JPS58171053A - 感光体 - Google Patents
感光体Info
- Publication number
- JPS58171053A JPS58171053A JP57054565A JP5456582A JPS58171053A JP S58171053 A JPS58171053 A JP S58171053A JP 57054565 A JP57054565 A JP 57054565A JP 5456582 A JP5456582 A JP 5456582A JP S58171053 A JPS58171053 A JP S58171053A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- photoconductive layer
- thickness
- photoreceptor
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は可視光波長領域にも近赤外波長領域にも優れた
光感度特性を示す感光体に関する。
光感度特性を示す感光体に関する。
従来技術
ここ数年、グロー放電分解法やスパッタリング法によっ
て生成されるアモルファスシリコン(以下、a−S1ト
略ス)、アモ、ルファスゲルマニウム(以下、a−Ge
と略す)乃至はアモルファスシリコン−ゲルマニウム(
以下、a−8i:Geと略ス)の電子写真感光体への応
用が注目されてきている。これはこれらa−8i、a−
Go、 a−8i : Geが従来のセレンやOdS感
光体等と比して環境汚染性、耐熱性、摩耗性等において
一段と優れているためである。
て生成されるアモルファスシリコン(以下、a−S1ト
略ス)、アモ、ルファスゲルマニウム(以下、a−Ge
と略す)乃至はアモルファスシリコン−ゲルマニウム(
以下、a−8i:Geと略ス)の電子写真感光体への応
用が注目されてきている。これはこれらa−8i、a−
Go、 a−8i : Geが従来のセレンやOdS感
光体等と比して環境汚染性、耐熱性、摩耗性等において
一段と優れているためである。
そして特にa−8i:Geの場合、Geのバンドギャッ
プがa−8iと比して小さいため、a−3iにGeを適
量加えることにより光感度特性を長波長側に延ばすとい
う効果が期待でき近年その開発がめざましい半導体レー
ザービームプリンターへの応用が考えられる。これに関
連して導電性基板上に少なくとも水素10ノ乃:亙’:
4Qatomic%と酸素を0.1乃至30atomi
c %含有したa−3i:Ge光導電層を形成して成
る所謂単層構造の感光体が提案されている(特開昭54
−145539号公報)。しかしながら、本願発明者が
上述の範囲内の水素、そして特にQ、latomi。
プがa−8iと比して小さいため、a−3iにGeを適
量加えることにより光感度特性を長波長側に延ばすとい
う効果が期待でき近年その開発がめざましい半導体レー
ザービームプリンターへの応用が考えられる。これに関
連して導電性基板上に少なくとも水素10ノ乃:亙’:
4Qatomic%と酸素を0.1乃至30atomi
c %含有したa−3i:Ge光導電層を形成して成
る所謂単層構造の感光体が提案されている(特開昭54
−145539号公報)。しかしながら、本願発明者が
上述の範囲内の水素、そして特にQ、latomi。
%以上の酸素をa−8i:Geに含有させ電子写真特性
全般につい−(illべたところ、酸素の含有はその層
の暗抵抗を一般に必要とされる1o13Ω、c1n以上
に向上゛させるのに有効であるが、酸素含有量が大とな
ればなるほど光感度特性が著しく低下し、最動、1at
anic%の酸素含有でも光感度は可視光領域はもとよ
り近赤外波長領域においても従来の感光体と比してかな
り劣ることが確認された。
全般につい−(illべたところ、酸素の含有はその層
の暗抵抗を一般に必要とされる1o13Ω、c1n以上
に向上゛させるのに有効であるが、酸素含有量が大とな
ればなるほど光感度特性が著しく低下し、最動、1at
anic%の酸素含有でも光感度は可視光領域はもとよ
り近赤外波長領域においても従来の感光体と比してかな
り劣ることが確認された。
また一方、a−3i:Ge光導電層は上記のように単層
構造として用いた場合、a−3iに対するGeの含有量
を大とすればする程、長波長側に光感度は延びるが、可
視光領域を含む全体の光感度を低下させるという不都合
が生じる。つまりGeは長波長側感度向上には有効であ
るがそれに伴ってa−Siが本来有する優れた可視光領
域の光感度を低下せしめるという矛盾を生じる。従って
Geの含有量はかなりの制限を受けてしまい、所望の光
感度特性を持つ感光体を得るこ七ができなく。更にGo
はa−3iと比して光吸収率が高いことに加えて、光吸
収により発生するチャージャキャリアの移動度(m o
b 111t y)が小さい。このことは単層構造の
場合、チャージキャリアの多くが光導電層中にトラップ
されることを意味し、残留電位の上昇と光感度の低下を
招くという欠点がある。
構造として用いた場合、a−3iに対するGeの含有量
を大とすればする程、長波長側に光感度は延びるが、可
視光領域を含む全体の光感度を低下させるという不都合
が生じる。つまりGeは長波長側感度向上には有効であ
るがそれに伴ってa−Siが本来有する優れた可視光領
域の光感度を低下せしめるという矛盾を生じる。従って
Geの含有量はかなりの制限を受けてしまい、所望の光
感度特性を持つ感光体を得るこ七ができなく。更にGo
はa−3iと比して光吸収率が高いことに加えて、光吸
収により発生するチャージャキャリアの移動度(m o
b 111t y)が小さい。このことは単層構造の
場合、チャージキャリアの多くが光導電層中にトラップ
されることを意味し、残留電位の上昇と光感度の低下を
招くという欠点がある。
発明の目的
本発明は以上の事実に鑑みて成されたもので、その目的
とするところは、可視光領域はもとより遅遅赤外領域で
