JPS6055762B2 - 円筒物体外観検査装置 - Google Patents
円筒物体外観検査装置Info
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- JPS6055762B2 JPS6055762B2 JP52039508A JP3950877A JPS6055762B2 JP S6055762 B2 JPS6055762 B2 JP S6055762B2 JP 52039508 A JP52039508 A JP 52039508A JP 3950877 A JP3950877 A JP 3950877A JP S6055762 B2 JPS6055762 B2 JP S6055762B2
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は円筒物体外観検査装置に関するものであり、ベ
アリング用ローラ等の機械部品，核燃料用ウランペレッ
ト等の円筒物体の円筒面及び両端面の外観を連続的に自
動的に検査できるようにしたことを提供するものである
。
アリング用ローラ等の機械部品，核燃料用ウランペレッ
ト等の円筒物体の円筒面及び両端面の外観を連続的に自
動的に検査できるようにしたことを提供するものである
。
即ち本発明は、簡単な構によつて被検査対象である円筒
物体の全面について微小な欠陥が存在するか否を検査す
るために、検査範囲を円筒面と端面とに分け、独立に検
出する構造とし、それらの間を第２の搬送手段て結んて
円筒物体を搬送して．移し換えるように構成し、円筒面
外観検出装置は、回転駆動される少くとも２本の回転ロ
ーラ上に、互いに密着させて一列状態に配列された複数
の円筒物体を載置させ、この複数の円筒物体を軸心回り
に一定速度で回転させる回転手段と、該回、転手段によ
つて回転された円筒物体の円筒周回面の軸心に平行な微
小巾母線状帯領域の表面状態に応じた反射光を光学的に
検出し、円筒物体の回転に伴い、上記帯領域のサンプリ
ング検知を繰返して円筒物体の円筒周回面全面に亘つて
走査して各・サンプリング毎に映像信号として検出する
検出手段と、該検出手段と複数の円筒物体とを相対的に
この軸心方向に移動させる移動手段とを有し、両端面外
観検出装置は、複数の円筒物体を順次互いに軸心方向が
平行になるように並べて載置して搬送する第１の搬送手
段と、該第１の搬送手段によつて搬送される円筒物体の
両端面に対向する位置に設けられ、円筒物体の搬送方向
と交又する方向に伸びた両端面上の微小巾帯状領域の表
面状態に応じた反射光を光学的に検出し、円筒物体の搬
送に伴つて両端面上でサンプリング検知を繰返して両端
面全面を各々走査して映像信号として検出する複数の検
出手段を有し、上記円筒面外観検出装ノ置及び両端面外
観検出装置の検出手段から得られる映像信号にもとづい
て円筒物体の表面に欠陥があるか否かの外観の良否もし
くは等級を判定する検査手段を設け、円筒物体の円筒面
及び両端面の外観を光学的に、且自動的に連続して検査
するように構成したことを特徴とする円筒物体の外観検
査装置である。
物体の全面について微小な欠陥が存在するか否を検査す
るために、検査範囲を円筒面と端面とに分け、独立に検
出する構造とし、それらの間を第２の搬送手段て結んて
円筒物体を搬送して．移し換えるように構成し、円筒面
外観検出装置は、回転駆動される少くとも２本の回転ロ
ーラ上に、互いに密着させて一列状態に配列された複数
の円筒物体を載置させ、この複数の円筒物体を軸心回り
に一定速度で回転させる回転手段と、該回、転手段によ
つて回転された円筒物体の円筒周回面の軸心に平行な微
小巾母線状帯領域の表面状態に応じた反射光を光学的に
検出し、円筒物体の回転に伴い、上記帯領域のサンプリ
ング検知を繰返して円筒物体の円筒周回面全面に亘つて
走査して各・サンプリング毎に映像信号として検出する
検出手段と、該検出手段と複数の円筒物体とを相対的に
この軸心方向に移動させる移動手段とを有し、両端面外
観検出装置は、複数の円筒物体を順次互いに軸心方向が
平行になるように並べて載置して搬送する第１の搬送手
段と、該第１の搬送手段によつて搬送される円筒物体の
両端面に対向する位置に設けられ、円筒物体の搬送方向
と交又する方向に伸びた両端面上の微小巾帯状領域の表
面状態に応じた反射光を光学的に検出し、円筒物体の搬
送に伴つて両端面上でサンプリング検知を繰返して両端
面全面を各々走査して映像信号として検出する複数の検
出手段を有し、上記円筒面外観検出装ノ置及び両端面外
