JPH0338584B2 - - Google Patents
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- JPH0338584B2 JPH0338584B2 JP55062112A JP6211280A JPH0338584B2 JP H0338584 B2 JPH0338584 B2 JP H0338584B2 JP 55062112 A JP55062112 A JP 55062112A JP 6211280 A JP6211280 A JP 6211280A JP H0338584 B2 JPH0338584 B2 JP H0338584B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
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- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
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Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明はカールソン方式の電子写真複写機に使
用される電子写真感光体に関する。
用される電子写真感光体に関する。
従来技術
上記電子写真感光体としては、Se又はSe合金
感光体、Zno樹脂バインダ型感光体、Cds樹脂バ
インダ型感光体及びPVK−Se積層感光体等がそ
の代表的なものとして知られている。これらの感
光体の中でも特にSe−Te合金、Se−As合金等の
感光体は白色光感度の非常に高いものが得られ
る。ところがSe系感光体を用いた複写機で複写
した場合、青色の画像に対する再現性が極めて悪
いという共通した問題点がある。これは、これら
の感光体の分光感度特性が短波長側(青色)に対
し、良好であることに起因する。それ故、従来で
は、青色の複写をするためには、露光部に青色フ
イルタを別設する必要があつた。
感光体、Zno樹脂バインダ型感光体、Cds樹脂バ
インダ型感光体及びPVK−Se積層感光体等がそ
の代表的なものとして知られている。これらの感
光体の中でも特にSe−Te合金、Se−As合金等の
感光体は白色光感度の非常に高いものが得られ
る。ところがSe系感光体を用いた複写機で複写
した場合、青色の画像に対する再現性が極めて悪
いという共通した問題点がある。これは、これら
の感光体の分光感度特性が短波長側(青色)に対
し、良好であることに起因する。それ故、従来で
は、青色の複写をするためには、露光部に青色フ
イルタを別設する必要があつた。
しかも、フイルタを使用することは、露光部の
光量低下を招くので、光源の輝度を増大させる必
要がある。
光量低下を招くので、光源の輝度を増大させる必
要がある。
一方、オフイスコピーにおいては、文字の複写
が多いが、この文字は黒色に次いで青色で書かれ
たものが多いのが現状である。
が多いが、この文字は黒色に次いで青色で書かれ
たものが多いのが現状である。
目 的
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、青
色に対して画像再現性のある電子写真感光体を提
供することを目的とする。
色に対して画像再現性のある電子写真感光体を提
供することを目的とする。
本発明者は、上記目的を達成するために、最
近、前述の感光体に比べ、環境汚染性、耐熱性、
表面硬度、摩耗性等に優れ、且つ電子写真特性に
おいても優れた面があるとして注目され、研究開
発が進められつつあるところの、グロー放電分解
法で生成されるアモルフアスシリコン
(amorphous silicon以下a−Siと記す)に周期
律表第b族の元素、特に硼素(化学記号B)を
添加することによりa−Siの暗体積抵抗値が増大
すること(この事実は半導体応用技術分野での研
究発表として、W.E.SpearとP.G.Le Comberと
により1976年発行のPhilosophical Magazine
(Vol.33No.6)の第935頁乃至第949頁に
“Electronic properties of substitutionally
doped amorphous Si and Ge”の題名の下に紹
介されている。)に着目し、これについて種々研
究した結果、本発明の目的を達成するものである
ことを見い出した。
近、前述の感光体に比べ、環境汚染性、耐熱性、
表面硬度、摩耗性等に優れ、且つ電子写真特性に
おいても優れた面があるとして注目され、研究開
発が進められつつあるところの、グロー放電分解
法で生成されるアモルフアスシリコン
(amorphous silicon以下a−Siと記す)に周期
律表第b族の元素、特に硼素(化学記号B)を
