JPH0362222B2 - - Google Patents
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- JPH0362222B2 JPH0362222B2 JP60180334A JP18033485A JPH0362222B2 JP H0362222 B2 JPH0362222 B2 JP H0362222B2 JP 60180334 A JP60180334 A JP 60180334A JP 18033485 A JP18033485 A JP 18033485A JP H0362222 B2 JPH0362222 B2 JP H0362222B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の用分野〕
本発明は、例えば、発電用核燃料棒に用いられ
る核燃料ペレツト等のように横断面が円形をなす
円筒形の検査体の外観を自動的に検査する円筒体
外観検査装置に関する。
る核燃料ペレツト等のように横断面が円形をなす
円筒形の検査体の外観を自動的に検査する円筒体
外観検査装置に関する。
従来、例えば、円筒形核燃料ペレツト（以下、
ペレツトと称す）の外観検査は、検査員が個々に
ペレツトをピンセツトで掴み、目視で検査する方
法や、レーザーによる走査及びラインセンサーを
使つた光学式による自動外観検査装置で検査する
方法等がある。これらのうち特徴的なものとし
て、カメラを移動しながら円筒面（側面）を検査
する装置（特開昭55−162178号公報、特開昭56−
16849号）、ペレツトの端面の検査装置（特開昭55
−154442号公報）、ペレツトをローラーに乗せて
回転させながら円筒面の検査をする方法（特開昭
56−160645号公報）が挙げられる。
ペレツトと称す）の外観検査は、検査員が個々に
ペレツトをピンセツトで掴み、目視で検査する方
法や、レーザーによる走査及びラインセンサーを
使つた光学式による自動外観検査装置で検査する
方法等がある。これらのうち特徴的なものとし
て、カメラを移動しながら円筒面（側面）を検査
する装置（特開昭55−162178号公報、特開昭56−
16849号）、ペレツトの端面の検査装置（特開昭55
−154442号公報）、ペレツトをローラーに乗せて
回転させながら円筒面の検査をする方法（特開昭
56−160645号公報）が挙げられる。
ところで、上述した目視による外観検査法は、
人間による官能検査であるため作業能率が低く、
長時間の作業では、疲労等により検査レベルを一
定に維持することが困難であると共に、放射性の
ペレツトの外観検査においては、被曝防止のため
にも、自動的に検査を行なえる外観検査装置の開
発が望まれていた。
人間による官能検査であるため作業能率が低く、
長時間の作業では、疲労等により検査レベルを一
定に維持することが困難であると共に、放射性の
ペレツトの外観検査においては、被曝防止のため
にも、自動的に検査を行なえる外観検査装置の開
発が望まれていた。
しかしながら、上記従来の外観検査装置には、
それぞれ次のような問題点がある。
それぞれ次のような問題点がある。
すなわち、カメラを移動させながら側面を検査
する装置においては、機器の再現性、安定性、耐
久性に問題があり、かつ速度にも限界がある。ま
た、ペレツトを軸方向に複数個並べて回転搬送さ
せながら、レーザーや一次元センサーで検知する
ものは、検査しようとする円筒面が回転と共に軸
方向に移動するため、ペレツトの境界が不明瞭と
なり検査の信頼性が低くなつたり、同時に端面の
検査が行なえない等の問題がある。さらに、特開
昭55−154442号公報に記載された端面の検査装置
にあつては、その構造上、同時に円筒面の検査を
することができないという問題がある。さらにま
た、特開昭56−160645号公報に記述されている。
ペレツトをローラーに乗せ回転させながら円筒面
の検査を行なう方法にあつては、検出器が点また
は線画像を検出するイメージセンサーであるため
に、検査毎にペレツトの搬送を止めて全周を検査
した後、搬送する間欠搬送をしなければならない
が、ペレツトがセラミツクのため、欠け易く、高
速搬送が難しいので、ペレツトの搬送及び回転機
構を高性能なものにしないと、ペレツトに損傷
（欠け、ひび等）を与えると共に、間欠搬送や方
向及び姿勢変換が必要になり、高速の検査は困難
である。
する装置においては、機器の再現性、安定性、耐
久性に問題があり、かつ速度にも限界がある。ま
た、ペレツトを軸方向に複数個並べて回転搬送さ
せながら、レーザーや一次元センサーで検知する
ものは、検査しようとする円筒面が回転と共に軸
方向に移動するため、ペレツトの境界が不明瞭と
なり検査の信頼性が低くなつたり、同時に端面の
検査が行なえない等の問題がある。さらに、特開
昭55−154442号公報に記載された端面の検査装置
にあつては、その構造上、同時に円筒面の検査を
することができないという問題がある。さらにま
た、特開昭56−160645号公報に記述されている。
ペレツトをローラーに乗せ回転させながら円筒面
の検査を行なう方法にあつては、検出器が点また
は線画像を検出するイメージセンサーであるため