観検出装置の検出手段から得られる映像信号にもとづい
て円筒物体の表面に欠陥があるか否かの外観の良否もし
くは等級を判定する検査手段を設け、円筒物体の円筒面
及び両端面の外観を光学的に、且自動的に連続して検査
するように構成したことを特徴とする円筒物体の外観検
査装置である。
以下本発明を図に示す実施例にもとづいて具体的に説明
する。
する。
第１図は本発明の円筒物体検査装置の一実施例”を示す
概略構成図てある。
概略構成図てある。
この円筒物体検査装置は、ロータ−３，円筒物体回転機
構４，円筒面検出ヘッド６，円筒物体の搬送・姿勢変換
・位置決め機構７，円筒物体平面移動機構１０，端面検
出ヘッド９，９″，アンローダ１２，判定回路１６及び
シーケンス制御回路１７からなる。なお、円筒面検出ヘ
ッド６及び判定回路１６については特許願昭和５１年１
５４８８３号（特公昭６０−２６９７３号）に詳細に開
示されている。また端面検出ヘッド，９，９″及び判定
回路１６については特許願昭和５１年１５４８８４号（
特公昭５７−２５７８０）に詳細に開示されている。よ
つて円筒物体１はローディング用トレイ２の中に入れら
れた状態て本円筒物体検査装置にロードされる。即ちこ
の円筒物体１をロータ−３がピックアップし、円筒物体
回転機構４の所定位置にロードする。円筒物体回転機構
４は円筒物体５をその中心軸回りに回転させる。この回
転する円筒物体５を検出ヘッド６により検出する。４，
５て構成される円筒面検出部のより具体的な実施例を第
２図に示す。
構４，円筒面検出ヘッド６，円筒物体の搬送・姿勢変換
・位置決め機構７，円筒物体平面移動機構１０，端面検
出ヘッド９，９″，アンローダ１２，判定回路１６及び
シーケンス制御回路１７からなる。なお、円筒面検出ヘ
ッド６及び判定回路１６については特許願昭和５１年１
５４８８３号（特公昭６０−２６９７３号）に詳細に開
示されている。また端面検出ヘッド，９，９″及び判定
回路１６については特許願昭和５１年１５４８８４号（
特公昭５７−２５７８０）に詳細に開示されている。よ
つて円筒物体１はローディング用トレイ２の中に入れら
れた状態て本円筒物体検査装置にロードされる。即ちこ
の円筒物体１をロータ−３がピックアップし、円筒物体
回転機構４の所定位置にロードする。円筒物体回転機構
４は円筒物体５をその中心軸回りに回転させる。この回
転する円筒物体５を検出ヘッド６により検出する。４，
５て構成される円筒面検出部のより具体的な実施例を第
２図に示す。
同図て円筒物体５は２本の回転ローラ１８，１『上に載
つている。回転ローラ１８，１『は摩擦車１９を介して
モータ２０により回転される。これに伴ない円筒物体５
は１８，１『上て回転する。また検出ヘッド６は照明ラ
ンプ２１，２「，照明光学系２２，２２″により円筒物
体５を照明し、結像レンズ２３を介して円筒物体５の一
つの母線２５を撮像素子２４の上にその実像を結ばせる
。撮像素子２４は例えばフォトダイオード●アレーなど
の線型撮像素子である。この円筒物体５の回転と撮像素
子２４のスキャニングにより円筒面の２次元映像を得る
ことができる。なお第２図では、検出素子として線型撮
像素子を使用する場合を例示したが、この他レｉザー光
線の走査，フライング●スポットによる光点走査等を行
ない反射光を光電子増倍管等で受光することも可能であ
る。検出ヘッド６で検出された円筒面の映像は判定回路
１６で評価される。円筒面の検出を終了した円筒物体は
円筒物体搬送，姿勢変換，位置決め機構７により円筒物
体平面移動機構８にロードされる。円筒物体１０は機構
７上で、第１図において左から右に移動する。第３図に
示すようにこの円筒物体の移動２７とこれと直角方向の
撮像素子の走査２８により端面の２次元映像を得ること
ができる。なお、検出ヘッドは２個設け（９，９″），
両端面を検出する。なお、検出ヘッドとしては、第２図
に示した線型撮像素子による方式，レーザー光走査，フ
ライング・スポット等による方式の他、ＴＶカメラ等第
２次元的な撮像素子を使用することも可能である。端面
検出ヘッド９，９″で得られた映像信号は判定回路１６
で評価される。以上、円筒面，両端面の評価結果を元に
アンローダ１２により、円筒物体を分類し、各アンロー
ド用トレイ１４，１Ｃ等に搬出する。以上が本発明の実
施例における動作例である。第４図に本発明のより具体
的な実施例を示す。
つている。回転ローラ１８，１『は摩擦車１９を介して
モータ２０により回転される。これに伴ない円筒物体５
は１８，１『上て回転する。また検出ヘッド６は照明ラ
ンプ２１，２「，照明光学系２２，２２″により円筒物
体５を照明し、結像レンズ２３を介して円筒物体５の一
つの母線２５を撮像素子２４の上にその実像を結ばせる
。撮像素子２４は例えばフォトダイオード●アレーなど
の線型撮像素子である。この円筒物体５の回転と撮像素
子２４のスキャニングにより円筒面の２次元映像を得る
ことができる。なお第２図では、検出素子として線型撮
像素子を使用する場合を例示したが、この他レｉザー光
線の走査，フライング●スポットによる光点走査等を行
ない反射光を光電子増倍管等で受光することも可能であ
る。検出ヘッド６で検出された円筒面の映像は判定回路
１６で評価される。円筒面の検出を終了した円筒物体は
円筒物体搬送，姿勢変換，位置決め機構７により円筒物
体平面移動機構８にロードされる。円筒物体１０は機構
７上で、第１図において左から右に移動する。第３図に
示すようにこの円筒物体の移動２７とこれと直角方向の
撮像素子の走査２８により端面の２次元映像を得ること
ができる。なお、検出ヘッドは２個設け（９，９″），
両端面を検出する。なお、検出ヘッドとしては、第２図
に示した線型撮像素子による方式，レーザー光走査，フ
ライング・スポット等による方式の他、ＴＶカメラ等第
２次元的な撮像素子を使用することも可能である。端面
検出ヘッド９，９″で得られた映像信号は判定回路１６
で評価される。以上、円筒面，両端面の評価結果を元に
アンローダ１２により、円筒物体を分類し、各アンロー
ド用トレイ１４，１Ｃ等に搬出する。以上が本発明の実
施例における動作例である。第４図に本発明のより具体
的な実施例を示す。
なお、第４図で判定回路とシーケンス制御回路は省く。
同図は第５図に示すような円筒物体用専用トレイ２上に
整列された円筒物体を処理するものである。ロードトレ
イ２はトレイ送り機構３０，同駆動モータ２９によりス
テップ的に移動され、一列づつ円筒面検出部ロード位置
３７にある回転ローラ１８，１『上に、ロード機構３５
により押込んでロードされる。ロードされた円筒物体の
列はステーション位置切換機構４０により１２０度回転
して円筒面検出位置３８に移動される。この際遊星歯車
（図示せず）で回転ローラ１８，１８″の位置を水平状
態に保つた状態で１２０度間隔で回転ステップする。３
８の位置で２つの回転ローラ１８，１『の回転により円
筒物体の列は一定速度で回転される。
同図は第５図に示すような円筒物体用専用トレイ２上に
整列された円筒物体を処理するものである。ロードトレ
イ２はトレイ送り機構３０，同駆動モータ２９によりス
テップ的に移動され、一列づつ円筒面検出部ロード位置
３７にある回転ローラ１８，１『上に、ロード機構３５
により押込んでロードされる。ロードされた円筒物体の
列はステーション位置切換機構４０により１２０度回転
して円筒面検出位置３８に移動される。この際遊星歯車
（図示せず）で回転ローラ１８，１８″の位置を水平状
態に保つた状態で１２０度間隔で回転ステップする。３
８の位置で２つの回転ローラ１８，１『の回転により円
筒物体の列は一定速度で回転される。
これを検出ヘッド６により検出するが、検出ヘッド６は
ヘッド移動用モータ３３，移動機構３４により１円筒物
体づつ検出すべくステップ的に移動される。検出を終了
した円筒物の列はアンロード位置３９にステーション位
置切換機構４０により回転ステップして移動される。こ
こで回転ローラ１８，１『上の円筒物体の列はアンロー
ド機構３６により円筒物体搬送，姿勢変換機構７に入力
される。このように円筒物の列は遊星歯車（図示せす）
により姿勢を水平方向に向けられた状態で１２０度間隔
で回転ステップ移動されるのでこの円筒面検出時におい
ては回転ローラ１８，１『の組を３個以上設けておき、
１つの回転ローラ１８，１『が円筒面検出位置３８にあ
り、この検出を行なつている時、他の回転ローラ１８，
１『が円筒物体のローディング、他の回転ローラ１８，
１『がアンローディングを行なうことができ、ローディ
ング，アンローディングの無駄時間を低減することがで
きる。機構７では各円筒物体は９００その姿勢が変換さ
れ、順序をくるわすことなく平面移動機構１にロードさ
れる。第６図は機構７の一実施例を示す。円筒面検出部
アンロード位置３９にある円筒物体は円筒面検出部アン
ロード機構３６のブッシャー４１により機構７に入力さ
れる。機構７ではガイド４２により方向が９００変換さ
れ、コンベア４４に送られる。ストッパ４３で規定され
た位置まで）移動した円筒物体はコンベア４４に載り、
シユータ４６に送られる。シユータ４６で円筒物体は一
時的にストックされ、端面検出用コンベア４７の円筒物
体受け溝４８に順次ローディングされてゆく。ここでコ
ンベア４７は一定速度で矢印４９の７方向に移動してい
る。このようにして、姿勢を変換された円筒物体は端面
検出ヘッド９，９″の前を一定速度で通過し、両端面の
検出を行なう。
ヘッド移動用モータ３３，移動機構３４により１円筒物
体づつ検出すべくステップ的に移動される。検出を終了
した円筒物の列はアンロード位置３９にステーション位
置切換機構４０により回転ステップして移動される。こ
こで回転ローラ１８，１『上の円筒物体の列はアンロー
ド機構３６により円筒物体搬送，姿勢変換機構７に入力
される。このように円筒物の列は遊星歯車（図示せす）
により姿勢を水平方向に向けられた状態で１２０度間隔
で回転ステップ移動されるのでこの円筒面検出時におい
ては回転ローラ１８，１『の組を３個以上設けておき、
１つの回転ローラ１８，１『が円筒面検出位置３８にあ
り、この検出を行なつている時、他の回転ローラ１８，
１『が円筒物体のローディング、他の回転ローラ１８，
１『がアンローディングを行なうことができ、ローディ
ング，アンローディングの無駄時間を低減することがで
きる。機構７では各円筒物体は９００その姿勢が変換さ
れ、順序をくるわすことなく平面移動機構１にロードさ
れる。第６図は機構７の一実施例を示す。円筒面検出部
アンロード位置３９にある円筒物体は円筒面検出部アン
ロード機構３６のブッシャー４１により機構７に入力さ
れる。機構７ではガイド４２により方向が９００変換さ
れ、コンベア４４に送られる。ストッパ４３で規定され
た位置まで）移動した円筒物体はコンベア４４に載り、
シユータ４６に送られる。シユータ４６で円筒物体は一
時的にストックされ、端面検出用コンベア４７の円筒物
体受け溝４８に順次ローディングされてゆく。ここでコ
ンベア４７は一定速度で矢印４９の７方向に移動してい
る。このようにして、姿勢を変換された円筒物体は端面
検出ヘッド９，９″の前を一定速度で通過し、両端面の
検出を行なう。
ここで両端面の検出において、円筒物体の両端面の間隔
が一定でなくフ各円筒物体毎で変化する場合は、端面位
置決め機構５０，５『により端面の位置出しを行なう必
要がある。第８図はこの端面位置出し機構の一実施例を
示す。
が一定でなくフ各円筒物体毎で変化する場合は、端面位
置決め機構５０，５『により端面の位置出しを行なう必
要がある。第８図はこの端面位置出し機構の一実施例を
示す。
円筒物体１０はコンベア４７の溝４８（第７図）の中に
入つている。この円筒物体の端面を一定位置に位置決め
するため、位置出し板５１に円筒物体１０を押しあてる
。これは反対側の端面に圧搾空気をあてることにより行
なう。空圧ボート５２，チャンバー５３，噴出口５４を
通つた圧搾空気が円筒物体１０の端面に当り、円筒物体
１０を位置出し板５１におしあてる。このようにして位
置出しを行ない、検出ヘッド９により端面の一方の検出
を行ない、次に同一の機構５「〜５４″により反対側の
端面の位置出しを行ない、検出ヘッド９″により検出を
行なう。以上のようにして円筒面及び端面の検出結果は
判定回路１６（第１図）において判定され、各円筒物体
の等級ないし良，不良が決定される。
入つている。この円筒物体の端面を一定位置に位置決め
するため、位置出し板５１に円筒物体１０を押しあてる
。これは反対側の端面に圧搾空気をあてることにより行
なう。空圧ボート５２，チャンバー５３，噴出口５４を
通つた圧搾空気が円筒物体１０の端面に当り、円筒物体
１０を位置出し板５１におしあてる。このようにして位
置出しを行ない、検出ヘッド９により端面の一方の検出
を行ない、次に同一の機構５「〜５４″により反対側の
端面の位置出しを行ない、検出ヘッド９″により検出を
行なう。以上のようにして円筒面及び端面の検出結果は
判定回路１６（第１図）において判定され、各円筒物体
の等級ないし良，不良が決定される。
この結果を元にアンローダ１２，１２゛，１２″により
各等級の円筒物体がピックアップされ、対応するアンロ
ードトレイ１４，１Ｃ，１４″に分類アンロードされる
。第４図では円筒物体を３等級に分類する場合を例示し
ている。次に、第９図に本発明の他の一実施例を示す。
各等級の円筒物体がピックアップされ、対応するアンロ
ードトレイ１４，１Ｃ，１４″に分類アンロードされる
。第４図では円筒物体を３等級に分類する場合を例示し
ている。次に、第９図に本発明の他の一実施例を示す。
同図においても判定回路，シーケンス回路は省略してい
る。第９図はローディング用トレイ２とローディング機
構３６，４１，２９，３０及び円筒物体をネジにより送
り込んでゆく回転機構、すなわち、ネジ目を入れた回転
ローラ３本５５，定速回転ローラ３本１８，ダミーロー
ラ３本５６，ストッパ４３，円筒物体１０を収納する回
転ディスク５７，回転ディスク駆動装置５８，両端面検
出ヘッド９，９″，円筒物体アンローダ１２，アンロー
ド関連機構３１，３２及びアンロ−ドトレイー１４から
なる。ロータのプッシャ４１で装置に送り込まれた円筒
物体はネジ目を有する３本の回転ローラの摩擦力により
第９図左から右に押されてゆき、回転ディスク５７によ
り右側につまつた状態となる。
る。第９図はローディング用トレイ２とローディング機
構３６，４１，２９，３０及び円筒物体をネジにより送
り込んでゆく回転機構、すなわち、ネジ目を入れた回転
ローラ３本５５，定速回転ローラ３本１８，ダミーロー
ラ３本５６，ストッパ４３，円筒物体１０を収納する回
転ディスク５７，回転ディスク駆動装置５８，両端面検
出ヘッド９，９″，円筒物体アンローダ１２，アンロー
ド関連機構３１，３２及びアンロ−ドトレイー１４から
なる。ロータのプッシャ４１で装置に送り込まれた円筒
物体はネジ目を有する３本の回転ローラの摩擦力により
第９図左から右に押されてゆき、回転ディスク５７によ
り右側につまつた状態となる。
ここの状態で円筒物体は回転ローラ５５と定速回転ロー
ラ１８によソー定速度で回転している。これを検出ヘッ
ド６によりその円筒面を検出する。ストッパ４３の前に
は回転ディスク５７が回転しているが、その回転ディス
ク５７には円筒物体が入るｔ寸法の穴があいている。こ
の穴が円筒物体のところにくると、円筒物体は左からお
されているため、この穴の中に入り、ストッパでストッ
プし、回転ディスクの穴に入り込んだ状態で回転ディス
ク５７と共に回転する。このようにして円筒物体が一つ
除去され、円筒面検出ヘッド６の前の円筒物体は新しい
ものにかわる。また回転ディスク５７の穴に入り込んだ
円筒物体は端面検出ヘッド９，９″により両端面を検出
される。これらの判定結果より、第４図と同じく円筒物
体を等級分類ノし、対応するアンロード・トレイに出力
する。以上説明したように本発明によれば、核燃料用ウ
ランペレット等の円筒（円柱）物体の円筒面及び両端面
の全面について微小な欠陥があるか否かまたは欠陥等級
を、構成する簡素化した一つの検査装置によつて正確に
、且効率よく連続して自動的に検査することができる効
果を奏する。なお、検査速度は１０ｍφ，長さ１−の円
筒物体の最小検出欠陥寸法５０μｍの検査において、３
個／秒である。
ラ１８によソー定速度で回転している。これを検出ヘッ
ド６によりその円筒面を検出する。ストッパ４３の前に
は回転ディスク５７が回転しているが、その回転ディス
ク５７には円筒物体が入るｔ寸法の穴があいている。こ
の穴が円筒物体のところにくると、円筒物体は左からお
されているため、この穴の中に入り、ストッパでストッ
プし、回転ディスクの穴に入り込んだ状態で回転ディス
ク５７と共に回転する。このようにして円筒物体が一つ
除去され、円筒面検出ヘッド６の前の円筒物体は新しい
ものにかわる。また回転ディスク５７の穴に入り込んだ
円筒物体は端面検出ヘッド９，９″により両端面を検出
される。これらの判定結果より、第４図と同じく円筒物
体を等級分類ノし、対応するアンロード・トレイに出力
する。以上説明したように本発明によれば、核燃料用ウ
ランペレット等の円筒（円柱）物体の円筒面及び両端面
の全面について微小な欠陥があるか否かまたは欠陥等級
を、構成する簡素化した一つの検査装置によつて正確に
、且効率よく連続して自動的に検査することができる効
果を奏する。なお、検査速度は１０ｍφ，長さ１−の円
筒物体の最小検出欠陥寸法５０μｍの検査において、３
個／秒である。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明による円筒物体外観検査装置を示す概略
構成図、第２図は第１図に示す円筒物体回転機構及び検
出ヘッドの部分を具体的に示した斜視図、第３図は円筒
物体の端面の２次元的検出を行う状態を示した図、第４
図は第１図に示す円筒物体外観検査装置の一実施例を具
体的に示した全体構成図、第５図は第４図に示す実施例
における円筒物体搬送用トレイの図、第６図は第４図に
示す実施例における円筒物体の姿勢変換機構の一実施例
を示す平面図、第７図は第６図の側面図、第８図は第４
図に示す実施例における端面検出時の端面位置出し方法
を示す平面図、第９図は第４図と異なる他の具体的な一
実施例の全体構成図である。 符号の説明、１・・・・・・被検査物体（円筒物体）、
３・・・・・・ローター、４・・・・・・円筒物体回転
機構、６・・・・・・検出ヘッド、７・・・・・・円筒
物体搬送・姿勢変換・位置決め機構、８・・・・・・円
筒物体平面移動機構、９，９″・・・・・・検出ヘッド
、１２・・・・・・円筒物体アンローダ、１６・・・・
・・判定回路、１７・・・・・ウーケンス回路。
構成図、第２図は第１図に示す円筒物体回転機構及び検
出ヘッドの部分を具体的に示した斜視図、第３図は円筒
物体の端面の２次元的検出を行う状態を示した図、第４
図は第１図に示す円筒物体外観検査装置の一実施例を具
体的に示した全体構成図、第５図は第４図に示す実施例
における円筒物体搬送用トレイの図、第６図は第４図に
示す実施例における円筒物体の姿勢変換機構の一実施例
を示す平面図、第７図は第６図の側面図、第８図は第４
図に示す実施例における端面検出時の端面位置出し方法
を示す平面図、第９図は第４図と異なる他の具体的な一
実施例の全体構成図である。 符号の説明、１・・・・・・被検査物体（円筒物体）、
３・・・・・・ローター、４・・・・・・円筒物体回転
機構、６・・・・・・検出ヘッド、７・・・・・・円筒
物体搬送・姿勢変換・位置決め機構、８・・・・・・円
筒物体平面移動機構、９，９″・・・・・・検出ヘッド
、１２・・・・・・円筒物体アンローダ、１６・・・・
・・判定回路、１７・・・・・ウーケンス回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 回転駆動される少くとも２本の回転ローラー上に、
互いに密着させて一列状態に配列された複数の被検査円
筒物体を載置させ、この複数の被検査円筒物体を軸心回
りに一定速度で回転させる回転手段、該回転手段によつ
て回転された被検査円筒物体の円筒周回面の軸心に平行
な微小巾母線状帯領域の表面状態に応じた反射光を光学
的に検出し、被検査円筒物体の回転に伴い、上記帯領域
のサンプリング検知を繰返して被検査円筒物体の円筒周
回面全面に亘つて走査して各サンプリング毎に映像信号
として検出する検出手段、及び該検出手段と複数の被検
査円筒物体とをこの軸心方向に相対的に移動させる移動
手段を有する円筒面外観検出装置と、上記複数の被検査
円筒物体を順次互いに軸心方向が平行になるように並べ
て載置して搬送する第１の搬送手段、及び該第１の搬送
手段によつて搬送される被検査円筒物体の両端面に対向
する位置に設けられ、被検査円筒物体の搬送方向と交又
する方向に伸びた両端面上の微小巾帯状領域の表面状態
に応じた反射光を光学的に検出し、被検査円筒物体の搬
送に伴つて両端面上でサンプリング検知を繰返して両端
面全面を各々走査して映像信号として検出する複数の検
出手段を有する両端面外観検出装置と、上記円筒面外観
検出装置と両端面外観検出装置との間を一方から他方へ
被検査円筒物体を搬送して移し換える第２の搬送装置と
、上記円筒面外観検出装置及び両端面外観検出装置の検
出手段から得られる映像信号にもとづいて被検査円筒物
体の外観の良否もしくは等級を判定する検査手段とから
なり、被検査対象円筒物体の円筒面及び両端面の外観を
光学的に、且自動的に連続して検査するように構成した
ことを特徴とする円筒物体の外観検査装置。 ２ 上記円筒面外観検出装置の検出手段は、上記円筒面
に相対する方向から傾斜させて平行光を照射する光学系
と、該光学系に照射された光像のうち、上記母線状帯領
域の反射光像を撮像して検出するように少くとも一列状
に受光素子を配列し、且受光面を上記円筒面に光学的に
平行に配置した固体撮像素子とからなることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の円筒物体の外観検査装置
。 ３ 上記両端面外観検出装置の検出手段は、上記各端面
に相対する方向から傾斜させて平行光を照射する光学系
と、該光学系によつて照射された光像のうち、上記帯状
領域の反射光像を撮像して検出するように少くとも一列
状に受光素子を配列し、且受光面を上記端面に光学的に
平行に配置した固体撮像素子とからなることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の円筒物体の外観検査装置
。 ４ 上記両端面外観検出装置の第１の搬送手段を無端の
搬送手段によつて構成することを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載の円筒物体の外観検査装置。 ５ 上記両端面外観検出装置は上記第１の搬送手段の搬
送径路に沿つて相対向するように押圧手段と位置出し板
とを設置し、該押圧手段の押圧力により被検査円筒物体
の端面を上記位置出し板に押し付け、被検査円筒物体の
端面の位置を常に検出手段の焦点深度内に入れるように
構成することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
円筒物体の外観検査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52039508A JPS6055762B2 (ja) | 1977-04-08 | 1977-04-08 | 円筒物体外観検査装置 |
| US05/863,345 US4226539A (en) | 1976-12-24 | 1977-12-22 | Cylindrical body appearance inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52039508A JPS6055762B2 (ja) | 1977-04-08 | 1977-04-08 | 円筒物体外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53125057A JPS53125057A (en) | 1978-11-01 |
| JPS6055762B2 true JPS6055762B2 (ja) | 1985-12-06 |
Family
ID=12554973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52039508A Expired JPS6055762B2 (ja) | 1976-12-24 | 1977-04-08 | 円筒物体外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6055762B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022239158A1 (ja) * | 2021-05-12 | 2022-11-17 | 日本電気株式会社 | 検査装置 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS5616849A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-18 | Hitachi Ltd | Automatic appearance check unit for cylindrical material |
| JPS5629147A (en) * | 1979-08-20 | 1981-03-23 | Hitachi Ltd | Automatic physical appearance inspection unit for cylindrical object |
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| JPS5657938A (en) * | 1979-10-17 | 1981-05-20 | Hitachi Ltd | Oversight detector for object to be inspected |
| US4377238A (en) * | 1980-08-27 | 1983-03-22 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Flaw detection and evaluation |
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| JPS50120860A (ja) * | 1974-03-09 | 1975-09-22 | ||
| JPS50151555A (ja) * | 1974-05-27 | 1975-12-05 |
-
1977
- 1977-04-08 JP JP52039508A patent/JPS6055762B2/ja not_active Expired
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53125057A (en) | 1978-11-01 |
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