も高感度で良好な画像を得ることのできる感光体にある
。
とするところは、可視光領域はもとより遅遅赤外領域で
も高感度で良好な画像を得ることのできる感光体にある
。
発明の要旨
本発明の要旨は、導電性基板上に少なくとも長波長領域
(70()150 nm”)の光感度を保証する厚さ約
0.17”+至3ミクロンで水素を含むアモルファスシ
リコン−ゲルマニウム光導電層と、可視光領域での光感
度を保証し暗抵抗も高く厚さが約5乃至30ミクロンの
アモルファスシリコン光導電層を順次積層してなる感光
体にある。
(70()150 nm”)の光感度を保証する厚さ約
0.17”+至3ミクロンで水素を含むアモルファスシ
リコン−ゲルマニウム光導電層と、可視光領域での光感
度を保証し暗抵抗も高く厚さが約5乃至30ミクロンの
アモルファスシリコン光導電層を順次積層してなる感光
体にある。
第1図は本発明に係る感光体の構成を示し、(0a−E
li:Ge光導電層(2)はグロー放電分解法やスパッ
タリング法によって厚さ約0.1.乃至3ミクロンに生
成され、少なくとも約10乃至4Qatomic%の水
素゛を含有する。これは出発原料としてSiH4,Ge
Haが用いられ、また後述するがグロー放電分解法にあ
っては水素をSiH,、GaH4ガスのキャリアーガス
として用いるのが好都合なためである。もっともこのよ
うに水素のみを含有するa−8i:Ge光導電層(2)
にあっては暗抵抗にして10′。0口に満たないが、後
述するa−3i光導電層(3)が主として電荷保持層と
して機能するので何ら差し支えはない。しかし必要に応
じて暗抵抗向上のために適量の周期律表第1[A族不純
物、好ましくは硼素、更には微量の酸素を含有してもよ
い。第1[[A族不純物は最b o o o。
li:Ge光導電層(2)はグロー放電分解法やスパッ
タリング法によって厚さ約0.1.乃至3ミクロンに生
成され、少なくとも約10乃至4Qatomic%の水
素゛を含有する。これは出発原料としてSiH4,Ge
Haが用いられ、また後述するがグロー放電分解法にあ
っては水素をSiH,、GaH4ガスのキャリアーガス
として用いるのが好都合なためである。もっともこのよ
うに水素のみを含有するa−8i:Ge光導電層(2)
にあっては暗抵抗にして10′。0口に満たないが、後
述するa−3i光導電層(3)が主として電荷保持層と
して機能するので何ら差し支えはない。しかし必要に応
じて暗抵抗向上のために適量の周期律表第1[A族不純
物、好ましくは硼素、更には微量の酸素を含有してもよ
い。第1[[A族不純物は最b o o o。
ppmまで、酸素は約1atomic%まで含有するの
が好ましい。これは酸素は暗抵抗を著しく向上させるが
逆に光感度を低下させるためでlatomic%以上含
有すればa−S i : Gθ本来の光感度特性が損わ
れ族 てしまうためである。尚、第mA!不純物だけでもある
程度の暗抵抗向上は可能である。
が好ましい。これは酸素は暗抵抗を著しく向上させるが
逆に光感度を低下させるためでlatomic%以上含
有すればa−S i : Gθ本来の光感度特性が損わ
れ族 てしまうためである。尚、第mA!不純物だけでもある
程度の暗抵抗向上は可能である。
上記a−8i:Ge光導電層(2)はGoのバンドギャ
ップがa−8iと比して小さいことより近赤外領域、特
に700(・乃至900mmの長波長側領域の優れた光
感度を保証する。即ち、Geはa−8iのみでは低感度
である長波長領域の光感度を向上させ、800nm前後
の波長を露光源とする半導体レーザビームプリンターへ
の応用を可能ならしめる。長波長側感度向上のためにa
−3iに対しGeはモル比で′最大で1:1最低で19
=1の範囲で含有することができる。つまりa−3ix
Gθ11を光導電層としてXは05乃至0.95である
。
ップがa−8iと比して小さいことより近赤外領域、特
に700(・乃至900mmの長波長側領域の優れた光
感度を保証する。即ち、Geはa−8iのみでは低感度
である長波長領域の光感度を向上させ、800nm前後
の波長を露光源とする半導体レーザビームプリンターへ
の応用を可能ならしめる。長波長側感度向上のためにa
−3iに対しGeはモル比で′最大で1:1最低で19
=1の範囲で含有することができる。つまりa−3ix
Gθ11を光導電層としてXは05乃至0.95である
。
a−8i光導電層(3)はやはりグロー放電分解法やス
パッタリング法によって生成されるが、その厚さは約5
乃至30ミクロン、好ましくは5乃至20ミクロンであ
る。このa−8i光導電層(3)はそれ自体が持つ優れ
た環境汚染性、耐熱性、表面硬度等の利点からその表面
を作像層として用いることが好ましく、またそれ自体、
可視光領域での優れた光感度を保証する光導電層よして
機能するとともに電荷保持層としても機能する。この両
機能を兼ね備えるためにはa−3i光導電層(3)は上
述の厚さを有することに加え、それ自体に約10乃至4
Qatomicの水素、約5 X 10−4乃至IQ−
satomie%の酸素並びに約10乃至20000p
pm の周期律表第■A族不純物(好ま゛しくは硼素)
を含有する。っまりa−Si光導電層(9は本願と同一
発明者による特開昭56−156834号公報で詳述さ
れている通り、水素のみでは暗抵抗が1010Ωαに満
たず電荷保持層として必要な10+sΩmの暗抵抗は実
現できない。しかし水素に加え上述の範囲の酸素と不純
物を含有すれば約1013m以上の暗抵抗が保証され電
荷保持層としての働きが可能となる。酸素を(lQ5a
t6mic%以下とするのは良好な光感度を保証するた
めでl (j’ a t o m i c%組以上する
のは10ppm以上の第11iA族不純物との併用で1
013Ωαオーダの暗抵抗を保証するためである。尚、
不純物を最大20000pptll とするのはそれ
以上の添加で暗抵抗が急激に低下するためである。一方
、光感度は酸素の含有量を増大することに伴って低下す
るが、上述の通ち酸素含有量は最大でもQ、Q5ato
mic%と微量であるので高感度が維持され、特に40
0乃至700nmの波長ではSe+PVK−TNF (
モル比1:1)等と比べて数倍以上高感度で光導電層と
しても優れている。
パッタリング法によって生成されるが、その厚さは約5
乃至30ミクロン、好ましくは5乃至20ミクロンであ
る。このa−8i光導電層(3)はそれ自体が持つ優れ
た環境汚染性、耐熱性、表面硬度等の利点からその表面
を作像層として用いることが好ましく、またそれ自体、
可視光領域での優れた光感度を保証する光導電層よして
機能するとともに電荷保持層としても機能する。この両
機能を兼ね備えるためにはa−3i光導電層(3)は上
述の厚さを有することに加え、それ自体に約10乃至4
Qatomicの水素、約5 X 10−4乃至IQ−
satomie%の酸素並びに約10乃至20000p
pm の周期律表第■A族不純物(好ま゛しくは硼素)
を含有する。っまりa−Si光導電層(9は本願と同一
発明者による特開昭56−156834号公報で詳述さ
れている通り、水素のみでは暗抵抗が1010Ωαに満
たず電荷保持層として必要な10+sΩmの暗抵抗は実
現できない。しかし水素に加え上述の範囲の酸素と不純
物を含有すれば約1013m以上の暗抵抗が保証され電
荷保持層としての働きが可能となる。酸素を(lQ5a
t6mic%以下とするのは良好な光感度を保証するた
めでl (j’ a t o m i c%組以上する
のは10ppm以上の第11iA族不純物との併用で1
013Ωαオーダの暗抵抗を保証するためである。尚、
不純物を最大20000pptll とするのはそれ
以上の添加で暗抵抗が急激に低下するためである。一方
、光感度は酸素の含有量を増大することに伴って低下す
るが、上述の通ち酸素含有量は最大でもQ、Q5ato
mic%と微量であるので高感度が維持され、特に40
0乃至700nmの波長ではSe+PVK−TNF (
モル比1:1)等と比べて数倍以上高感度で光導電層と
しても優れている。
a−8i光導電層(3)の厚さを約5乃至30、好まし
くは−5乃至20ミクロンとするのは電荷保持層として
の機能を達成する上で重要なことは勿論であるが特に3
0ミクロン以下、好ましくは20ミクロンとするのは下
層のa−Si:Ge光導電層による充分な光吸収を可能
ならしめるためである。つまり、第2図はa−3i光導
電層(水素約25atOmic%、酸素約0.01at
omic%、硼素40p〆m含有)とa−310,75
Gll!0.25 光導電層(水素約25atomi
c%、酸素約Q、Qlatomic%、硼素40ppm
含有)の400から11000nに至る波長における各
層の膜厚1ミクロン当りの光透過率(%/ミクロン)を
示すが、これから明らかなようにa−3il導電層はカ
ーブ(A)で示すように7QQnm以下、特に600n
m前後の波長では光透過率は低いが700nm以上の長
波長の光に対しては透過率が90%以−Lと非常に高い
。換言すればa−8i光導電層(3)はそれ自体では高
感度である可視光領域の光はよく吸収するが低感度な長
波長領域の光は多く透過する。従って700nm以上の
光はそれ以上の波長で高感度な1層のa−8i:Ge層
(2)へ多く到達する。そしてa−8i:Ge光導電層
はカーブ(B)に示す通りa−8iと比べて長波長側で
の光透過率が低く、つまり光吸収が高いのでその領域で
の光感度を高感度保証する。この様に本発明ではa−3
iとa−9i:Go 各光導電層の1可視光領域及び
近赤外領域での光透過率を有効に利用して両頭域に渡っ
て優れた光感度特性を有する感光体を実現可能ならしめ
ている。そして光透過率から見てa−3i光導電層(3
)の厚さを30ミクロン以上とすればa−8i:Ge
光導電層(21への長波光の到達が不充分となり感度保
証ができなくなり、その意味で本発明では30ミクロン
以下、高感度保証のため好適には20ミクロン以下とす
る。
くは−5乃至20ミクロンとするのは電荷保持層として
の機能を達成する上で重要なことは勿論であるが特に3
0ミクロン以下、好ましくは20ミクロンとするのは下
層のa−Si:Ge光導電層による充分な光吸収を可能
ならしめるためである。つまり、第2図はa−3i光導
電層(水素約25atOmic%、酸素約0.01at
omic%、硼素40p〆m含有)とa−310,75
Gll!0.25 光導電層(水素約25atomi
c%、酸素約Q、Qlatomic%、硼素40ppm
含有)の400から11000nに至る波長における各
層の膜厚1ミクロン当りの光透過率(%/ミクロン)を
示すが、これから明らかなようにa−3il導電層はカ
ーブ(A)で示すように7QQnm以下、特に600n
m前後の波長では光透過率は低いが700nm以上の長
波長の光に対しては透過率が90%以−Lと非常に高い
。換言すればa−8i光導電層(3)はそれ自体では高
感度である可視光領域の光はよく吸収するが低感度な長
波長領域の光は多く透過する。従って700nm以上の
光はそれ以上の波長で高感度な1層のa−8i:Ge層
(2)へ多く到達する。そしてa−8i:Ge光導電層
はカーブ(B)に示す通りa−8iと比べて長波長側で
の光透過率が低く、つまり光吸収が高いのでその領域で
の光感度を高感度保証する。この様に本発明ではa−3
iとa−9i:Go 各光導電層の1可視光領域及び
近赤外領域での光透過率を有効に利用して両頭域に渡っ
て優れた光感度特性を有する感光体を実現可能ならしめ
ている。そして光透過率から見てa−3i光導電層(3
)の厚さを30ミクロン以上とすればa−8i:Ge
光導電層(21への長波光の到達が不充分となり感度保
証ができなくなり、その意味で本発明では30ミクロン
以下、高感度保証のため好適には20ミクロン以下とす
る。
以上の構成の感光体にあっては必要に応じてa−3i光
導電層(3)上に厚さ01乃至3ミクロンの薄層の酸素
を5Qatornic%程度まで含有するa−3i保護
層、あるいは同様の厚さで炭素を含むa−3ixc!
+ −x (x =0.5−0.9)保護層を形成して
もよい。これらの層はより高い初期表面電位を保証する
上で有効である。
導電層(3)上に厚さ01乃至3ミクロンの薄層の酸素
を5Qatornic%程度まで含有するa−3i保護
層、あるいは同様の厚さで炭素を含むa−3ixc!
+ −x (x =0.5−0.9)保護層を形成して
もよい。これらの層はより高い初期表面電位を保証する
上で有効である。
また基板(1)とa−3i:Ge光導電層(2)間に整
流層を設けてもよい。
流層を設けてもよい。
次に本発明に係る感光体を製造するための誘導結合型゛
グロー放電分解装置について説明する。
グロー放電分解装置について説明する。
第3図において、第1、第2、第3、第4タンク(4)
、 (5) 、 (6) 、(7)には夫々SiH4
、B2H6、GeH4,02ガスが密封されている。S
iH4,B2H6,GeHaガスのキャリアーガスは何
れも水素であるが、Ar、Hθであっても差し支えはな
い。これらガスは対応する第1、第2、第3、第4調整
弁(s) 、 (9) 、 (10) 、 (11)
を開放することにより放出され、その流量はマスフロ
ーコントローラー(12) 、 (13) 、 (14
) 、 (15)により規制され、第1及び第2タンク
(4) 、 (5)のガスは第1主管(16)へと、第
3タンク(6)からのGeH4ガスは第2主管(17)
へと、更に第4タンク(7)からの02ガスは第3主管
(18)へと送らレル。尚、(19) 、 <20’)
。
、 (5) 、 (6) 、(7)には夫々SiH4
、B2H6、GeH4,02ガスが密封されている。S
iH4,B2H6,GeHaガスのキャリアーガスは何
れも水素であるが、Ar、Hθであっても差し支えはな
い。これらガスは対応する第1、第2、第3、第4調整
弁(s) 、 (9) 、 (10) 、 (11)
を開放することにより放出され、その流量はマスフロ
ーコントローラー(12) 、 (13) 、 (14
) 、 (15)により規制され、第1及び第2タンク
(4) 、 (5)のガスは第1主管(16)へと、第
3タンク(6)からのGeH4ガスは第2主管(17)
へと、更に第4タンク(7)からの02ガスは第3主管
(18)へと送らレル。尚、(19) 、 <20’)
。
(21) 、 (22) u流量計、(23) 、 (
24) 、 (25Nt + ニック弁である。第1、
第2、第3主管(16) 、 (17) 、 (18)
を通じて流れるガスは反応管(26)へと送り込まれる
が、この反応管の周囲には共振振動コイル(27)が巻
回されておりそれ自体の高周波電力は約01乃至3ki
lowatts であることが好ましく、また周波数は
1乃至50MHzが適当である。反応管(26”l内部
にはその上にa−8i:Ge光導電層(2)が形成され
るアルミニウム、ステンレス、NEsA#ラス等のよう
な基板c28)がモータ(29)により回転可能である
ターンテーブル(30)上に載置されており、該基板(
29)自体は適当な加熱手段により約100乃至400
℃、好ましくは約150乃至300℃の温度に均一加熱
されている。また反応管(26)の内部は層形成時に高
度の真空状態(放電圧=05乃至2TOrr)を必要と
することにより回転ポンプ(31)と拡散ポンプ(32
)に連結されている。
24) 、 (25Nt + ニック弁である。第1、
第2、第3主管(16) 、 (17) 、 (18)
を通じて流れるガスは反応管(26)へと送り込まれる
が、この反応管の周囲には共振振動コイル(27)が巻
回されておりそれ自体の高周波電力は約01乃至3ki
lowatts であることが好ましく、また周波数は
1乃至50MHzが適当である。反応管(26”l内部
にはその上にa−8i:Ge光導電層(2)が形成され
るアルミニウム、ステンレス、NEsA#ラス等のよう
な基板c28)がモータ(29)により回転可能である
ターンテーブル(30)上に載置されており、該基板(
29)自体は適当な加熱手段により約100乃至400
℃、好ましくは約150乃至300℃の温度に均一加熱
されている。また反応管(26)の内部は層形成時に高
度の真空状態(放電圧=05乃至2TOrr)を必要と
することにより回転ポンプ(31)と拡散ポンプ(32
)に連結されている。
以上のグロー放電分解装置において、まず水素を含有す
るa−8i:Ge光導電層(2)を基板上に形成するに
は第1.第3調整弁(8) 、 (1o)を開放して第
1タンク(4)よりs:tHaガスを、第3タンク(6
)よりGeH4ガスを、硼素を含有するときは第2調整
弁(9)をも開放して第2タンク(5)よりf3tHa
ガスを、更に酸素を含有するときKは第4調整弁(11
)をも開放して02ガスを放出する。各ガスの放出量は
マスフローコントロラー(12)、(1も)1.”:
(14) 、’(1鵠により規制され、SiH4ガスあ
るいはそれにB2H4ガスが混合されたガスが第1主管
(16)を介して、Ge珍ガスが第2主管(17)を介
して、また必要に応じてS iH*+GeH4に対し一
定のモル比にある酸素ガスが第3主管(18)を介して
反応管(26)へと送り込まれる。そして反応管(26
)内部が05乃至2.0Torr程度の真空状態、基板
湿度が100乃至4oo℃、共振振動コイル(27)の
高周波電力が01乃至3kilowatts。
るa−8i:Ge光導電層(2)を基板上に形成するに
は第1.第3調整弁(8) 、 (1o)を開放して第
1タンク(4)よりs:tHaガスを、第3タンク(6
)よりGeH4ガスを、硼素を含有するときは第2調整
弁(9)をも開放して第2タンク(5)よりf3tHa
ガスを、更に酸素を含有するときKは第4調整弁(11
)をも開放して02ガスを放出する。各ガスの放出量は
マスフローコントロラー(12)、(1も)1.”:
(14) 、’(1鵠により規制され、SiH4ガスあ
るいはそれにB2H4ガスが混合されたガスが第1主管
(16)を介して、Ge珍ガスが第2主管(17)を介
して、また必要に応じてS iH*+GeH4に対し一
定のモル比にある酸素ガスが第3主管(18)を介して
反応管(26)へと送り込まれる。そして反応管(26
)内部が05乃至2.0Torr程度の真空状態、基板
湿度が100乃至4oo℃、共振振動コイル(27)の
高周波電力が01乃至3kilowatts。
また周波数が1乃至5QMHzに設定されていることに
相俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解して基板上に
少なくとも水素を含有するa−8i : Ge光導電層
が約05乃至 5ミクロン/ 6’O分の早さで形成さ
れる。
相俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解して基板上に
少なくとも水素を含有するa−8i : Ge光導電層
が約05乃至 5ミクロン/ 6’O分の早さで形成さ
れる。
厚さ01乃至3ミクロンのa−3i:Ge光導電層が形
成キれると、一旦、グロー放電を中断する。その後、第
1、第2、第4タンク(4) 、 (5) 、 (7)
よりSiH4゜B2H4,02ガスを放出させ上記と同
様の条件下でa−81:Ge光導電層(2)上に厚さ5
乃至30ミクロンの水素、酸素及び硼素を含有するa−
3i光導電層(3)を形成する。
成キれると、一旦、グロー放電を中断する。その後、第
1、第2、第4タンク(4) 、 (5) 、 (7)
よりSiH4゜B2H4,02ガスを放出させ上記と同
様の条件下でa−81:Ge光導電層(2)上に厚さ5
乃至30ミクロンの水素、酸素及び硼素を含有するa−
3i光導電層(3)を形成する。
本発明の感光体は第4図に示す容量結合型グロー放電分
解装置によっても作成することができム尚、第3図と同
一部分については同一符番を付してその説明に替える。
解装置によっても作成することができム尚、第3図と同
一部分については同一符番を付してその説明に替える。
第4図において、(33) 、 (34)は夫々SiH
4、GIllH4ガスのキャリアーガスである水素が密
封された第5.第6タンク、(35) 、 (36)は
第5、第6調整弁、(37) 、 (38’)はマスフ
ローコントロラー、(39) 、 (40)は流量計で
ある。反応室(41)内部には基板(28)に近接して
高周波電源(42)に接続された第1.第2電極板(4
3)、 (44)が平行配設されており、夫々は第4及
び第5主管(45) 、 (46) に接続されてい
る。尚、第1.第2電極板間は導線(47)で電気接続
されている。
4、GIllH4ガスのキャリアーガスである水素が密
封された第5.第6タンク、(35) 、 (36)は
第5、第6調整弁、(37) 、 (38’)はマスフ
ローコントロラー、(39) 、 (40)は流量計で
ある。反応室(41)内部には基板(28)に近接して
高周波電源(42)に接続された第1.第2電極板(4
3)、 (44)が平行配設されており、夫々は第4及
び第5主管(45) 、 (46) に接続されてい
る。尚、第1.第2電極板間は導線(47)で電気接続
されている。
C28)に対面する表面壁には多数のガス放出孔が、重
ね合わせ部の中間壁には少数のガス放出孔が、そして裏
面壁には第4主管(45)と接続されるガス導入孔が形
成されており、まず第4主管(45)からのガスを一旦
第1導体(48)内で貯め、中間壁の孔から徐々に放出
し第2導体(49)の放出孔から均一に放出されるよう
になっている。そしてガスの放出と同時に高周波電源(
42)より約0.05乃至15kilowatts (
周波数1乃至50MHz)の電力を第1゜第2電極板(
43)、(44)に印加してグロー放電を起こし基板(
28)上に光導電層を形成する。この際、基板(28)
は電気的に接地に保たれるかそれ自体に直流バイアス電
圧が印加される。この装置にあっては電極板の放電が均
一、層の形成分布が均一、ガス分解効率に優れ成膜速度
が早いこと、更にガス導入が容易で構成も簡単であると
いう利点を有する。
ね合わせ部の中間壁には少数のガス放出孔が、そして裏
面壁には第4主管(45)と接続されるガス導入孔が形
成されており、まず第4主管(45)からのガスを一旦
第1導体(48)内で貯め、中間壁の孔から徐々に放出
し第2導体(49)の放出孔から均一に放出されるよう
になっている。そしてガスの放出と同時に高周波電源(
42)より約0.05乃至15kilowatts (
周波数1乃至50MHz)の電力を第1゜第2電極板(
43)、(44)に印加してグロー放電を起こし基板(
28)上に光導電層を形成する。この際、基板(28)
は電気的に接地に保たれるかそれ自体に直流バイアス電
圧が印加される。この装置にあっては電極板の放電が均
一、層の形成分布が均一、ガス分解効率に優れ成膜速度
が早いこと、更にガス導入が容易で構成も簡単であると
いう利点を有する。
以下、実験例について説明する。
実験例1
第3図に示すグロー放電分解装置、但し反応管(26)
として直径100mm 、高さ600叫 のパイレック
ス管を用いるとともにその周囲に直径130m、高さ9
0+mlOターンの共振振動コイルを巻回させて構成さ
れるもので本発明に係る感光体を作成した。
として直径100mm 、高さ600叫 のパイレック
ス管を用いるとともにその周囲に直径130m、高さ9
0+mlOターンの共振振動コイルを巻回させて構成さ
れるもので本発明に係る感光体を作成した。
直径80wnのアルミニウムドラムを基板(28) ト
Lてターンテーブル上に載置し約2oo℃に昇温する。
Lてターンテーブル上に載置し約2oo℃に昇温する。
反応管(26)内を10’Torrtで回転ポンプ(3
1)と拡散ポンプ(32)で排気しその後は回転ポンプ
のみに切り換える。続いて第1タンク(1)より水素を
キャリアーガスとするSiH4ガス(水素に対し5IH
nlo%)を70gにamの流量の下で、第3タンクよ
りGθH4ガス(水素に対しGeHnlQ%)を148
ccm放出しコイル(27)に160watts (周
波数4MHz)の高周波電力を印加して1ミクロン/6