に、検査毎にペレツトの搬送を止めて全周を検査
した後、搬送する間欠搬送をしなければならない
が、ペレツトがセラミツクのため、欠け易く、高
速搬送が難しいので、ペレツトの搬送及び回転機
構を高性能なものにしないと、ペレツトに損傷
（欠け、ひび等）を与えると共に、間欠搬送や方
向及び姿勢変換が必要になり、高速の検査は困難
である。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、連続的にかつ自動的に
円筒面の展開画像を収集することができると共
に、検査体を迅速かつ確実に検査できコンパクト
な円筒体外観検査装置を提供することにある。
その目的とするところは、連続的にかつ自動的に
円筒面の展開画像を収集することができると共
に、検査体を迅速かつ確実に検査できコンパクト
な円筒体外観検査装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、複数の
円筒形の検査体をそれぞれ同方向に回転させなが
ら、各検査体をその中心軸に直角方向に連続搬送
する搬送部と、この搬送部の上方に配置され、か
つ上記各検査体を撮像するエリアセンサーを備え
た撮像部と、この撮像部のエリアセンサーからの
各検査体の中央部に対応した一次元画素信号を選
択的に読み出し、各検査体の画像メモリーにスタ
ツク状に書き込んで各検査体の円筒面の展開画像
を連続的に収集する画像制御回路とを設けたもの
である。
円筒形の検査体をそれぞれ同方向に回転させなが
ら、各検査体をその中心軸に直角方向に連続搬送
する搬送部と、この搬送部の上方に配置され、か
つ上記各検査体を撮像するエリアセンサーを備え
た撮像部と、この撮像部のエリアセンサーからの
各検査体の中央部に対応した一次元画素信号を選
択的に読み出し、各検査体の画像メモリーにスタ
ツク状に書き込んで各検査体の円筒面の展開画像
を連続的に収集する画像制御回路とを設けたもの
である。
本発明の円周面外観検査装置にあつては、搬送
部において、回転しながら連続搬送させられてい
る複数の検査体の上方から、撮像部のエリアセン
サーによつて各検査体を撮像すると共に、この撮
像したエリアセンサーから各検査体の中央部に対
応する一次元画素信号を画像制御回路において選
択的に読み出し、画像メモリーにスタツク状に書
き込んで各検査体の円筒面の展開画像を連続的に
収集する。
部において、回転しながら連続搬送させられてい
る複数の検査体の上方から、撮像部のエリアセン
サーによつて各検査体を撮像すると共に、この撮
像したエリアセンサーから各検査体の中央部に対
応する一次元画素信号を画像制御回路において選
択的に読み出し、画像メモリーにスタツク状に書
き込んで各検査体の円筒面の展開画像を連続的に
収集する。
以下、第１図ないし第６図に基づいて本発明の
一実施例を説明する。
一実施例を説明する。
第１図は本発明の一実施例の全体構成を示す図
である。この図において、符号１はペレツトＰの
搬送部であり、この搬送部１においては、ペレツ
トＰを回転させながらペレツト供給部２からペレ
ツト排出部３に搬送するための複数のローラー４
が、それぞれ、それらの両端面に回転自在に連結
されたチエーン５によつて、無端状（長円状）に
形成されると共に、これらのローラー４の両端面
とチエーン５との間において、各ローラー４の軸
に装着された歯車６が、第２図に示すように、各
ローラー４の下方の固定ベルト７に固定したラツ
ク８に噛合されているものである。そして、図示
せぬ駆動装置によつて、第２図において、チエー
ン５を左方に移動させると、これに伴い、各ロー
ラー４が左方に移動することにより、固定ベルト
７のラツク８に噛合している歯車６が反時計回り
に反転して、ローラー４を反時計回りに回転させ
るようになつている。また、各ローラー４上に載
置されているペレツトＰの回転が安定する搬送部
１の中間部の上方には、レンズ９とエリアセンサ
ー１０と高速シヤツターとを有する円筒面撮像機
（撮像部）１１が、そのエリアセンサー１０の水
平走査方向をペレツトＰの軸方向に一致させ、か
つ複数（本実施例においては３個）のペレツトＰ
の円筒面を同時に撮像するように配置されてい
る。そして、この円筒面撮像機１１が撮像するペ
レツトＰの両端面の外方には、それぞれ、各端面
を撮像するための一対の端面撮像機１２が配置さ
れている。さらに、一方の端面撮像機１２の近傍
には、ペレツトＰの位置を検出するための３個の
検出器１３が、それぞれ、ペレツトＰの搬送方向
に並んだ状態で設置されている。さらにまた、上
記ペレツト排出部３のペレツト選別部１４には、
１個の検出器１３が配置されており、不合格のペ
レツトＰの通過をこの検出器１３が検出すると、
ペレツト選別部１４の開閉機構１４ａが開いて、
該ペレツトＰが下方に落下するようになつてい
る。
である。この図において、符号１はペレツトＰの
搬送部であり、この搬送部１においては、ペレツ
トＰを回転させながらペレツト供給部２からペレ
ツト排出部３に搬送するための複数のローラー４
が、それぞれ、それらの両端面に回転自在に連結
されたチエーン５によつて、無端状（長円状）に
形成されると共に、これらのローラー４の両端面
とチエーン５との間において、各ローラー４の軸
