JPS5886724A - 電極および配線の製造方法 - Google Patents
電極および配線の製造方法Info
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- JPS5886724A JPS5886724A JP56184800A JP18480081A JPS5886724A JP S5886724 A JPS5886724 A JP S5886724A JP 56184800 A JP56184800 A JP 56184800A JP 18480081 A JP18480081 A JP 18480081A JP S5886724 A JPS5886724 A JP S5886724A
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-
- H10D64/011—
Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56184800A JPS5886724A (ja) | 1981-11-18 | 1981-11-18 | 電極および配線の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56184800A JPS5886724A (ja) | 1981-11-18 | 1981-11-18 | 電極および配線の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5886724A true JPS5886724A (ja) | 1983-05-24 |
| JPH0361346B2 JPH0361346B2 (OSRAM) | 1991-09-19 |
Family
ID=16159510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56184800A Granted JPS5886724A (ja) | 1981-11-18 | 1981-11-18 | 電極および配線の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5886724A (OSRAM) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60183726A (ja) * | 1984-03-02 | 1985-09-19 | Toshiba Corp | 半導体装置の電極パタ−ンの形成方法 |
| JPS62200747A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-04 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
| US4923823A (en) * | 1987-09-30 | 1990-05-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of fabricating a self aligned semiconductor device |
| JPH02197571A (ja) * | 1989-01-26 | 1990-08-06 | Hitachi Ltd | 薄膜形成法とそれによって得られた半導体装置及びその製造方法 |
| US5093274A (en) * | 1990-02-02 | 1992-03-03 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device and method for manufacture thereof |
| KR100364810B1 (ko) * | 2000-02-22 | 2002-12-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체소자의 제조방법 |
| JP2007042871A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Seiko Epson Corp | 強誘電体キャパシタおよびその製造方法、ならびに強誘電体メモリ装置 |
| JP2011108837A (ja) * | 2009-11-17 | 2011-06-02 | Seiko Epson Corp | 半導体装置および電子部品並びにそれらの製造方法 |
-
1981
- 1981-11-18 JP JP56184800A patent/JPS5886724A/ja active Granted
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| THIN SOLID FILMS=1978 * |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60183726A (ja) * | 1984-03-02 | 1985-09-19 | Toshiba Corp | 半導体装置の電極パタ−ンの形成方法 |
| JPS62200747A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-04 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
| US4923823A (en) * | 1987-09-30 | 1990-05-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method of fabricating a self aligned semiconductor device |
| JPH02197571A (ja) * | 1989-01-26 | 1990-08-06 | Hitachi Ltd | 薄膜形成法とそれによって得られた半導体装置及びその製造方法 |
| US5093274A (en) * | 1990-02-02 | 1992-03-03 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device and method for manufacture thereof |
| KR100364810B1 (ko) * | 2000-02-22 | 2002-12-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체소자의 제조방법 |
| JP2007042871A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Seiko Epson Corp | 強誘電体キャパシタおよびその製造方法、ならびに強誘電体メモリ装置 |
| JP2011108837A (ja) * | 2009-11-17 | 2011-06-02 | Seiko Epson Corp | 半導体装置および電子部品並びにそれらの製造方法 |
| US8212356B2 (en) | 2009-11-17 | 2012-07-03 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device having multi-layered wiring layer and fabrication process thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0361346B2 (OSRAM) | 1991-09-19 |
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