JPS6056245A - 自動表面検査装置における入力装置 - Google Patents
自動表面検査装置における入力装置Info
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- JPS6056245A JPS6056245A JP16565883A JP16565883A JPS6056245A JP S6056245 A JPS6056245 A JP S6056245A JP 16565883 A JP16565883 A JP 16565883A JP 16565883 A JP16565883 A JP 16565883A JP S6056245 A JPS6056245 A JP S6056245A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
れ、色等を自動的に検査する自動表面検査装置における
入力装置に関するものである。
入力装置に関するものである。
一般に、物体の表面を検査するには、撮影装置を用いて
物体表面の画像を撮像する方法がある。
物体表面の画像を撮像する方法がある。
画像の撮像装置としては、テレビジョンカメラがあるが
物体表面の傷、汚れを検査する目的に対しては、残像が
あるのに加え分解能も不足するので用いることができな
い。そこで、このような目的には、多数の素子を有する
半導体ラインセンサー例えばＣ Ｃ Ｉ）ラインセンサ
ーを用い、その物体の動きを利用して副走査を行うカメ
ラ装置いわゆるＣ Ｃ Ｉ）カメラによって撮像を行っ
ている。このようなＣＣＤカメラを用いた装置としては
、表面検査装置の他に書画等を自動的に読み取る高分解
能を要求される自動読取装置がある。これらの装置には
、ＣＣＤラインセンサーを副走査方向に走査する方法、
カメラ装置全体を副走査方向に走査する方法等が用いら
れいてる。この方法は、シー１一状の書画等の読取りに
は適しているが、任意の形状を有する立体である検査物
品の表面検査には適していない。ヘルドコンベヤ等の搬
送装置によって搬送されている物品の自動表面検査装置
においては、その物品が搬送されている状態で一方向又
は双方向から光源によってその物品照射し、その反射光
を一台又は二台の上記のＣＣＤカメラのような光学読取
装置で捕らえ、光電変換して物品の映像信号を得る方法
である。他の方法は、搬送されている物品をカメラ装置
が配置された検査位置で停止されて当該物品をその場所
で回転さ４色ることによって副走査を行い、−組の光源
およびカメラによって物品の映像信号を得るものである
。前者の方法は、物品の一方向の面又は二方向の面の映
像信号しか得ることができない。又、光軸に対して斜め
になる面は垂直な面に比べて暗くなるのでシェーディン
グを生じ、正確な映像信号を得ることができない。後者
の方法は、物品の全周にわたって同一条件で検出できる
ので円周方向に対してはシェーディングは生しないが、
検査しようとする物品を搬送しつつ自転させるには複雑
なギヤ装置を必要とし、ギヤの摩耗等によってトラブル
を起こしやすく又Ａ速運転ができない欠点があった。（
この事例としては、本出願人による特許出願、昭和５８
年２月８日、特開昭５８−２１５４６号［自動表面検査
装置Ｊがあるので参照されたい。）しかし、物品の表面
検査をするためには、立体表面の任意の部位をシェーデ
ィングを生じないようにして高分解能で撮像できる必要
があり、従来の技術はそのままでは用いることができな
い。
物体表面の傷、汚れを検査する目的に対しては、残像が
あるのに加え分解能も不足するので用いることができな
い。そこで、このような目的には、多数の素子を有する
半導体ラインセンサー例えばＣ Ｃ Ｉ）ラインセンサ
ーを用い、その物体の動きを利用して副走査を行うカメ
ラ装置いわゆるＣ Ｃ Ｉ）カメラによって撮像を行っ
ている。このようなＣＣＤカメラを用いた装置としては
、表面検査装置の他に書画等を自動的に読み取る高分解
能を要求される自動読取装置がある。これらの装置には
、ＣＣＤラインセンサーを副走査方向に走査する方法、
カメラ装置全体を副走査方向に走査する方法等が用いら
れいてる。この方法は、シー１一状の書画等の読取りに
は適しているが、任意の形状を有する立体である検査物
品の表面検査には適していない。ヘルドコンベヤ等の搬
送装置によって搬送されている物品の自動表面検査装置