に装着された歯車６が、第２図に示すように、各
ローラー４の下方の固定ベルト７に固定したラツ
ク８に噛合されているものである。そして、図示
せぬ駆動装置によつて、第２図において、チエー
ン５を左方に移動させると、これに伴い、各ロー
ラー４が左方に移動することにより、固定ベルト
７のラツク８に噛合している歯車６が反時計回り
に反転して、ローラー４を反時計回りに回転させ
るようになつている。また、各ローラー４上に載
置されているペレツトＰの回転が安定する搬送部
１の中間部の上方には、レンズ９とエリアセンサ
ー１０と高速シヤツターとを有する円筒面撮像機
（撮像部）１１が、そのエリアセンサー１０の水
平走査方向をペレツトＰの軸方向に一致させ、か
つ複数（本実施例においては３個）のペレツトＰ
の円筒面を同時に撮像するように配置されてい
る。そして、この円筒面撮像機１１が撮像するペ
レツトＰの両端面の外方には、それぞれ、各端面
を撮像するための一対の端面撮像機１２が配置さ
れている。さらに、一方の端面撮像機１２の近傍
には、ペレツトＰの位置を検出するための３個の
検出器１３が、それぞれ、ペレツトＰの搬送方向
に並んだ状態で設置されている。さらにまた、上
記ペレツト排出部３のペレツト選別部１４には、
１個の検出器１３が配置されており、不合格のペ
レツトＰの通過をこの検出器１３が検出すると、
ペレツト選別部１４の開閉機構１４ａが開いて、
該ペレツトＰが下方に落下するようになつてい
る。
上記各検出器１３の検出信号は、指令用コント
ローラ１５に入力されており、この信号によつ
て、指令用コントローラ１５は、ペレツトＰの位
置に同期して上記各撮像機１１，１２を制御し
て、ペレツトＰの円筒面の展開画像及び両端面の
画像を得るようになつている。
ローラ１５に入力されており、この信号によつ
て、指令用コントローラ１５は、ペレツトＰの位
置に同期して上記各撮像機１１，１２を制御し
て、ペレツトＰの円筒面の展開画像及び両端面の
画像を得るようになつている。
このペレツトＰの円筒面の展開画像を得るため
の電気回路部について、第３図に基づいて説明す
ると、上記各検出器１３の検出信号が入力された
指令用コントローラ１５の円筒面用の指令制御回
路１６は、該検出信号に基づいて、上記円筒面撮
像機１１のエリアセンサー１０と円筒面画像制御
回路１７に対して指令信号を出力するようになつ
ている。このエリアセンサー１０としては、例え
ば、３ケ所の走査画素をアドレス指定で読み出し
可能な512×512のエリアセンサーが用いられる。
また、上記円筒面画像制御回路１７は、上記指令
制御回路１６の指令信号に基づいて、３個のペレ
ツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，P3′の軸に相当す
るエリアセンサー１０の各水平走査撮像素子スタ
ツクPS1，PS2，PS3のみを能動化し、AD変換器
１８を介して、各ペレツトP1，P2，P3に対応す
るそれぞれの二次元（Ｘ，Ｙ）の画像メモリー１
９の記憶部Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，……に書き込むも
のである。そして、画像メモリー１９の各記憶部
Ｍ１〜Ｍ５に書き込まれた円筒面の展開画像は、
随時、画像の前処理が行なわれ、画像切替え回路
２０により、適時、画像モニター２１でモニター
されるようになつていると共に、円筒面判定回路
２２に送出されている。この円筒面判定回路２２
は、第４図に示すように、円筒面展開画像２３か
ら欠け像２４や割れ像２５を抽出し、検査基準と
比較して、ペレツトＰの合否を判定するものであ
り、この結果が上記指令制御回路１６に入力され
ることによつて、該指令制御回路１６は上記ペレ
ツト選別部１４を制御するようになつている。
の電気回路部について、第３図に基づいて説明す
ると、上記各検出器１３の検出信号が入力された
指令用コントローラ１５の円筒面用の指令制御回
路１６は、該検出信号に基づいて、上記円筒面撮
像機１１のエリアセンサー１０と円筒面画像制御
回路１７に対して指令信号を出力するようになつ
ている。このエリアセンサー１０としては、例え
ば、３ケ所の走査画素をアドレス指定で読み出し
可能な512×512のエリアセンサーが用いられる。
また、上記円筒面画像制御回路１７は、上記指令
制御回路１６の指令信号に基づいて、３個のペレ
ツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，P3′の軸に相当す
るエリアセンサー１０の各水平走査撮像素子スタ
ツクPS1，PS2，PS3のみを能動化し、AD変換器
１８を介して、各ペレツトP1，P2，P3に対応す
るそれぞれの二次元（Ｘ，Ｙ）の画像メモリー１
９の記憶部Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，……に書き込むも
のである。そして、画像メモリー１９の各記憶部
Ｍ１〜Ｍ５に書き込まれた円筒面の展開画像は、
随時、画像の前処理が行なわれ、画像切替え回路
２０により、適時、画像モニター２１でモニター
されるようになつていると共に、円筒面判定回路
２２に送出されている。この円筒面判定回路２２
