JPS61125054A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS61125054A
JPS61125054A JP24661184A JP24661184A JPS61125054A JP S61125054 A JPS61125054 A JP S61125054A JP 24661184 A JP24661184 A JP 24661184A JP 24661184 A JP24661184 A JP 24661184A JP S61125054 A JPS61125054 A JP S61125054A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
wiring
external electrodes
semiconductor device
semiconductor chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24661184A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Koyanagi
博 小柳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP24661184A priority Critical patent/JPS61125054A/ja
Publication of JPS61125054A publication Critical patent/JPS61125054A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49827Via connections through the substrates, e.g. pins going through the substrate, coaxial cables
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は半導体装置に関するものである。
〔従来技術〕
リード曲がり・折れといった不具合が生じる外部リード
を用いない従来の半導体装置は外部電極部が小さく接触
状態がよくない。これは電気的試験を行う時も問題とな
る点である。さら(外部電極数が多くとれない。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、外部電極を配線状に長くしている為、
接触面積が大きく、外部電極数を多くとれる半導体装置
を提供することにある。
〔発明の構成〕
本発明の半導体装置は、基板と、前記基板の表面に同定
した半導体チ、グと、前記基板の表面の周辺部に形成し
た第一の外部電極と、前記基板の表面に前記第一の外部
電極と一体に前記半傳体チ、ズの近傍まで形成した第一
の配線パターンと、前記基板の表面の前記半導体チップ
の近傍忙形成した配線パッドと、前記配線パッドに前記
表面で接続し前記基板を貫通した内部配線と、前記基板
の裏面の周辺部に形成した第二の外部電極と、前記裏面
に前記第二の外部電極と一体に形成し前記内部配線に前
記裏面で接続した第二の配・冑パターンとを有すること
を特徴とする。
〔実施例〕
次に本発明の実施例として、28ケの外部電極をもつ九
半導体装置について図面を用いて説明するO 第1図、第2図はこの半導体装置の表面図、良面図であ
る。この表・裏面それぞれに4亀材料くより、14ケの
外部電極1′と、それから半導体チップ4の方向への1
4本の配線パターン1とが形成され、14ケの配線パッ
ト2が第2図のA−入断面図に示す内部配線3を通して
、1に面の14本の配線パターンlへつながっている。
すなわち、この半導体装置は28ケの外部電極1′を表
裏にもつ。
第メト第。図は半4体ヶ、74と、7デイ、7ワイヤー
8を封止キャップ6で封止した状態を示す斜視図、断面
図である。第7内は外部1を極1′以外を封止キャップ
61で封圧したものである。
封止キャップ6.61は基板5と(」様のセラミックを
使用する。第8図は電気的試験を行う時にプリント板接
続型コネクタ7に本発明の実施例である半導体装置が実
装された状態を示す。電気的試験の時に限らず本実装の
ときも使用できるが、本実装のときは通常第9図の様に
半田9によりプリント板10と接続する。
〔発明の効果〕
本発明によれば、外部電極数を多くとることができ、外
部との接触状態のよい半導体装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図、第4図は本発明の一実施例を
示す表面図、A−AF!tr面図、B−B断面図、裏面
図、第5図、第7図は本実施例における封止状態を示す
斜視図、断面図、第6図は第5図の断面図、第8図は本
実施例におけるテスト状態を示す断面図、第9因は本実
施例における実装状態を示す断面図である。 l・・・・・・配線パターン、1′・・・・・・外部電
極、2・・・・・・裏への配線ハツト、3・・・・・内
部配線、4・・・・・半導体テ、7.5・・・・・・基
板(セラミック)、6.61・・・・・・封止キャップ
、7・・・・プリント板接続隻コネクタ、8・・・・・
・ボンディングワイヤー、9・・・・・・半田、10・
・・・・・プリント板。 尊 ダ 凹 第51!] 多7 面 算3 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基板と、前記基板の表面に固定した半導体チップと、
    前記基板の表面の周辺部に形成した第一の外部電極と、
    前記基板の表面に前記第一の外部電極と一体に前記半導
    体チップの近傍まで形成した第一の配線パターンと、前
    記基板の表面の前記半導体チップの近傍に形成した配線
    パッドと、前記配線パッドに前記表面で接続し前記基板
    を貫通した内部配線と、前記基板の裏面の周辺部に形成
    した第二の外部電極と、前記裏面に前記第二の外部電極
    と一体に形成し前記内部配線に前記裏面で接続した第二
    の配線パターンとを有することを特徴とする半導体装置
JP24661184A 1984-11-21 1984-11-21 半導体装置 Pending JPS61125054A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24661184A JPS61125054A (ja) 1984-11-21 1984-11-21 半導体装置

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JP24661184A JPS61125054A (ja) 1984-11-21 1984-11-21 半導体装置

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Publication Number Publication Date
JPS61125054A true JPS61125054A (ja) 1986-06-12

Family

ID=17150979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24661184A Pending JPS61125054A (ja) 1984-11-21 1984-11-21 半導体装置

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JP (1) JPS61125054A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0274056A (ja) * 1988-09-09 1990-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd チップキャリア及びチップキャリアアレイ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0274056A (ja) * 1988-09-09 1990-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd チップキャリア及びチップキャリアアレイ

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