JPS5834348A - ビン口欠陥検査装置 - Google Patents
ビン口欠陥検査装置Info
- Publication number
- JPS5834348A JPS5834348A JP13388581A JP13388581A JPS5834348A JP S5834348 A JPS5834348 A JP S5834348A JP 13388581 A JP13388581 A JP 13388581A JP 13388581 A JP13388581 A JP 13388581A JP S5834348 A JPS5834348 A JP S5834348A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bottle
- opening
- inspected
- bottle opening
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、ガラス等で作られるビンの口部に付いた傷
、汚れ等の欠陥を光学的に検出するビン口欠陥検査装置
に関するものである。
、汚れ等の欠陥を光学的に検出するビン口欠陥検査装置
に関するものである。
従来、この種の光学式ビン旧欠陥検査装置として、第１
図に示すようなスポット光投光器１１と受光器１２を対
向させて適正配置する方法があり、これは破検査ビン１
０のビン口に付いた傷、汚れ等の欠陥１３による乱反射
光を受光器１２で受光するものである。
図に示すようなスポット光投光器１１と受光器１２を対
向させて適正配置する方法があり、これは破検査ビン１
０のビン口に付いた傷、汚れ等の欠陥１３による乱反射
光を受光器１２で受光するものである。
しかしながら、この方法では、搬送ライン上を回転しな
がら走行している被検査ビン１ＧＶＣ対してビン口全周
の欠陥検査ｖ１！施する場合、被検査ビン１０の走行と
同期させてスポット光投光器１１と受光器１２とを相互
の位置関係を保ちながら走行させなければならず、検査
装置全体が複雑なものになる欠点があった。
がら走行している被検査ビン１ＧＶＣ対してビン口全周
の欠陥検査ｖ１！施する場合、被検査ビン１０の走行と
同期させてスポット光投光器１１と受光器１２とを相互
の位置関係を保ちながら走行させなければならず、検査
装置全体が複雑なものになる欠点があった。
この発明は上記の欠点を除去するためになされたもので
、回転しながら搬送ライン上を走行する被検査ビンのビ
ン口を搬送ラインの一定区間にわたって両側から帯状の
光源で照明することにより、この一定区間内ではビン口
が安定して照明されるようにすることで、投光器と受光
器を静止させたままでビン口全周を検査できるようにし
たものである。以下この発明について説明する。
、回転しながら搬送ライン上を走行する被検査ビンのビ
ン口を搬送ラインの一定区間にわたって両側から帯状の
光源で照明することにより、この一定区間内ではビン口
が安定して照明されるようにすることで、投光器と受光
器を静止させたままでビン口全周を検査できるようにし
たものである。以下この発明について説明する。
第２図はこの発明の一実施例を示すもので、２０は被検
査ビン、２１は帯状光源で、前面に拡散板２１Ａが取り
付けられており、その内部には多数のランプ２１Ｂが並
べられている。２２は受光器で、結像レンズ系２２Ａと
信号の順次読出し機能を備えたフォトダイオード群２２
Ｂ（以下、リニアセンサという）から構成されている。
査ビン、２１は帯状光源で、前面に拡散板２１Ａが取り
付けられており、その内部には多数のランプ２１Ｂが並
べられている。２２は受光器で、結像レンズ系２２Ａと
信号の順次読出し機能を備えたフォトダイオード群２２
Ｂ（以下、リニアセンサという）から構成されている。
２３は前記被検前ビン２０に付いたビン口欠陥、２４は
前記被検前ビン２０？回転させながら走行させる搬送ラ
イン（回転機構は省略しである）、２５は前記搬送ライ
ン２４の走行方向を表わし、２６は前記被検査ビン２０
の回転方向を表わし、２７は前記受光器２２の撮像範囲
を表わす。
前記被検前ビン２０？回転させながら走行させる搬送ラ
イン（回転機構は省略しである）、２５は前記搬送ライ
ン２４の走行方向を表わし、２６は前記被検査ビン２０
の回転方向を表わし、２７は前記受光器２２の撮像範囲
を表わす。
次Ｋ、その動作を説明する。
被検査ビン２０は業送ライン２４によりそれ自身回転（
例えば矢印２６の方向Ｋ）させられながら走行（例えば
矢印２５の方向に）させられている。この搬送ライン２
４の両側には帯状の元放射面をもつ帯状光源２１が設置
されており、搬送ライン２４上を回転しｔＣがら走行す
る被検査ビン２０のビン口を両（Ｉｌｌｌから対向して
照明している。
例えば矢印２６の方向Ｋ）させられながら走行（例えば
矢印２５の方向に）させられている。この搬送ライン２
４の両側には帯状の元放射面をもつ帯状光源２１が設置
されており、搬送ライン２４上を回転しｔＣがら走行す
る被検査ビン２０のビン口を両（Ｉｌｌｌから対向して
照明している。
さらに、搬送ライン２４の上方には結像レンズ２２Ａと
リニアセンサ２２Ｂで構成される受光器２２が設置され
ており、リニアセンサ２２Ｈのｉｔ変換領域に相当する
スリット状のビン口の撮像範囲２Ｔが搬送ライン２４と
同一方向に設定されている。このビン口の撮像範囲２７
内にビン口がある間は、ビン口がどこにあっても均一に
照明されるように帯状光源２１が配置さゎていることは
いうまでも′ｒ、【い。
リニアセンサ２２Ｂで構成される受光器２２が設置され
ており、リニアセンサ２２Ｈのｉｔ変換領域に相当する
スリット状のビン口の撮像範囲２Ｔが搬送ライン２４と
同一方向に設定されている。このビン口の撮像範囲２７
内にビン口がある間は、ビン口がどこにあっても均一に
照明されるように帯状光源２１が配置さゎていることは
いうまでも′ｒ、【い。
上記のように設定さねた検査では、ビン口の撮像範囲２
７内にビン口が入っていないとき、あるいはビン口が入
っていてもビン口に欠陥がないと芦には受光器２２の方
向には帯状光源２１からの反射光は向かわず、受光器２
２の出力には何の変化も現われない。ところが、ビン口
の徹像範囲２７内にビン口欠陥２３が入ってくると、ビ
ン口欠陥２３のために帯状光源２１からの反射光の向き
が変化し受光器２２に向かう成分が現わわてきて、受光
器２２の出力信号に変化が現われ、この変化が検出する
ことによりビン口欠陥２３をｍ出することが可能になる
。そこで被検査ビン２０のビン口がビン口の撮像範囲２
７内を通過する間に被検査ビン２０が例えば１回転すれ
ばビン口全周な検査できることになる。
７内にビン口が入っていないとき、あるいはビン口が入
っていてもビン口に欠陥がないと芦には受光器２２の方
向には帯状光源２１からの反射光は向かわず、受光器２
２の出力には何の変化も現われない。ところが、ビン口
の徹像範囲２７内にビン口欠陥２３が入ってくると、ビ
ン口欠陥２３のために帯状光源２１からの反射光の向き
が変化し受光器２２に向かう成分が現わわてきて、受光
器２２の出力信号に変化が現われ、この変化が検出する
ことによりビン口欠陥２３をｍ出することが可能になる
。そこで被検査ビン２０のビン口がビン口の撮像範囲２
７内を通過する間に被検査ビン２０が例えば１回転すれ
ばビン口全周な検査できることになる。
なお、上記実施例では、受光器２２０光電変換素子とし
てリニアセンナ２２Ｂを使用したが、この代りにイメー
ジディセクタやシリコン・ビジコン等の撮像管を一次元
走査型として使用することも可能である。また、受光器
２２？シリンドリカルレンズと単一フォトダイオードで
構成し、前記撮像範囲２７をスリットを使用して限定す
る方法もある。また、帯状光源２１についても多数のラ
ンプ２１Ｂの代りに棒状のハロゲンランプを使用しても
よく、さらに、光の利用効率を高めるために拡散板２１
Ａの前にレンズを配置してもよい。
てリニアセンナ２２Ｂを使用したが、この代りにイメー
ジディセクタやシリコン・ビジコン等の撮像管を一次元
走査型として使用することも可能である。また、受光器
２２？シリンドリカルレンズと単一フォトダイオードで
構成し、前記撮像範囲２７をスリットを使用して限定す
る方法もある。また、帯状光源２１についても多数のラ
ンプ２１Ｂの代りに棒状のハロゲンランプを使用しても
よく、さらに、光の利用効率を高めるために拡散板２１
Ａの前にレンズを配置してもよい。
以上説明したようにこの発明は、搬送ラインの途中に投
光器、受光器を固定した状態で、走行している被検査ビ
ンのビン口全周を検査できるように構成したので、検査
装置として構成が簡単になり、安定性の高いものが安価
に得られる効果がある。
光器、受光器を固定した状態で、走行している被検査ビ
ンのビン口全周を検査できるように構成したので、検査
装置として構成が簡単になり、安定性の高いものが安価
に得られる効果がある。
第１図は従来のビン口欠陥検査装置の原理説明（５）
図、第２図はこの発明の一実施例を示す概略斜視図であ
る。 図中、２０は被検査ビン、２１は帯状光源、２１Ａは拡
散板、２１Ｂはランプ、２２は受光器、２２Ａは結像レ
ンズ系、２２Ｂはリニアセンサ、２３はビン口欠陥、２
４は搬送ライン、２５は送行方向、２６は回転方向、２
７は撮像範囲である。 代理人 葛 野 信 −（外１名） （６）
る。 図中、２０は被検査ビン、２１は帯状光源、２１Ａは拡
散板、２１Ｂはランプ、２２は受光器、２２Ａは結像レ
ンズ系、２２Ｂはリニアセンサ、２３はビン口欠陥、２
４は搬送ライン、２５は送行方向、２６は回転方向、２
７は撮像範囲である。 代理人 葛 野 信 −（外１名） （６）
Claims (1)
- 被検査ビンを回転させながら走行させる搬送手段と、前
記搬送手段の両側に対向して七４ぞれ設置された被検査
ビンのビン口を照明する帯状光源と、前記搬送手段の走
行方向と一致したビン口の直径線上を視野として前記ビ
ン口上方への前記帯状光源からの反射光を受光し光電変
換する受光器とからなることを特徴とするビン口欠陥検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13388581A JPS5834348A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | ビン口欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13388581A JPS5834348A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | ビン口欠陥検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5834348A true JPS5834348A (ja) | 1983-02-28 |
Family
ID=15115359
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13388581A Pending JPS5834348A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | ビン口欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5834348A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59218939A (ja) * | 1983-05-27 | 1984-12-10 | Mitsubishi Electric Corp | 「びん」類の検査装置 |
| US4650326A (en) * | 1983-06-21 | 1987-03-17 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Apparatus for inspecting bottles |
| WO1991008468A1 (de) * | 1989-12-05 | 1991-06-13 | Elpatronic Ag | Vorrichtung zum beleuchten eines zu prüfenden bereiches einer flasche |
| US6903814B1 (en) | 2003-03-05 | 2005-06-07 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface inspection |
| JP2013108816A (ja) * | 2011-11-18 | 2013-06-06 | N Tech:Kk | 容器の検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4943218A (ja) * | 1972-05-26 | 1974-04-23 | ||
| JPS5537886U (ja) * | 1978-09-05 | 1980-03-11 |
-
1981
- 1981-08-26 JP JP13388581A patent/JPS5834348A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4943218A (ja) * | 1972-05-26 | 1974-04-23 | ||
| JPS5537886U (ja) * | 1978-09-05 | 1980-03-11 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59218939A (ja) * | 1983-05-27 | 1984-12-10 | Mitsubishi Electric Corp | 「びん」類の検査装置 |
| US4650326A (en) * | 1983-06-21 | 1987-03-17 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Apparatus for inspecting bottles |
| WO1991008468A1 (de) * | 1989-12-05 | 1991-06-13 | Elpatronic Ag | Vorrichtung zum beleuchten eines zu prüfenden bereiches einer flasche |
| US6903814B1 (en) | 2003-03-05 | 2005-06-07 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface inspection |
| JP2013108816A (ja) * | 2011-11-18 | 2013-06-06 | N Tech:Kk | 容器の検査装置 |
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