においては、その物品が搬送されている状態で一方向又
は双方向から光源によってその物品照射し、その反射光
を一台又は二台の上記のＣＣＤカメラのような光学読取
装置で捕らえ、光電変換して物品の映像信号を得る方法
である。他の方法は、搬送されている物品をカメラ装置
が配置された検査位置で停止されて当該物品をその場所
で回転さ４色ることによって副走査を行い、−組の光源
およびカメラによって物品の映像信号を得るものである
。前者の方法は、物品の一方向の面又は二方向の面の映
像信号しか得ることができない。又、光軸に対して斜め
になる面は垂直な面に比べて暗くなるのでシェーディン
グを生じ、正確な映像信号を得ることができない。後者
の方法は、物品の全周にわたって同一条件で検出できる
ので円周方向に対してはシェーディングは生しないが、
検査しようとする物品を搬送しつつ自転させるには複雑
なギヤ装置を必要とし、ギヤの摩耗等によってトラブル
を起こしやすく又Ａ速運転ができない欠点があった。（
この事例としては、本出願人による特許出願、昭和５８
年２月８日、特開昭５８−２１５４６号［自動表面検査
装置Ｊがあるので参照されたい。）しかし、物品の表面
検査をするためには、立体表面の任意の部位をシェーデ
ィングを生じないようにして高分解能で撮像できる必要
があり、従来の技術はそのままでは用いることができな
い。
本発明の目的は、−上記の欠点を改善し、機械構造の簡
単でギヤのＩＹ粍等によってトラブルをおこすような欠
点がなく、安定に高速運転ができる自動表面検査装置を
提供するものである。
単でギヤのＩＹ粍等によってトラブルをおこすような欠
点がなく、安定に高速運転ができる自動表面検査装置を
提供するものである。
本発明の他の１」的は、物品の全表面にわたり同一条件
で検出をおこなってシェーディングがない信頼性のある
映像信号を得ることにある。
で検出をおこなってシェーディングがない信頼性のある
映像信号を得ることにある。
本発明においζは、検査物品の検査しようとする部位に
応じご必要数の光学検査装置を適当な姿勢で検査位置に
設けるとともに搬送している物品を検査装置において一
時的に停止させ、さらに少なくとも１つの光学読取装置
を検査物品を中心として回転させることにより、物品表
面の任意の部位の検査を行なうものである。従来の方法
は物品の方を回転させるようになっているが、本発明で
は、光学読取装置を回転させるのが異なる。物品を搬送
しかつ自転させようとすると機構↓よ複雑になり、前述
したように摩耗等によるトラブルの原因になりやすいが
、搬送と回転を分離し別々に構成すれば、夫々の機構は
筒車であるから十分に信頼性のある装置を得ることがで
き、高速運転も容易に実現することができる。この光学
読取装置を、適当な機械装置によって物品の周囲に立体
的に動かすことにより、物品の表面のすべ゛この部分を
同一条件で検査することができ円周方向に対してはシェ
ーディングを完全に除去することができる。
応じご必要数の光学検査装置を適当な姿勢で検査位置に
設けるとともに搬送している物品を検査装置において一
時的に停止させ、さらに少なくとも１つの光学読取装置
を検査物品を中心として回転させることにより、物品表
面の任意の部位の検査を行なうものである。従来の方法
は物品の方を回転させるようになっているが、本発明で
は、光学読取装置を回転させるのが異なる。物品を搬送
しかつ自転させようとすると機構↓よ複雑になり、前述
したように摩耗等によるトラブルの原因になりやすいが
、搬送と回転を分離し別々に構成すれば、夫々の機構は
筒車であるから十分に信頼性のある装置を得ることがで
き、高速運転も容易に実現することができる。この光学
読取装置を、適当な機械装置によって物品の周囲に立体
的に動かすことにより、物品の表面のすべ゛この部分を
同一条件で検査することができ円周方向に対してはシェ
ーディングを完全に除去することができる。
物品の他の部位を検査するときは、他の光学読取装置を
用いるか当該物品の姿勢を変えて前記の光学読取装置に
よって検査すればよい。
用いるか当該物品の姿勢を変えて前記の光学読取装置に
よって検査すればよい。
次に、本発明の実施例について図面を参照しながら詳細
を説明する。第１図は紙カップの内面と底面を検査する
自動表面検査装置のシステム構成図で、１は検査しよう
とする紙カップ、２は搬送装置、３は光学読取装置、４
は得られた紙カツプ映像信号の処理装置である。搬送装