0分の♀さで&−3i0.75GeO,lj、光導電層
を形成した。尚、このときの放電圧は1Torrとした
。
1)と拡散ポンプ(32)で排気しその後は回転ポンプ
のみに切り換える。続いて第1タンク(1)より水素を
キャリアーガスとするSiH4ガス(水素に対し5IH
nlo%)を70gにamの流量の下で、第3タンクよ
りGθH4ガス(水素に対しGeHnlQ%)を148
ccm放出しコイル(27)に160watts (周
波数4MHz)の高周波電力を印加して1ミクロン/6
0分の♀さで&−3i0.75GeO,lj、光導電層
を形成した。尚、このときの放電圧は1Torrとした
。
厚さにして約05ミクロンの水素ヲ約25atomic
%含むa−9iO,75GeO,25光導電層が形成さ
れると、グロー放電を一旦中断し、その後、第1タンク
(1)よりSiH4ガスを70SQx、第2タンク(′
3よりB2)14ガス(水素中80ppm )を18S
噛通4タンク(4)より02ガスを0.3 S 0cm
放出し」二記と同一条件の下で厚さ15ミクロンで水素
約25atomiO%に加えて40ppmの硼素0.0
1 atomic%7)酸素を含有するIL−3i光導
電層を形成した。こうして得られた感光体を試料Aとす
る。
%含むa−9iO,75GeO,25光導電層が形成さ
れると、グロー放電を一旦中断し、その後、第1タンク
(1)よりSiH4ガスを70SQx、第2タンク(′
3よりB2)14ガス(水素中80ppm )を18S
噛通4タンク(4)より02ガスを0.3 S 0cm
放出し」二記と同一条件の下で厚さ15ミクロンで水素
約25atomiO%に加えて40ppmの硼素0.0
1 atomic%7)酸素を含有するIL−3i光導
電層を形成した。こうして得られた感光体を試料Aとす
る。
同様の条件の下に同一構成の感光体、但しa−3i0.
75GQ光導電層に40ppmの硼素を水素に加えて含
有したもの、更に4oppmの硼素に加え0.01a
t om’i’c%の酸素を含有した以外は同じ感光体
を更に2種類作成した。これらを夫々試料B、Oとする
。これら各感光体を+300■に帯電し、光照射はモノ
クロメータを使用して波長域500乃至850nm間を
順次50n4に可変していき表面電位が半減するに必要
な光エネルギーとの関係を測定して分光感度を調べた。
75GQ光導電層に40ppmの硼素を水素に加えて含
有したもの、更に4oppmの硼素に加え0.01a
t om’i’c%の酸素を含有した以外は同じ感光体
を更に2種類作成した。これらを夫々試料B、Oとする
。これら各感光体を+300■に帯電し、光照射はモノ
クロメータを使用して波長域500乃至850nm間を
順次50n4に可変していき表面電位が半減するに必要
な光エネルギーとの関係を測定して分光感度を調べた。
その結果は第5図に示す通りで、カーブ(0) 、 C
D)■)は夫々試料A、 B ’t Oに対応する。尚
、カーブCP)はa−8i:Ge光導電層がなく基板上
に直接a−3i光導電層を形成してなる感光体の分光感
度である。
D)■)は夫々試料A、 B ’t Oに対応する。尚
、カーブCP)はa−8i:Ge光導電層がなく基板上
に直接a−3i光導電層を形成してなる感光体の分光感
度である。
同図から明らかなようにa−3i:Ge光導電層を設け
ることにより長波長側の感度は著しく改善している。特
にa−8i 光導電層のみを有する感光体と比べ水素の
みを含有するa−3i0.75G80.25 光導電
層を有する感光体は長波長領域で最も高感度で、前者が
波長7QQnmでは02々ierg であるのに対し
後者は0.32tfL/erg
、 、750nffiでは0.12に対し
0.23 、 soonmでは0.07に対し0.14
゜85Qnmでは006に対し011と約15倍から2
倍程度感度が向上している。a−8104aGe0.2
5光導電層に硼素を含有(カーブD)、更には酸素を含
有(カーブz)した感光体は幾分感度が低いが、それで
もカーブDと比べてかなり高感度である。そして可視光
領域では、例えば600nlllではgす01g +
650nm0.81 で稠噺rL/e r g というa−Si 光導電層
が本来持つ高感度特性が保証されている。
ることにより長波長側の感度は著しく改善している。特
にa−8i 光導電層のみを有する感光体と比べ水素の
みを含有するa−3i0.75G80.25 光導電
層を有する感光体は長波長領域で最も高感度で、前者が
波長7QQnmでは02々ierg であるのに対し
後者は0.32tfL/erg
、 、750nffiでは0.12に対し
0.23 、 soonmでは0.07に対し0.14
゜85Qnmでは006に対し011と約15倍から2
倍程度感度が向上している。a−8104aGe0.2
5光導電層に硼素を含有(カーブD)、更には酸素を含
有(カーブz)した感光体は幾分感度が低いが、それで
もカーブDと比べてかなり高感度である。そして可視光
領域では、例えば600nlllではgす01g +
650nm0.81 で稠噺rL/e r g というa−Si 光導電層
が本来持つ高感度特性が保証されている。
次にa−3i:Ge光導電層に水素に加え硼素を夫々2
00ppm+2000ppmt20’060ppm含有
させた以外は試料Bと同じ感光体を作成し、夫々の分光
感度を測定したところ、長波長領域で第5図に示したカ
ーブ中)より幾分低い感度が測定された。特に硼素を2
00001)pm 含有するものはカーブ(縛と略同じ
γうな感度特性を示した。しかし何れの場合もカーブ(
F)より高感度であった。
00ppm+2000ppmt20’060ppm含有
させた以外は試料Bと同じ感光体を作成し、夫々の分光
感度を測定したところ、長波長領域で第5図に示したカ
ーブ中)より幾分低い感度が測定された。特に硼素を2
00001)pm 含有するものはカーブ(縛と略同じ
γうな感度特性を示した。しかし何れの場合もカーブ(
F)より高感度であった。
更に試料Cと同じ感光体、但しa−3iO,7sGθ0