は、第４図に示すように、円筒面展開画像２３か
ら欠け像２４や割れ像２５を抽出し、検査基準と
比較して、ペレツトＰの合否を判定するものであ
り、この結果が上記指令制御回路１６に入力され
ることによつて、該指令制御回路１６は上記ペレ
ツト選別部１４を制御するようになつている。
また、端面画像と全展開画像の処理系について
第５図に基づいて簡単に説明すると、指令用コン
トローラ１５によつて制御される端面撮像機１２
は、上記指令制御回路１６の同期信号により、ペ
レツトＰの両端面を撮像するものであり、この撮
像された端面画像は、端面画像メモリー２６に書
き込まれるようになつている。そして、この端面
画像メモリー２６と円筒面用の画像メモリー１９
の端面画像と円筒面展開画像とは、全展開画像メ
モリー２７に送出されて、全展開画像メモリー２
７において、第６図に示すように、全展開画像２
８が合成されるようになつている。この全展開画
像２８と端面画像とは、上記画像切替え回路２０
に入力されて、それぞれ、画像モニター２１でモ
ニターされるようになつていると共に、各々、全
展開画像判定回路２９と端面画像判定回路３０に
対して送出されている。そして、全展開画像判定
回路２９は、第６図に示すように、全展開画像２
８から端部欠陥３１を抽出して、検査基準と比較
し、ペレツトＰの合否を判定するものであり、ま
た端面画像判定回路３０は、端面画像から欠け、
割れ等の欠陥を抽出して、検査基準と比較して、
ペレツトＰの合否を判定するものである。これら
の判定回路２９，３０の選別信号は、上記指令用
コントローラ１５に送られるようになつている。
第５図に基づいて簡単に説明すると、指令用コン
トローラ１５によつて制御される端面撮像機１２
は、上記指令制御回路１６の同期信号により、ペ
レツトＰの両端面を撮像するものであり、この撮
像された端面画像は、端面画像メモリー２６に書
き込まれるようになつている。そして、この端面
画像メモリー２６と円筒面用の画像メモリー１９
の端面画像と円筒面展開画像とは、全展開画像メ
モリー２７に送出されて、全展開画像メモリー２
７において、第６図に示すように、全展開画像２
８が合成されるようになつている。この全展開画
像２８と端面画像とは、上記画像切替え回路２０
に入力されて、それぞれ、画像モニター２１でモ
ニターされるようになつていると共に、各々、全
展開画像判定回路２９と端面画像判定回路３０に
対して送出されている。そして、全展開画像判定
回路２９は、第６図に示すように、全展開画像２
８から端部欠陥３１を抽出して、検査基準と比較
し、ペレツトＰの合否を判定するものであり、ま
た端面画像判定回路３０は、端面画像から欠け、
割れ等の欠陥を抽出して、検査基準と比較して、
ペレツトＰの合否を判定するものである。これら
の判定回路２９，３０の選別信号は、上記指令用
コントローラ１５に送られるようになつている。
次に、上記のように構成された円筒面外観検査
装置の動作について説明する。
装置の動作について説明する。
まず、第１図と第２図に示すように、ペレツト
P1，P2，P3……をローラー４で回転させながら、
該ローラー４を支持しているチエーン５を搬送さ
せることによつて、水平方向に移動させる。この
場合、例えば、直径９mm、長さ15mmの核燃料ペレ
ツトの搬送速度を30mm／secとし、ペレツトＰの
回転速度を、該ペレツトＰを30mm搬送する間に１
回転するように設定する。そして、３個のペレツ
トP1，P2，P3をレンズ９を通して、エリアセン
サー１０に各ペレツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，
P3′を作り撮像する。この撮像操作は、各ペレツ
トP1，P2，P3，……の位置に対応して、指令制
御回路１６によつて、円筒面撮像機１１が制御さ
れ、繰返し行なわれるが、この時、各ペレツト
P1，P2，P3，……が回転し移動しているから、
前に撮像された位置から回転移動した円筒面が順
次撮像される。
P1，P2，P3……をローラー４で回転させながら、
該ローラー４を支持しているチエーン５を搬送さ
せることによつて、水平方向に移動させる。この
場合、例えば、直径９mm、長さ15mmの核燃料ペレ
ツトの搬送速度を30mm／secとし、ペレツトＰの
回転速度を、該ペレツトＰを30mm搬送する間に１
回転するように設定する。そして、３個のペレツ
トP1，P2，P3をレンズ９を通して、エリアセン
サー１０に各ペレツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，
P3′を作り撮像する。この撮像操作は、各ペレツ
トP1，P2，P3，……の位置に対応して、指令制
御回路１６によつて、円筒面撮像機１１が制御さ
れ、繰返し行なわれるが、この時、各ペレツト
P1，P2，P3，……が回転し移動しているから、
前に撮像された位置から回転移動した円筒面が順
次撮像される。
次いで、上記各ペレツトP1，P2，P3の位置を
検出する検出器１３の検出信号によつて、指令制
御回路１６が円筒面画像制御回路１７に指令を与
え、各ペレツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，P3′の