置２によって運ばれてきた紙カップ１は、光学読取装置
３の下部の検査位置へまで来ると停止して内面の検査を
受け、検査が完了すると再び搬送される。検査の結果不
良品と判定されたときは、Ｂの位置において排出される
。底面の検査は、紙カップがＣの位置まで来たときに行
われる。このときは、別の光学読取装置３′は紙カップ
の下部に配置され２．Ｆ記の検査と同様にして行われる
。検査の結果不良品であることが判明したときは、この
紙カップがＤの位置まで来たときに排出される。
を説明する。第１図は紙カップの内面と底面を検査する
自動表面検査装置のシステム構成図で、１は検査しよう
とする紙カップ、２は搬送装置、３は光学読取装置、４
は得られた紙カツプ映像信号の処理装置である。搬送装
置２によって運ばれてきた紙カップ１は、光学読取装置
３の下部の検査位置へまで来ると停止して内面の検査を
受け、検査が完了すると再び搬送される。検査の結果不
良品と判定されたときは、Ｂの位置において排出される
。底面の検査は、紙カップがＣの位置まで来たときに行
われる。このときは、別の光学読取装置３′は紙カップ
の下部に配置され２．Ｆ記の検査と同様にして行われる
。検査の結果不良品であることが判明したときは、この
紙カップがＤの位置まで来たときに排出される。
本実施例におりる搬送装置２は、ベルト・コンベヤに紙
カップを挿入する穴を一定間隔で設け、ベルト・コンベ
ヤを一定の時間間隔で間欠運転する構造のものでよい。
カップを挿入する穴を一定間隔で設け、ベルト・コンベ
ヤを一定の時間間隔で間欠運転する構造のものでよい。
搬送装置２は、他の検査物品においてはヘルド・コンベ
ヤ以外の例えば円形のものを使用することができる。検
査物品は１般送装置２上に適当な方法で固定することが
望ましい。
ヤ以外の例えば円形のものを使用することができる。検
査物品は１般送装置２上に適当な方法で固定することが
望ましい。
このとき、へ車軸又は標準となるマーク等があるものは
、この基準軸又はマークが一定の位置にくるように検査
物品をセントできることが望ましい。
、この基準軸又はマークが一定の位置にくるように検査
物品をセントできることが望ましい。
第２図は光学読取装置３の構成図である。光学読取装置
３は光源部５．電源部６．光電変換部７゜駆動モーター
８を有する。９は前記モーターの回転軸に直結されたギ
ヤで、ギヤ１０と歯合している。光電変換部７は金具１
１を介し一ζギヤ１０に固定されているので、光電変換
部７はモーター８によって回転させられる。光源部５と
？ｌｉ源部６は固定されており、円ｔ（Ｃコロ軸受１２
を介して回転部分に接している。円錐コロ軸受１２はス
ラスト負荷とラジャル負荷を・うけることができるので
、回転部分の重量を支えると共に、軸を中心として正し
い回転運動をすることができる。この円錐コロ軸受１２
に代わって他の適当な方法を用いることができるのは勿
論である。なお、回転方法とギヤ装置に限定されるもの
ではなく、公知の他の適当な方法を用いることができる
。１３は光源ランプで、本実施例ではハロゲンランプを
用いている。
３は光源部５．電源部６．光電変換部７゜駆動モーター
８を有する。９は前記モーターの回転軸に直結されたギ
ヤで、ギヤ１０と歯合している。光電変換部７は金具１
１を介し一ζギヤ１０に固定されているので、光電変換
部７はモーター８によって回転させられる。光源部５と
？ｌｉ源部６は固定されており、円ｔ（Ｃコロ軸受１２
を介して回転部分に接している。円錐コロ軸受１２はス
ラスト負荷とラジャル負荷を・うけることができるので
、回転部分の重量を支えると共に、軸を中心として正し
い回転運動をすることができる。この円錐コロ軸受１２
に代わって他の適当な方法を用いることができるのは勿
論である。なお、回転方法とギヤ装置に限定されるもの
ではなく、公知の他の適当な方法を用いることができる
。１３は光源ランプで、本実施例ではハロゲンランプを
用いている。
１４は反ＪＩＪ鏡で１５は集光レンズ系である。１６は
熱線を１ｆｆｌ遇させ可視光線を反射するいわゆるコー
ルドミラーで、光源からの光束はこの反射鏡によって反
射され、拡１１にレンズ系１７によって光束を検査しよ
うとするカップの全検査範囲をカバーする程度に広げる
。１８は反射鏡で、この反射鏡１８で反射した光束は反
射鏡１９にとって反射する。この反射鏡１８ ｉ；ｔ、
検査物品表面の走査部分を効果的に照ｌｊｌ目“るよう
に、長四角の反射鏡数枚を放物面上に取りイー１りて入
射光線を検査物品−ヒに集光するように構成されている
。第３図は集光の状況を説明する図面で、断面が円形の
入射光２３は、反射することによって断面が２４の楕円
形になり、検査物品上に集光することを示している。
熱線を１ｆｆｌ遇させ可視光線を反射するいわゆるコー
ルドミラーで、光源からの光束はこの反射鏡によって反
射され、拡１１にレンズ系１７によって光束を検査しよ
うとするカップの全検査範囲をカバーする程度に広げる
。１８は反射鏡で、この反射鏡１８で反射した光束は反
射鏡１９にとって反射する。この反射鏡１８ ｉ；ｔ、
検査物品表面の走査部分を効果的に照ｌｊｌ目“るよう
に、長四角の反射鏡数枚を放物面上に取りイー１りて入
射光線を検査物品−ヒに集光するように構成されている
。第３図は集光の状況を説明する図面で、断面が円形の
入射光２３は、反射することによって断面が２４の楕円
形になり、検査物品上に集光することを示している。
検査物品上の照明位置の調整は、反射鏡１９の角度調整
ねじ１．９ Ａによって行うことができる。検査物品か
らの反射光は、反射鏡２ｏによって反射され光電変換部
７に導かれる。図では反射鏡２゜ば、紙カップＪの上方
に配置されているが、紙カップの内面によって反射され
た光を受光する位ｌならば図示位置に限定されない。検
査物品からの反射光をピックアップする方法としては、
他の方法を用いることもできる。すなわち、検査物品か
らの反射光を入射光線と同一の光路を通って反射鏡１９
によって反射させ、反射Ｖ１．１Ｂに導く７反射鏡１８
にはスリ・７トを設けておき反射光線のみが通過して光
重変換素子部２２へ入るようにするのである。第４図は
、反射鏡１８の構造を示す図面である。２５はスリット
で、検査物品からの反射光が通過できるような角度に切
削されているので、検査物品ｌからの反射光はスリット
を通過して光電変換素子部２２に送られる。２１は集光
レンズ系で、反射鏡２０によって反射した光束又は反射
鏡１８をｍ遇した光束を集光し、光電変換素子部２２の
ＣＣＤラインセンサーＪ−に検査物品の像を結像させる
。なお、表面の傷の判別を容易にするためには投射光を
一方向がら投射して傷による陰影ができるようにするこ
と、検査部位における反射光は正規反射光を避けて散乱
光を利用すること等の注意が必要である。
ねじ１．９ Ａによって行うことができる。検査物品か
らの反射光は、反射鏡２ｏによって反射され光電変換部
７に導かれる。図では反射鏡２゜ば、紙カップＪの上方
に配置されているが、紙カップの内面によって反射され
た光を受光する位ｌならば図示位置に限定されない。検
査物品からの反射光をピックアップする方法としては、
他の方法を用いることもできる。すなわち、検査物品か
らの反射光を入射光線と同一の光路を通って反射鏡１９
によって反射させ、反射Ｖ１．１Ｂに導く７反射鏡１８
にはスリ・７トを設けておき反射光線のみが通過して光
重変換素子部２２へ入るようにするのである。第４図は
、反射鏡１８の構造を示す図面である。２５はスリット
で、検査物品からの反射光が通過できるような角度に切
削されているので、検査物品ｌからの反射光はスリット
を通過して光電変換素子部２２に送られる。２１は集光
レンズ系で、反射鏡２０によって反射した光束又は反射
鏡１８をｍ遇した光束を集光し、光電変換素子部２２の
ＣＣＤラインセンサーＪ−に検査物品の像を結像させる
。なお、表面の傷の判別を容易にするためには投射光を
一方向がら投射して傷による陰影ができるようにするこ
と、検査部位における反射光は正規反射光を避けて散乱
光を利用すること等の注意が必要である。
光電変換素子部は公知の光電変換技術を用いることがで
きる。第５し１はその一例で、２６．２７はハーフミラ
−２Ｂ、２９．３０はそれぞれ三原色ＲＧＢのフィルタ
ー、３１．３２．３３はそれぞれＲＧＢ用のＣＣＩ）ラ
インセンザーである。
きる。第５し１はその一例で、２６．２７はハーフミラ
−２Ｂ、２９．３０はそれぞれ三原色ＲＧＢのフィルタ
ー、３１．３２．３３はそれぞれＲＧＢ用のＣＣＩ）ラ
インセンザーである。
三原色に分光する・ν・要のない、例えば二色でよい場
合は２７．２！１．３２が不要になる。更にモノクロー
ムでよい場合は、３０．３３も不要となる。
合は２７．２！１．３２が不要になる。更にモノクロー
ムでよい場合は、３０．３３も不要となる。
ＣＣＤラインセンナ−は他の半導体ラインセンザーであ
ってもよい。検査物品の検査範囲に対して焦点を合わせ
るためには、光軸ヒにおける投影長の焦点深度が必要で
ある。この焦点深度をとるには、適当なレンズを用いる
外、公知の［゛あおり−１の技術を用い、ＣＣｌ）ライ
ンセンザーを光軸に対して適当に傾け、比較的短い焦点
距離のレンズを用い、絞りを明りで使用するようにして
いる。なお、「あおり−１の技術については、前掲特開
昭５８ ２１５４６号「自動表面検査装置」を参照され
たい。
ってもよい。検査物品の検査範囲に対して焦点を合わせ
るためには、光軸ヒにおける投影長の焦点深度が必要で
ある。この焦点深度をとるには、適当なレンズを用いる
外、公知の［゛あおり−１の技術を用い、ＣＣｌ）ライ
ンセンザーを光軸に対して適当に傾け、比較的短い焦点
距離のレンズを用い、絞りを明りで使用するようにして
いる。なお、「あおり−１の技術については、前掲特開
昭５８ ２１５４６号「自動表面検査装置」を参照され
たい。
光電変換部７に対する電力、クロック信号の供給、ＣＣ
Ｄラインセンサーからの出力信号の取り出しは、例えば
第一図において３４のスリップリング機構によって行う
ことができる。第６図はスリップリング機構の詳細を示
すもので、３５はスリップリング取り付は金具、３６Ａ
、Ｂはスリップリング、３７Ａ、Ｂは弾性を有する金属
製のブラシ、３８Ａ、Ｂはブラシホルダー、３９Ａ、Ｂ
はブラシ取付金具、４０はスリップリングに対する接続
導線、４１はブラシに対する接続導線である。スリップ
リング取付金具を中心にしてスリップリング、ブラシ、
ブラシホルダー、ブラシボルダ−取付金具を上下に設け
であるのは、回線を上下に分散してスリップリング機構
全体を小型にするためである。第６図Ｂはブラシ部の詳
細図である。ブラシ３７Ａ、３７Ｂは弾性を有する金属
例えば燐青銅によって作られ、ブラシとの接触部は接触
を良くするような形状に作る。ブラシ取付金具３９Δ、
３９Ｂは上下に動くようにしてブラシの接触圧を調整４
゛る。このスリップリング機構は、スリップリング３６
Ａ、３６Ｂを水平に設置Ｊる代りに垂直に設けることも
できる。スリップリング３６Ａ、３６１３におい゛Ｃ発
生する可能性のある火花による衝撃性雑音の発生予防技
術はＶＴＲにおいて確立しているのご、この技術をその
まま使用することができる。なお、回転トランスを用い
ればスリップリングによる雑音の発生を未然に防くこと
ができる。ただし、このときは構成が複雑になる欠点が
ある。
Ｄラインセンサーからの出力信号の取り出しは、例えば
第一図において３４のスリップリング機構によって行う
ことができる。第６図はスリップリング機構の詳細を示
すもので、３５はスリップリング取り付は金具、３６Ａ
、Ｂはスリップリング、３７Ａ、Ｂは弾性を有する金属
製のブラシ、３８Ａ、Ｂはブラシホルダー、３９Ａ、Ｂ
はブラシ取付金具、４０はスリップリングに対する接続
導線、４１はブラシに対する接続導線である。スリップ
リング取付金具を中心にしてスリップリング、ブラシ、
ブラシホルダー、ブラシボルダ−取付金具を上下に設け
であるのは、回線を上下に分散してスリップリング機構
全体を小型にするためである。第６図Ｂはブラシ部の詳
細図である。ブラシ３７Ａ、３７Ｂは弾性を有する金属
例えば燐青銅によって作られ、ブラシとの接触部は接触
を良くするような形状に作る。ブラシ取付金具３９Δ、
３９Ｂは上下に動くようにしてブラシの接触圧を調整４
゛る。このスリップリング機構は、スリップリング３６
Ａ、３６Ｂを水平に設置Ｊる代りに垂直に設けることも
できる。スリップリング３６Ａ、３６１３におい゛Ｃ発
生する可能性のある火花による衝撃性雑音の発生予防技
術はＶＴＲにおいて確立しているのご、この技術をその
まま使用することができる。なお、回転トランスを用い
ればスリップリングによる雑音の発生を未然に防くこと
ができる。ただし、このときは構成が複雑になる欠点が
ある。
モーター８の回転によって光電変換部７が回転すると、
検査物晶子の撮像部分がそれによって移動し副走査が行
われる。主走査のラインセンサーを走査することによっ
て行われる。得られた映像信号は、Ｆ記のスリップリン
グを通じて取出される。検出した信号電流は、検査の目
的に応じて処理される。この処理の方法を開示すること
は本出願の目的ではないので省略するが、処理方法の一
例については、前掲の特許出願、特開昭５８−２１５４
６号［自りＪ表面検査装置］を参照されたい。−上記実
