JPS59208765A - 半導体装置用パツケ−ジ - Google Patents
半導体装置用パツケ−ジInfo
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- JPS59208765A JPS59208765A JP58084327A JP8432783A JPS59208765A JP S59208765 A JPS59208765 A JP S59208765A JP 58084327 A JP58084327 A JP 58084327A JP 8432783 A JP8432783 A JP 8432783A JP S59208765 A JPS59208765 A JP S59208765A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は中小電力用半導体装置に適した樹脂封止形パ
ッケージの改良に関するものである。
ッケージの改良に関するものである。
電子機器の小形化、平面高密度実装に適した中小電力半
導体装置用パッケージ、例えばコレクタ損失Pcが50
0m W級のトランジスタ用として用いられてきたいわ
ゆる5OT−89形パツケージは、開発当初のトランジ
スタ用のみならず、最近はサイリスタ、トライアック用
としてもその応用範囲が拡大してきた。
導体装置用パッケージ、例えばコレクタ損失Pcが50
0m W級のトランジスタ用として用いられてきたいわ
ゆる5OT−89形パツケージは、開発当初のトランジ
スタ用のみならず、最近はサイリスタ、トライアック用
としてもその応用範囲が拡大してきた。
第1図は上記EIOT−89形パッケージの斜視図、第
2図はその裏面からみた外形斜視図で、0.7mm角の
小車力用サイリスタチップを装着した状態を示す。図に
おいて、(1)はサイリスタチップ、(2)はアノード
端子、(3)はカソード端子、(4)はゲート端子、(
5)はモールド樹脂で、サイリスタチップ(1)はポン
ディングパッド(21a )上にマウントされており、
ポンディングパッド(21a)の裏面はヒートシンク(
21b)としてモールド樹脂(5)の外に露出している
。この構造のパッケージでは、各端子間の絶縁耐圧は樹
脂モールド後の近接端子間の距離、特にその沿面距離に
依存する。そして、この沿面距離は0.8mm程度しか
なく、更にこのパッケージをプリント基板に実装すると
固着用半田によって更に小さくなる。
2図はその裏面からみた外形斜視図で、0.7mm角の
小車力用サイリスタチップを装着した状態を示す。図に
おいて、(1)はサイリスタチップ、(2)はアノード
端子、(3)はカソード端子、(4)はゲート端子、(
5)はモールド樹脂で、サイリスタチップ(1)はポン
ディングパッド(21a )上にマウントされており、
ポンディングパッド(21a)の裏面はヒートシンク(
21b)としてモールド樹脂(5)の外に露出している
。この構造のパッケージでは、各端子間の絶縁耐圧は樹
脂モールド後の近接端子間の距離、特にその沿面距離に
依存する。そして、この沿面距離は0.8mm程度しか
なく、更にこのパッケージをプリント基板に実装すると
固着用半田によって更に小さくなる。
しかも、サイリスクチップ(1)のサイズが1.2mm
角程度板上になると、従来の+j@ 1.6mmのポン
ディングパッドrz1a)ではチップ(1)の搭載が困
難になる。
角程度板上になると、従来の+j@ 1.6mmのポン
ディングパッドrz1a)ではチップ(1)の搭載が困
難になる。
それは、ボンディング時の位置ずれや、組立部材の寸法
誤差からチップ(1)がボンディングパラ)T21a)
からはみ出すからである。
誤差からチップ(1)がボンディングパラ)T21a)
からはみ出すからである。
第3図はこのようなサイズの大きいサイリスクチップを
マウントする場合の従来の形態を示し、第3図(a)
iJ:その裏面図、第3図価)は第3図(a)のIII
B−III B線での断面図である。このようにポン
ディングパッド(21a ) C従ってヒートシンク(
zlb))]の幅Wを1.8 mm程IWに拡大するこ
とによってサイリスタチップ(1)のマウントを確実に
することができるが、ヒートシン列211))とカソー
ド端子(3)およびゲート端子(4)との白面距離(図
示D)が短かくなり、絶縁耐圧の低下を招くという欠点
があった。
マウントする場合の従来の形態を示し、第3図(a)
iJ:その裏面図、第3図価)は第3図(a)のIII
B−III B線での断面図である。このようにポン
ディングパッド(21a ) C従ってヒートシンク(
zlb))]の幅Wを1.8 mm程IWに拡大するこ
とによってサイリスタチップ(1)のマウントを確実に
することができるが、ヒートシン列211))とカソー
ド端子(3)およびゲート端子(4)との白面距離(図
示D)が短かくなり、絶縁耐圧の低下を招くという欠点
があった。
この発明は以上のような点に鑑みて、なされたもので、
ポンディングパッド部の幅は広くしながらその裏面のモ
ールド樹脂から露出するヒートシンク部の幅を狭くして
、他の端子との沿面距離を大きくすることによって、絶
縁耐圧の大きい半導体装置用パッケージを提供するもの
である。
ポンディングパッド部の幅は広くしながらその裏面のモ
ールド樹脂から露出するヒートシンク部の幅を狭くして
、他の端子との沿面距離を大きくすることによって、絶
縁耐圧の大きい半導体装置用パッケージを提供するもの
である。
第4図はこの発明の一実施例についてサイリスタチップ
をマウントした状態を示し、第4図(a)はその裏面図
、第4図(b)は第1図(a)のIVB −IVB線で
ングパツド(21a)側の主面では幅を広く、裏側のモ
ールド樹脂(5)から露出するヒートシンク(zxb)
側の主面では幅を狭くし、しかもカソード端子(3)お
よびゲート端子(4)のこのヒートシンク(21b)に
最モ近因点(イ)、(ロ)から所要半径Rでヒートシン
ク(21b)部を切り欠くことによって、ヒートシンク
(21b)とカソード端子(3)およびゲート端子(4
)との間の沿面距離が犬さくなり、絶縁耐圧を大きくす
ることができる。更に、アノード端子のポンディングパ
ッド(21a)側の而とヒートシンク(21b)側の面
との間の板j卑の中火部では両側に広がシ、張り出し部
(21c)が形成されており、フレームとモールド(射
脂(5)との接合を確実ならしめ、接合面積を広くする
ことによって外部からの湿気の影響を極めて少なくして
いる。
をマウントした状態を示し、第4図(a)はその裏面図
、第4図(b)は第1図(a)のIVB −IVB線で
ングパツド(21a)側の主面では幅を広く、裏側のモ
ールド樹脂(5)から露出するヒートシンク(zxb)
側の主面では幅を狭くし、しかもカソード端子(3)お
よびゲート端子(4)のこのヒートシンク(21b)に
最モ近因点(イ)、(ロ)から所要半径Rでヒートシン
ク(21b)部を切り欠くことによって、ヒートシンク
(21b)とカソード端子(3)およびゲート端子(4
)との間の沿面距離が犬さくなり、絶縁耐圧を大きくす
ることができる。更に、アノード端子のポンディングパ
ッド(21a)側の而とヒートシンク(21b)側の面
との間の板j卑の中火部では両側に広がシ、張り出し部
(21c)が形成されており、フレームとモールド(射
脂(5)との接合を確実ならしめ、接合面積を広くする
ことによって外部からの湿気の影響を極めて少なくして
いる。
以上の実施例では12mm角程度0小中電力用のサイリ
スタチップを装着する場合について説明したが、その他
の半導体素子を装着する場合にもこの発明は適用できる
。
スタチップを装着する場合について説明したが、その他
の半導体素子を装着する場合にもこの発明は適用できる
。
μ上説明したように、この発明では半導体素子をボンデ
イン/する金属導体のそのポンディングパッド側の主面
部の幅を広くシ、その裏面のモールド樹脂から露出する
ヒートシンク側の主面部の所要g]Sを削り取って、他
の端子を構成する金属導体との沿面距離を大きくしたの
で、電流容量を小さくすることなく、耐圧の大きい半導
体装置を実現することができる。
イン/する金属導体のそのポンディングパッド側の主面
部の幅を広くシ、その裏面のモールド樹脂から露出する
ヒートシンク側の主面部の所要g]Sを削り取って、他
の端子を構成する金属導体との沿面距離を大きくしたの
で、電流容量を小さくすることなく、耐圧の大きい半導
体装置を実現することができる。
第1図は従来の半導体装置用パッケージの一例を示す斜
視図、第2図はその従来例の裏面からみた斜視図、第3
図はこのような従来のパッケージにサイズの少し大きい
サイリスタチップをマウントする場合を示し、第3図(
a)はその裏面図、第3図(b)は第3図(a)の■B
−11iB線での部分断面図、第4図はこの発明の一
実施例について上述のサイリスタチップをマウントした
場合を示し、第4図(a)はその裏面図、第4図(b)
は第4図(a)のIVB−■B勝でのgB部分断面図あ
る。 図において、(1)はサイリスクチップ(半導体チップ
) 、(2)はアノード端子(第1の電極導体)、(2
