JPS5925384B2 - 電子装置 - Google Patents
電子装置Info
- Publication number
- JPS5925384B2 JPS5925384B2 JP12611576A JP12611576A JPS5925384B2 JP S5925384 B2 JPS5925384 B2 JP S5925384B2 JP 12611576 A JP12611576 A JP 12611576A JP 12611576 A JP12611576 A JP 12611576A JP S5925384 B2 JPS5925384 B2 JP S5925384B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stem
- main surface
- heat sink
- present
- groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子装置に関するもので、主としてその外装構
造を対象とする。
造を対象とする。
電子装置の−例として上げられる大出力用パワートラン
ジスタは、通常ステムのヒートシンク部に半導体素子（
または半導体ペレットともいう）を固定し、ステム上面
で金属キャップにより封止した構造を有している。
ジスタは、通常ステムのヒートシンク部に半導体素子（
または半導体ペレットともいう）を固定し、ステム上面
で金属キャップにより封止した構造を有している。
かかるトランジスタを放熱板（ヒートシンク）等に取付
けるときは、直接又はマイカ−板等のスペーサを介して
トランジスタを放熱板にネジ止めしていた。
けるときは、直接又はマイカ−板等のスペーサを介して
トランジスタを放熱板にネジ止めしていた。
ところで、このネジ止めする時、片締めすることにより
又は第Ｔ図ａ、ｂに示すようにステム（フランジ）に反
りあるいはスペーサの材質、寸法等の不均一性がある場
合にステム全体にかかる曲げ応力によりステム中心部の
ヒートシンク部にも曲げ応力が加わりそれによつてキャ
ップ内の半導体ペレットに破損（クラック）が生じた。
又は第Ｔ図ａ、ｂに示すようにステム（フランジ）に反
りあるいはスペーサの材質、寸法等の不均一性がある場
合にステム全体にかかる曲げ応力によりステム中心部の
ヒートシンク部にも曲げ応力が加わりそれによつてキャ
ップ内の半導体ペレットに破損（クラック）が生じた。
半導体ペレットのような電子構成部品は一般に薄板状で
あり、ストレスにもろい。このためクラックが発生しや
すい。本発明は上記問題を解決するためになされたもの
で、その目的は半導体装置の実装のネジ止めのときにス
テムにかかる曲げ応力による薄板状の電子構成部品の破
損を防止することにある。
あり、ストレスにもろい。このためクラックが発生しや
すい。本発明は上記問題を解決するためになされたもの
で、その目的は半導体装置の実装のネジ止めのときにス
テムにかかる曲げ応力による薄板状の電子構成部品の破
損を防止することにある。
上記目的を達成するための本発明は、半導体部品がとり
つけられた放熱板のネジ穴付近を局部的に曲げ応力に対
して変形し易い構造にしてある電子装置で、以下本発明
を詳細に説明する。
つけられた放熱板のネジ穴付近を局部的に曲げ応力に対
して変形し易い構造にしてある電子装置で、以下本発明
を詳細に説明する。
、第１図は本発明の一実施例のパワートランジスタであ
る。同図において、１は菱形のＦｅステムで、両端にネ
ジ穴２が設けられ、中心部にＣｕヒートシンク３が埋め
込まれている。
る。同図において、１は菱形のＦｅステムで、両端にネ
ジ穴２が設けられ、中心部にＣｕヒートシンク３が埋め
込まれている。
Ｃｕヒートシンク３上面には、半田４を介装して半導体
素子５が固定され、一方、ステム１には絶縁的にリード
線６、６が植接され、半導体素子５の各電極と対応する
リード線６、６の間がコネクタ線Ｔ、Ｔで接続されてい
る。これら半導体素子５及びリード線６、６上部コネク
タ線Ｔ、７はステム１上面に設けられ一 た金属キャッ
プ８によつて封止されている。この金属キャップ８は図
から明らかなようにステム１上面の平坦な部分に取り付
けられている。そして、ステム１のネジ穴２の付近の上
面には、曲げ応力に対して変形し易いように、第１図ａ
に示すようにステムの横の中心線に対して直角な深さ０
．５？ｍ〜３Ｔｆ０ｎの溝９が平行に多数形成されてい
る。この溝９は第２図ａに示すように、それぞれネジ穴
２を中心とする同心円に形成してもよく、また、第２図
ｂに示すように溝９をステム中心を中心とする同心円に
形成してもよい。しかし、第１図のようにステム端部に
至るまで溝９が形成されているのが、応力に対して変形
しやすく最も好ましい。また、溝９を第３図に示すよう
に、ステム１の上下両面に形成するようにしてもよい。
素子５が固定され、一方、ステム１には絶縁的にリード
線６、６が植接され、半導体素子５の各電極と対応する
リード線６、６の間がコネクタ線Ｔ、Ｔで接続されてい
る。これら半導体素子５及びリード線６、６上部コネク
タ線Ｔ、７はステム１上面に設けられ一 た金属キャッ
プ８によつて封止されている。この金属キャップ８は図
から明らかなようにステム１上面の平坦な部分に取り付
けられている。そして、ステム１のネジ穴２の付近の上
面には、曲げ応力に対して変形し易いように、第１図ａ
に示すようにステムの横の中心線に対して直角な深さ０
．５？ｍ〜３Ｔｆ０ｎの溝９が平行に多数形成されてい
る。この溝９は第２図ａに示すように、それぞれネジ穴
２を中心とする同心円に形成してもよく、また、第２図
ｂに示すように溝９をステム中心を中心とする同心円に
形成してもよい。しかし、第１図のようにステム端部に
至るまで溝９が形成されているのが、応力に対して変形
しやすく最も好ましい。また、溝９を第３図に示すよう
に、ステム１の上下両面に形成するようにしてもよい。
第４図はかかるキヤツブ封止トランジスタ（特に第１図
に示すトランジスタ）を放熱板（シャーシ）にネジ止め
により固定した状態を示すものであある。
に示すトランジスタ）を放熱板（シャーシ）にネジ止め
により固定した状態を示すものであある。
ネジ穴２付近に局部的に曲げ応力に対して変形し易いよ
うに溝９を形成しておけば、トランジスタを放熱板１０
に不ジ１１によりネジ止めすると 二きに、ステム１に
反りがあつても、不ジ穴２の付近が局部的に曲がつて歪
を吸収、消滅することから、ステム中心部に固定された
半導体素子５に何んらの影響を与えることなく、取付け
ることができる。
うに溝９を形成しておけば、トランジスタを放熱板１０
に不ジ１１によりネジ止めすると 二きに、ステム１に
反りがあつても、不ジ穴２の付近が局部的に曲がつて歪
を吸収、消滅することから、ステム中心部に固定された
半導体素子５に何んらの影響を与えることなく、取付け
ることができる。
また、放熱板１０とトランジスタとの間に ５材質又は
寸法の不均一なマイカを介装してネジ止めした場合も、
不ジ穴２の付近が局部的に曲がつて、同様に半導体素子
５に何んらの影響なく取付けられる。したがつて、不ジ
止めするときの曲げ応力に起 ｊ因する半導体素子の破
損を十分に防止できるものである。
寸法の不均一なマイカを介装してネジ止めした場合も、
不ジ穴２の付近が局部的に曲がつて、同様に半導体素子
５に何んらの影響なく取付けられる。したがつて、不ジ
止めするときの曲げ応力に起 ｊ因する半導体素子の破
損を十分に防止できるものである。
なお、本発明によれば、トランジスタのステムと、放熱
板とをよく密着させることができるので放熱性も極めて
良好となる。
板とをよく密着させることができるので放熱性も極めて
良好となる。
３第５図は本発明の他の実施例
のステム構造を示したものである。第５図はステム１の
ネジ穴２付近に深い幅の広い溝１２を形成したもので、
ネジ穴付近を局部的に曲げ応力に対して変形し易いステ
ムになつている。
のステム構造を示したものである。第５図はステム１の
ネジ穴２付近に深い幅の広い溝１２を形成したもので、
ネジ穴付近を局部的に曲げ応力に対して変形し易いステ
ムになつている。
このようなステムを用いたトランジスタであれば、前記
実施例同様にネジ止めするときの半導体素子の破損を完
全に防止できる。
実施例同様にネジ止めするときの半導体素子の破損を完
全に防止できる。
本発明は上記実施例に限定されるものでなく、ステム材
料は銅、アルミニウムその他の金属板が用いられ、キヤ
ツプ封止トランジスタに限らず、樹脂封止トランジスタ
に適用できることは言うまでもない。
料は銅、アルミニウムその他の金属板が用いられ、キヤ
ツプ封止トランジスタに限らず、樹脂封止トランジスタ
に適用できることは言うまでもない。
第６図Ａ，ｂにその樹脂封止トランジスタの例を示す。
１３は樹脂より成る封止体であり、この封止体１３とネ
ジ穴２との間には例えば第１図に示すような溝９が設け
られている。
１３は樹脂より成る封止体であり、この封止体１３とネ
ジ穴２との間には例えば第１図に示すような溝９が設け
られている。
特に樹脂封止トランジスタにおけるこの溝９はネジ止め
時の樹脂封止体１３とステム１との剥離防止という点か
らも極めて有益である。
時の樹脂封止体１３とステム１との剥離防止という点か
らも極めて有益である。
第１図は本発明による半導体電子装置の一実施例で、ａ
は縦断面図、ｂは平面図、第２図Ａ，ｂは本発明の他の
実施例のそれぞれ平面図、第３図は本発明の他の実施例
のステムのそれぞれ縦断面図、第４図は本発明を放熱板
に実装した状態の断面図、第５図は本発明の他の実施例
のステムの縦断面図、第６図は本発明による半導体電子
装置の他の実施例で、ａは縦断面図、ｂは平面図、第７
図Ａ，ｂは従来のトランジスタを方熱板に実装した状態
のそれぞれ断面図である。 １・・・・・・ステム、２・・・・・・ネジ穴、３・・
・・・・ヒートシンク、４・・・・・・半田、５・・・
・・・半導体素子、６・・・・・・リード線、７・・・
・・・コネクタ線、８・・・・・・キャツプ、９・・・
・・・溝、１０・・・・・・放熱板、１１・・・・・・
ネジ、１２・・・・・・深い幅の広い溝、１３・・・・
・・樹脂封止体。
は縦断面図、ｂは平面図、第２図Ａ，ｂは本発明の他の
実施例のそれぞれ平面図、第３図は本発明の他の実施例
のステムのそれぞれ縦断面図、第４図は本発明を放熱板
に実装した状態の断面図、第５図は本発明の他の実施例
のステムの縦断面図、第６図は本発明による半導体電子
装置の他の実施例で、ａは縦断面図、ｂは平面図、第７
図Ａ，ｂは従来のトランジスタを方熱板に実装した状態
のそれぞれ断面図である。 １・・・・・・ステム、２・・・・・・ネジ穴、３・・
・・・・ヒートシンク、４・・・・・・半田、５・・・
・・・半導体素子、６・・・・・・リード線、７・・・
・・・コネクタ線、８・・・・・・キャツプ、９・・・
・・・溝、１０・・・・・・放熱板、１１・・・・・・
ネジ、１２・・・・・・深い幅の広い溝、１３・・・・
・・樹脂封止体。
Claims (1)
- １ 両端部にネジ穴が設けられた放熱体と、その放熱体
の一主面上に取り付けられた薄板状の電子構成部品と、
その電子構成部品を覆い、かつ上記一主面に対する反対
側主面は露出するように上記一主面の溝を有していない
部分において形成された封止体とを有する電子装置であ
つて、その封止体とネジ穴との間の上記一主面には上記
反対側主面に向う溝が形成されていることを特徴とする
電子装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12611576A JPS5925384B2 (ja) | 1976-10-22 | 1976-10-22 | 電子装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12611576A JPS5925384B2 (ja) | 1976-10-22 | 1976-10-22 | 電子装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2851784A Division JPS59161055A (ja) | 1984-02-20 | 1984-02-20 | 樹脂封止型電子装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5352070A JPS5352070A (en) | 1978-05-12 |
| JPS5925384B2 true JPS5925384B2 (ja) | 1984-06-16 |
Family
ID=14926996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12611576A Expired JPS5925384B2 (ja) | 1976-10-22 | 1976-10-22 | 電子装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5925384B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57124457A (en) * | 1981-01-26 | 1982-08-03 | Toshiba Corp | Manufacture of semiconductor device |
| JPS5843599A (ja) * | 1981-09-09 | 1983-03-14 | 株式会社日立製作所 | 混成集積回路 |
| JPS59214245A (ja) * | 1983-05-20 | 1984-12-04 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JPS59161055A (ja) * | 1984-02-20 | 1984-09-11 | Hitachi Ltd | 樹脂封止型電子装置 |
| RU2612563C2 (ru) * | 2012-01-25 | 2017-03-09 | Филипс Лайтинг Холдинг Б.В. | Светодиодный модуль и светильник, содержащий упомянутый модуль |
-
1976
- 1976-10-22 JP JP12611576A patent/JPS5925384B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5352070A (en) | 1978-05-12 |
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