中心軸に相当するエリアセンサー１０の各水平走
査撮像素子スタツクPS1，PS2，PS3を能動化す
る。そして、円筒面画像制御回路１７は、各ペレ
ツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，P3′の中心軸に相
当するエリアセンサー１０の水平走査撮像素子ス
タツクPS1，PS2，PS3から水平方向の画素デー
タを選択的に読出し、AD変換器１８でデジタル
化して、各ペレツトP1，P2，P3に対応する画像
メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５のＸ方向メモ
リーに、Ｙ方向へ積上げるように一次元配置で書
き込む。
検出する検出器１３の検出信号によつて、指令制
御回路１６が円筒面画像制御回路１７に指令を与
え、各ペレツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，P3′の
中心軸に相当するエリアセンサー１０の各水平走
査撮像素子スタツクPS1，PS2，PS3を能動化す
る。そして、円筒面画像制御回路１７は、各ペレ
ツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，P3′の中心軸に相
当するエリアセンサー１０の水平走査撮像素子ス
タツクPS1，PS2，PS3から水平方向の画素デー
タを選択的に読出し、AD変換器１８でデジタル
化して、各ペレツトP1，P2，P3に対応する画像
メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５のＸ方向メモ
リーに、Ｙ方向へ積上げるように一次元配置で書
き込む。
続いで、各ペレツトP1，P2，P3が搬送部１の
ローラー４によつて一定距移動回転した後、再度
各ペレツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，P3′の中心
軸に相当するエリアセンサー１０の水平方向撮像
素子スタツクSP1，PS2，PS3のみを円筒画面像
制御回路１７で能動化し、円筒面撮像機１１で各
ペレツトP1，P2，P3を撮像する。そして、円筒
画面像制御回路１７は、各ペレツトP1，P2，P3
の像P1′，P2′，P3′の中心軸に相当するエリアセ
ンサー１０の水平方向撮像素子スタツクPS1，
PS2，PS3から水平方向の画素データを選択的に
読出し、AD変換器１８でデジタル化して、各ペ
レツトP1，P2，P3に対応する画像メモリー１９
の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５に積上げるように書き込
む。
ローラー４によつて一定距移動回転した後、再度
各ペレツトP1，P2，P3の像P1′，P2′，P3′の中心
軸に相当するエリアセンサー１０の水平方向撮像
素子スタツクSP1，PS2，PS3のみを円筒画面像
制御回路１７で能動化し、円筒面撮像機１１で各
ペレツトP1，P2，P3を撮像する。そして、円筒
画面像制御回路１７は、各ペレツトP1，P2，P3
の像P1′，P2′，P3′の中心軸に相当するエリアセ
ンサー１０の水平方向撮像素子スタツクPS1，
PS2，PS3から水平方向の画素データを選択的に
読出し、AD変換器１８でデジタル化して、各ペ
レツトP1，P2，P3に対応する画像メモリー１９
の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５に積上げるように書き込
む。
これらの操作を繰り返すことにより、第４図に
示すように、画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜
Ｍ５にペレツトP1，P2，P3，……の各円筒面展
開画像２３が順次記憶される。これらの円筒面展
開画像２３は、随時画像の前処理が行われ、画像
切替え回路２０によつて、適時、画像モニター２
１でモニターされると共に、円筒面判定回路２２
によつて、各ペレツトP1，P2，P3，……の欠け
像２４、割れ像２５を抽出し、検査基準と比較し
て、ペレツトP1，P2，P3，……の合否が判定さ
れる。そして、この判定結果が指令制御回路１６
に送られ、指令制御回路１６は、ペレツトＰの搬
送と同期させて、ペレツト選別部１４に指令信号
を出力し、ペレツトＰが不合格の場合に、開閉機
構１４ａを開いて、不合格のペレツトＰを落下さ
せる。
示すように、画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜
Ｍ５にペレツトP1，P2，P3，……の各円筒面展
開画像２３が順次記憶される。これらの円筒面展
開画像２３は、随時画像の前処理が行われ、画像
切替え回路２０によつて、適時、画像モニター２
１でモニターされると共に、円筒面判定回路２２
によつて、各ペレツトP1，P2，P3，……の欠け
像２４、割れ像２５を抽出し、検査基準と比較し
て、ペレツトP1，P2，P3，……の合否が判定さ
れる。そして、この判定結果が指令制御回路１６
に送られ、指令制御回路１６は、ペレツトＰの搬
送と同期させて、ペレツト選別部１４に指令信号