添加することによりa−Siの暗体積抵抗値が増大
すること(この事実は半導体応用技術分野での研
究発表として、W.E.SpearとP.G.Le Comberと
により1976年発行のPhilosophical Magazine
(Vol.33No.6)の第935頁乃至第949頁に
“Electronic properties of substitutionally
doped amorphous Si and Ge”の題名の下に紹
介されている。)に着目し、これについて種々研
究した結果、本発明の目的を達成するものである
ことを見い出した。
発明の要脂
即ち、導電性基板上に、10乃至40atomic%の
水素、5×10-2乃至10-5atomic%の酸素および10
乃至1000ppmの周期律表第b族の元素を含有し
てなるアモルフアスシリコン光導電体層を設けた
感光体は電荷保持能力に優れ、高感度であり、正
帯電用として使用することで本発明の目的を達成
するものであることを見い出した。
水素、5×10-2乃至10-5atomic%の酸素および10
乃至1000ppmの周期律表第b族の元素を含有し
てなるアモルフアスシリコン光導電体層を設けた
感光体は電荷保持能力に優れ、高感度であり、正
帯電用として使用することで本発明の目的を達成
するものであることを見い出した。
実施例
以下、本発明を実施例により説明する。
第1図はa−Siを生成するためのグロー放電分
解装置の1例を示し、図中の第1,第2,第3タ
ンク1,2,3には夫々水素(H2)をマトリツ
クスガスとするシラン(SiH4)、ジボラン
(B2H6)酸素(O2)ガスが密封されている。こ
れらガスは対応する第1,第2,第3調整弁4,
5,6を開放することにより放出され、その流量
がメータリングバルブ7,8,9により規制され
SiH4ガスとB2H6ガスとは主管10へ、O2ガスは
主管11へと送られる。尚、12,13,14は
流量計、15,16は止め弁である。主管10,
11を通じて流れるガスは水素(H2)をキヤリ
ヤガスとして反応管17へと送り込まれるが、こ
の反応管の周囲には共振振動コイル18が巻回さ
れておりそれ自体の高周波電力は100Watts乃至
数Kilowatts、周波数は1乃至数10MHzが適当で
ある。反応管17内部にはその上にa−Si膜が形
成される例えばアルミニウムやNESAガラスのよ
うな基板19がモータ20により回動可能である
ターンテーブル21上に載置されており、該基板
19自体は適当な加熱手段により約50乃至300℃
の温度に均一加熱されている。また反応管17内
部はa−Si膜形成時に高度の真空状態(放電圧:
0.5乃至2.0Torr)を必要とすることにより回転ポ
ンプ22と拡散ポンプ23に連結されている。
解装置の1例を示し、図中の第1,第2,第3タ
ンク1,2,3には夫々水素(H2)をマトリツ
クスガスとするシラン(SiH4)、ジボラン
(B2H6)酸素(O2)ガスが密封されている。こ
れらガスは対応する第1,第2,第3調整弁4,
5,6を開放することにより放出され、その流量
がメータリングバルブ7,8,9により規制され
SiH4ガスとB2H6ガスとは主管10へ、O2ガスは
主管11へと送られる。尚、12,13,14は
流量計、15,16は止め弁である。主管10,
11を通じて流れるガスは水素(H2)をキヤリ
ヤガスとして反応管17へと送り込まれるが、こ
の反応管の周囲には共振振動コイル18が巻回さ
れておりそれ自体の高周波電力は100Watts乃至
数Kilowatts、周波数は1乃至数10MHzが適当で
ある。反応管17内部にはその上にa−Si膜が形
成される例えばアルミニウムやNESAガラスのよ
うな基板19がモータ20により回動可能である
ターンテーブル21上に載置されており、該基板
19自体は適当な加熱手段により約50乃至300℃
の温度に均一加熱されている。また反応管17内
部はa−Si膜形成時に高度の真空状態(放電圧:
0.5乃至2.0Torr)を必要とすることにより回転ポ
ンプ22と拡散ポンプ23に連結されている。
上記装置において、基板19上へのa−Si膜か
ら成る光導電体層の形成にあたつて、グロー放電
反応管に送り込むべきSiH4ガス、B2H6ガス、O2
ガスの混合スの量は、SiH4の含有せんとすべき
量1モルに対し、B2H6は含有せんとすべき量の
約5倍から15倍程度、O2は含有効率が非常に高
いため最大でも含有せんとすべき量の約1.1倍か
ら2倍程度夫々に設定される。なお、SiH4ガス、
B2H6ガスは各々水素(H2)をキヤリアガスとし
て使用している。
ら成る光導電体層の形成にあたつて、グロー放電
反応管に送り込むべきSiH4ガス、B2H6ガス、O2
ガスの混合スの量は、SiH4の含有せんとすべき
量1モルに対し、B2H6は含有せんとすべき量の
約5倍から15倍程度、O2は含有効率が非常に高
いため最大でも含有せんとすべき量の約1.1倍か
ら2倍程度夫々に設定される。なお、SiH4ガス、
B2H6ガスは各々水素(H2)をキヤリアガスとし
て使用している。
上記混合ガスはグロー放電法により分解し、約
10乃至1000ppmの硼素と約10乃至40atomic%、
の水素と約5×10-2乃至10-5atomic%の酸素とを
含有する厚さ約5乃至60μのa−Si膜から成る光
導電体層を導電性基板19上に形成し、求める感
光体が得られる。
10乃至1000ppmの硼素と約10乃至40atomic%、
の水素と約5×10-2乃至10-5atomic%の酸素とを
含有する厚さ約5乃至60μのa−Si膜から成る光
導電体層を導電性基板19上に形成し、求める感
光体が得られる。
この感光体は、実験の結果、光導電体層は表面
に電荷を保持するに十分な抵抗値、即ち、1013
Ω・cm以上であり、コロナ放電器により約400乃
至600Vの表面電位に電荷でき、白色光源により
約1乃至数luxsecの光量で非常にコントラストの
高い鮮明な像が得られ、カールソン方式の電子写
真複写機に使用できるものであり、その際、正
(+)帯電により作像することで、青色の画像に
対する再現性が良好であることを確認した。
に電荷を保持するに十分な抵抗値、即ち、1013
Ω・cm以上であり、コロナ放電器により約400乃
至600Vの表面電位に電荷でき、白色光源により
約1乃至数luxsecの光量で非常にコントラストの
高い鮮明な像が得られ、カールソン方式の電子写
真複写機に使用できるものであり、その際、正
(+)帯電により作像することで、青色の画像に
対する再現性が良好であることを確認した。
以下、本発明を実験例により詳述する。
実験例
上述した第1図に示すグロー放電分解装置にお
いて、放電圧を1.5Torr、アルミニウム基板温度
を200℃、高周波電力を300watts、周波数を4M
Hz、膜形成速度を1分当り1500Åに夫々設定した
製造条件の下で、メータリングバルブ7,8,9
を各々水素をキヤリアガスとして、SiH4ガス
(水素にSiH410%)が1モル、B2H6ガス(水素
にB2H610%)がB2H6/SiH4モル比で約10-3モ
ル、O2ガスがO2/SiH4モル比で約0.75×10-4モ
ルの混合割合で夫々流れるよう制御し、各調整弁
4,5,6及び止め弁15,16を開放して、
SiH4,B2H6,O2の混合ガスを反応管17へ送
る。これにより、SiH41モルに対し、B2H6が約
10-3モル、O2が約0.75×10-4モル夫々含有する混
合ガスをグロー放電法により分解し、約200ppm
の硼素と約10-2atomic%の酸素とを含有する厚
さが40μのa−Si膜から成る光導電体層をアルミ
ニウム基板上に形成し、求める感光体Aを得た。
いて、放電圧を1.5Torr、アルミニウム基板温度
を200℃、高周波電力を300watts、周波数を4M
Hz、膜形成速度を1分当り1500Åに夫々設定した
製造条件の下で、メータリングバルブ7,8,9
を各々水素をキヤリアガスとして、SiH4ガス
(水素にSiH410%)が1モル、B2H6ガス(水素
にB2H610%)がB2H6/SiH4モル比で約10-3モ
ル、O2ガスがO2/SiH4モル比で約0.75×10-4モ
ルの混合割合で夫々流れるよう制御し、各調整弁
4,5,6及び止め弁15,16を開放して、
SiH4,B2H6,O2の混合ガスを反応管17へ送
る。これにより、SiH41モルに対し、B2H6が約
10-3モル、O2が約0.75×10-4モル夫々含有する混
合ガスをグロー放電法により分解し、約200ppm
の硼素と約10-2atomic%の酸素とを含有する厚
さが40μのa−Si膜から成る光導電体層をアルミ
ニウム基板上に形成し、求める感光体Aを得た。
なお、硼素の含有量は日立イオンマイクロアナ
ライザを使用して測定した。一方、酸素の含有量
はオージエ電子分光法で測定した。
ライザを使用して測定した。一方、酸素の含有量
はオージエ電子分光法で測定した。
次に、上記実験例と同様にして、SiH41モルに
対し、B2H6を夫々約10-5、約10-4、約10-2モル
含有せしめた以外は、全く同一条件で、夫々約
2ppm、約20ppm、約2000ppmの硼素と夫々約
10-2atomic%の酸素とを含有する厚さが40μのa
−Si膜から成る光導電体層をアルミニウム基板上
に形成し、感光体B,C,Dを得た。
対し、B2H6を夫々約10-5、約10-4、約10-2モル
含有せしめた以外は、全く同一条件で、夫々約
2ppm、約20ppm、約2000ppmの硼素と夫々約
10-2atomic%の酸素とを含有する厚さが40μのa
−Si膜から成る光導電体層をアルミニウム基板上
に形成し、感光体B,C,Dを得た。
更に、比較のために、上記実験例において、調
整弁6及び止め弁16を止じ、タンク3からO2
ガスを放出させず、他は同一条件で、夫々約
2ppm、約20ppm、約200ppm、約2000ppmの硼素
を含有するが酸素を含有しない厚さが40μのa−
Si膜から成る光導電体層をアルミニウム基板上に
形成し、感光体E,F,G,Hを得た。
整弁6及び止め弁16を止じ、タンク3からO2
ガスを放出させず、他は同一条件で、夫々約
2ppm、約20ppm、約200ppm、約2000ppmの硼素
を含有するが酸素を含有しない厚さが40μのa−
Si膜から成る光導電体層をアルミニウム基板上に
形成し、感光体E,F,G,Hを得た。
このようにして得られた感光体A,B,C,D
及びE,F,G,Hの暗体積抵抗値を調べたとこ
ろ第2図に示すような結果が得られた。なお、図
において、感光体A,B,C,Dは曲線x、感光
体E,F,G,Hは曲線yで示し、硼素の含有量
は夫々ppmで示す。
及びE,F,G,Hの暗体積抵抗値を調べたとこ
ろ第2図に示すような結果が得られた。なお、図
において、感光体A,B,C,Dは曲線x、感光
体E,F,G,Hは曲線yで示し、硼素の含有量
は夫々ppmで示す。
この結果より、O2ガスを混入しないで製造し
た感光体E,F,G,Hより、O2ガスを混入し
て製造した感光体A,B,C,Dは暗抵抗が著し
く改善されていること、この中でも、感光体A,
C,Dは暗体積抵抗値が1013Ω・cmより大きく、
電荷保持能力に優れていること、しかし感光体B
は、1013Ω・cmに満たずカールソン方式による電
子写真感光体としては、暗減衰が早く不適当であ
ることを夫々示している。
た感光体E,F,G,Hより、O2ガスを混入し
て製造した感光体A,B,C,Dは暗抵抗が著し
く改善されていること、この中でも、感光体A,
C,Dは暗体積抵抗値が1013Ω・cmより大きく、
電荷保持能力に優れていること、しかし感光体B
は、1013Ω・cmに満たずカールソン方式による電
子写真感光体としては、暗減衰が早く不適当であ
ることを夫々示している。
ここで、約10乃至40atomic%の水素及び約5
×10-2乃至10-5atomic%の酸素を含み、10ppm以
上の硼素を含有するa−Si膜から成る光導電体層
が電荷保持力に優れているのは、次のように推察
される。周知のように4価の原子価を持つSiの共
有形合から成る結晶Si半導体では硼素、アルミニ
ウム、ガリウム等の周期律表第b族の不純物原
子を添加することによつて、それぞれアクセプタ
ーと呼ばれる活性中心として有効に働き、フエル
ミ準位を大幅にコントロールしてP型に自由に原
子価制御が可能で、所望の電気伝導度が得られ
る。ところが一般にアモルフアス半導体では結晶
半導体と異なり、上述のような不純物添加の影響
が極めて少ないとされていた。その大きな原因の
一つは極めて多くのダングリングボンド(共有結
合結晶で、表面の、あるいは内部の格子欠陥を囲
む原子群がもつ不飽和結合、つまり余つてぶらぶ
らしている結合手)に基づく局在準位がバンド・
ギヤツプ(もしくはmobility gap)中に存在す
るために、アクセプタから供給される電子あるい
は正孔がこれらの局在準位に捕えられ、フエルミ
準位をわずかしか移動できないので、原子価制御
に基づく電気伝導度制御が非常に困難とされてい
た。現に蒸着やスパツタリングで作成したa−Si
(水素原子を含まない)ではダングリングボンド
が高密度に存在するため不純物添加の効果が極め
て小さい。ところがSiH4のグロー放電分解によ
り作成されるa−Si膜においては水素原子が膜中
に約10乃至40atomic%も多く混入してダングリ
ングボンドと結合し、これをかなりつぶすため局
在準位が減少して不純物添加による原子価制御に
基づく電気伝導度制御が一応可能となる。この効
果は発明者らの実験によれば水素をキヤリアガス
とするとき特に著しいことが判明した。しかしな
がら、これだけではなおa−Si膜の暗抵抗が不充
分に低いことは、なお多くのダングリングボンド
が存在するか、水素原子の結合が弱い、従つて不
安定であるためと考えられる。特に水素原子との
結合はa−Si膜自体が高温度への基板加熱を要す
るグロー放電分解法によつて作成されることによ
り、容易に破壊乃至は放出され、不安定なものと
予想される。この観点に立つて、本願発明者はそ
の解決策を種々探究した結果、a−Si膜に約5×
10-2乃至10-5atomic%の酸素を含有すれば、暗抵
抗が著しく向上することを見出した。この酸素の
含有は、水素原子の含有と相俟つて前述のダング
リングボンドをほとんど解消、即ち酸素原子が、
残つていたダングリングボンドを有するシリコン
(Si)と強く結合すると認められ、これが暗抵抗
の向上に大きく寄与していると考えられる。特に
酸素原子は、その大きな電気陰性度のおかげでダ
ングリングボンドの電子を容易にとり込んでこれ
を有効に解消するので、上述のようにatomic%
で10-5とかなり微量であつてもその効果は極めて
大きく、さらにその結合の強さによつてより一層
耐熱性、その他の安定性、耐久性も向上する訳で
ある。発明者らの実験によれば、水素の含有量に
もよるがatomic%で5×10-2の酸素の添加によ
り、ダングリングボンドは殆んど解消されること
が判明した。ところが5×10-2よりも多量の酸素
を含有させた所、暗低抗は増大しても光感度が大
幅に減少することを認めた。これはダングリング
ボンドを補償してなお過剰の酸素がSiO2の結合
を作り始めるためと考えられる。SiO2結晶はバ
ンドギヤツプが約7eVもあり、可視光で光電導を
示さないためである。
×10-2乃至10-5atomic%の酸素を含み、10ppm以
上の硼素を含有するa−Si膜から成る光導電体層
が電荷保持力に優れているのは、次のように推察
される。周知のように4価の原子価を持つSiの共
有形合から成る結晶Si半導体では硼素、アルミニ
ウム、ガリウム等の周期律表第b族の不純物原
子を添加することによつて、それぞれアクセプタ
ーと呼ばれる活性中心として有効に働き、フエル
ミ準位を大幅にコントロールしてP型に自由に原
子価制御が可能で、所望の電気伝導度が得られ
る。ところが一般にアモルフアス半導体では結晶
半導体と異なり、上述のような不純物添加の影響
が極めて少ないとされていた。その大きな原因の
一つは極めて多くのダングリングボンド(共有結
合結晶で、表面の、あるいは内部の格子欠陥を囲
む原子群がもつ不飽和結合、つまり余つてぶらぶ
らしている結合手)に基づく局在準位がバンド・
ギヤツプ(もしくはmobility gap)中に存在す
るために、アクセプタから供給される電子あるい
は正孔がこれらの局在準位に捕えられ、フエルミ
準位をわずかしか移動できないので、原子価制御
に基づく電気伝導度制御が非常に困難とされてい
た。現に蒸着やスパツタリングで作成したa−Si
(水素原子を含まない)ではダングリングボンド
が高密度に存在するため不純物添加の効果が極め
て小さい。ところがSiH4のグロー放電分解によ
り作成されるa−Si膜においては水素原子が膜中
に約10乃至40atomic%も多く混入してダングリ
ングボンドと結合し、これをかなりつぶすため局
在準位が減少して不純物添加による原子価制御に
基づく電気伝導度制御が一応可能となる。この効
果は発明者らの実験によれば水素をキヤリアガス
とするとき特に著しいことが判明した。しかしな
がら、これだけではなおa−Si膜の暗抵抗が不充
分に低いことは、なお多くのダングリングボンド
が存在するか、水素原子の結合が弱い、従つて不
安定であるためと考えられる。特に水素原子との
結合はa−Si膜自体が高温度への基板加熱を要す
るグロー放電分解法によつて作成されることによ
り、容易に破壊乃至は放出され、不安定なものと
予想される。この観点に立つて、本願発明者はそ
の解決策を種々探究した結果、a−Si膜に約5×
10-2乃至10-5atomic%の酸素を含有すれば、暗抵
抗が著しく向上することを見出した。この酸素の
含有は、水素原子の含有と相俟つて前述のダング
リングボンドをほとんど解消、即ち酸素原子が、
残つていたダングリングボンドを有するシリコン
(Si)と強く結合すると認められ、これが暗抵抗
の向上に大きく寄与していると考えられる。特に
酸素原子は、その大きな電気陰性度のおかげでダ
ングリングボンドの電子を容易にとり込んでこれ
を有効に解消するので、上述のようにatomic%
で10-5とかなり微量であつてもその効果は極めて
大きく、さらにその結合の強さによつてより一層
耐熱性、その他の安定性、耐久性も向上する訳で
ある。発明者らの実験によれば、水素の含有量に
もよるがatomic%で5×10-2の酸素の添加によ
り、ダングリングボンドは殆んど解消されること
が判明した。ところが5×10-2よりも多量の酸素
を含有させた所、暗低抗は増大しても光感度が大
幅に減少することを認めた。これはダングリング
ボンドを補償してなお過剰の酸素がSiO2の結合
を作り始めるためと考えられる。SiO2結晶はバ
ンドギヤツプが約7eVもあり、可視光で光電導を
示さないためである。
以上のように約10乃至40atomic%の水素及び
約5×10-2乃至10-5atomic%の酸素を含有させた
a−Si膜のダングリングボンドは殆んど解消さ
れ、mobility gap中の局在準位が極めて少ない
ものとなつているので、アモルフアス半導体とは
言え、原子価制御によるフエルミ準位の制御が従
来に無く極めて容易になつている。つまり周期律
表第b族の不純物の添加効率が大幅に向上して
いる。このようなa−Si膜はmobility gap中の
構造欠陥に由来する準位によつて弱いn型半導体
特性を示し、暗抵抗は1012Ω・cmのオーダーとな
つている。そこでアクセプターとなり得る硼素の
ような周期律表第b族の活性中心を添加し、い
わゆる補償を施せば、より一層の高抵抗が得られ
る。前述のように不純物添加効率が向上している
ので、10ppm以上の硼素の添加によつてカールソ
ン方式電子写真法に実用可能な1013Ω・cm以上の
暗低抗が得られ、優れた電荷保持力を示すように
なる。
約5×10-2乃至10-5atomic%の酸素を含有させた
a−Si膜のダングリングボンドは殆んど解消さ
れ、mobility gap中の局在準位が極めて少ない
ものとなつているので、アモルフアス半導体とは
言え、原子価制御によるフエルミ準位の制御が従
来に無く極めて容易になつている。つまり周期律
表第b族の不純物の添加効率が大幅に向上して
いる。このようなa−Si膜はmobility gap中の
構造欠陥に由来する準位によつて弱いn型半導体
特性を示し、暗抵抗は1012Ω・cmのオーダーとな
つている。そこでアクセプターとなり得る硼素の
ような周期律表第b族の活性中心を添加し、い
わゆる補償を施せば、より一層の高抵抗が得られ
る。前述のように不純物添加効率が向上している
ので、10ppm以上の硼素の添加によつてカールソ
ン方式電子写真法に実用可能な1013Ω・cm以上の
暗低抗が得られ、優れた電荷保持力を示すように
なる。
次に、暗体積抵抗値が1014Ω・cm前後で特に電
荷保持能力の優れた感光体A,Dについての分光
感度特性を正(+)帯電と負(−)帯電との両者
について調べた。
荷保持能力の優れた感光体A,Dについての分光
感度特性を正(+)帯電と負(−)帯電との両者
について調べた。
感光板表面の帯電は+5.6KV,−5.6KVの印加
電圧源に接続されたコロナ放電器により+400V,
−400Vの表面電位になるまで行ない、光照射は
モノクロメータを使用して波長域400乃至800mμ
間を順次可変していき、表面電位が半減するに必
要なエネルギとの関係を測定した。
電圧源に接続されたコロナ放電器により+400V,
−400Vの表面電位になるまで行ない、光照射は
モノクロメータを使用して波長域400乃至800mμ
間を順次可変していき、表面電位が半減するに必
要なエネルギとの関係を測定した。
この結果は第3図に示す通りである。なお、図
において、曲線aは感光体Aを+帯電した場合、
曲線bは感光板Aを一帯電した場合、曲線cは感
光体Dを+帯電した場合、曲線dは感光体Dを−
帯電した場合における夫々の分光度特性を示す。
において、曲線aは感光体Aを+帯電した場合、
曲線bは感光板Aを一帯電した場合、曲線cは感
光体Dを+帯電した場合、曲線dは感光体Dを−
帯電した場合における夫々の分光度特性を示す。
第3図より明らかなように、感光体Aを+帯電
したものは、分光感度特性が略600mμで最高値と
なり、青波長域400乃至500mμでは感度が低いこ
とより、本発明の目的を達成する感光板として適
当である。しかし、他のものは青波長域において
も高感度であり、従来と同様である。
したものは、分光感度特性が略600mμで最高値と
なり、青波長域400乃至500mμでは感度が低いこ
とより、本発明の目的を達成する感光板として適
当である。しかし、他のものは青波長域において
も高感度であり、従来と同様である。
ここで、感光体Aを正帯電で用い場合、第3図
に示すように約550mμより短減長での感度が低下
する理由は必ずしも明確ではないが、一つの可能
性として次のように推察される。すなわち本発明
の感光体中には正孔キヤリアに対する捕獲中心が
ある程度存在する。一方、上述のような短波長の
光に対する吸収係数は大きく、フリーキヤリア
は、a−Si膜の表面近傍でのみ創られるが、上記
捕獲中心のためその飛程(S ohubweg又は
range)が膜厚に達せず、感度が低下するものと
考えられる。
に示すように約550mμより短減長での感度が低下
する理由は必ずしも明確ではないが、一つの可能
性として次のように推察される。すなわち本発明
の感光体中には正孔キヤリアに対する捕獲中心が
ある程度存在する。一方、上述のような短波長の
光に対する吸収係数は大きく、フリーキヤリア
は、a−Si膜の表面近傍でのみ創られるが、上記
捕獲中心のためその飛程(S ohubweg又は
range)が膜厚に達せず、感度が低下するものと
考えられる。
さらに、青波長域に感度の低い感光体Aを+帯
電して、静電潜像形成速度を示す光減衰特性を調
べた。
電して、静電潜像形成速度を示す光減衰特性を調
べた。
これは、感光体Aを+400Vに帯電した後、白
色タングステンランプを光源として用い、白色、
青色、黒色の色紙を夫々反射投影し、02μw/cm2
の露光に対するその光減衰を測定した。
色タングステンランプを光源として用い、白色、
青色、黒色の色紙を夫々反射投影し、02μw/cm2
の露光に対するその光減衰を測定した。
この結果は第4図に示す通りであり、曲線1は
白色、曲線mは青色、曲線nは黒色に対する光減
衰特性を示す。
白色、曲線mは青色、曲線nは黒色に対する光減
衰特性を示す。
第4図より、この感光板では、青色の光減衰は
黒色の暗減衰に比べ、表面電位の低下は見られる
ものの、白色の光減衰が大きいため、表面電位差
が大きくなり、青色画像に対し黒色画像と同様十
分なコントラストがつき、高感度且つ青色再現性
の優れた感光体となることがわかる。
黒色の暗減衰に比べ、表面電位の低下は見られる
ものの、白色の光減衰が大きいため、表面電位差
が大きくなり、青色画像に対し黒色画像と同様十
分なコントラストがつき、高感度且つ青色再現性
の優れた感光体となることがわかる。
以上は、200ppmの硼素を含有する厚さ40μの
a−Si膜から成る光導電体層をアルミニウム基板
上に形成して得られた感光板についての実験例で
あるが、同様にして、SiH41モルに対し、B2H6
を夫々5×10-5、5×10-3モル含有せしめた以外
は全く同様にして、夫々約10ppm、約1000ppmの
硼素を含有する厚さが5乃至60μのa−Si膜から
成る光導電体層をアルミニウム基板上に形成して
得られた感光体についても略同様の結果が得られ
た。
a−Si膜から成る光導電体層をアルミニウム基板
上に形成して得られた感光板についての実験例で
あるが、同様にして、SiH41モルに対し、B2H6
を夫々5×10-5、5×10-3モル含有せしめた以外
は全く同様にして、夫々約10ppm、約1000ppmの
硼素を含有する厚さが5乃至60μのa−Si膜から
成る光導電体層をアルミニウム基板上に形成して
得られた感光体についても略同様の結果が得られ
た。
また、この感光体をコロナ放電器によつて+
400乃至600Vの表面電位に帯電させ、2500乃至
2800〓のタングステンランプの光源によつて約1
luxの照度で白地に黒部と青部とをもつ原稿画
線を1乃至3秒間反射投影した後、磁気ブラシ法
で現像したところ青部も黒部と同様に現像され、
非常に鮮明な可視像を得ることができた。そし
て、感光板を高電位に帯電した場合は、この可視
像を転写して、感光体を反復使用しても同様に鮮
明な可視像を得ることができた。
400乃至600Vの表面電位に帯電させ、2500乃至
2800〓のタングステンランプの光源によつて約1
luxの照度で白地に黒部と青部とをもつ原稿画
線を1乃至3秒間反射投影した後、磁気ブラシ法
で現像したところ青部も黒部と同様に現像され、
非常に鮮明な可視像を得ることができた。そし
て、感光板を高電位に帯電した場合は、この可視
像を転写して、感光体を反復使用しても同様に鮮
明な可視像を得ることができた。
なお上記実施例においてO2ガスはこれに代え、
同一範囲に酸素の比率を保つ限りでは、空気或い
は不活性ガスをキヤリアとした酸素を用い、これ
をタンク3に密封させても同様のことがいえる。
同一範囲に酸素の比率を保つ限りでは、空気或い
は不活性ガスをキヤリアとした酸素を用い、これ
をタンク3に密封させても同様のことがいえる。
効 果
上述の如く、本発明の電子写真感光体は、青色
に対する画像再現性が良好であり、カールソン方
式の電子写真複写機に用い場合、従来の感光体の
ように青色フイルタを別設することなく、青色画
像の複写ができ、それも黒色画像と同等にできる
利点がある。また、電荷保持能力に優れ、非常に
高温度であり、高コントラストの画像が得られる
利点がある。
に対する画像再現性が良好であり、カールソン方
式の電子写真複写機に用い場合、従来の感光体の
ように青色フイルタを別設することなく、青色画
像の複写ができ、それも黒色画像と同等にできる
利点がある。また、電荷保持能力に優れ、非常に
高温度であり、高コントラストの画像が得られる
利点がある。
第1図はアモルフアスシリコンを生成するため
のグロー放電分解装置の概略図、第2図はアモル
フアスシリコンに硼素を含有した場合の体積抵抗
の変化を示す図、第3図はアモルフアスシリコン
膜の分光感度特性を示す図、第4図は本発明によ
る感光板の光減衰特性を示す図である。 1…SiH4ガスを密封した第1タンク、2…
B2H6ガスを密封した第2タンク、3…O2ガスを
密封した第3タンク、4,5,6…調整弁、7,
8,9…メータリングバルブ、10,11…主
管、17…反応管、18…共振振動コイル、19
…基板。
のグロー放電分解装置の概略図、第2図はアモル
フアスシリコンに硼素を含有した場合の体積抵抗
の変化を示す図、第3図はアモルフアスシリコン
膜の分光感度特性を示す図、第4図は本発明によ
る感光板の光減衰特性を示す図である。 1…SiH4ガスを密封した第1タンク、2…
B2H6ガスを密封した第2タンク、3…O2ガスを
密封した第3タンク、4,5,6…調整弁、7,
8,9…メータリングバルブ、10,11…主
管、17…反応管、18…共振振動コイル、19
…基板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 導電性基板上に、10乃至40atomic%の水素、
5×10-2乃至10-5atomic%の酸素および10乃至
1000ppmの周期律表第b族の元素を含有してな
るアモルフアスシリコン光導電体層を設け、正帯
電用として使用することを特徴とする電子写真感
光体。 2 前記アモルフアスシリコン光導電体層に含有
する第b族の元素は硼素であることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。 3 前記アモルフアスシリコン光導電体層は5乃
至60μ厚から成ることを特徴とする特許請求の範
囲第1項または第2項記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6211280A JPS56156835A (en) | 1980-05-08 | 1980-05-08 | Electrophotographic receptor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6211280A JPS56156835A (en) | 1980-05-08 | 1980-05-08 | Electrophotographic receptor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56156835A JPS56156835A (en) | 1981-12-03 |
JPH0338584B2 true JPH0338584B2 (ja) | 1991-06-11 |
Family
ID=13190641
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6211280A Granted JPS56156835A (en) | 1980-05-08 | 1980-05-08 | Electrophotographic receptor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS56156835A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58106546A (ja) * | 1981-12-21 | 1983-06-24 | Seiko Epson Corp | 電子写真感光体製造方法 |
JPS58171056A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-07 | Kyocera Corp | 電子写真感光体 |
JPS58172650A (ja) * | 1982-04-02 | 1983-10-11 | Kyocera Corp | 電子写真感光体 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54145539A (en) * | 1978-05-04 | 1979-11-13 | Canon Inc | Electrophotographic image forming material |
JPS55127561A (en) * | 1979-03-26 | 1980-10-02 | Canon Inc | Image forming member for electrophotography |
JPS56115573A (en) * | 1980-02-15 | 1981-09-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Photoconductive element |
-
1980
- 1980-05-08 JP JP6211280A patent/JPS56156835A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54145539A (en) * | 1978-05-04 | 1979-11-13 | Canon Inc | Electrophotographic image forming material |
JPS55127561A (en) * | 1979-03-26 | 1980-10-02 | Canon Inc | Image forming member for electrophotography |
JPS56115573A (en) * | 1980-02-15 | 1981-09-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Photoconductive element |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56156835A (en) | 1981-12-03 |
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