施例では光学読取装置の光電変換部のみを回転させた構
成となっているが光学読取装置全体を回転させるように
してもよい。さらに−１−記の実施例においては、紙カ
ップが検査物品であったが、他の物品を対象とする少合
は、投射光の範囲、反射鏡１９の角度、光電変摸索イ部
２２の構成を選択し、第１図に示すように、必要により
光学読取装ｒを複数個使用し、検査範囲をカバーするよ
うに検査物品の固定姿勢と光学読取装置による走査範囲
とを選択することによって、どんな形状の物品のどの検
査部位についても、同一の条件でシェーディングのない
効果的な検査を行うことがてきる。又、検査物品の搬送
と回転を分離するごとによって、機械的構造が簡単にな
り、ギヤの摩耗等による障害を未然に防ぐことができる
ので、自動表面検査装置の信頼性を向上させることがで
きる。
検査物晶子の撮像部分がそれによって移動し副走査が行
われる。主走査のラインセンサーを走査することによっ
て行われる。得られた映像信号は、Ｆ記のスリップリン
グを通じて取出される。検出した信号電流は、検査の目
的に応じて処理される。この処理の方法を開示すること
は本出願の目的ではないので省略するが、処理方法の一
例については、前掲の特許出願、特開昭５８−２１５４
６号［自りＪ表面検査装置］を参照されたい。−上記実
施例では光学読取装置の光電変換部のみを回転させた構
成となっているが光学読取装置全体を回転させるように
してもよい。さらに−１−記の実施例においては、紙カ
ップが検査物品であったが、他の物品を対象とする少合
は、投射光の範囲、反射鏡１９の角度、光電変摸索イ部
２２の構成を選択し、第１図に示すように、必要により
光学読取装ｒを複数個使用し、検査範囲をカバーするよ
うに検査物品の固定姿勢と光学読取装置による走査範囲
とを選択することによって、どんな形状の物品のどの検
査部位についても、同一の条件でシェーディングのない
効果的な検査を行うことがてきる。又、検査物品の搬送
と回転を分離するごとによって、機械的構造が簡単にな
り、ギヤの摩耗等による障害を未然に防ぐことができる
ので、自動表面検査装置の信頼性を向上させることがで
きる。
第１図は本発明による自動検査装置の実施例におけるシ
ステム構成図、第２図は光学読取装置の第１の実施例の
構成を示す図面、第３図は第２図において投射光をイ１
Ｓ光する反射鏡１９のＳｉｌ＋作説明図、第４図は第２
図においてスリットを有する反射鏡１８の動作説明図、
第５図は第２図の光電変換部７の構成を小Ｊ図面、’Ｎ
Ｓ６図Ａ、Ｂは第２図のスリップリンク機構３４の構成
を示す図面。 １−−一一−−紙カツブ ２ ｔｉｌｌ送装置３−一光
学読取装置 ４− 信号処理装置５−−−−−−−光爵
部 ６−−−−−−電源部？−−−−−光電弯換部 ８
−−−−一 駆動モーター９、ｌＯ・−−−−−−ギヤ
ｌ ｉ−一−一連結金具１２ ＝−円ｔｆＧコロ軸受
１３−−ハロケンランフ１１１−−−−−反射鏡 １
５−−集光レンス系１６−−−−反射鏡 １７−一拡散
レンズ系１８ 、 １９ 、 ２０−−−−−一反射鏡
１９ Ａ−−一−・−−−−１９の角度調節ねし２１−
−−−一集光レンズ ２２−−−−−−光電変換翠子部
２３−−一入射光 ２４−一反射光 ２５−−−−スリ、ト ２６ 、 ２７−・−ハーフミラー ２８ 、 ２９ 、 ３０−−−− フィルター３１，
３２．３３ − ＣＣＤラインセン号−３４−一−−−
−−スリップリング機構３５−−−−−−−−スリ、ブ
リング取付金具３６Ａ、Ｂ−−スリップリング ３７ Ａ 、 Ｂ−−−−−−−ブラシ３８ Ａ 、Ｂ
−一−−−−ブラシホルダー３９ Ａ、Ｂ−−−−−−
ブラシホルダー取付金具４０−−−−−−スリップリン
グ接続導線４１−−一−−−−−ブラシ接続導線 第５図 手続補正書 特許庁長官 志 賀 学 殿 ２、発明の名称 自動表面検査装置における入力装置３
、 ？Ｉｌｉ正をする者 事件との関係 出 願 人 名 称 池」二通信機株式会ン１ 氏名 福 １） 浩 ４、代理人 住 所 東京都千代田区丸の内３丁目３番１号電話（代
）２１１−８７４１ ７、？＋Ｉ正の内容 明細書中火の箇所にある誤記を正量に示すように訂正す
る。
ステム構成図、第２図は光学読取装置の第１の実施例の
構成を示す図面、第３図は第２図において投射光をイ１
Ｓ光する反射鏡１９のＳｉｌ＋作説明図、第４図は第２
図においてスリットを有する反射鏡１８の動作説明図、
第５図は第２図の光電変換部７の構成を小Ｊ図面、’Ｎ
Ｓ６図Ａ、Ｂは第２図のスリップリンク機構３４の構成
を示す図面。 １−−一一−−紙カツブ ２ ｔｉｌｌ送装置３−一光
学読取装置 ４− 信号処理装置５−−−−−−−光爵
部 ６−−−−−−電源部？−−−−−光電弯換部 ８
−−−−一 駆動モーター９、ｌＯ・−−−−−−ギヤ
ｌ ｉ−一−一連結金具１２ ＝−円ｔｆＧコロ軸受
１３−−ハロケンランフ１１１−−−−−反射鏡 １
５−−集光レンス系１６−−−−反射鏡 １７−一拡散
レンズ系１８ 、 １９ 、 ２０−−−−−一反射鏡
１９ Ａ−−一−・−−−−１９の角度調節ねし２１−
−−−一集光レンズ ２２−−−−−−光電変換翠子部
２３−−一入射光 ２４−一反射光 ２５−−−−スリ、ト ２６ 、 ２７−・−ハーフミラー ２８ 、 ２９ 、 ３０−−−− フィルター３１，
３２．３３ − ＣＣＤラインセン号−３４−一−−−
−−スリップリング機構３５−−−−−−−−スリ、ブ
リング取付金具３６Ａ、Ｂ−−スリップリング ３７ Ａ 、 Ｂ−−−−−−−ブラシ３８ Ａ 、Ｂ
−一−−−−ブラシホルダー３９ Ａ、Ｂ−−−−−−
ブラシホルダー取付金具４０−−−−−−スリップリン
グ接続導線４１−−一−−−−−ブラシ接続導線 第５図 手続補正書 特許庁長官 志 賀 学 殿 ２、発明の名称 自動表面検査装置における入力装置３
、 ？Ｉｌｉ正をする者 事件との関係 出 願 人 名 称 池」二通信機株式会ン１ 氏名 福 １） 浩 ４、代理人 住 所 東京都千代田区丸の内３丁目３番１号電話（代
）２１１−８７４１ ７、？＋Ｉ正の内容 明細書中火の箇所にある誤記を正量に示すように訂正す
る。
Claims (2)
- （１）被検査物の表面の傷、汚れ、色等を光学的に検査
する少なくとも１つの光学読取袋；〃を有する自動表面
検査装置における入力装置において、上記被検査物を検
査位置に一時的に停止させるよう間欠的に搬送する手段
と、」二点光学読取装置の少なくとも１つを上記検査位
置に停止した被検査物の中心を軸として回転させる手段
とを有し、これにより被検査物の表面を全面的に検査す
るようにした自動表面検査装置におりる人力装置。 - （２）上記光学読取装置が光電変換部を有する撮像装置
であり、上記回転手段が該光電変換部のみを回転させる
ことを特徴とする特許請求の範囲第４１１項記載の自動
表面検査装置にお６ノる入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16565883A JPS6056245A (ja) | 1983-09-08 | 1983-09-08 | 自動表面検査装置における入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16565883A JPS6056245A (ja) | 1983-09-08 | 1983-09-08 | 自動表面検査装置における入力装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6056245A true JPS6056245A (ja) | 1985-04-01 |
| JPH0548414B2 JPH0548414B2 (ja) | 1993-07-21 |
Family
ID=15816544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16565883A Granted JPS6056245A (ja) | 1983-09-08 | 1983-09-08 | 自動表面検査装置における入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6056245A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63228050A (ja) * | 1986-07-28 | 1988-09-22 | サン−ゴバン・シネマテイツク・エ・コントロ−ル | 透明体の検査 |
| JPH0227556U (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-22 | ||
| JPH02284036A (ja) * | 1989-03-13 | 1990-11-21 | Franz Haas Waffelmas Ind Mbh | 一端が開放された量産される器状台の処理方法及び処理装置 |