を出力し、ペレツトＰが不合格の場合に、開閉機
構１４ａを開いて、不合格のペレツトＰを落下さ
せる。
また、ペレツトP1，P2，P3，P4，P5……は連
続で順次回転搬送され、かつこれらのペレツト
P1，P2，P3，P4，P5……が順次撮像、円筒面展
開、判定と順次処理が行なわれることにより、連
続的に自動でペレツトの円筒面の外観検査が行な
われる。そして、上記判定処理が終了した各ペレ
ツトP1，P2，P3，……の円筒面展開画像２３を
書き込んだ画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ
５には、順次、次に回転搬送されてくるペレツト
Ｐの円筒面展開画像２３が書き込まれることによ
つて、限定された画像メモリー１９で連続した外
観検査が処理できる。
続で順次回転搬送され、かつこれらのペレツト
P1，P2，P3，P4，P5……が順次撮像、円筒面展
開、判定と順次処理が行なわれることにより、連
続的に自動でペレツトの円筒面の外観検査が行な
われる。そして、上記判定処理が終了した各ペレ
ツトP1，P2，P3，……の円筒面展開画像２３を
書き込んだ画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ
５には、順次、次に回転搬送されてくるペレツト
Ｐの円筒面展開画像２３が書き込まれることによ
つて、限定された画像メモリー１９で連続した外
観検査が処理できる。
上記円筒面の判定処理と並行して、指令制御回
路１６の同期信号によつて、各ペレツトＰ、P1，
P2，P3，……の両端面が端面撮像機１２によて
撮像され、この端面画像が端面画像判定回路３０
によつて判定され、この結果が指令用コントロー
ラ１５に送られる。そして、指令用コントローラ
１５は、上記判定結果に基づいて、ペレツト選別
部１４に対して指令信号を出力し、不合格のペレ
ツトＰを開閉機構１４ａを開くことによつて、不
方に落とす。
路１６の同期信号によつて、各ペレツトＰ、P1，
P2，P3，……の両端面が端面撮像機１２によて
撮像され、この端面画像が端面画像判定回路３０
によつて判定され、この結果が指令用コントロー
ラ１５に送られる。そして、指令用コントローラ
１５は、上記判定結果に基づいて、ペレツト選別
部１４に対して指令信号を出力し、不合格のペレ
ツトＰを開閉機構１４ａを開くことによつて、不
方に落とす。
また、これと同時に、ペレツトＰの外観欠陥の
うち、ペレツト円筒端部に有る欠陥３１及びペレ
ツト端面の端にある欠陥３１については、上記円
筒面展開画像２３と端面画像を合わせた全展開画
像２８を作り、この全展開画像２８に基づいて、
全展開画像判定回路２９において、これらの端部
欠陥３１を抽出して、検査基準と比較し、ペレツ
トＰの合否を判定する。そして、この結果に基づ
いて、指令用コントローラ１５がペレツト選別部
１４に選別信号を送つて、ペレツトＰの選別を行
なう。
うち、ペレツト円筒端部に有る欠陥３１及びペレ
ツト端面の端にある欠陥３１については、上記円
筒面展開画像２３と端面画像を合わせた全展開画
像２８を作り、この全展開画像２８に基づいて、
全展開画像判定回路２９において、これらの端部
欠陥３１を抽出して、検査基準と比較し、ペレツ
トＰの合否を判定する。そして、この結果に基づ
いて、指令用コントローラ１５がペレツト選別部
１４に選別信号を送つて、ペレツトＰの選別を行
なう。
以上のようにして、ペレツトＰの全自動外観検
査が行なわれるが、この場合、ペレツトＰをその
軸線に直角な方向に連続的に回転搬送しながら、
選別的に能動化したエリアセンサー１０で複数の
ペレツトＰを同時に撮像し、これらのペレツトＰ
の画像のうち中心部の画素のみを各ペレツトＰに
対応した画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５
にそれぞれスタツク状に書き込むことによつて、
円筒面の展開画像を得ることができ、従つて、ペ
レツトＰを比較的低速回転及び低速搬送速度で移
動させるにもかかわらず、連続して複数個まとめ
て検査することができ、処理効率の向上を図るこ
とができる上に、コンパクトな検査装置で自動化
を行なうことができる。例えば、毎秒３個のペレ
ツトＰの自動外観検査を行なう場合、ペレツトＰ
を毎秒３cm搬送させ、かつ毎秒１回転させること
により、0.6mmの分解能で検査が可能となり、ペ
レツトＰの搬送におけるトラブルを減少できる。
また、ペレツトＰの搬送におけるトラブルを減少
できる。また、ペレツトＰの展開画像解析後、そ
の画像メモリーに新しい画像データを記録するこ
とにより、画像メモリーの使用効率の向上を図る
ことができ、かつ連続したペレツトＰの外観検査
を限られた画像メモリーで処理できる。さらに、
ペレツトＰの円筒面展開画像と共に、両端面画像
を撮像して、両者を合わせて全展開画像を作成
し、外観の合否を判定するから、特に、ペレツト
Ｐの端面と円筒面との境界部（端部）の欠陥を検
査し易く、外観検査の信頼性が大幅に向上する。
さらにまた、ペレツトＰの円筒面展開画像、両端
面画像、全展開画像をそれぞれ作成し、各画像毎
に独自の検査基準を設定して、ペレツトＰの合否
の判定を行ない、ペレツト選択部１４において、
選別を行なうものであるから、ペレツトの外観検
査を速やかにかつ確実に行なうことができ、かつ
ペレツトＰの合否の選別が円滑に行なえる。
査が行なわれるが、この場合、ペレツトＰをその
軸線に直角な方向に連続的に回転搬送しながら、
選別的に能動化したエリアセンサー１０で複数の
ペレツトＰを同時に撮像し、これらのペレツトＰ
の画像のうち中心部の画素のみを各ペレツトＰに
対応した画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５
にそれぞれスタツク状に書き込むことによつて、
円筒面の展開画像を得ることができ、従つて、ペ
レツトＰを比較的低速回転及び低速搬送速度で移
動させるにもかかわらず、連続して複数個まとめ
て検査することができ、処理効率の向上を図るこ
とができる上に、コンパクトな検査装置で自動化
を行なうことができる。例えば、毎秒３個のペレ
ツトＰの自動外観検査を行なう場合、ペレツトＰ
を毎秒３cm搬送させ、かつ毎秒１回転させること
により、0.6mmの分解能で検査が可能となり、ペ
レツトＰの搬送におけるトラブルを減少できる。
また、ペレツトＰの搬送におけるトラブルを減少
できる。また、ペレツトＰの展開画像解析後、そ
の画像メモリーに新しい画像データを記録するこ
とにより、画像メモリーの使用効率の向上を図る
ことができ、かつ連続したペレツトＰの外観検査
を限られた画像メモリーで処理できる。さらに、
ペレツトＰの円筒面展開画像と共に、両端面画像
を撮像して、両者を合わせて全展開画像を作成
し、外観の合否を判定するから、特に、ペレツト
Ｐの端面と円筒面との境界部（端部）の欠陥を検
査し易く、外観検査の信頼性が大幅に向上する。
さらにまた、ペレツトＰの円筒面展開画像、両端
面画像、全展開画像をそれぞれ作成し、各画像毎
に独自の検査基準を設定して、ペレツトＰの合否
の判定を行ない、ペレツト選択部１４において、
選別を行なうものであるから、ペレツトの外観検
査を速やかにかつ確実に行なうことができ、かつ
ペレツトＰの合否の選別が円滑に行なえる。
以上説明したように、本発明によれば、複数の
円筒形の検査体をそれぞれ同方向に回転させなが
ら、各検査体をそれらの中心軸に対して直角方向
に連続搬送する搬送部と、この搬送部の上方に配
置され、かつ上記各検査体を撮像するエリアセン
サーを備えた撮像部と、この撮像部のエリアセン
サーからの各検査体の中央部に対応した一次元画
素信号を選択的に読み出し、各検査体の画像メモ
リーにスタツク状に書き込んで各検査体の円筒面
の展開画像を連続的に収集する画像制御回路とを
設けたものであるから、回転しながら連続搬送さ
せられている複数の検査体の上方から、撮像部の
エリアセンサーによつて各検査体を撮像すると共
に、この撮像したエリアセンサーから各検査体の
中央部に対応する一時元画素信号を画像制御回路
において選択的に読み出し、画像メモリーにスタ
ツク状に書き込んで各検査体の円筒面の展開画像
を連続的にかつ自動的に収集することができると
共に、検査体を迅速かつ確実に検査でき、検査効
率の大幅な向上を図ることができるという優れた
効果を有する。
円筒形の検査体をそれぞれ同方向に回転させなが
ら、各検査体をそれらの中心軸に対して直角方向
に連続搬送する搬送部と、この搬送部の上方に配
置され、かつ上記各検査体を撮像するエリアセン
サーを備えた撮像部と、この撮像部のエリアセン
サーからの各検査体の中央部に対応した一次元画
素信号を選択的に読み出し、各検査体の画像メモ
リーにスタツク状に書き込んで各検査体の円筒面
の展開画像を連続的に収集する画像制御回路とを
設けたものであるから、回転しながら連続搬送さ
せられている複数の検査体の上方から、撮像部の
エリアセンサーによつて各検査体を撮像すると共
に、この撮像したエリアセンサーから各検査体の
中央部に対応する一時元画素信号を画像制御回路
において選択的に読み出し、画像メモリーにスタ
ツク状に書き込んで各検査体の円筒面の展開画像
を連続的にかつ自動的に収集することができると
共に、検査体を迅速かつ確実に検査でき、検査効
率の大幅な向上を図ることができるという優れた
効果を有する。
第１図ないし第６図は本発明の一実施例を示す
もので、第１図は全体の構成を示す概略斜視図、
第２図はペレツトの搬送部と円筒面撮像部の構成
を示す側面図、第３図はペレツト円筒面展開画像
系の信号処理と制御の構成を示すブロツク図、第
４図はペレツト円筒面展開画像の生成例を説明す
る説明図、第５図はペレツト全展開画像系の信号
処理と制御の構成を示すブロツク図、第６図はペ
レツト全展開画像の生成例を説明する説明図であ
る。 １……搬送部、１０……エリアセンサー、１１
……円筒面撮像機（撮像部）、１７……円筒面画
像制御回路、１９……画像メモリー、２３……円
筒面展開画像、Ｐ，P1〜P5……ペレツト（検査
体）、PS1，PS2，PS3……水平走査撮像素子スタ
ツク。
もので、第１図は全体の構成を示す概略斜視図、
第２図はペレツトの搬送部と円筒面撮像部の構成
を示す側面図、第３図はペレツト円筒面展開画像
系の信号処理と制御の構成を示すブロツク図、第
４図はペレツト円筒面展開画像の生成例を説明す
る説明図、第５図はペレツト全展開画像系の信号
処理と制御の構成を示すブロツク図、第６図はペ
レツト全展開画像の生成例を説明する説明図であ
る。 １……搬送部、１０……エリアセンサー、１１
……円筒面撮像機（撮像部）、１７……円筒面画
像制御回路、１９……画像メモリー、２３……円
筒面展開画像、Ｐ，P1〜P5……ペレツト（検査
体）、PS1，PS2，PS3……水平走査撮像素子スタ
ツク。
Claims (1)
- １ 複数の円筒形の検査体をそれぞれ同方向に回
転させながら、これらの検査体をその中心軸に直
角方向に連続搬送する搬送部と、この搬送部の上
方に配置され、かつ上記各検査体を撮像するエリ
アセンサーを備えた撮像部と、この撮像部のエリ
アセンサーからの各検査体の中央部に対応した一
次元画素信号を選択的に読み出し、各検査体の画
像メモリーにスタツク状に書き込んで各検査体の
円筒面の展開画像を連続的に収集する画像制御回
路とを具備したことを特徴とする円筒体外観検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60180334A JPS6239746A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 円筒体外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60180334A JPS6239746A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 円筒体外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6239746A JPS6239746A (ja) | 1987-02-20 |
| JPH0362222B2 true JPH0362222B2 (ja) | 1991-09-25 |
Family
ID=16081403
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60180334A Granted JPS6239746A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 円筒体外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6239746A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018017547A (ja) * | 2016-07-26 | 2018-02-01 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス物品の検査方法、ガラス物品の製造方法、及びガラス物品の検査装置 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01284745A (ja) * | 1988-05-10 | 1989-11-16 | Showa Aruminiumukan Kk | 円筒状物の印刷良否選別装置 |
| US5309486A (en) * | 1992-11-12 | 1994-05-03 | Westinghouse Electric Corp. | Non-contact flaw detection for cylindrical nuclear fuel pellets |
| JP2008064624A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Toyo Inspections Kk | 撮像装置及び撮像方法 |
| EP2625509B1 (en) | 2010-10-08 | 2015-10-28 | Capsugel Belgium NV | Apparatus and method for acquiring a two-dimensional image of the surface of a three-dimensional object |
| JP5954284B2 (ja) * | 2013-09-25 | 2016-07-20 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 |
-
1985
- 1985-08-16 JP JP60180334A patent/JPS6239746A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018017547A (ja) * | 2016-07-26 | 2018-02-01 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス物品の検査方法、ガラス物品の製造方法、及びガラス物品の検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6239746A (ja) | 1987-02-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |