JP2742583B2 - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は短波長側及び長波長側の両者の光感度を高め
て普通紙複写機に好適になった電子写真感光体に関する
ものである。
(従来技術及びその問題点) 近年、超高速複写機やレーザービームプリンターなど
の開発が活発に進められており、これに伴って、この機
器に搭載される電子写真感光体ドラムに安定した動作特
性並びに耐久性が要求されている。この要求に対してア
モルファスシリコンが耐摩耗性、耐熱性、無公害性並び
に光感度特性などに優れるという点で注目されている。
このアモルファスシリコン(以下、a−Siと略す)か
ら成る電子写真感光体には第3図に示す通りの積層型感
光体が提案されている。
即ち、第3図によれば、アルミニウムなどの導電性基
板(1)の上にキャリア注入阻止層(2)、a−Siキャ
リア発生層(3)及び表面保護層(4)を順次積層して
おり、このキャリア注入阻止層(2)は基板(1)から
のキャリアの注入を阻止すると共に残留電位を低下させ
るために形成されており、また、表面保護層(4)には
高硬度な材料を用いて感光体の耐久性を高めている。
しかしながら、このようなa−Si感光体においては、
長波長側の光感度が高くなっており、そのため、この感
光体をハロゲンランプ等の白色光を光源として用いた普
通紙複写機(以下、PPCと略す)に搭載した場合、赤色
付近の波長帯に対して再現性に劣る。かかる問題を解決
するためにフィルタを用いて赤色波長光をカットするよ
うにしているが、これに伴って感光層に入射する光の強
度が低下し、その結果、感光体自体の光感度が見かけ上
低下する。
(発明の目的) 従って本発明は短波長側及び長波長側の光感度を高め
ることができた電子写真感光体を提供することにある。
本発明の他の目的はPPC用に適した電子写真感光体を
提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明によれば、導電性基板上に周期律表第V a族元
素を0.01〜10ppm含有した光導電性a−Si層及びシリコ
ン(Si)元素とカーボン(C)元素の原子比率がSi
(1-x)Cxのx値で0.01≦x≦0.5に、厚みを0.05〜5μm
に、周期律表第V a族元素を0.5〜100ppm含有させた光導
電性アモルファスシリコンカーバイド層(以下、アモル
ファスシリコンカーバイドをa−SiCと略す)とを順次
形成したPPC用の電子写真感光体が提供される。
以下、本発明を詳細に説明する。
本発明電子写真感光体の基本的層構成は第1図に示す
通りであり、導電性基板(5)の上に光導電性a−Si層
(6)及び光導電性a−SiC層(7)が順次積層されて
いる。
本発明者等の実験によれば、上記のa−SiC層(7)
に所定量の周期律表第V a族元素(以下、V a族元素と略
す)を含有させた場合に短波長側の光感度が顕著に高め
られることが見出され、そして、この知見に基づいて本
発明が完成されるに至った。
即ち、第1図に示す層構成によれば、その層(7)の
厚みを所定の範囲内に設定すると入射した光のうち短波
長側がa−SiC層(7)で吸収され、しかも、そのa−S
iC層(7)を透過した光、即ち、長波長側の光がa−Si
層(6)で吸収され、これにより、短波長側及び長波長
側の両者ともに光感度を高めることが特徴である。
先ず、a−SiC層(7)によれば、アモルファス化し
たSi元素及びC元素を不可欠な構成元素と成し、そのダ
ングリングボンドを終端させるべく水素(H)元素やハ
ロゲン元素を所要の範囲内で含有させることによって光
導電性が生じる。本発明者等がカーボンの含有比率を幾
通りにも変えて光導電性を確かめる実験を行ったとこ
ろ、Si元素とC元素の原子比率、即ち、Si(1-x)Cxのx
値が0.01≦x≦0.5、好適には0.05≦x≦0.3の範囲内に
設定された場合、暗導電率が小さくなり、短波長側の光
感度を高めることができる。
また、H元素やハロゲン元素などのダングリングボン
ド終端用元素Aの含有量は〔Si(1-x)Cx1-y〔A〕
表したy値が0.05≦y≦0.5、好適には0.05≦y≦0.4、
最適には0.1≦y≦0.3の範囲内になるように設定すると
よい。このような元素Aにはダングリングボンドの終端
部に取り込まれ易くてバンドギャップ中の局在準位密度
が低減化されるという点で通常H元素が用いられる。
このようなa−SiC層(7)の厚みは0.05〜5μm、
好適には0.1〜3μmの範囲内に設定するとよく、この
厚みが0.05μm未満の場合には短波長光の吸収が不十分
となって光感度を高めることができず、5μmを超える
場合には残留電位が大きくなる。
上記a−SiC層(7)は、Si元素とC元素の原子比
率、即ち、前記x値がその層厚方向に亘って均一である
場合、又は、そのx値が変化する場合のいずれでもよ
い。
x値が層厚方向に亘って変化する場合には、そのx値
が0.01≦x≦0.5の範囲内で層(7)の厚みが決めら
れ、このようにして決められた厚みも0.05〜5μm、好
適には0.1〜3μmの範囲内に設定する必要がある。
このようにx値が層厚方向に亘って変化する場合のカ
ーボンドーピング分布には、例えば、第4図〜第9図に
示す通りがある。
各々の図において、横軸はa−SiC層(7)の層厚方
向を示し、aはa−Si層(6)との界面であり、bはそ
の反対側の界面であり、縦軸はカーボン含有量を表す。
また、このa−SiC層(7)にはV a族元素をその層厚
方向に亘って均一に0.5〜100ppm、好適には1〜50ppmの
範囲内で含有させるとよく、この含有量が0.5ppm未満の
場合には十分に大きな光感度が得られず、一方、100ppm
を超える場合には帯電能が低下する。
上記V a族元素にはN,P,As,Sb,Biがあるが、就中、P
が共有結合性に優れて半導体特性を敏感に変え得る点
で、その上、優れた帯電能並びに光感度が得られるとい
う点で望ましい。
このようにa−SiC層(7)にV a族元素を含有させる
に当たり、そのドーピング分布はその層厚方向に亘って
不均一にしてもよく、例えば第10図〜第15図に示す通り
がある。
各々の図において、横軸はa−SiC層(7)の層厚方
向を示し、aはa−Si層(6)との界面であり、bはそ
の反対側の界面であり、そして、縦軸はV a族元素含有
量を表す。
このようにV a族元素含有量を層厚方向に亘って変化
させた場合愛、その含有量はa−SiC層(7)全体当た
りの平均値である。
また、前記a−Si層(6)はアモルファス化したSi元
素と、そのダングリングボンドを終端させるためのH元
素やハロゲン元素から成り、入射光のうち長波長側の光
が吸収される。
このa−Si層(6)の厚みは5〜100μm、好適には1
0〜50μmの範囲内に設定するのが望ましく、この範囲
内であれば、高い帯電能が得られ、しかも、長波長光が
有効に吸収されるという点で有利である。
また、a−Si層(6)は実質上カーボン元素を含有し
ない層であるが、非常に微少量のカーボンが含有しても
よい。その場合、このカーボンが1000ppm以下、好適に
は500ppm以下の範囲内であれば、長波長光の光感度が顕
著に低下しない。
更に、a−Si層(6)にはV a族元素を0.01〜10ppm、
好適には0.1〜5ppmの範囲内で含有させてもよく、この
範囲内であれば、高い帯電能が得られ、しかも、残留電
位を低減化できるという点で有利である。尚、このV a
族元素のドーピング分布は層厚方向に亘って均一又は不
均一のいずれでもよく、不均一にドーピングする場合の
含有量はその層(6)の全体当たりの平均値である。
そして、このようにa−Si層(6)に含有させるV a
族元素にはN,P,As,Sb,Biがある。
かくして、本発明の電子写真感光体が、ハロゲンラン
プ等の白色光を光源として用いたPPCに搭載された場
合、短波長側の光が主にa−SiC層で吸収され、しか
も、長波長側の光が主にa−Si層で吸収されるようにな
り、これにより、赤外波長光をカットするためのフィル
タが不要となり、感光体自体の光感度が著しく高められ
る。
本発明の電子写真感光体は上記のような二層構造が不
可欠であるが、それ以外にキャリア注入阻止層や表面保
護層を形成してもよい。
例えば、第2図は典型的層構造を表しており、基板
(5)とa−Si層(6)の間にキャリア注入阻止層
(8)と、そして、a−SiC層(7)の上に表面保護層
(9)を形成している。
前記キャリア注入阻止層(8)については、基板
(5)からのキャリアの注入を阻止するものであり、表
面保護層(9)についてはa−SiC層(7)を保護して
耐湿性などを向上させるものであり、しかも、両者の層
(8)及び層(9)はいずれも感光体の暗導電率を小さ
くして帯電能を高めることができる。
この表面保護層(9)にはそれ自体高絶縁性、高耐蝕
性並びに高硬度性を有するものであるならば種々の材料
を用いることができる。例えばポリイミド樹脂などの有
機材料、SiC、SiO、Al2O3、SiNなどの無機材料を用いる
ことができる。
また、キャリア注入阻止層(8)も上記表面保護層用
材料と同じ材料を用いることができる。
次に本発明に係る電子写真感光体の製法を述べる。
a−Si層又はa−SiC層を形成するにはグロー放電分
解法、イオンプレーティング法、反応性スパッタリング
法、真空蒸着法、CVD法等の薄膜形成方法がある。
グロー放電分解法を用いる場合にはSi元素含有ガス