1a)はポンディングパッド(第1の主面)、(21b
)はヒートシンク(第2の主面) 、(3)はカソード
端子(第2の電極導体)、(4)はゲート端子(第2の
電極導体) 、(5)は封止樹脂である。 なお、図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 第1図 第2図 第3図 ((1’) (6) 1a 第4図 (12) l ノla
視図、第2図はその従来例の裏面からみた斜視図、第3
図はこのような従来のパッケージにサイズの少し大きい
サイリスタチップをマウントする場合を示し、第3図(
a)はその裏面図、第3図(b)は第3図(a)の■B
−11iB線での部分断面図、第4図はこの発明の一
実施例について上述のサイリスタチップをマウントした
場合を示し、第4図(a)はその裏面図、第4図(b)
は第4図(a)のIVB−■B勝でのgB部分断面図あ
る。 図において、(1)はサイリスクチップ(半導体チップ
) 、(2)はアノード端子(第1の電極導体)、(2
1a)はポンディングパッド(第1の主面)、(21b
)はヒートシンク(第2の主面) 、(3)はカソード
端子(第2の電極導体)、(4)はゲート端子(第2の
電極導体) 、(5)は封止樹脂である。 なお、図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 第1図 第2図 第3図 ((1’) (6) 1a 第4図 (12) l ノla
Claims (1)
- (1) 半導体チップが第1の主面上に載置固着され
る第1の電極導体、この第1の電極導体と所定距離をお
いて設けられ上記半導体チップの所要個所に導体線で電
気的に接続される第2の電極導体、並びに、上記各電極
導体の外部回路との接続に必要な部分を除く部分、上記
半導体チップおよび上記導体線を封止する封止樹脂を備
え、上記第1の電極導体の第2の主面部が上記封止用の
樹脂から露出するように構成されたものにおいて、上記
第主面部の幅を小さくして、上記第1の電極導体と上記
@2の電極導体との上記封止用の樹脂の外周面に沿う沿
面距離を大きくなるようにしたことを特徴とする半導体
装置用パッケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58084327A JPS59208765A (ja) | 1983-05-12 | 1983-05-12 | 半導体装置用パツケ−ジ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58084327A JPS59208765A (ja) | 1983-05-12 | 1983-05-12 | 半導体装置用パツケ−ジ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59208765A true JPS59208765A (ja) | 1984-11-27 |
Family
ID=13827415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58084327A Pending JPS59208765A (ja) | 1983-05-12 | 1983-05-12 | 半導体装置用パツケ−ジ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59208765A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH088446A (ja) * | 1995-05-25 | 1996-01-12 | Rohm Co Ltd | 個別ダイオード装置 |
JPH0832092A (ja) * | 1995-05-25 | 1996-02-02 | Rohm Co Ltd | 個別ダイオード装置 |
-
1983
- 1983-05-12 JP JP58084327A patent/JPS59208765A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH088446A (ja) * | 1995-05-25 | 1996-01-12 | Rohm Co Ltd | 個別ダイオード装置 |
JPH0832092A (ja) * | 1995-05-25 | 1996-02-02 | Rohm Co Ltd | 個別ダイオード装置 |
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