら（Ｓ５Ａ，分岐Ｙ）、総合判定回路１５を介
し出力回路１６へ良品出力を指示させる（Ｓ１３）。

【００２６】図２は図１の処理の高速化を計ったブロッ
ク回路図である。図２においては、図１の画像入力切替
スイッチ１８を省略すると共にウィンドウ回路５を新た
な回路５Ａとし、また画像エッジ検出回路６に相当する
回路を６−１，６−２と２つ設け、この一方の画像エッ
ジ検出回路６−２は多値画像信号ＰＯを（ウィンドウゲ
ート回路５Ａを介し）直接入力してその検出結果を位置
ズレ量決定回路１３に与えるようにし、さらに図１の画
像出力切換スイッチ１７を省略して、フレームメモリの
出力画像信号１ａを（ウィンドウゲート回路５Ａを介
し）他方の画像エッジ検出回路６−１と不良検出回路７
とに並列に与えるようにし、高輝度判定回路１１の処理
と不良検出回路１１の処理とを同時に並行して実行させ
るようにしたものである。

【００２７】図１０は図２の動作手順を示すフローチャ
ートで図９の手順よりスイッチ１７，１８の切替手順Ｓ
１，Ｓ４，Ｓ６，Ｓ８が省略されているほか、ステップ
Ｓ７の不良検出処理とステップＳ９の高輝度部の処理と
が並列化されている。

【００２８】図１１は缶容器の底面形状が異なる場合の
底面高輝度部の説明図で、同図（Ａ）は上面（画像）
図、同図（Ｂ）は側断面図である。この例では底部高輝
度部１０４は１０４−１，１０４−２と２つ発生してい
る。このように缶底部の形状により底部高輝度部はいく
つかの同心円状に発生することがある。このような場合
は底部領域を適当に分割し、ウィンドウを増やすことに
より対応する。図９，図１０のステップＳ５はそのため
の条件分岐である。また底部領域は走査領域として小さ
いためウィンドウを多少増やしても処理の高速性を維持
することができる。

【００２９】

【発明の効果】本発明によれば、容器の口部高輝度部の
２値画像についての走査ライン上の最初の立上り点と最
後の立下り点との中点座標から容器の位置を特定したの
ち、容器内面の高輝度部の円形性検査を行うことにした
ので、この検査により缶容器の変形、へこみのほか高輝
度部へのゴミ付着等も検出でき検査精度を高めることが
できる。従ってこの円形性検査と従来の不良検査手段に
よる黒点，白点の検査とを並行して実行することにより
一度に走査するウィンドウ領域の大きさを拡大し（換言
すればウィンドウの数を削減し）、処理を高速化するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例としてのハードウェア構
成を示すブロック図

【図２】本発明の第２の実施例としてのハードウェア構
成を示すブロック図

【図３】円形容器内面の濃度変化と本発明に基づくウィ
ンドウ分割との関係を示す図

【図４】容器内面の不良による高輝度部への影響を示す
図

【図５】円形性検査のための高輝度部外周点を示す図

【図６】円形性判定の説明図

【図７】高輝度部内周点の検出方法の説明図

【図８】画像エッジ検出回路の細部構成を示すブロック
図

【図９】図１の動作手順を示すフローチャート

【図１０】図２の動作手順を示すフローチャート

【図１１】円形容器の底面形状が異なる場合の容器内面
の高輝度部を示す図

【図１２】円形容器内面の高輝度部を示す図

【図１３】円形容器内面の濃度変化と従来のウィンドウ
分割との関係を示す図

【図１４】本発明の第１の実施例としての対象画像の位
置検出方法の説明図

【図１５】図１４を補足する細部説明図

【図１６】本発明の第２の実施例としての対象画像の位
置検出方法の説明図

【図１７】本発明の第３の実施例としての対象画像の位
置検出方法の説明図

【符号の説明】

ＰＯ 多値濃淡画像信号 １ フレームメモリ １ａ フレームメモリ出力画像信号 ２ ウィンドウメモリ ２ａ マスクパターンデータ ３ 画像アドレス発生回路 ４ ウィンドウアドレス発生回路 ５ ウィンドウゲート回路 ５Ａ ウィンドウゲート回路 ６ 画像エッジ検出回路 ６−１ 画像エッジ検出回路 ６−２ 画像エッジ検出回路 ６Ａ 最初の立上り点メモリ ６Ｂ 最初の立下り点メモリ ６Ｃ 最後の立上り点メモリ ６Ｄ 最後の立下り点メモリ ７ 不良検出回路 ９ Ｘ投影回路 １０ Ｙ投影回路 １１ 高輝度部判定回路 １２ 不良検出判定回路 １３ 位置ズレ量決定回路 １４ 処理領域決定回路 １５ 総合判定回路 １６ 出力回路 １７ 画像出力切替スイッチ １８ 画像入力切替スイッチ ＷＮ１ ウィンドウ ＷＮ２ ウィンドウ ＷＮ３ ウィンドウ １０１ リング照明器 １０２（１０２−１，１０２−２） 容器 １０２−１ 対象容器 １０２−２ 連接容器 １０３ 口部高輝度部 １０４ 底部高輝度部 １０４−１ 底部高輝度部 １０４−２ 底部高輝度部 ｘ０１−ｘ０ｊ 外周点 ｘ１１〜ｘ１ｊ 外周点 ＴＢ（ＴＢ１，ＴＢ２） 許容値テーブル ＴＢ１ 最大値テーブル ＴＢ２ 最小値テーブル ２０１ マスクパターン Ａ０ 最初の立上り点 Ｂ０ 最初の立上り点 Ａ１ 最後の立下り点 Ｂ１ 最後の立下り点 ＭＡ（ＭＡ１〜ＭＡ４） 中点 ＭＢ（ＭＢ１〜ＭＢ４） 中点 ２０３ カメラ ２０４ 上端位置 Ｌ 限界ライン

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｎ 7/18 Ｂ 8626−5Ｃ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】所定の方向に相互に連接し得る軸対称の円
   形容器の前記軸方向からこの円形容器の内面側を照明し
   たうえ、ＴＶカメラを介しこの軸方向からこの円形容器
   の照明面を撮像し、不良検査手段を介しこの撮像された
   画像を解析して前記円形容器の内面の黒汚れおよび白汚
   れを検査する円形容器内面検査装置において、 前記撮像の画面走査によって得られる画像信号を前記円
   形容器の口部高輝度部の２値画像を得るように２値化し
   てなる２値化画像信号のうち、前記連接の影響を受けな
   い領域についての２値化画像信号の同一走査ライン上で
   の最初の立上り点と最後の立下り点との中点の座標値を
   用いて対象とする円形容器の前記走査ライン方向の位置
   を特定する手段を備えたことを特徴とする円形容器内面
   検査装置。
2. 【請求項２】請求項１に記載の円形容器内面検査装置に
   おいて、前記位置を特定する手段は複数の前記走査ライ
   ン上の中点の座標値の平均値を、前記位置の特定値とす
   るものであることを特徴とする円形容器内面検査装置。