を、又はそのガスとC元素含有ガスを組合せ、グロー放
電分解する。このSi元素含有ガスにはSiH4、Si2H6、Si3
H8、SiF4、SiCl4、SiHCl3等々があり、また、C元素含
有ガスにはCH4、C2H4、C2H2、C3H8等々があり、就中、C
2H2は高速成膜性が得られるという点で望ましい。
本発明の実施例に用いられる容量結合型グロー放電分
解装置を第16図により説明する。
図中、第1、第2、第3、第4、第5、第6タンク
(10)(11)(12)(13)(14)(15)には、それぞれ
SiH4、C2H2、PH3(H2ガス希釈で0.2%含有)、B2H6(H2
ガス希釈で40ppm含有)、H2、NOガスが密封されてお
り、H2はキャリアガスとしても用いられる。これらのガ
スはそれぞれ対応する第1、第2、第3、第4、第5、
第6調整弁(16)(17)(18)(19)(20)(21)を開
放することにより放出され、その流量がマスフローコン
トローラ(22)(23)(24)(25)(26)(27)により
制御され、第1、第2、第3、第4、第5タンク(10)
(11)(12)(13)(14)からのガスは第1主管(28)
へ、第6タンク(15)からのNOガスは第2主管(29)へ
送られる。尚、(30)(31)は止め弁である。第1主管
(28)及び第2主管(29)を通じて流れるガスは反応管
(32)へと送り込まれるが、この反応管(32)の内部に
は容量結合型放電用電極(33)が設置されており、それ
に印加される高周波電力は50W〜3kWが、また周波数は1
〜50MHzが適当である。反応管(32)の内部にはアルミ
ニウムから成る筒状の成膜基板(34)が試料保持台(3
5)の上に載置されており、この保持台(35)はモータ
ー(36)により回転駆動されるようになっており、そし
て、基板(34)は適当な加熱手段により約200〜400℃、
好適には約200〜350℃の温度に均一に加熱される。更に
反応管(32)の内部はa−SiC膜形成時に高度の真空状
態(放電圧0.1〜2.0Torr)を必要とすることにより回転
ポンプ(37)と拡散ポンプ(38)に連結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置におい
て、例えばa−SiC膜を基板(34)に形成する場合、第
1、第2、第5調整弁(16)(17)(20)を開いてそれ
ぞれよりSiH4、C2H2、H2ガスを放出し、その放出量はマ
スフローコントローラ(22)(23)(26)により制御さ
れ、SiH4、C2H2、H2の混合ガスは第1主管(28)を介し
て反応管(32)へ流し込まれる。そして、反応管(32)
の内部が0.1〜2.0Torr程度の真空状態、基板温度が200
〜400℃、容量結合型放電用電極(33)に印加される高
周波電力が50W〜3kW、また周波数が1〜50MHzに設定さ
れていることに相俟ってグロー放電が起こり、ガスが分
解してa−SiC膜が基板上に高速で形成される。
(実施例) 次に本発明の実施例を説明する。
(例1) 第16図のグロー放電分解装置を用いて第1表に示す通
りの成膜条件によりアルミニウム製基板上に光導電性a
−Si層(6)及び光導電性a−SiC層(7)を順次積層
し、第1図に示す通りの感光体ドラムを製作した。
かくして得られた感光体ドラムに、可視光分光器によ
り分光された0.3μW/cm2の単色光を照射し、表面電位の
半減時間を求めて分光感度を測定したところ、第17図に
示す通りの結果が得られた。
同図において、横軸は波長であり、縦軸は光感度であ
り、そして、○印は測定結果のプロットであり、aはそ
の特性曲線である。
また第17図には上記感光体ドラムより光導電性a−Si
C層が除かれた感光体ドラムが比較例として示されてお
り、その分光感度を測定したところ、●印に示される測
定結果のプロットが得られ、bはその特性曲線である。
この結果より明らかな通り、本発明の感光体ドラムは
短波長側の光感度が顕著に大きくなっていることが判
る。
尚、上記光導電性a−SiC層のカーボン量をESCA分析
により求めたところ、Si1-xCxのx値で0.12であり、ま
た、そのP含有量を二次イオン質量分析計により求めた
ところ、20ppmであった。
(例2) 本例においては、第2表に示す通りの成膜条件により
アルミニウム製基板上にキャリア注入阻止層(8)、光
導電性a−Si層(6)、光導電性a−SiC層(7)及び
表面保護層(9)を順次積層し、第2図に示す通りの感
光体ドラムを製作した。
かくして得られた感光体ドラムをPPCに搭載し、そし
て、赤色カットフィルタを用いないでハロゲンランプを
投光源とし、更にコロナチャージャで−5.6kVの電圧を
印加して負帯電させ、これにより、表面電位、光感度並
びに残留電位を測定したところ、下記に示す通りの結果
が得られた。
表面電位・・・・・・・・−380V 光感度(記録露光量)・・0.52lux・sec 残留電位(露光開始5秒後の値)・・18V また、この感光体ドラムを高速PPCに搭載し、50枚/
分の速度にて画像出しテストを行ったところ、黒色部及
び赤色部に対する忠実なる再現性が得られ、しかも、高
い濃度で且つカブリのない鮮明な画像が得られた。
(例3) 次に本例においては、(例2)にて得られた感光体ド
ラムについて、光導電性a−SiC層の厚みを幾通りにも
変え、これによって得られる感光体ドラムA〜Gの表面
電位、光感度(記録露光量)並びに残留電位(露光開始
5秒後の値)を測定したところ、第3表に示す通りの結
果が得られた。
第3表より明らかな通り、本発明の感光体ドラムB〜
Fは表面電位が高く、残留電位が小さく、しかも、優れ
た光感度が得られていることが判る。
然るに感光体ドラムAは光感度に劣っており、感光体
ドラムGは残留電位が大きくなっている。
(例4) 本例においては、(例2)にて得られた感光体ドラム
について、光導電性a−SiC層のカーボン含有量とP含
有量をそれぞれ幾通りにも変え、これによって得られる
感光体ドラムH〜0の表面電位、光感度(記録露光量)
並びに残留電位(露光開始5秒後の値)を測定したとこ
ろ、第4表に示す通りの結果が得られた。
第4表より明らかな通り、本発明の感光体ドラムJ〜
Mは表面電位が高く、残留電位が小さく、しかも、優れ
た光感度が得られていることが判る。
然るに感光体ドラムHとIは光感度に劣っており、感
光体ドラムNと0はいずれも表面電位が小さく、残留電
位が大きく、しかも、光感度に劣っている。
また、本発明者等は上記感光体ドラムB〜F及びJ〜
Mをそれぞれ高速PPCに搭載し、50枚/分の速度にて画
像出しテストを行ったところ、黒色部及び赤色部に対す
る忠実なる再現性が得られ、しかも、高い濃度で且つカ
ブリのない鮮明な画像が得られることを確認した。
(発明の効果) 以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、光導
電性a−Si層と光導電性a−SiC層を積層し、そのa−S
iC層の原子比率及び厚み並びにV a族元素含有量をそれ
ぞれ所定の範囲内に設定し、これにより、長波長側及び
短波長側の両者の光感度を高めることができ、その結
果、赤外波長光カットフィルタを用いないで優れた光感
度が得られるPPC用の電子写真感光体が提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明電子写真感光体の基本的な層構造を示す
断面図、第2図は本発明電子写真感光体の典型的層構造
を示す断面図、第3図は従来の電子写真感光体の層構造
を示す断面図、第4図、第5図、第6図、第7図、第8
図及び第9図はカーボンドーピング分布を示す線図、第
10図、第11図、第12図、第13図、第14図及び第15図は周
期律表第V a族元素ドーピング分布を示す線図、第16図
はグロー放電分解装置の概略図、第17図は分光感度を示
す線図である。 1,5……導電性基板 2,8……キャリア注入阻止層 4,9……表面保護層 6……光導電性アモルファスシリコン層 7……光導電性アモルファスシリコンカーバイド層
フロントページの続き (72)発明者 伊藤 浩 滋賀県八日市市蛇溝町長谷野1166番地の 6 京セラ株式会社滋賀八日市工場内 (72)発明者 竹村 仁志 滋賀県八日市市蛇溝町長谷野1166番地の 6 京セラ株式会社滋賀八日市工場内 (72)発明者 石櫃 鴻吉 滋賀県八日市市蛇溝町長谷野1166番地の 6 京セラ株式会社滋賀八日市工場内 (56)参考文献 特開 昭63−81435(JP,A) 特開 昭63−83729(JP,A) 特開 昭61−177465(JP,A) 特開 昭60−48045(JP,A) 特開 昭63−108352(JP,A) 特開 昭56−64346(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】導電性基板上に周期律表第V a族元素を0.0
    1〜10ppm含有した光導電性アモルファスシリコン層、及
    びシリコン元素とカーボン元素の原子比率をSi(1-x)Cx
    のx値で0.01≦x≦0.5に、厚みを0.05〜5μmに、周
    期律表第V a族元素を0.5〜100ppm含有した光導電性アモ
    ルファスシリコンカーバイド層とを順次形成したPPC用
    の電子写真感光体。
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