| JPH0616853U (ja) * | 1991-08-05 | 1994-03-04 | 高嶋技研株式会社 | 缶の内面検査装置 |
| JPH06288721A (ja) * | 1993-04-01 | 1994-10-18 | Masahide Matsuda | 自動検査装置 |
| JP2004226319A (ja) * | 2003-01-24 | 2004-08-12 | Saki Corp:Kk | 外観検査装置および画像取得方法 |
| US20150212047A1 (en) * | 2014-01-27 | 2015-07-30 | Power Source And Associates Corp. | Test Method for Sound Wave Detection of Cup Bottom |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4997680A (ja) * | 1973-01-19 | 1974-09-14 | ||
| JPS5211953A (en) * | 1975-07-18 | 1977-01-29 | Toyota Motor Corp | Optical system measuring device |
| JPS5320142U (ja) * | 1976-07-27 | 1978-02-21 |
-
1983
- 1983-09-08 JP JP16565883A patent/JPS6056245A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4997680A (ja) * | 1973-01-19 | 1974-09-14 | ||
| JPS5211953A (en) * | 1975-07-18 | 1977-01-29 | Toyota Motor Corp | Optical system measuring device |
| JPS5320142U (ja) * | 1976-07-27 | 1978-02-21 |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63228050A (ja) * | 1986-07-28 | 1988-09-22 | サン−ゴバン・シネマテイツク・エ・コントロ−ル | 透明体の検査 |
| JPH0227556U (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-22 | ||
| JPH02284036A (ja) * | 1989-03-13 | 1990-11-21 | Franz Haas Waffelmas Ind Mbh | 一端が開放された量産される器状台の処理方法及び処理装置 |
| JPH0616853U (ja) * | 1991-08-05 | 1994-03-04 | 高嶋技研株式会社 | 缶の内面検査装置 |
| JPH06288721A (ja) * | 1993-04-01 | 1994-10-18 | Masahide Matsuda | 自動検査装置 |
| JP2004226319A (ja) * | 2003-01-24 | 2004-08-12 | Saki Corp:Kk | 外観検査装置および画像取得方法 |
| US20150212047A1 (en) * | 2014-01-27 | 2015-07-30 | Power Source And Associates Corp. | Test Method for Sound Wave Detection of Cup Bottom |
| US20150212046A1 (en) * | 2014-01-27 | 2015-07-30 | Power Source And Associates Corp. | Soundwave-Based Cup Bottom Detection Test System |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0548414B2 (ja) | 1993-07-21 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |