JPS61110343A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体の製造方法

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JPS61110343A
JPS61110343A JP23262684A JP23262684A JPS61110343A JP S61110343 A JPS61110343 A JP S61110343A JP 23262684 A JP23262684 A JP 23262684A JP 23262684 A JP23262684 A JP 23262684A JP S61110343 A JPS61110343 A JP S61110343A
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magnetic recording
vapor
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curvature
layer
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Koichi Shinohara
紘一 篠原
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、高密度磁気記録に利用される金属薄膜型の磁
気記録媒体の製造方法に関する。
従来例の構成とその問題点 回転磁気ヘッドによるヘリカル走査方式による音声9画
像の記録再生を行う技術は磁気記録の中でも最も高密度
記録化が進んでいる。しかし現状のGoをドープした1
−Fe2O3微粒子を結合剤で固定した、いわゆる塗布
型磁気記録媒体とフェライトヘッドの組み合わせでは、
記録密度の向上は限界にきている。従って更に記録密度
を高めていくには新しい磁気記録媒体と磁気ヘッドの組
み合わせが必要で、いずれも合金系の材料の開発が進め
られている。
現状で実用水準にあるのは、電子ビーム蒸着法を基礎に
した巻取り蒸着技術である。但し、現在は、ポリエステ
ルフィルムの一方の面にのみ磁気記録層を形成したもの
が実用化されているだけで、両面に磁気記録層を配した
ものは着想の段階で止っているのが実状である。
磁気記録層を両面に配した構成は、容易に類推できるよ
うに、記録容量を2倍にできる利点の他に、蒸着法によ
り形成された薄膜の内部応力による、媒体の変形、いわ
ゆるカッピングが原理的に防止できるものと期待されて
いるが、実際にかかる構成の媒体を長尺に於て実現する
ことは°出来ていない。
勿論、両面共に磁気記録層でなくても、一方をカッピン
グの解消目的のみに別材料で構成してもいい訳であるが
、厚み制御、材質の制御等公知のパラメータ制御では、
長手に均一にかかる構成でカッピングの無い媒体を得る
には改良が必要である。
発明の目的 本発明は上記した事情に鑑みなされたものであって、長
尺の媒体をカッピングなしに安定に得ることのできる製
造方法を提供するものである。
発明の構成 本発明の磁気記録媒体の製造方法は、高分子フィルムの
一方の面に曲率半径Hの状態で磁気記録層を蒸着し、も
う一方の面に14R以下の曲率状態で薄膜を蒸着形成す
ることを特徴とし、カッピングのない長尺の媒体を制御
して製造できるものである。
実施例の説明 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明
する。
第1図は、磁気記録媒体の製造方法を実施するための装
置の一例である。
第1図で1は第1内筒状キヤン(直径2R)、2は第2
円筒状キャン(直径、1/5R以下)、3は高分子基板
4は巻出し軸5は巻取り軸、6は第1蒸発源、7は第2
蒸発源、8は第1マスク、9は第1スリツト、10は第
2マスク、11は第2スリツト、12,13.14は真
空排気系、16は真空槽、16は第1真空室、17は第
2真空室、18は第3真空室、19はフリーローラであ
る。
第2図は本発明の製造方法により得られる磁気記録媒体
の拡大断面図である。第2図に於て、20は高分子基板
、21は磁気記録層、22は保護層、23は裏打ち蒸着
層、24は保護層である。
第2図のような磁気記録媒体を得るには、第1図に示さ
れたような装置により本発明の製造方法を実施すればよ
い。
第1蒸発源による蒸着は、磁気記録層の形成に限定され
るのであるが、第2蒸発源による蒸着は磁気記録層の形
成であってもよいし、他の薄膜層の形成のいずれでもよ
い。
高分子基板3は、巻出し軸4から巻取り軸6へ移動する
間に、先ず、第1蒸発源により磁気記録層を形成する。
ここでは斜方蒸着又は垂直蒸着の選択により、磁化容易
軸の異なる磁気記録層を得ることができる。
材料としては、Go−Ni、Co−Cr、Go−Ti。
Coo−Mo 、 Go −V 、 Go −W 、 
Go−Kg 、 Go−Zn 、 Go −p、co−
5n  等及び、それらの部分酸化物1部分窒化物等が
用いられる。
ここでは磁気記録層は、高分子基板に近い側が圧縮、蒸
着終了側が引張り応力を受ける状態で形成され、薄膜形
成後薄膜を内側にしてカールした状態になる。
次K、高分子基板の反対側K、裏打ち蒸着層を形成する
のであるが、これは、第1蒸発源と同様に磁気記録層の
形成にするか、SiO、TiO2,SnO□。
!n20..Zn20.−5b203.MgO,MoO
,Goo、Go、04等の酸化膜、TiN、ムlH等の
窒化膜、ムU、ムg、Zr等の金属にするかは適宜選べ
ばよい。
ここで、第1円筒状キャン1の曲率をRとした時第2円
筒キャン2を14R以下の曲率で構成し、磁気記録層に
対し、磁気記録層形成時と反対の応力をかけることで、
裏打ち蒸着層形成時、磁気記録層の内部応力を補償でき
るため、長尺の媒体でカッピングの無い状態を実現でき
るようになる。
+4R以下にすることの意義は、裏打ち蒸着層形成時に
受ける熱が裏打ち蒸着層の材料薄膜厚み等により異なる
ためで、1/5Rから%Hの間は不安定領域となるが、
14R以下であれば磁気記録層形成時に受けた応力を完
全に消せるからである。
勿論、見Rでの応力分は、最終残るが、これは、エージ
ング等の通常の手段で除けるし、材料の選択で裏打ち蒸
着層自身の内部応力を小さくできる材料を選ぶこともで
きるので、長尺の磁気記録媒体のカッピングの均一性の
確保は実用上十分なものとすることができるのである。
本発明の製造方法は、真空蒸着に限らず、スパッタリ/
グ法、イオンブレーティング法でもよく、高分子基板と
して、ポリエステルにとどまらずポリアミド、ポリプロ
ピレン、ポリイミド等を用いて十分効果のあるものであ
るし、スリットしてテープ状にて用いる時だけでなく、
円盤状に加工して磁気ディスクとして用いても、平坦性
が良好なことけ利点となることは勿論である。
以下さらに具体的な一実施例について説明する。
(実施例) 高分子基板として厚み14μmのポリエチレンテレフタ
レート3500mを準備した。
磁気記録層はGo−cr垂直磁化膜で、第1円筒状キャ
ンの表面温度は86°C一定とした。垂直磁化膜はCr
22wt%で、Go−Cr膜厚o、16(μm)、垂直
抗磁カフ10(06)である。裏打ち蒸着層は、キヤ7
表面温度62°Cで形成した。
8u暢にスリットしたテープのカッピング状態を調べて
、最大値と最小値を調べた。カッピング量は第3図のよ
うな時の高さh〔μm〕をもって定義した。磁気記録媒
体25の変位りが■は磁気記録層側からみて凸、eは凹
面になった時である。
エージングの条件は、裏打ち蒸着層を内側にして巻き上
げた状態(巻芯の径は15[5cIIt一定)で47°
C12時間である。
条件とカッピングの測定結果を次表にまとめて示した。
上表より明らかに本発明品は、カッピングの均一性が格
別良好であることがわかる。又、エージングの有無に関
係なく良好であることがわかる。
一方、比較例では、エージングの無い場合(3例とも最
大値は760μm)より良好であるものの、長手方向で
実用にならない部分が、比率として27%〜41%あり
、歩留りが悪い。
本発明では、さらに長さを6ooomの長さにして実施
しても、殆んど、最大最小値は変らないことを確認する
と共に、他の材料系でも確認した。
発明の効果 以上のように、本発明の製造方法は、両面蒸着時の円筒
状キャンの曲率の関係を制御することで、磁気記録媒体
のカッピング状態を長尺で均一にすることができるもの
でその実用性は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施に用いた蒸着装置の一例の要部構
成図、第2図は本発明によシ得られる磁気記録媒体の一
例の拡大断面図、第3図は磁気記録媒体のカッピング状
態図である。 1・・・・・・第1円筒状キャン(曲率R)、2・・・
・・・第2円筒状キャン(曲率0.2R以下)、3・・
・・・・高分子基板、6・・、・・・・第1蒸発源、7
・・・・・・第2蒸発源。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 高分子フィルムの一方の面に曲率半径Rの状態で磁気記
    録層を蒸着し、もう一方の面に1/5R以下の曲率状態
    で薄膜を蒸着形成することを特徴とする磁気記録媒体の
    製造方法。
JP23262684A 1984-11-05 1984-11-05 磁気記録媒体の製造方法 Granted JPS61110343A (ja)

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JPH0518180B2 JPH0518180B2 (ja) 1993-03-11

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