.25光導電層に酸素を夫々旧、latomic%含有
させた感光体を作成し、その分光感度を測定したところ
、何れもカーブ(縛よりは低い感度が測定された。しか
し、酸素をl atomic% 含有する感光体でもカ
ーブ伊)より長波長側で高感度であることが確認された
。もっともそれ以上のlvチτを含有すればカーブ(支
))と大差がなくなると予想され、この意味で酸素含有
量は最大でも1atornic%程度とするのが望まし
い。
.25光導電層に酸素を夫々旧、latomic%含有
させた感光体を作成し、その分光感度を測定したところ
、何れもカーブ(縛よりは低い感度が測定された。しか
し、酸素をl atomic% 含有する感光体でもカ
ーブ伊)より長波長側で高感度であることが確認された
。もっともそれ以上のlvチτを含有すればカーブ(支
))と大差がなくなると予想され、この意味で酸素含有
量は最大でも1atornic%程度とするのが望まし
い。
また試料Aと同じ感光体、但しa−Si 光導電層の厚
さを夫々5 、20,30.35 ミクロンとした感
光体4種類を作成して分光感度を測定したところ、長波
長側の感度はa−3i光導電・層・の、・膜・厚亦大と
刀るにし急が−って低下七逆に小にφるに。したがゆて
高:く1なる之いう肪を示し、第2図との陽連で述べ先
光透過率に依存するasa−3i光導電層の厚さが5ミ
クロンの感光体は750nmで0.25,800nmで
0.19a/L’e rg とカーブ(0)と比べて
がなり高感度となる。逆に厚さ20,30.35 ミ
クロンのa−3i 光導電層を有する感光体は何れもカ
ーブ(Qより感度が低く、特に35ミクロンのものはカ
ーブ(P)より低感度となりa−8i:Ge光導電層を
設けた意味がない。このことからしても、a−8i光導
電層の厚さは30ミクロン以下、好ましくは20ミクロ
ン以下とするのが望ましい。
さを夫々5 、20,30.35 ミクロンとした感
光体4種類を作成して分光感度を測定したところ、長波
長側の感度はa−3i光導電・層・の、・膜・厚亦大と
刀るにし急が−って低下七逆に小にφるに。したがゆて
高:く1なる之いう肪を示し、第2図との陽連で述べ先
光透過率に依存するasa−3i光導電層の厚さが5ミ
クロンの感光体は750nmで0.25,800nmで
0.19a/L’e rg とカーブ(0)と比べて
がなり高感度となる。逆に厚さ20,30.35 ミ
クロンのa−3i 光導電層を有する感光体は何れもカ
ーブ(Qより感度が低く、特に35ミクロンのものはカ
ーブ(P)より低感度となりa−8i:Ge光導電層を
設けた意味がない。このことからしても、a−8i光導
電層の厚さは30ミクロン以下、好ましくは20ミクロ
ン以下とするのが望ましい。
最後に試料Aと同じ感光体、但しa−3i:Ge光導電
層のSjとGeのモル比を夫々19:1,10:l 、
2:1 。
層のSjとGeのモル比を夫々19:1,10:l 、
2:1 。
1:1とした感光体を作成してやはり分光感度を測定し
たところ、19:1 の微量のGeでも長波長側感度
は向上し、Geの増大により高感度、となっていく。
たところ、19:1 の微量のGeでも長波長側感度
は向上し、Geの増大により高感度、となっていく。
現にGeの量が2:1のものではカーブ(0)と比して
約1.3−1.7倍程高感度である。しかしSiとGe
のモル比が1=1のものでは逆に2=1のものより低
感度となっている。この原因は不明なところもあるが、
Geのバンドギャップがa−8i と比してかなり狭
いため、多量のGeを入れた場合にはa−8i:Ge光
導電層で発生するキャリアーがa−3i 光導電層との
界面でトラップされa−8i 光導電層を移動できない
ためと考えられる。こめ意味で81とGeのモル比は最
大でも1:1が限度である。
約1.3−1.7倍程高感度である。しかしSiとGe
のモル比が1=1のものでは逆に2=1のものより低
感度となっている。この原因は不明なところもあるが、
Geのバンドギャップがa−8i と比してかなり狭
いため、多量のGeを入れた場合にはa−8i:Ge光
導電層で発生するキャリアーがa−3i 光導電層との
界面でトラップされa−8i 光導電層を移動できない
ためと考えられる。こめ意味で81とGeのモル比は最
大でも1:1が限度である。
作像実験では試料Aの感光体をレーザービームプリンタ
ーにセットした。そしてコロナチャージャで正極性に帯
電し、発振波長78onm 、3mWの半導体レーザー
光を直接変調して回転多面鏡で走査し、感光体上へネガ
露光し、正極性トナーで反転磁気ブラシ現像、転写、ク
リーニング、除電を行った。
ーにセットした。そしてコロナチャージャで正極性に帯
電し、発振波長78onm 、3mWの半導体レーザー
光を直接変調して回転多面鏡で走査し、感光体上へネガ
露光し、正極性トナーで反転磁気ブラシ現像、転写、ク
リーニング、除電を行った。
感光体移動速度はl 3Qmm/SθCとしてA4サイ
ズペ0 一パを毎分益枚プリントさせたところ1.10ドツト/
謔の非常に鮮明な文字を再現するプリントが得られた。
ズペ0 一パを毎分益枚プリントさせたところ1.10ドツト/
謔の非常に鮮明な文字を再現するプリントが得られた。
プリント画質は10万枚プリント後も鮮明であった0
・第1図は本発明に係る感光体の積層構成図、第2図は
アモルファスシリコンとアモルファスシリコンゲルマニ
ウム光導電層の光透過率を示す図、第3図及び第4図は
本発明に係る感光体を製造するためのグロー放電分解装
置、第5図は本発明に係る分光感度を示す図である。 (1)・・・・・・導電性基板、(2)・・・・・・a
−3i:Ge光導電層、(3)・・・・・・a−8i光
導電層、(4)・・・・・・第1タンク(stH4ガス
)(5)・・・・・・第2タンク (B2H6ガス)(
6)・・・・・・第3タンク (GeH4ガス)(7)
・・・・・・第4タンク(Ofガス)、(26)・・・
・・・反応管、(27)・・・・・・共振振動′コイル
、(43) 、 (44)・・・・・・第1.第2電極
板。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 河 村 孝 夫 京都セラミック株式会社 第1図 3 第2図 疲−&(劉 1J3図 第4図 7 第5図 波表(大町
アモルファスシリコンとアモルファスシリコンゲルマニ
ウム光導電層の光透過率を示す図、第3図及び第4図は
本発明に係る感光体を製造するためのグロー放電分解装
置、第5図は本発明に係る分光感度を示す図である。 (1)・・・・・・導電性基板、(2)・・・・・・a
−3i:Ge光導電層、(3)・・・・・・a−8i光
導電層、(4)・・・・・・第1タンク(stH4ガス
)(5)・・・・・・第2タンク (B2H6ガス)(
6)・・・・・・第3タンク (GeH4ガス)(7)
・・・・・・第4タンク(Ofガス)、(26)・・・
・・・反応管、(27)・・・・・・共振振動′コイル
、(43) 、 (44)・・・・・・第1.第2電極
板。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 河 村 孝 夫 京都セラミック株式会社 第1図 3 第2図 疲−&(劉 1J3図 第4図 7 第5図 波表(大町
Claims (1)
- (1)導電性基板上に厚さ約o、1乃至3ミクロンのア
モルファスシリコン−ゲルマニウム光導電層と、その上
に厚さ約5乃至30ミクロンのアモルファスシリコン光
導電層を形成したことを特徴とする感光体。 ■)前記アモルファスシリコン−ゲルマニウム光導電層
は少なくとも水素を含有し、SiとGeのモル比は1:
1乃至19:1であることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の感光体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57054565A JPS58171053A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 感光体 |
US06/473,005 US4491626A (en) | 1982-03-31 | 1983-03-07 | Photosensitive member |
DE19833311463 DE3311463A1 (de) | 1982-03-31 | 1983-03-29 | Photoempfindliches element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57054565A JPS58171053A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 感光体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58171053A true JPS58171053A (ja) | 1983-10-07 |
JPH0546539B2 JPH0546539B2 (ja) | 1993-07-14 |
Family
ID=12974207
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57054565A Granted JPS58171053A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58171053A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58187938A (ja) * | 1982-04-27 | 1983-11-02 | Canon Inc | 電子写真用光導電部材 |
JPS60131540A (ja) * | 1983-12-20 | 1985-07-13 | Canon Inc | 光導電部材 |
JPS60134244A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-07-17 | Canon Inc | 光導電部材 |
JPS60134243A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-07-17 | Canon Inc | 光導電部材 |
JPS61205948A (ja) * | 1985-03-08 | 1986-09-12 | Canon Inc | レーザー光用の光受容部材 |
JPS62258465A (ja) * | 1986-04-08 | 1987-11-10 | Canon Inc | 光受容部材 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55121239U (ja) * | 1979-02-21 | 1980-08-28 |
-
1982
- 1982-03-31 JP JP57054565A patent/JPS58171053A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS55121239U (ja) * | 1979-02-21 | 1980-08-28 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS58187938A (ja) * | 1982-04-27 | 1983-11-02 | Canon Inc | 電子写真用光導電部材 |
JPH0310093B2 (ja) * | 1982-04-27 | 1991-02-12 | Canon Kk | |
JPS60131540A (ja) * | 1983-12-20 | 1985-07-13 | Canon Inc | 光導電部材 |
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Also Published As
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